張爭龍,張浩然
(浙江師范大學(xué) 數(shù)理與信息工程學(xué)院,浙江 金華 321004)
絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)具有簡單、高速門極驅(qū)動、低導(dǎo)通損耗的特性,以及能承受大電流的能力,被廣泛應(yīng)用于大功率設(shè)備中。有調(diào)查顯示,這些設(shè)備的故障大部分是由于IGBT驅(qū)動電路設(shè)計(jì)缺陷或故障造成的
[1]。IGBT驅(qū)動電路是系統(tǒng)中連接強(qiáng)電與弱電的接口部分,IGBT驅(qū)動電路的設(shè)計(jì)不僅關(guān)系到設(shè)備運(yùn)行的穩(wěn)定,更關(guān)系到設(shè)備運(yùn)行的安全。所以,IGBT驅(qū)動電路的設(shè)計(jì)在電子設(shè)備的設(shè)計(jì)中具有舉足輕重的地位。目前,國外知名廠商已經(jīng)設(shè)計(jì)出集成的IGBT驅(qū)動模塊并已投入市場,國內(nèi)一些企業(yè)也有類似的產(chǎn)品,但基本存在價(jià)格偏高或可靠性不高等問題。由于上述原因,國內(nèi)外對IGBT驅(qū)動電路的研究從未間斷過。
本文旨在介紹一種基于變壓器的IGBT驅(qū)動電路。將從電路的原理、參數(shù)的設(shè)計(jì)等多個(gè)方面深入分析此驅(qū)動電路,并通過精確的仿真給出電路運(yùn)行的結(jié)果。此外,本文設(shè)計(jì)的驅(qū)動電路同樣適用于驅(qū)動MOSFET。
其中,ti為集電極電流開始上升的時(shí)刻,ton為導(dǎo)通過程經(jīng)歷的時(shí)間。
當(dāng)門極-發(fā)射級電壓VGE下降到VGE(Ion)不足以用來保持電流iC為穩(wěn)定導(dǎo)通態(tài)時(shí),IGBT進(jìn)入關(guān)斷過程。在關(guān)斷過程中,VCE上升到最大值,iC下降到零。關(guān)斷損耗為:
其中,tv是VCE電壓開始上升的時(shí)刻,toff是關(guān)斷過程經(jīng)歷的時(shí)間[2]。
由以上分析可知,要降低IGBT的開關(guān)損耗,必須減小ton與toff,而這就是設(shè)計(jì)IGBT驅(qū)動電路的初衷之一,同時(shí)也是評判IGBT驅(qū)動電路性能的重要指標(biāo)之一。
設(shè)計(jì)合適的IGBT驅(qū)動電路應(yīng)當(dāng)從以下幾個(gè)條件考慮:
(1)在IGBT開通時(shí)提供足夠的柵極電壓,并在開通期間保持這個(gè)電壓,以提供足夠的驅(qū)動電流。
煙氣再循環(huán)技術(shù)是近年來的熱點(diǎn)問題,康恒、荏原、西格斯等焚燒爐供應(yīng)商均針對各自爐型進(jìn)行了相關(guān)設(shè)計(jì)。目前該技術(shù)已在國內(nèi)部分垃圾焚燒發(fā)電廠進(jìn)行應(yīng)用。以國內(nèi)2個(gè)垃圾焚燒發(fā)電廠采用的煙氣再循環(huán)技術(shù)為例,介紹2種不同的工藝方案。
(2)在關(guān)斷期間,提供一個(gè)反向偏置電壓,以提高IGBT的抗暫態(tài)(dv/dt)和抗電磁干擾的能力;提供足夠高的開關(guān)速度,以使開關(guān)損耗能夠被接受。
(3)提供足夠大的控制電路與功率電路的電氣隔離能力,以防止功率電路的強(qiáng)電對控制電路的影響。
(4)具有靈敏的過流保護(hù)功能。
(5)能夠使系統(tǒng)中的IGBT有較好的可替換性。
一般的IGBT驅(qū)動有直接驅(qū)動、光耦隔離驅(qū)動。
直接驅(qū)動一般采用集成的驅(qū)動芯片對IGBT進(jìn)行驅(qū)動,其特點(diǎn)是設(shè)計(jì)較為簡單。但是直接驅(qū)動的輸入與輸出信號之間沒有電氣隔離,使得弱電側(cè)的輸入信號容易受強(qiáng)電側(cè)的干擾,造成功率器件的誤開通,或損壞驅(qū)動芯片。因此,直接驅(qū)動只適合于低壓、低功率的應(yīng)用場合[1]。光耦隔離驅(qū)動盡管能夠提供一定的電氣隔離,但是它的工作頻率不能太高。
IGBT的變壓器驅(qū)動方式不僅能夠很好地滿足上述IGBT的驅(qū)動條件,而且能夠自由選擇具有強(qiáng)電氣隔離的驅(qū)動輸出個(gè)數(shù),僅一個(gè)變壓器就能驅(qū)動半橋或是全橋電路中所有的IGBT。另外,在沒有獨(dú)立負(fù)電源的情況下,驅(qū)動變壓器還能夠?yàn)镮GBT提供負(fù)壓,實(shí)現(xiàn)可靠的關(guān)斷并抑制干擾,且成本較低。因此,變壓器驅(qū)動是較為理想的IGBT驅(qū)動方式。
本文設(shè)計(jì)的IGBT變壓器半橋驅(qū)動電路如圖1所示。在變壓器的原邊連接兩個(gè)圖騰柱電路作為PWM波產(chǎn)生芯片的輸出級,以提高電路的驅(qū)動能力,最重要的是提供PWM波產(chǎn)生芯片輸出口與變壓器原邊之間的電氣隔離,防止變壓器原邊因設(shè)計(jì)、調(diào)試等問題發(fā)生短路時(shí)對PWM波產(chǎn)生芯片的損害。
由于PWM波產(chǎn)生芯片輸出的驅(qū)動波形通常含有直流成分,會造成驅(qū)動變壓器的偏磁。而變壓器偏磁會使磁通沿磁滯回線正向或反向持續(xù)增加直至使磁芯飽和(即原邊直通),從而損壞器件。因此需在驅(qū)動變壓器的原邊串聯(lián)隔直電容,以濾除驅(qū)動脈沖中的直流成分[3]。
設(shè)變壓器原邊的勵(lì)磁電感為2 mH,驅(qū)動脈沖頻率為20 kHz。據(jù)電感電壓公式 UL=L×di/dt,則每個(gè)周期原邊電流為 Ip=15×0.025×10-3/(2×10-3)=0.187 A。設(shè)驅(qū)動脈沖電壓波動為10%,則初級電壓最小為15×0.9=13.5 V。設(shè)允許初級電壓下降為10%,即dV=1.35 V,則:
由式(3)可知,若電容的值取太小,則電壓的下降幅度將會很大,這會嚴(yán)重影響變壓器的驅(qū)動能力;反之,若電容值取得太大,則電容充滿電荷所需要的時(shí)間也就長,隔直的效果就會很差,式(3)給出了隔直電容的最小值。
變壓器的勵(lì)磁電感在設(shè)計(jì)中十分重要,勵(lì)磁電感不合理,會出現(xiàn)驅(qū)動能力不足的情況。其計(jì)算公式如下[4]:
其中,μ是磁導(dǎo)率,n1是原邊匝數(shù),Ac是磁心的有效截面積,lm是磁路長度。
在本文電路中,采用集成芯片產(chǎn)生驅(qū)動控制信號[5],再通過圖騰柱電路與隔直電容傳遞到變壓器原邊。當(dāng)驅(qū)動變壓器原邊上端電壓高于下端電壓時(shí),次級高邊的電流方向如圖 2所示,圖中 MOSFET管 Q5由于 UGS<UGS(th)<0而導(dǎo)通,致使后面 IGBT的 UGE>UGE(th)>0,進(jìn)入導(dǎo)通狀態(tài)。
當(dāng)驅(qū)動變壓器原邊的上端電壓低于下端電壓時(shí),IGBT的UGE<0,提供此負(fù)壓的回路如圖3所示,需要指出的是,此時(shí)MOSFET管Q5雖然截止,但是 Q5有漏極(D)指向源極(S)的體二極管,這樣就能形成回路。在關(guān)斷的過程中,為了提高關(guān)斷速度,在電路中增加了放電三極管Q9,這樣由于在關(guān)斷時(shí)刻Q9導(dǎo)通,存儲在CGE的電荷將被迅速釋放以提高關(guān)斷速度。
變壓器次級低邊的導(dǎo)通與關(guān)斷過程與上述高邊的導(dǎo)通與關(guān)斷過程類似,只是低邊與高邊的導(dǎo)通、關(guān)斷時(shí)間有所不同。
此外,如圖1所示,當(dāng)半橋中兩個(gè)IGBT同時(shí)導(dǎo)通時(shí),即使是極短的時(shí)間,也將造成直流母線的與地之間的直通,進(jìn)而引起短路,在高電壓、高功率的應(yīng)用中十分危險(xiǎn)。為避免這一狀況,在半橋的兩個(gè)IGBT開關(guān)中,當(dāng)其中一個(gè)IGBT關(guān)斷的時(shí)刻,另一個(gè)不能立即導(dǎo)通,而應(yīng)當(dāng)存在兩個(gè)IGBT同時(shí)關(guān)斷的一段過渡時(shí)間,這段時(shí)間稱為死區(qū)[6]。
本文采用Saber仿真軟件對所設(shè)計(jì)的IGBT驅(qū)動電路進(jìn)行功能驗(yàn)證。Saber是專業(yè)的電子與電力電子的仿真軟件,因其具有仿真精度高等諸多優(yōu)點(diǎn),現(xiàn)已成為電子設(shè)計(jì)驗(yàn)證工具的業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)[7]。
圖4所示為圖1中的兩路PWM波輸入,其頻率均為 20 kHz,幅度均為 15 V,上升時(shí)間為 150 ns,下降時(shí)間為 100 ns,占空比均為0.4,下端的PWM波輸入較上端的PWM波需要延時(shí)半個(gè)周期,以使后面半橋兩IGBT的驅(qū)動波形產(chǎn)生死區(qū),防止直流母線與地的直通。
圖5為半橋中兩IGBT的驅(qū)動波形(VGE波形),實(shí)線為高邊IGBT的驅(qū)動波形,虛線為低邊IGBT的驅(qū)動波形。由圖中可見,兩驅(qū)動波形不存在使高低邊IGBT同時(shí)導(dǎo)通的時(shí)刻,而且驅(qū)動波形的正負(fù)幅值的絕對值均達(dá)到15 V左右,波形處于幅值時(shí)比較平穩(wěn),上升與下降速度較快,死區(qū)較為明顯(達(dá)到 5 μs~5.5 μs,為周期的 10%),是較為理想的驅(qū)動波形[8]。
在IGBT驅(qū)動電路的實(shí)際運(yùn)行中,輸入的PWM波往往由于電氣參數(shù)設(shè)置不合理、電磁干擾、工作環(huán)境的突然改變,或上電過程、占空比、頻率等的突變,會造成驅(qū)動波形的變化。所以本文將對輸入PWM波的突變進(jìn)行模擬,觀察驅(qū)動電路是否能在輸入PWM波突變的情況下正常工作,以此判斷電路設(shè)計(jì)的合理性。
當(dāng)輸入 PWM 頻率依次在5 kHz、10 kHz、20 kHz、4 kHz、10 kHz突變時(shí),每種頻率的波形所持續(xù)的時(shí)間為各自的兩個(gè)周期,幅度均為15 V,上升時(shí)間為 150 ns,下降時(shí)間為100 ns,占空比均為0.4。圖6所示為上述頻率突變的情況下半橋中兩IGBT的驅(qū)動波形(VGE波形),實(shí)線為高邊IGBT的驅(qū)動波形,虛線為低邊IGBT的驅(qū)動波形。從驅(qū)動波形的上升時(shí)間、幅值及死區(qū)時(shí)間等關(guān)鍵參數(shù)觀察,輸入PWM波頻率突變并沒有造成使高低邊兩IGBT同時(shí)導(dǎo)通的時(shí)刻,驅(qū)動能力也未受太大的影響。由此判斷,此驅(qū)動電路能夠適應(yīng)輸入PWM波頻率突變的情形。
當(dāng) 輸 入 PWM 波 占 空 比 依 次 在 0.48、0.1、0.45、0、0.46突變時(shí),每種占空比的波形所持續(xù)的時(shí)間為兩個(gè)周期,幅度均為 15 V,上升時(shí)間為150 ns,下降時(shí)間為100 ns,頻率均為20 kHz。圖7所示為輸入PWM波占空比突變的情況下,半橋中兩 IGBT的驅(qū)動波形(VGE波形),實(shí)線為高邊IGBT的驅(qū)動波形,虛線為低邊IGBT的驅(qū)動波形。通過分析,此電路同樣能夠適應(yīng)輸入PWM波占空比突變的情形。
綜上所述,當(dāng)輸入PWM波的頻率或占空比突變時(shí),對應(yīng)的驅(qū)動波形并沒有受到太大的影響,完全符合IGBT的驅(qū)動要求。所以,此驅(qū)動電路能夠在輸入PWM波頻率、占空比突變時(shí)保持安全、穩(wěn)定的工作狀態(tài)。
結(jié)合Saber仿真軟件,本文所介紹的IGBT驅(qū)動電路能夠有效、可靠地驅(qū)動半橋電路中的兩IGBT開關(guān)管,并具有開關(guān)速度快、能夠提供關(guān)斷負(fù)壓、在輸入PWM波突變的情況下仍能穩(wěn)定工作的特性,是一種較為理想的IGBT驅(qū)動電路。
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