宋 芳
(河南工業(yè)貿(mào)易職業(yè)學(xué)院,河南 鄭州 451191)
傳統(tǒng)的數(shù)字采控電路設(shè)計(jì)要求研究人員具備豐富的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)以及背景知識,設(shè)計(jì)周期較長,并且人工干預(yù)較多,從而導(dǎo)致數(shù)字采控電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)逐漸具有更高的挑戰(zhàn)性[1]。對于當(dāng)前的數(shù)字采控電路而言,經(jīng)過研究人員和技術(shù)人員長時間的研究,已經(jīng)存在許多較為成熟的自動化設(shè)計(jì)工藝以及工具,能夠在更短的時間內(nèi)將電路設(shè)計(jì)者的思想轉(zhuǎn)換為實(shí)際的電路拓?fù)浠蛭锢戆鎴D,通過相應(yīng)的先進(jìn)工藝手段完成對數(shù)字采控電路的設(shè)計(jì)[2]。單片機(jī)以其強(qiáng)大的集成功能一經(jīng)推出,便受到廣泛應(yīng)用,成為電路設(shè)計(jì)中的重點(diǎn)應(yīng)用內(nèi)容。因此,本文將單片機(jī)應(yīng)用在數(shù)字采控電路設(shè)計(jì)中,提出一種新型基于單片機(jī)的數(shù)字采控電路設(shè)計(jì)方法。
電路阻容濾波器是數(shù)字采控電路中的核心部分,因此在對數(shù)字采控電路設(shè)計(jì)時,第一步是對其阻容濾波器進(jìn)行設(shè)計(jì)。對于任何復(fù)雜濾波網(wǎng)格結(jié)構(gòu)而言,都需要若干個結(jié)構(gòu)簡單的一階和二階濾波電路的共同組成[3]。針對當(dāng)前模擬集成電路運(yùn)行特點(diǎn),本文選用一階無源低通濾波器,將可進(jìn)行調(diào)節(jié)的參數(shù)元件數(shù)設(shè)為3個,而在濾波器的設(shè)計(jì)過程中通常選用溫度系數(shù)較小,并且精度較高的電阻。因此,在對數(shù)字采控電路阻容濾波器設(shè)計(jì)過程中,本文將其電阻的取值設(shè)定為2K~150K范圍之間。將電阻的搜索空間定義為在2K~124.6K范圍之間,步長設(shè)置為0.2K。電容選擇損耗較小的優(yōu)質(zhì)電容,將電容的取值設(shè)定在大于15pf,根據(jù)數(shù)字采控電路濾波器的截止頻率公式計(jì)算對截止頻率進(jìn)行計(jì)算,設(shè)截止頻率為公式
為k,則其計(jì)算公式,如公式(1)所示。(1)
在公式(1)中,R和R'指的是濾波器中的兩個阻值;C指的是濾波器電容。根據(jù)公式(1)得出,本文選用的一階無源低通濾波器的截止頻率為150K左右。因此,能夠估算得出電容的取值范圍應(yīng)在15pf~1024pf范圍之間,其步長為15pf。
考慮到在模擬集成電路中通常包括多向性能兼容指標(biāo),即多目標(biāo),因此,本文采用將多個子目標(biāo)以加權(quán)和的形式展現(xiàn),將多目標(biāo)問題轉(zhuǎn)換為單目標(biāo)問題。在對單目標(biāo)問題分析過程中,利用濾波器的頻率響應(yīng)曲線與理論濾波器響應(yīng)曲線擬合,從而得出針對單目標(biāo)優(yōu)化的可靠性,并得出濾波器的自適應(yīng)函數(shù)。設(shè)濾波器的自適應(yīng)函數(shù)為f,則其計(jì)算公式,如公式(2)所示:(2)
在公式(2)中,s指的是自變量;e指的是采樣頻率;p指的是常數(shù),通常情況下為1,主要目的是為防止自適應(yīng)函數(shù)的分母為0。在公式(2)在理想濾波器的條件下,其最大數(shù)值為30000。
為了滿足數(shù)字采控電路的自動化程度,本文對電路中的節(jié)點(diǎn)數(shù)量、元器件的種類以及組容器件數(shù)目進(jìn)行明確的規(guī)定和限制。利用單片機(jī)控制器在外接自主計(jì)算機(jī)組織的同時,可以接受7V-12V的直流輸入電壓。在模塊單獨(dú)運(yùn)行的過程中,充電控制數(shù)據(jù)保持?jǐn)?shù)字輸入狀態(tài),且可對器件電路提供5V和3.3V兩種備選輸出電壓條件?;趩纹瑱C(jī)模塊采用BST-V51的智能集成底板,在太陽能充電線路處于閉合狀態(tài)的前提下,調(diào)整控制器電機(jī)
作者簡介: 宋芳(1981-),女,漢族,河南南陽人,講師,工程碩士,研究方向?yàn)殡娮蛹夹g(shù)、檢測技術(shù)。轉(zhuǎn)速,使系統(tǒng)驅(qū)動能力在短時間內(nèi)達(dá)到頂峰狀態(tài),并以此迫使未經(jīng)完全利用的太陽能電子快速流入數(shù)字采控電路,達(dá)到減少無功監(jiān)測消耗的目的。由于本文采用的基于單片機(jī)的數(shù)字采控電路設(shè)計(jì)方法其結(jié)構(gòu)相對簡單,以此可進(jìn)行簡化。由上述得出,本文設(shè)計(jì)的數(shù)字采控電路固定節(jié)點(diǎn)共有8個,node+和node-分別占用兩個三位二進(jìn)制代碼。Value指的是對應(yīng)器件的數(shù)值,占用一個九位二進(jìn)制代碼。
由于數(shù)字采控電路數(shù)據(jù)采集誤差、監(jiān)測目標(biāo)選取誤差、運(yùn)行環(huán)境誤差是三類電路主要誤差條件,數(shù)字采控電路數(shù)據(jù)采集誤差多發(fā)生于監(jiān)測設(shè)備原件的安裝過程,受到單片機(jī)充電干擾條件χ的直接影響,取D作為數(shù)字采控電路數(shù)據(jù)采集上限條件,可將該項(xiàng)采集誤差結(jié)果設(shè)為F,則其計(jì)算公式,如公式(3)所示:
在公式(3)中,d指的是數(shù)字采控電路數(shù)據(jù)的隨機(jī)采集向量;λ指的是單片機(jī)的智能化干擾頻率;s指的是數(shù)字采控電路數(shù)據(jù)所承受的平均監(jiān)測干擾數(shù)據(jù)量。通過公式(3)本文設(shè)計(jì)的數(shù)字采控電路type與node+、node-的基因位對模擬集成電路的電路性能影響大,value基因位對電路的性能影響小。因此,在數(shù)字采控電路中每個元件占用32位二進(jìn)制染色體,則整個電路需要的染色體總長度為256位。至此,完成基于單片機(jī)的數(shù)字采控電路設(shè)計(jì)。
本次實(shí)驗(yàn)選用ongoingTKSC0.10微米工藝庫,其工作電壓為4.5V,計(jì)算機(jī)選用Uicrv-18工作站,其CPU大小為500,內(nèi)存為512M,為本文實(shí)驗(yàn)提供實(shí)驗(yàn)環(huán)境。選取的種群樣本大小為100,進(jìn)行代數(shù)為200代,設(shè)置初始交叉概率為0.98,初始變異概率為0.25。本次實(shí)驗(yàn)?zāi)J(rèn)頻率參量為30Hz,在每次CC2530設(shè)備調(diào)節(jié)操作后,觸動ARM處理器,直至degee監(jiān)測器數(shù)值發(fā)生改變,分別利用本文提出的電路設(shè)計(jì)方法與傳統(tǒng)電路設(shè)計(jì)方法對該電路進(jìn)行設(shè)計(jì),并設(shè)置傳統(tǒng)電路設(shè)計(jì)方法為實(shí)驗(yàn)對照組。在實(shí)驗(yàn)過程中,考慮到直流增益的問題,將電路的采集速率設(shè)置為本次對比實(shí)驗(yàn)的驗(yàn)證指標(biāo),記錄實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
根據(jù)上述實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備,將兩種設(shè)計(jì)方法設(shè)計(jì)的數(shù)字采控電路進(jìn)行應(yīng)用,并將其應(yīng)用效果中的采集速率指標(biāo)進(jìn)行記錄。實(shí)驗(yàn)得出的具體結(jié)果,如表1所示。
表1 實(shí)驗(yàn)結(jié)果對比表
根據(jù)表1可以看出,本文設(shè)計(jì)電路采集速率明顯高于對照組2倍以上,采集速率更高,可以實(shí)現(xiàn)對數(shù)字采控電路的優(yōu)化設(shè)計(jì),能夠充分達(dá)到預(yù)期要求效果。因此,通過對比實(shí)驗(yàn)證明,有理由將本文設(shè)計(jì)的數(shù)字采控電路廣泛投入使用。
考慮到數(shù)字采控電路的設(shè)計(jì)愈發(fā)的受到重視,基于單片機(jī)的數(shù)字采控電路設(shè)計(jì)方法經(jīng)歷了從起步到快速發(fā)展的階段。因此,本文對數(shù)字采控電路設(shè)計(jì)方法進(jìn)行基于單片機(jī)的優(yōu)化設(shè)計(jì)是十分必要的,通過實(shí)例分析結(jié)果證明設(shè)計(jì)的數(shù)字采控電路是具有現(xiàn)實(shí)意義的,能夠?yàn)閿?shù)字采控電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)提供理論支持,為數(shù)字采控電路的發(fā)展提供更加廣闊的空間。但本文不足之處在于,沒有對基于單片機(jī)的數(shù)字采控電路的打開調(diào)試程序進(jìn)行深入分析,相信這一點(diǎn),可以作為基于單片機(jī)的數(shù)字采控電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域日后的研究內(nèi)容之一。