劉長(zhǎng)虹, 許海峰, 劉 勇
(1.安徽省產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)研究院,安徽 合肥230051;2.安徽大學(xué) 物理與材料科學(xué)學(xué)院,安徽 合肥230039)
鎢摻雜對(duì)VO2(M)納米桿相轉(zhuǎn)變溫度的影響
劉長(zhǎng)虹1, 許海峰2, 劉 勇2
(1.安徽省產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)研究院,安徽 合肥230051;2.安徽大學(xué) 物理與材料科學(xué)學(xué)院,安徽 合肥230039)
本文采用水熱反應(yīng)法,制備了高質(zhì)量的單斜二氧化釩(VO2(M))和鎢(W)摻雜的V1-xWxO2納米桿樣品.合成的納米樣品的結(jié)構(gòu)、形貌及相轉(zhuǎn)變分別用X-射線衍射,掃描電子顯微鏡(SEM)及差分掃描量 熱(DSC)來 表征.DSC測(cè) 量指出W摻雜 為1.5%at.的WxV1-xO2樣 品的金 屬-絕 緣 體 轉(zhuǎn) 變 溫度 (M IT)為42℃,明顯低于未摻雜的VO2(M)納米桿轉(zhuǎn)變溫度(67℃).這個(gè)結(jié)果可解釋為W離子摻雜使得VO2(M)晶格發(fā)生膨脹,同時(shí)W+6替代V+4使得局域電子態(tài)密度增加,從而降低了VO2(M)相的轉(zhuǎn)變溫度.
二氧化釩;鎢摻雜;金屬-絕緣體轉(zhuǎn)變
二氧化釩VO2(M)是Mott絕緣體材料,當(dāng)溫度升至68℃時(shí),其晶體結(jié)構(gòu)由低對(duì)稱的單斜相轉(zhuǎn)變?yōu)楦邔?duì)稱的四方金紅石相[1,2],同時(shí)伴隨金屬-絕緣體的相變.這個(gè)顯著的金屬-絕緣體轉(zhuǎn)變歸因于強(qiáng)的電-聲子耦合、庫能排斥及電子局域性誘導(dǎo)的Peierls不穩(wěn)定性.顯然,多數(shù)的研究是基于VO2的相轉(zhuǎn)變機(jī)理.然而,從技術(shù)應(yīng)用來說,更多的理論研究是基于光透射率及電導(dǎo)率的躍變的應(yīng)用.比如,Mott場(chǎng)效應(yīng)晶體管[3],”智能”熱致變色窗涂層[4],光數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒介[5]和紅外波導(dǎo)調(diào)節(jié)器[6]等.這些應(yīng)用依賴于精確調(diào)控VO2的金屬-絕緣體相變溫度由68℃(單晶塊材)至室溫.離子摻雜在釩子晶格或氧子晶格位誘導(dǎo)的張應(yīng)變可稍微降低外延薄膜的相轉(zhuǎn)變溫度.將鎢摻雜進(jìn)釩子格時(shí),當(dāng)W摻雜為1 at%時(shí),VO2的相轉(zhuǎn)變溫度可降低約20-26℃[4,7].
摻雜原子對(duì)相轉(zhuǎn)變溫度的調(diào)控,至今尚未有一個(gè)完整理論;而目前比較流行的闡釋理論有兩種:一種是摻雜原子取代了V原子,產(chǎn)生的缺陷導(dǎo)致VO2晶格引入張應(yīng)力,從而誘導(dǎo)晶格畸變.當(dāng)發(fā)生相變時(shí),V原子外層的d電子能帶交疊于較低的溫度,這就導(dǎo)致了VO2相轉(zhuǎn)變溫度的降低.另一種理論是相變溫度依賴于摻雜原子的半徑,較大半徑的雜質(zhì)原子導(dǎo)致了V4+-V4+鍵拉長(zhǎng),只有當(dāng)溫度降至更低時(shí)才能使原先的V4+-V4+鍵恢復(fù)原長(zhǎng),所以引起相變溫度的降低.理論和實(shí)驗(yàn)的研究表明,在VO2相中摻入W6+、Mo6+、Nb5+和F-等元素可以有效的降低其相變溫度,其中以W6+的降溫效果最佳,每摻雜1%at.原子可使VO2的相變溫度降低23℃[8].
本文先采用水熱合成法制備了二氧化釩VO2(M)相及W摻雜的V1-xWxO2系列納米樣品,后在過保護(hù)氣體N2的環(huán)境下進(jìn)行退火處理,最后得到純相的VO2和鎢摻雜的VO2納米桿.對(duì)所有的樣品進(jìn)行了形貌、結(jié)構(gòu)表征及差分掃描熱(DSC)測(cè)量,結(jié)果表明樣品具有一維的桿狀結(jié)構(gòu),未摻雜的VO2(M/R)納米桿其相轉(zhuǎn)變溫度為67℃(加熱循環(huán)過程),而W摻雜為1.5%at.的納米桿樣品其相轉(zhuǎn)變溫度為42℃(加熱循環(huán)過程),這個(gè)相轉(zhuǎn)變溫度的降低歸因于W摻雜誘導(dǎo)了VO2(M/R)相中V4+-V4+鍵的拉長(zhǎng),以及局域電子密度的增加.為使VO2的相變溫度降至室溫,筆者也對(duì)其他摻雜的VO2進(jìn)行了研究.
2.1 VO2(M/R)和W摻雜VO2(M/R)納米粉體制備
先采用水熱法制備出VO2(M/R)粉體樣品,然后再在N2保護(hù)下進(jìn)行后退火,最后能得到VO2(M/R)納米粉體.摻雜的VO2粉體制備方法如下:稱取一定量的V2O5和草酸(摩爾比1:2)以及一定量的鎢酸,加入到40ml的蒸餾水中,常溫?cái)嚢柚寥咳芙夂筠D(zhuǎn)移到一個(gè)去四氟乙烯內(nèi),用不銹鋼外殼將其密封.水熱處理的溫度是240℃保溫3天.水熱處理后,自然冷卻到室溫.得到的實(shí)驗(yàn)沉淀物經(jīng)(蒸餾水和酒精)洗滌、過濾幾次后.所得的樣品在烘箱中(溫度80℃)保溫10h.然后將樣品在氮?dú)獾姆諊鷥?nèi)退火得到純的VO2(M/R)相和W摻雜VO2(M/R)納米粉體.摻雜VO2納米粉的制備流程,結(jié)構(gòu)、形貌及性能表征如圖1:
圖1 顯示W(wǎng)離子摻雜的VO2納米粉體的制備、結(jié)構(gòu)表征及性能測(cè)試.
3.1 VO2(M/R)樣品的X射線衍射(XRD)圖譜
圖2給出不含W摻雜,合成在180℃、200℃、230℃和250℃溫度下,并在N2氣氛下300℃退火2h的樣品X-射線衍射(XRD)圖譜.由圖2可見,無論水熱反應(yīng)溫度為180℃還是250℃,在經(jīng)歷N2氣氛退火后,樣品的XRD衍射峰都與金紅石結(jié)構(gòu)的VO2(M/R)相(JCPD:76-0456)的衍射峰位完全吻合.所有樣品的X-衍射譜圖沒有其他的雜相峰,表明退火后樣品都轉(zhuǎn)變?yōu)榻鸺t石型單斜VO2(M/R)相,且制備的納米粉體是純相的.
圖2水熱反應(yīng)溫度分別在180、200、230和250℃時(shí),退火溫度為300℃,在N2氣氛下保溫2h的樣品X-射線衍射(XRD)圖譜
3.2 退火溫度對(duì)VO2(M/R)相的結(jié)構(gòu)與形貌影響
為進(jìn)一步研究退火溫度對(duì)VO2(M/R)結(jié)構(gòu)的影響,圖3給出樣品合成在230℃溫度下,退火溫度分別為300℃、450℃和600℃下的X-射線衍射(XRD)圖譜.由圖3可見,隨著退火溫度的升高,衍射峰的位置沒有發(fā)生變化,但衍射峰的強(qiáng)度明顯增加.對(duì)(011)面其衍射峰的強(qiáng)度最大,說明增加退火溫度有利于VO2(M)相結(jié)晶質(zhì)量的提高.同時(shí),我們發(fā)現(xiàn)退火溫度升高后,主要的衍射峰(011)的半高寬變窄,根據(jù)Scherrer公式,可以得出VO2樣品的晶粒尺寸變大.退火使得納米晶粒的晶向重組,退火溫度較低時(shí),重組的晶粒平均半徑很小.由圖3可發(fā)現(xiàn)300℃退火的樣品半高寬較大,隨著退火溫度的升高,納米晶的晶粒向外延伸、合并相鄰的晶粒,直到滿足晶界的平衡條件時(shí),才可能形成相對(duì)穩(wěn)定的晶粒,所以隨著退火溫度的增加,晶粒逐漸地變大,發(fā)生二次的結(jié)晶.這個(gè)現(xiàn)象也被掃描電鏡的測(cè)量驗(yàn)證.
圖3 水熱反應(yīng)溫度為230℃,在N2氣氛下,退火溫度分別在300、450和600℃下樣品的XRD圖譜
為觀察退火溫度對(duì)VO2納米晶形貌的控制,圖4(a)和(b)給出反應(yīng)溫度為230℃和200℃、反應(yīng)時(shí)間為24h時(shí)制備的納米桿樣品,圖4(c)對(duì)應(yīng)反應(yīng)溫度為230℃,后退火溫度為300℃(時(shí)間3h)的樣品;圖4(d)是反應(yīng)溫度為200℃,退火溫度為600℃(時(shí)間3h)的樣品.由圖4可見,未退火的樣品(圖4a和圖4b),其形貌特征是平均長(zhǎng)度為1~3微米的矩形納米桿(寬度約200nm).隨著退火溫度的升高,納米粉體的晶粒向外延伸、吞并相鄰的晶粒,直至滿足晶界平衡條件,才能形成相對(duì)較穩(wěn)定的納米晶粒,所以隨著退火溫度的增加,晶粒逐漸地變大,發(fā)生二次結(jié)晶.這個(gè)結(jié)果與圖3中的XRD結(jié)果一致.
圖4 不同反應(yīng)溫度,及不同退火溫度下得到的VO2(M)納米樣品:(a)230℃保溫24h,(b)200℃保溫24h,(c)反應(yīng)溫度230℃,并在300℃下退火3h,(d)反應(yīng)溫度200℃,在600℃退火3h
3.3 摻雜的V1-xWxO2納米樣品的X射線衍射及差示掃描量熱測(cè)量
圖5 顯示未摻雜的VO2(a),W摻雜為1.2%at.(b)和W摻雜為1.5%at.(c)的VO2納米粉體
為研究不同W摻雜對(duì)樣品的結(jié)構(gòu)及相轉(zhuǎn)變溫度的影響,圖5給出未摻雜(a),W摻雜為1.2%at. (b)和1.5%at.(c)的VO2納米粉體的XRD衍射譜圖.如圖5可見,摻雜H2WO4的樣品,其XRD衍射譜圖(圖5b和圖5c)與未摻雜VO2(M)的峰位沒有明顯的差別,僅僅是衍射峰(如(011))2θ 衍射角向左方遷移,隨著W摻雜量的增大,對(duì)應(yīng)衍射峰的2θ角變的更小,這是因?yàn)閃6+離子半徑比V4+離子半徑大[9],W6+離子替代VO2(M)晶格中V4+離子,使得VO2(M)的晶胞體積變大.由布拉格公式2dsinθ=kλ,固定X-射線波長(zhǎng)為 λ 時(shí),VO2(M)晶格d參數(shù)越大,則對(duì)應(yīng)衍射角2θ 越小,也就是衍射峰向小角度方向移動(dòng),這與圖5給出的衍射結(jié)果相一致.然而,隨著W摻雜量的增大,對(duì)應(yīng)的衍射峰變寬(如(011)),這可能歸因于W摻雜導(dǎo)致了單斜VO2(M)相的結(jié)構(gòu)產(chǎn)生畸變,進(jìn)而誘導(dǎo)相關(guān)衍射峰的寬化.
圖6 顯示未摻雜VO2(M/R)樣品(a),及W摻雜為1.5% at.的V1-xWxO2(b)樣品的DSC
圖6可見,未摻雜的VO2(M/R)納米粉體,其金屬-絕緣體轉(zhuǎn)變溫度為67℃,對(duì)于W摻雜為1.5% at.的WxV1-xO2(M/R)納米粉而言其相變溫度降至42℃.這個(gè)結(jié)果可理解為晶格畸變以及W6+離子替代V4+離子導(dǎo)致了晶格局域電子密度的增加,從而有效降低金屬-絕緣體的相轉(zhuǎn)變溫度.
本文采用水熱合成法及后退火處理,制備出高品質(zhì)的單斜金紅石型二氧化釩(VO2(M))和W摻雜的V1-xWxO2系列樣品.結(jié)果顯示,合成的樣品具有納米桿狀的形貌,W6+離子替代了V4+離子導(dǎo)致晶格畸變及局域電子密度的增加,從而有效降低金屬-絕緣體(MIT)的轉(zhuǎn)變溫度.當(dāng)W摻雜為1.5%at.時(shí),WxV1-xO2的金屬-絕緣體相轉(zhuǎn)變溫度為42℃.當(dāng)W摻雜大于1.5%at.時(shí),有望實(shí)現(xiàn)MIT轉(zhuǎn)變溫度降至室溫,相關(guān)研究正在進(jìn)行中.
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TB383
A
1673-260X(2014)06-0029-03
赤峰學(xué)院學(xué)報(bào)·自然科學(xué)版2014年12期