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      瓷質磚拋光生產線拋光磨削機理探討

      2020-12-17 03:26:42許立坤
      佛山陶瓷 2020年11期
      關鍵詞:周期速度

      摘 要:拋光線對于提升瓷磚的整體質量有至關重要的作用。以拋光磨頭為研究對象,通過分析整體拋光磨頭的分裂排布,研究拋光磨頭的運動狀態(tài),對此實際生產探討瓷磚拋光生產線的磨削機理。得出拋光磨塊的分布特點以及拋光磨頭的運動軌跡,通過理論計算得出不同的運輸皮帶速度、擺動速度以及不同磚坯大小下的整體布局。對拋光線的設計、維護、整改具有很強的指導意義。

      關鍵詞:拋光磨頭;磨塊;磨削;速度;周期

      1 引 言

      瓷質磚拋光生產線中的拋光段是其重要組成部分,不但最終決定產品質量,而且對產品單位面積電耗、水耗、磨料消耗、優(yōu)等品率、返拋率等一系列決定產品成本的相關因素有著重要影響,因此,對拋光工序中的磨削機理探討有著十分重要的意義。

      2 磨塊排列與刀紋消除原理

      瓷質磚深加工生產線中,瓷質磚在經刮平機刮平定厚后,宏觀上看,表面已經平整,但微觀上看,產品表面仍是不平整的,因為表面留下了較深的刀紋,這些刀紋必須在后續(xù)工序中消除,并最終達到一個微觀平整的表面。

      磨塊排列情況:

      46→60→80→120→150→180→240→320→400→600→800→1000→1200→1500→(1800)→(2000)

      磨塊粒度的特點:粗磨塊,磨粒粗,切削力強,但留下的刀紋較深;細磨塊,磨粒細,切削力弱,但留下的刀紋較淺;基于此特點,為經濟快速消除刀紋,磨塊粒度按粗→細排布,而刀紋也是逐級消除的,如圖一所示。

      使用中,磨塊必須依次排列,不能跳級(越級),更不能倒置,因為號數越高,切削能力越弱,屬于前級該

      處理好的刀紋,留待后續(xù)去處理,效率會非常低,甚至無法消除,從而留下所謂的磨影。

      實際生產中,同一粒度級別的磨塊數量,不是一個,而是很多個,具體數量由哪些因素決定呢?

      3 磨頭運動軌跡與覆蓋分析

      根據現代建筑裝修的需要,現拋光磚規(guī)格主要有600mm、800mm、1000mm、1200mm、1500mm等。

      如果采用磨頭固定的生產工藝,每種規(guī)格必須對應一款磨頭,不但設備生產廠家零部件種類多,成本高,而且會造成設備使用廠管理復雜,維修成本也高,同時磨頭直徑加大,會造成磨頭振動等技術性能下降及裝卸困難等問題。

      因此,人們發(fā)明了擺動式拋光的方法,即工作過程中,磨頭在繞自身軸線旋轉的同時,還隨大梁前后往復擺動,從而實現對整個磚面的磨削,如圖2所示。

      3.1磨頭在磚面運動軌跡分析

      以輸送帶運動方向(橫向)為X軸,以橫梁擺動方向(縱向)為Y軸,以磨頭質心在磚面的投影為研究對象。根據相對運動原理,當磚在輸送帶作用下向左移動,則磨頭質心向右運動(X軸),磨頭隨橫梁前后的擺動,則形成了磨頭質心Y方向的運動,磨頭質心的運動則為X方向,Y方向兩個運動的合成。其在磚面運動軌跡類似于正弦曲線,如圖3。

      磨頭磨塊對磚面有效覆蓋為一圓環(huán)(瞬時)(圓環(huán)的徑向長度T=磨塊有效長度),如圖三所示。

      圖4所示陰影部分為單個磨頭磨削運動對磚面作用的情況,空白為未覆蓋區(qū)域,要達到全面覆蓋,則需要多組。

      圖5所示為多組磨塊組合實現了全面覆蓋。

      3.2實現全面覆蓋磨塊組數計算

      結合圖2、圖6,設磨頭作用直徑為D,磨頭間距為A,產品寬度為B,以磨頭質心運動軌跡為基準線(為研究方便,簡化了其中的圓弧部分),向兩側做距離為D/2的平行線,兩平行線之間即為磨削覆蓋區(qū)域。產品寬度B外邊線與上述兩平行線(包絡線)外側形成的區(qū)域為未覆蓋區(qū)域。

      圖7為兩個間距為A的磨頭磨削覆蓋情況分析,從圖中可看出,兩個磨削區(qū)域其中大部分是交疊的,第二個對第一個形成的補充部分為平行四邊形S1,S2區(qū)域,其中沿輸送方向(X軸)邊長= A(磨頭間距)。

      不難看出,在磨頭間距一定的情況下,實現完全覆蓋需要的最小磨塊組數量N=L/A

      如圖8計算可得:

      L=L2+2Ectgα (1)

      E=B+C-D (2)

      L2=L1-2Dtgβ/2 (3)

      L1=Vxt (4)

      其中:

      A——磨頭間距;

      B——產品寬度;

      C——磨頭對磚面的超出量;

      D——磨頭作用直徑;

      C1——擺幅(磨頭前后擺動運動行程);

      L1——磨頭擺動邊上停留距離;

      L2——磨頭擺動邊上停留包絡線內側距離;

      L——單個磨頭運行未覆蓋區(qū)跨度距離;

      Vx——產品輸送速度;

      Vy——槽梁擺動速度;

      t——磨頭擺動邊上停留時間。

      α=arc tg Vy/Vx, β=α/2

      4 磨削覆蓋影響因素

      如圖9,周期一定,邊上停留時間延長,未覆蓋區(qū)跨距縮短, TA =T ,tA>t? LA

      即:周期不變條件下,延長邊上停留時間,可減少同號數磨頭數量,或可減少邊上三角覆蓋盲區(qū)

      如圖10? 周期縮短,邊上停留時間不變,未覆蓋區(qū)跨距縮短, TA

      即:邊上停留時間不變條件下,周期縮短,可減少同號數磨頭數量,或可減少邊上三角覆蓋盲區(qū)

      其中:T:周期,磨頭隨橫梁擺動,前后兩極限位置一個來回所需時間。等效于:磨頭隨橫梁擺動前后兩極限位置一個來回,產品沿輸送方向前進的距離。

      5 結 語

      綜上所述,可得出以下結論:

      (1)磨塊的排列是沿著進磚方向依次是粗磨塊到細磨塊的排列,逐次消滅刀紋;

      (2)以磨頭質心為研究對象,得出磨頭的大致軌跡趨近于正弦函數曲線,且在磨頭間距一定的情況下,實現完全覆蓋需要的最小磨塊組數量等于單個磨頭運行未覆蓋區(qū)跨度距離與磨頭之間間距的比值;

      (3)通過延長磨頭在邊上停留時間和縮短擺動周期可以減小未覆蓋區(qū)域的跨距,繼而減小磨頭的數量,優(yōu)化結構。

      參考文獻

      [1] 李秋炎,盧少華,林國就.陶瓷拋光機磨頭專用潤滑脂的開發(fā)應用[J].廣東化工,2017,44(05):53-55.

      [2] 徐斌,周祖兵,劉建軍.瓷片釉面磚反、正置式微水加工工藝對比研究[J].佛山陶瓷,2016,26(07):22-24+28.

      [3] 鄭秀亮.反置式拋光機引發(fā)陶瓷拋光行業(yè)新革命[J].環(huán)境,2015(07):50-52.

      [4] 戴哲敏,李德生.瓷磚行星端面磨拋光機磨拋分析[J].陶瓷學報,2012,33(04):483-487.

      [5] 朱成就.瓷磚拋光過程建模與仿真[J].機電工程技術,2015,44(10):61-65.

      作者簡介:許立坤(1990-),主任工程師,主要從事陶瓷磨邊機、拋光機的研究、設計、防護,電子郵箱:tyroid@163.com

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