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      鈣鈦礦型LaSrFeO4的光學(xué)特性研究

      2022-01-18 09:06:40王俊琪
      材料研究與應(yīng)用 2021年5期
      關(guān)鍵詞:虛部鈣鈦礦介電常數(shù)

      王俊琪

      (南京工業(yè)職業(yè)技術(shù)大學(xué),江蘇 南京210023)

      熱致變色可變反射率熱控器件[1]是一種新型的智能型熱控器件,可根據(jù)外界溫度的變化主動(dòng)改變自身的反射率,具有不耗電、體積小、重量輕等優(yōu)點(diǎn),可以代替?zhèn)鹘y(tǒng)的機(jī)械式熱控百葉窗,滿足微小型航天器的發(fā)展要求,在航天器熱控系統(tǒng)中具有廣闊的應(yīng)用前景.

      過渡金屬氧化物有很多奇特的性質(zhì),3d過渡金屬例如Fe,Co和Mn等具有分層鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的氧化物的物理特性而吸引了眾多研究者的興趣.Imada等人[2]以完整的圖形的形式總結(jié)并討論了3d層電子數(shù)目從1到9的這些過渡金屬合成物的特性,其中一種非常奇特的合成物是鐵基鈣鈦礦型氧化物L(fēng)aSrFeO4.研究表明,鈣鈦礦型氧化物L(fēng)axSr2-xFeO4可以根據(jù)溫度改變自身的發(fā)射率,是制作智能型航天器熱控器件的理想選擇.

      目前已經(jīng)有一些關(guān)于LaxSr2-xFeO4的特性的報(bào)道,如LaSrFeO4的電化學(xué)性能[3-4]、溫度或外加磁場(chǎng)對(duì)LaSrFeO4結(jié) 構(gòu) 特 性 的 影 響[5-6]、LaSrFeO4中 的La3+和Sr2+的化學(xué)無序性[7]及用Co取代部分Fe對(duì)LaSrFeO4的 結(jié) 構(gòu) 和 電 導(dǎo) 率 特 性 的 影 響[8]等,但 對(duì)LaSrFeO4的光學(xué)參數(shù)的報(bào)道卻很少,還沒有確切的數(shù)據(jù)可供引用.

      用固相反應(yīng)法制得了LaSrFeO4樣品,并在較大的頻率范圍內(nèi)測(cè)量了樣品的反射譜,然后應(yīng)用K-K方法計(jì)算了LaSrFeO4的光學(xué)參數(shù).

      1 實(shí)驗(yàn)部分

      采用固相反應(yīng)法制備了LaSrFeO4鈣鈦礦樣品,所用原料為高純(99.99%)的氧化鑭、碳酸鍶和氧化鐵,樣品的制備流程如下:原材料預(yù)處理→稱量原料粉末→球磨混合→壓塊燒制→球磨研碎→造?!鷫簤K燒制→機(jī)械加工→性能分析.

      采用德國(guó)Bruker公司的D8型X射線衍射儀(XRD)測(cè)量了LaSrFeO4樣品的晶體結(jié)構(gòu),如圖1所示.從圖1可以看到,樣品顯示了單相鈣鈦礦結(jié)構(gòu),但摻雜了Sr和Fe樣品的衍射峰發(fā)生分離,這表明樣品是畸變鈣鈦礦結(jié)構(gòu).

      圖1 LaSrFeO4鈣鈦礦樣品的XRD衍射圖譜Fig.1 XRD diffraction pattern of LaSrFeO4 perovskite sample

      樣品的反射譜測(cè)量分為兩部分,分別為4 eV以上的紫外區(qū)的反射率用1-m Seya-Namioka真空紫外單色儀測(cè)量,4 eV以下頻段的反射率用BOMEM DA3型傅立葉變換光譜儀測(cè)量.兩種測(cè)量系統(tǒng)得到的反射率組合到一起就可以獲得樣品在一個(gè)較寬頻段的反射譜,測(cè)得的反射譜如圖2所示.

      圖2 LaSrFeO4的反射譜Fig.2 Reflection spectrum of LaSrFeO4

      2 光學(xué)參數(shù)的計(jì)算

      材 料 的 折 射 率n(?)和 消 光 系 數(shù)k(?),由Kramers-Kronig(K-K)關(guān)系求得[9-10]:

      式(1)~式(2)中,r(ω)為對(duì)應(yīng)于頻率ω的反射系數(shù),θ(ω)為反射系數(shù)的相位.其中R(ω)為材料的反射率,θ(ω)可通過下式求得.

      從式(3)可以看出,知道了對(duì)應(yīng)任一頻率ω′∈(0,∞)處的反射系數(shù)r(ω′),就可以求得另一任意頻率ω處的θ(ω).

      在實(shí)際情況下,實(shí)際測(cè)得的是有限頻段(ω1,ω2)內(nèi)的反射率,而(0,ω1)和(ω2,∝)的反射率值無法通過測(cè)量獲得,那么這兩個(gè)頻段內(nèi)的反射率就只能通過外推獲得.θ(ω)可以分為三個(gè)部分求得,即(0,ω1),[ω1,ω2]和(ω2,∝),然后將分別求得的θ(ω),θ2(ω),θ3(ω)相加,即得到頻率ω對(duì)應(yīng)于整個(gè)頻段(0,∝)的θ(ω).

      對(duì) 于 低 能 端(0,ω1),反 射 率 可 用 常 數(shù) 法 外推,即:

      將式(4)帶入式(3)的積分,得:

      對(duì) 于 高 能 端(ω2,∞),反 射 率 用 冪 率 外推[10-11],即:

      將式(6)帶入式(3)的積分得到相應(yīng)的θ3(ω),即:

      在計(jì)算ω1≤ω≤ω2區(qū)域內(nèi)吸收系數(shù)θ2(ω)的積分時(shí),被積函數(shù)有一個(gè)奇點(diǎn)ω′=ω,該點(diǎn)的函數(shù)值可以利用該點(diǎn)的微商值來確定[11].

      總的θ(ω)為三個(gè)部分之和,即:

      將θ(ω)及r(ω)帶入式(1)和式(2)中,可以求得任意頻率ω處的折射率n(ω)和消光系數(shù)κ(ω).

      復(fù)介電常數(shù)和復(fù)折射率有如下的關(guān)系[12]:

      其中復(fù)介電常數(shù)ε*(ω)=ε1(ω)+iε2(ω),復(fù)折射率

      電導(dǎo)率和復(fù)介電常數(shù)的虛部的關(guān)系為[13]:

      其中ε0為真空中的介電常數(shù).

      利用上述各變量之間的關(guān)系,由Kramers-Kronig關(guān)系(K-K關(guān)系),根據(jù)反射率求取物質(zhì)折射率的計(jì)算程序,得到LaSrFeO4的折射率(圖3)、消光系數(shù)(圖4)、介電常數(shù)的實(shí)部(圖5)、虛部(圖6)及電導(dǎo)率(圖7).

      圖3 LaSrFeO4的折射率Fig.3 Refractive index of LaSrFeO4

      圖4 LaSrFeO4的消光系數(shù)Fig.4 Extinction coefficient of LaSrFeO4

      通常把介電常數(shù)的虛部與介電常數(shù)的實(shí)部的比值叫做損耗角正切,損耗角正切和材料的損耗性能相關(guān),通常電介質(zhì)的損耗角正切小于0.01.從圖5和圖6可以看到,介電常數(shù)的虛部與實(shí)部基本相當(dāng),即損耗角正切約為1,這表明LaSrFeO4是一種損耗性能較強(qiáng)的材料.從圖7可以看到:電導(dǎo)率在103~104S/m數(shù)量級(jí),這是半導(dǎo)體的數(shù)值區(qū)間,說明LaSrFeO4呈現(xiàn)出半導(dǎo)體特征;在不同的頻率下,電導(dǎo)率差異較大,頻率從0 eV增大到10 eV,電導(dǎo)率增大了約50倍.

      圖5 LaSrFeO4的介電常數(shù)的實(shí)部Fig.5 Real part of dielectric constant of LaSrFeO4

      圖6 LaSrFeO4的介電常數(shù)的虛部Fig.6 Imaginary part of dielectric constant of LaSrFeO4

      文獻(xiàn)[14]測(cè)量了LaSrFeO4在250 K溫度下的電導(dǎo)率,其測(cè)量的頻率范圍為1.5~5.5 eV,當(dāng)頻率4.8 eV時(shí)電導(dǎo)率達(dá)到極大值約為30000 S/m,其呈現(xiàn)的規(guī)律與本研究很接近,這說明計(jì)算得到的光學(xué)參數(shù)具有很高的正確性.

      3 結(jié)論

      采用固相反應(yīng)法制備了LaSrFeO4鈣鈦礦材料,在較大的頻率范圍內(nèi)測(cè)量了其反射率,并計(jì)算了LaSrFeO4的光學(xué)參數(shù)即折射率和介電常數(shù),在此基礎(chǔ)上計(jì)算了LaSrFeO4的電導(dǎo)率,得到以下結(jié)論:

      (1)通過測(cè)量鈣鈦礦型氧化物L(fēng)aSrFeO4的反射譜,然后利用K-K關(guān)系算得其光學(xué)參數(shù),并利用介電常數(shù)的虛部計(jì)算了LaSrFeO4的電導(dǎo)率.

      (2)LaSrFeO4的電導(dǎo)率與文獻(xiàn)[14]中實(shí)驗(yàn)測(cè)得的電導(dǎo)率符合的很好,說明計(jì)算得到的光學(xué)參數(shù)具有很高的正確性.

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