王寅玨
(健雄職業(yè)技術(shù)學(xué)院生物與化學(xué)工程系 江蘇太倉 215411)
核殼結(jié)構(gòu)復(fù)合材料因其特殊的幾何結(jié)構(gòu)而在電學(xué)、力學(xué)、聲學(xué)和光學(xué)等方面均表現(xiàn)出奇特的性能,由半導(dǎo)體組成的核殼結(jié)構(gòu)復(fù)合材料的制備引起了人們廣泛的研究興趣。硫化鋅是一種重要的ⅡB-ⅥA寬禁帶半導(dǎo)體材料,室溫帶隙能3.66 eV,激子束縛能40 meV,具有優(yōu)異的光、電及催化性能,在光致發(fā)光、電致發(fā)光、太陽能電池及催化等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用[1-4]。目前已經(jīng)有許多不同的方法制備了各種硫化鋅的核殼結(jié)構(gòu)材料,如在油包水的微乳液中制備CdS/ZnS核殼納米粒子[5],溶膠-凝膠法制備ZnS/SiO2[6],超聲處理成功制備得到聚苯乙烯 /ZnS復(fù)合微球[7]等,但都沒有深入地探討反應(yīng)條件對核殼結(jié)構(gòu)復(fù)合微粒形貌的影響。
本文采用簡便的沉淀法成功地合成制備出尺寸形貌可控、單分散性較好、發(fā)光性能穩(wěn)定和殼層包覆均勻的SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球,重點(diǎn)探討了各種反應(yīng)條件對核殼結(jié)構(gòu)微球形貌的影響,得出了制備SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球的最優(yōu)反應(yīng)條件;用NaOH溶液蝕刻后得到亞微米級的ZnS空心球,球形結(jié)構(gòu)保持較好。
1)試劑:蒸餾水,二氧化硅(自制),氫氧化鈉(分析純,國藥制劑廠),無水乙醇(分析純,南京制劑廠),硫代乙酰胺(分析純,國藥制劑廠),醋酸鋅(分析純,徐州制劑廠)。
2)儀器:BS124S電子天平(北京賽多利斯儀器系統(tǒng)有限公司),DF-101S集熱式恒溫加熱磁力攪拌器(鞏義市英峪予華儀器廠),H-1650高速臺式離心機(jī)(長沙湘儀離心機(jī)儀器有限公司),DZF-6051型真空干燥箱(上海一恒科技有限公司),D/max 2500型X射線衍射儀(日本理學(xué)公司),S4800型場發(fā)射掃描電子顯微鏡(日本日立公司),JEM–100 CXII型透射電子顯微鏡(日本電子公司),Cary Eclipse型熒光光譜儀(澳大利亞Varian公司)。
稱取0.1 g自制的 SiO2粉末[8](經(jīng)700 ℃煅燒4 h)分散到一定濃度的硫代乙酰胺溶液中,磁力攪拌10 min后,再加入一定濃度的醋酸鋅溶液,固定溫度下攪拌反應(yīng)3 h。反應(yīng)結(jié)束后將反應(yīng)混合物自然冷卻到室溫,再將產(chǎn)物進(jìn)行離心分離,用蒸餾水和無水乙醇分別洗滌數(shù)次,最后置于50℃真空干燥箱中干燥12 h,即得樣品。實(shí)驗(yàn)所制備樣品的反應(yīng)條件見表1。
表1 各樣品的反應(yīng)條件
將制備得到的SiO2/ZnS白色粉末浸在質(zhì)量分?jǐn)?shù)為20%的NaOH溶液中,一定時間后蝕刻掉SiO2核,得到的白色粉末即為亞微米級ZnS空心球。
取少量樣品,分散于無水乙醇中,超聲10 min,滴到載片上,干燥后噴金,然后用環(huán)境掃描電子顯微鏡觀察樣品的表觀形貌;將上述分散液滴在銅網(wǎng)上晾干,然后用透射電鏡觀察其形態(tài)并拍照;用X射線衍射儀(CuKα輻射,掃描速率0.02°/s)對樣品進(jìn)行物相分析;取少量干燥的樣品于樣品池中,且滴入無水乙醇分散,然后放入熒光光譜儀上測試,掃描范圍為340~600 nm。
1)反應(yīng)溫度對微球形貌的影響。在反應(yīng)溫度分別為35℃,45℃,55℃做了三組對比實(shí)驗(yàn),研究了反應(yīng)溫度對微球形貌的影響。圖1中A、B、C分別對應(yīng)樣品1、樣品2和樣品3的SEM圖。從圖1(A、B)的SEM圖上看到 SiO2球表面沒有完全被ZnS包覆住,甚至有個別裸露在外的SiO2球;而圖1(C)中每個SiO2球表面都完全被ZnS顆粒均勻地包覆,表面顯得較為粗糙。對比三種反應(yīng)溫度下所得產(chǎn)物的SEM圖可知,隨著反應(yīng)溫度的升高,微球形貌沒有發(fā)生太大的變化,仍然是球形結(jié)構(gòu),ZnS仍然以顆粒的形式沉積在SiO2表面,但ZnS顆粒隨著溫度的升高而逐漸變大,所制備的SiO2/ZnS核殼微球表面顯得越來越粗糙。
圖1 不同反應(yīng)溫度制備的SiO2/ZnS的SEM圖
由此可知,反應(yīng)溫度對ZnS顆粒尺寸和核殼微球的包覆好壞有著直接影響,即ZnS顆粒隨反應(yīng)溫度升高而逐漸增大。制備SiO2/ZnS核殼微球的適宜反應(yīng)溫度為55℃,此時SiO2核才能被ZnS顆粒完全均勻的包覆。
2)反應(yīng)物濃度對微球形貌的影響。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),反應(yīng)物濃度與微球形貌以及殼層厚度有著密切的關(guān)系。圖2(A、B),(C、D),(E、F)分別對應(yīng)樣品 4、樣品3和樣品5的SEM和TEM圖。由圖2(A)上可以看到,樣品形貌雖然都是規(guī)整的球形,但有些SiO2球表面沉積的ZnS顆粒特別多,顯得表面很粗糙;有些SiO2球表面分散的ZnS簇很少,則顯得比較光滑,這一點(diǎn)也能從透射圖上得到證實(shí),說明濃度太低時不利于制備包覆均勻的SiO2/ZnS核殼微球,由圖2(B)上又可知樣品4的殼層厚度約為18 nm;由圖2(C)上可以看到,樣品5的形貌發(fā)生較大的變化,由規(guī)整的球形變成“花球狀”,組成外層殼的ZnS顆粒增長到50 nm,從圖2(D)上可以很清楚地看到ZnS殼層勻地包覆在SiO2球上,其厚度約為27 nm;由圖2(E、F)可知,ZnS微粒均勻地包裹在SiO2核外,球形結(jié)構(gòu)保持完好,樣品3的ZnS殼層厚度約20 nm左右。
圖2 不同反應(yīng)物濃度制備的SiO2/ZnS的SEM和TEM圖
反應(yīng)物濃度應(yīng)該控制在適度范圍內(nèi),濃度過小或過大都不利于制備SiO2/ZnS核殼微球,通過改變反應(yīng)物濃度可以適度調(diào)控ZnS殼層的厚度。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)出制備SiO2/ZnS核殼微球的反應(yīng)物硫代乙酰胺和醋酸鋅適宜濃度均為0.027 mol/L。
3)攪拌方式對微球形貌的影響??疾炝藬嚢璺绞綄ξ⑶蛐蚊驳挠绊?。在反應(yīng)物濃度、反應(yīng)溫度及時間都相同的情況下,分別用超聲、電動攪拌、磁力攪拌來制備SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)材料,圖3A、B、C分別對應(yīng)樣品6、樣品7和樣品3的透射電鏡照片。由圖3(A)可知,雖然有個別ZnS在SiO2表面形成包裹層的核殼微球,但SiO2表面的ZnS主要以納米粒子簇的形式存在,ZnS粒子簇不均勻地分散在SiO2球表面,甚至還有單個SiO2球存在;由圖3(B)可知,電動攪拌制備的樣品7基本都是ZnS納米粒子簇不均勻地分散在SiO2球表面,沒有形成核殼結(jié)構(gòu)微球;從圖3(C)中樣品3的TEM圖可知,ZnS微粒均勻地包裹在SiO2核外形成殼層,樣品3中SiO2微球基本都被ZnS微粒包裹住。通過對比可以很好地說明,只有用磁力攪拌才能得到殼層包覆均勻的SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球。
圖3 不同攪拌方式制備的SiO2/ZnS微球TEM圖
通過上面各組實(shí)驗(yàn)條件對比可知,實(shí)驗(yàn)反應(yīng)溫度對ZnS顆粒尺寸和核殼微球的包覆好壞有著直接影響,而磁力攪拌對于形成包覆均勻的殼層起了至關(guān)重要的作用,ZnS殼層厚度可以由反應(yīng)物濃度得到適度調(diào)控。制備SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球的最優(yōu)反應(yīng)條件如下:反應(yīng)溫度55℃,反應(yīng)物硫代乙酰胺和醋酸鋅濃度均為0.027 mol/L,磁力攪拌3 h可以制備得到形貌規(guī)整、大小均勻的SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球。
圖4是SiO2微球和SiO2/ZnS核殼微球的XRD圖。對照PDF卡片,圖中2θ=22°的衍射峰是SiO2的特征峰,包覆ZnS形成SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)后,SiO2的特征衍射峰強(qiáng)度明顯減弱,其余3個衍射峰與閃鋅礦結(jié)構(gòu)的ZnS標(biāo)準(zhǔn)圖譜一致,無雜峰出現(xiàn),說明產(chǎn)物純度較高。從圖4中也可以看到,樣品SiO2/ZnS核殼微球的衍射峰均出現(xiàn)了明顯的寬化現(xiàn)象,這是材料量子尺寸效應(yīng)的特征,說明核殼結(jié)構(gòu)的殼層是由粒徑較小的ZnS納米顆粒組裝而成的。
圖4 SiO2微球和SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球的XRD圖
圖5(A)和(B)分別是SiO2微球和SiO2/ZnS核殼微球的SEM圖。由圖5(A)可以看出,自制的SiO2微球,其表面光滑平整、分散性好、粒徑均一,尺寸約為270 nm。由圖5(B)可知,SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球的殼是由許多硫化鋅微粒(約為30 nm)聚集而成的,表面顯得較為粗糙,這與XRD分析的結(jié)果相一致。
圖5 SiO2微球和SiO2/ZnS核殼微球的SEM圖
圖6(A)、(B)和(C)分別是SiO2微球和SiO2/ZnS核殼微球,以及蝕刻掉二氧化硅后所得的中空硫化鋅微球的TEM圖。
對照圖6(A)和(B)可以看出,未經(jīng)包裹的二氧化硅微球邊緣光滑,包裹后所得SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球的邊緣則顯得較為粗糙,這說明硫化鋅顆粒沉積在二氧化硅表面的事實(shí),與掃描電鏡測試的結(jié)果相一致。由圖6(B)可知,ZnS微粒均勻地包裹在SiO2核外,球形結(jié)構(gòu)保持完好,復(fù)合微球粒徑為230~300 nm,ZnS殼層厚度約20 nm。綜合分析核殼結(jié)構(gòu)微球的SEM和TEM照片后發(fā)現(xiàn),樣品中基本不存在未被ZnS微粒包裹的SiO2微球,也未見從SiO2球核中剝離出的ZnS顆粒。
圖6(C)是蝕刻掉二氧化硅核后所得中空硫化鋅微球的TEM圖,該圖清楚地顯示了中空硫化鋅微球的形貌。除去二氧化硅硬模板得到的硫化鋅空心微球,其球形輪廓清晰,基本保留了原模板的形貌,殼層厚度也基本一致,大約為20 nm。部分空心微球出現(xiàn)了破碎現(xiàn)象,可能是樣品后處理過程中的外力作用所致。
圖6 SiO2微球
通過自制SiO2微球?yàn)橛材0?,化學(xué)沉淀法成功制備了SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球,通過XRD、SEM、TEM等手段對SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球進(jìn)行了表征。結(jié)果表明,最優(yōu)條件下制得的微球形貌規(guī)整、大小均勻,殼層由厚度約20 nm的ZnS納米微粒組成。由于攪拌方式、反應(yīng)物濃度和溫度都能影響殼層中ZnS的結(jié)晶和生長,因此可以通過上述因素來實(shí)現(xiàn)SiO2/ZnS核殼結(jié)構(gòu)微球形貌和殼層厚度的調(diào)控。
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