國核電站運(yùn)行服務(wù)技術(shù)有限公司 嚴(yán)小波 薛曉鵬
核反應(yīng)堆鋼制安全殼是防止放射性物質(zhì)進(jìn)入環(huán)境的一道屏障,對(duì)核電站的安全運(yùn)行至關(guān)重要。安全殼焊縫表面存在余高,無法打磨平整。受檢測時(shí)間的影響,并結(jié)合超聲波相控陣檢測的優(yōu)越性,特采用超聲波相控陣檢測。本文主要通過檢測工藝的聲場仿真,提前驗(yàn)證鋼制安全殼焊縫超聲波相控陣檢測所選的檢驗(yàn)探頭、檢驗(yàn)參數(shù)的適用性,并獲得優(yōu)化的檢驗(yàn)探頭和工藝設(shè)計(jì)參數(shù),以確定影響檢測結(jié)果的設(shè)備及探頭的關(guān)鍵參數(shù)。
本仿真的對(duì)象主要為用于鋼制安全殼對(duì)接焊縫的相控陣檢驗(yàn)探頭和相關(guān)的檢測工藝。相控陣檢驗(yàn)探頭聲場仿真通過CIVA仿真軟件對(duì)不同類型探頭超聲聲場特征進(jìn)行仿真試驗(yàn),確定超聲聲場覆蓋范圍及各類型檢驗(yàn)探頭的基本參數(shù),通過軟件缺陷響應(yīng)計(jì)算確定檢驗(yàn)工藝的有效性,初步確定設(shè)備和檢驗(yàn)探頭型號(hào)。試驗(yàn)研究關(guān)鍵因素:焊縫檢測時(shí)的檢驗(yàn)效率、近場區(qū)對(duì)焊縫探頭選型的影響、檢驗(yàn)區(qū)域的覆蓋要求。
仿真試驗(yàn)的主要硬件設(shè)備包括:基于WINDOWS10 64位操作系統(tǒng)平臺(tái)的PC機(jī)和CIVA軟件專用密匙,奧林巴斯OMINISCAN MX2或ZETEC Danaray檢驗(yàn)系統(tǒng)。仿真試驗(yàn)的所采用的仿真軟件為CIVA仿真軟件,版本為10.1。該軟件是由法國原子能委員會(huì)(CEA)研發(fā)的一款專業(yè)無損檢驗(yàn)仿真軟件。
鋼制安全殼對(duì)接焊縫的檢驗(yàn)區(qū)域是焊縫本身加上焊縫熔合線兩側(cè)各10mm,焊縫檢驗(yàn)區(qū)域厚度應(yīng)為工件厚度加上焊縫余高,厚度范圍為45mm~55mm。本次計(jì)算檢測區(qū)域主要是針對(duì)余高不去除時(shí)的單面雙側(cè)掃查,相控陣探頭采用直射波和一次反射波進(jìn)行檢驗(yàn)。因此選擇了最大厚度為55mm的焊縫進(jìn)行計(jì)算。
采用一維線性陣列相控陣探頭,扇掃角度為30~85°時(shí)的相控陣檢驗(yàn)覆蓋深度范圍(mm)為:直射波入射的探頭前端位置與覆蓋深度分別為0/3~55、20/9~55、40/17~55;一次反射波入射的探頭前端位置與覆蓋深度分別為40/部分0~55、≥58/0~55、80/0~55。由此可知,當(dāng)相控陣探頭楔塊前端頂著焊縫邊緣(位置為0)時(shí),相控陣探頭覆蓋檢驗(yàn)區(qū)域厚度范圍為3~55mm;當(dāng)探頭前端距離焊縫邊緣大于等于58mm(位置為58mm時(shí)),相控陣探頭的一次反射波能100%覆蓋焊縫檢驗(yàn)區(qū)域;根據(jù)相控陣探頭的聲束覆蓋仿真可以得出,相控陣初始掃查時(shí)(缺陷檢出),探頭只需要放在2個(gè)位置就可100%覆蓋檢驗(yàn)區(qū),即探頭前端距焊縫邊緣0mm~20mm和58mm~80mm。
圖1 焊縫檢驗(yàn)區(qū)域示意圖
圖2 相控陣探頭參數(shù)示意圖
主要從檢驗(yàn)探頭波形選擇、晶片尺寸、探頭中心頻率、帶寬、相控陣探頭晶片排布方式及尺寸間距、孔徑大小等參數(shù)進(jìn)行模擬,并仿真計(jì)算檢驗(yàn)探頭實(shí)際聲場,聲束截面寬度,聚焦、分辨力等特性以初步確定相控陣檢驗(yàn)探頭的初步設(shè)計(jì)參數(shù)。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求和工程實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),本次參與仿真的相控陣探頭詳見表1和圖2,圖2中頻率f、晶片數(shù)量n、晶片陣列方向孔徑A、晶片加工方向?qū)挾萕、單個(gè)晶片寬度e、兩個(gè)晶片中心之間的間距p、相控陣探頭孔徑A。
表1 一維線陣相控陣探頭仿真參數(shù)
2.3.1 相控陣超聲在被測工件中產(chǎn)生的聲場分布及特點(diǎn)總結(jié)
相控陣探頭雖然具有聚焦性,但同樣存在近場區(qū)域??讖胶吞筋^頻率不變時(shí),晶片數(shù)量對(duì)聲場影響不大,聲場能量大小與探頭頻率和孔徑有關(guān),頻率越高、孔徑越大聲場能力越大。
圖3 聲場聚焦仿真結(jié)果
2.3.2 相控陣超聲聚焦聲場仿真結(jié)果比較
不同孔徑及晶片數(shù)量探頭聚焦效果。相控陣探頭聲束截面尺寸與焦距有關(guān),在一定范圍內(nèi),焦距越大聲束截面尺寸越小、能量更集中、聲束衰減越小,但相控陣探頭的實(shí)際焦距并不是無限大的,例如5MHz16晶片,0.53×10,孔徑10,焦距最大為23mm;5MHz32晶片,0.5×10,孔徑16,探頭焦距最大為49mm;軟件模擬結(jié)果如圖3所示,得出結(jié)論:激發(fā)探頭晶片數(shù)量越多、晶片寬度越大聚焦效果越好,但柵瓣和旁瓣反而增多。焦點(diǎn)離探頭越遠(yuǎn),孔徑變大、聚焦效果變差,同時(shí)柵瓣和旁瓣干擾更加明顯。
2.3.3 相控陣探頭的檢驗(yàn)分辨力
仿真結(jié)果如下:反射體埋深55mm時(shí),16晶片和32晶片的相控陣探頭對(duì)于深度方向相鄰距離(間距)為0mm的Φ1橫孔能較好的區(qū)分,但上下端點(diǎn)信號(hào)不明顯。對(duì)于深度方向間距≥1mm以上的Φ1橫孔,探頭能明顯區(qū)分且具有獨(dú)立的上下端點(diǎn);反射體埋深110mm時(shí),16晶片和32晶片的相控陣探頭對(duì)于深度方向相鄰距離(間距)≥1mm以上的Φ1橫孔,探頭能明顯區(qū)分且具有獨(dú)立的上下端點(diǎn);16晶片和32晶片的相控陣探頭,缺陷埋深為55mm時(shí)(模擬直射波缺陷最深位置),能明顯分辨出平移方向間距≥7mm的Φ2球孔,且左右端點(diǎn)信號(hào)明顯;缺陷埋深為110mm時(shí)(模擬一次反射波缺陷最深位置),能明顯分辨出平移方向間距≥11mm的Φ2球孔,且左右端點(diǎn)信號(hào)明顯。
由以上結(jié)果可見,相控陣探頭的聲束能量比較大,橫向檢驗(yàn)分辨力扇掃模式下相比下降。用于鋼制安全殼焊縫檢測時(shí),深度方向倆相鄰缺陷最小分辨距離為1.0mm,平移方向倆相鄰缺陷最小分辨距離為7.0mm,遠(yuǎn)小于19mm。探頭的測高和測長性能滿足檢驗(yàn)要求。
通過CIVA聲場仿真模擬結(jié)果得出結(jié)論:對(duì)于鋼制安全殼對(duì)接焊縫(T=52mm)檢測,從單面采用直射波(厚度為52mm)和一次反射波掃查(總厚度為104mm),建議采用5MHz、陣元為32晶片、孔徑為16mm的相控陣探頭,楔塊主聲束角度為橫波55°。