一種測(cè)試電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度的系統(tǒng)

宋以鷹 顏杰

（比亞迪精密制造有限公司 廣東省深圳市 518116）

1 前言

電子產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)使用后會(huì)產(chǎn)生大量熱量，導(dǎo)致工作溫度升高，當(dāng)工作溫度超出電子產(chǎn)品能夠承受的范圍，不僅電子產(chǎn)品出現(xiàn)部件損壞，導(dǎo)致其使用壽命受到嚴(yán)重影響；而且過(guò)高的溫度也會(huì)危害到使用者。因此，有必要采取一定的措施保證電子產(chǎn)品在設(shè)定的溫度范圍內(nèi)工作，如強(qiáng)制關(guān)機(jī)或降溫等。而測(cè)試出電子產(chǎn)品安全工作的溫度范圍則是電子產(chǎn)品制造商保障電子產(chǎn)品安全工作的關(guān)鍵。

通常的做法是將電子產(chǎn)品置于溫箱中，通過(guò)逐漸升高溫箱內(nèi)的溫度，測(cè)試并記錄電子產(chǎn)品自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)的溫度，該溫度即為電子產(chǎn)品工作溫度的上限，等于或超過(guò)該溫度，電子產(chǎn)品就很可能出現(xiàn)損壞。因此制造商在采取保障措施以保證電子產(chǎn)品安全工作時(shí)，就有了可靠的參照依據(jù)，以該溫度為參照，使得電子產(chǎn)品在低于該溫度的溫度范圍內(nèi)工作，而當(dāng)工作溫度接近該溫度時(shí)，立即采取措施強(qiáng)制關(guān)機(jī)或降低溫度，以保護(hù)電子產(chǎn)品和使用者的安全。

然而按照現(xiàn)有的這種測(cè)試電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度的系統(tǒng)和方法，將電子產(chǎn)品放入溫箱，并將溫箱內(nèi)的溫度調(diào)整到一定值，電子產(chǎn)品由于受到外部溫差的影響導(dǎo)致其不正常關(guān)機(jī)，即這種不正常關(guān)機(jī)是由測(cè)試系統(tǒng)所致而非電子產(chǎn)品在高溫下產(chǎn)生的自動(dòng)關(guān)機(jī)，因此測(cè)試人員會(huì)誤認(rèn)為此時(shí)的溫度為電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度，然而事實(shí)上卻是，電子產(chǎn)品可能只是無(wú)法適應(yīng)驟然變高的溫度，此時(shí)的溫度還不是所需的電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度，這樣導(dǎo)致測(cè)試的結(jié)果不精確。

2 測(cè)試電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度的系統(tǒng)

本論文為解決電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度的測(cè)試結(jié)果不精確的技術(shù)問(wèn)題，提供一種測(cè)試電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度的系統(tǒng)和方法，該系統(tǒng)和方法能提供精確的測(cè)試結(jié)果。為達(dá)到上述目的，本論文提供一種測(cè)試電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度的系統(tǒng)，包括控制器、溫控箱、置于溫控箱中的被測(cè)試部件、及給被測(cè)試部件供電的電源，所述控制器控制溫控箱的溫度及電源的開關(guān)；還包括繼電器，所述被測(cè)試部件包括用于啟動(dòng)該測(cè)試部件的常開觸點(diǎn)開關(guān)，所述繼電器的常開觸點(diǎn)與所述常開觸點(diǎn)開關(guān)并聯(lián)，所述繼電器的線圈繞組串聯(lián)在電源回路中，所述控制器控制電源給繼電器供電。

所述被測(cè)試部件包括用于給該被測(cè)試部件供電的假電池，所述假電池與電源連接。

所述控制器分別通過(guò)GPIB 接口和RS232 接口與電源和溫控箱相連接。

一種測(cè)試電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度的方法，包括如下步驟：

（1）搭建測(cè)試系統(tǒng)；

（2）由控制器控制溫控箱的初始溫度，并控制電源給被測(cè)試部件供電；

（3）監(jiān)控被測(cè)試部件的運(yùn)行情況；

（4）若步驟（3）監(jiān)控的被測(cè)試部件正常運(yùn)行，則由控制器升高溫控箱的溫度；

（5）監(jiān)控被測(cè)試部件的運(yùn)行情況；

圖1：測(cè)試電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度的系統(tǒng)示意圖

（6）若步驟（5）監(jiān)控的被測(cè)試部件正常運(yùn)行，則返回步驟（4）；

（7）若步驟（5）監(jiān)控的被測(cè)試部件關(guān)機(jī)，則記錄此時(shí)溫度；

（8）若步驟（3）監(jiān)控的被測(cè)試部件關(guān)機(jī)，則由控制器控制電源給繼電器供電，繼電器得電導(dǎo)通，啟動(dòng)被測(cè)試部件；

（9）監(jiān)控被測(cè)試部件的運(yùn)行情況；

（10）若步驟（9）監(jiān)控的被測(cè)試部件正常運(yùn)行，則返回步驟（4）；

（11）若步驟（9）監(jiān)控的被測(cè)試部件關(guān)機(jī)，則由控制器降低溫控箱的溫度，并返回步驟（8）。

步驟（2）中溫控箱的初始溫度為50-70℃。

步驟（7）中還包括對(duì)被測(cè)試部件通過(guò)繼電器進(jìn)行復(fù)檢。

所述復(fù)檢包括以下步驟：

a.通過(guò)繼電器啟動(dòng)被測(cè)試部件；

b.監(jiān)控被測(cè)試部件的運(yùn)行情況；

c.若步驟b 監(jiān)控的被測(cè)試部件正常運(yùn)行，則返回步驟（4）；

d.若步驟b 監(jiān)控的被測(cè)試部件關(guān)機(jī)，則記錄此時(shí)溫度。

附圖說(shuō)明，如圖1。

圖1 中標(biāo)記：1-控制器；2-溫控箱；3-被測(cè)試部件；4- 電源；5-繼電器；6-GPIB 接口；7-RS-232 串口。具體實(shí)施方式：

為了使本論文所解決的技術(shù)問(wèn)題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本論文進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。

參閱圖1，本論文提供一種測(cè)試電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度的系統(tǒng)，包括控制器、溫控箱、置于溫控箱中的被測(cè)試部件、及給被測(cè)試部件供電的電源，所述控制器控制溫控箱的溫度及電源的開關(guān)；還包括繼電器，所述被測(cè)試部件包括用于啟動(dòng)該測(cè)試部件的常開觸點(diǎn)開關(guān)，所述繼電器的常開觸點(diǎn)與所述常開觸點(diǎn)開關(guān)并聯(lián)，所述繼電器的線圈繞組串聯(lián)在電源回路中，所述控制器控制電源給繼電器供電。

圖1 為整個(gè)系統(tǒng)的模塊示意圖，下面分別說(shuō)明各組成部分的作用。

控制器，承擔(dān)測(cè)試系統(tǒng)的全部控制功能，控制本論文測(cè)試系統(tǒng)的運(yùn)行，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試，從而避免人工測(cè)試帶來(lái)的誤差。

溫控箱，用于放置被測(cè)試部件，能夠?qū)崿F(xiàn)-45-130℃的溫度范圍。溫控箱通過(guò)RS-232 串口與控制器連接。其內(nèi)部設(shè)有溫度傳感器，能實(shí)時(shí)地將溫控箱的狀態(tài)反饋給控制器。被測(cè)試部件，可以是手機(jī)、個(gè)人數(shù)字助理機(jī)（PDA）、電動(dòng)玩具等電子產(chǎn)品， 被測(cè)試部件可以利用假電池進(jìn)行供電，以減少電池的消耗，避免環(huán)境污染。假電池為本領(lǐng)域技術(shù)人員所公知，其結(jié)構(gòu)不再贅述，使用時(shí)，假電池需接通電源，并與被測(cè)試部件的電池槽內(nèi)的端子連接，由此電源通過(guò)假電池給被測(cè)試部件供電。

電源，對(duì)被測(cè)試部件及繼電器供電，可提供0-15V 電能。電源通過(guò)GPIB 接口與控制器連接，控制器可控制電源的電壓大小及電源的開閉，并且電源的電流大小可反饋給控制器，從而監(jiān)控被測(cè)試部件的運(yùn)行情況。

繼電器，用于重新開啟已關(guān)機(jī)的被測(cè)試部件，起到復(fù)檢的目的。繼電器為常開繼電器，包括常開觸點(diǎn)和線圈繞組，繼電器的常開觸點(diǎn)并聯(lián)在被測(cè)試部件的常開觸點(diǎn)開關(guān)上，線圈繞組串聯(lián)在電源回路中。

由于溫控箱升高一定溫度后，被測(cè)試部件受溫差影響可能產(chǎn)生自動(dòng)關(guān)機(jī)，然而此時(shí)的自動(dòng)關(guān)機(jī)并不是由高溫所導(dǎo)致的，由此出現(xiàn)測(cè)試結(jié)果不精確。采用繼電器可以起到復(fù)檢的目的，即當(dāng)被測(cè)試部件出現(xiàn)關(guān)機(jī)后，控制器監(jiān)控到電源的電流為零，控制器控制電源給繼電器供電，繼電器得電，其常開觸點(diǎn)導(dǎo)通，由于繼電器的常開觸點(diǎn)與被測(cè)試部件的常開觸點(diǎn)開關(guān)組成并聯(lián)電路，相當(dāng)于并聯(lián)電路導(dǎo)通，從而使得被測(cè)試部件重新開機(jī)，以上過(guò)程相當(dāng)于手動(dòng)按壓一次被測(cè)試部件的開機(jī)按鍵，隨后控制器繼續(xù)執(zhí)行測(cè)試。

圖2 給出了本發(fā)明測(cè)試方法的流程圖，現(xiàn)具體說(shuō)明如下。

（1）搭建測(cè)試系統(tǒng)，將控制器、溫控箱、被測(cè)試部件、繼電器、電源等各部件按照前述方式連接。

（2）開啟電源和溫控箱，設(shè)置溫控箱的初始溫度為T1，在一實(shí)施例中，T1 為50-70℃。

（3）控制器監(jiān)控被測(cè)試部件的運(yùn)行情況，具體是，當(dāng)檢測(cè)到電源的電流為零時(shí)，表示被測(cè)試部件已自動(dòng)關(guān)機(jī)，否則，被測(cè)試部件正常運(yùn)行。

（4）若步驟S3 監(jiān)控的被測(cè)試部件正常運(yùn)行，則由控制器控制溫控箱升高溫度，由于在該溫度下，被測(cè)試部件仍能正常運(yùn)行，說(shuō)明該溫度還未達(dá)到其關(guān)機(jī)溫度，所以需上調(diào)溫度以繼續(xù)測(cè)試，在一實(shí)施例中，控制器控制溫控箱升高0.1-1℃。

（5）在溫控箱升高溫度后，控制器繼續(xù)監(jiān)控被測(cè)試部件的運(yùn)行情況。

（6）若步驟（5）監(jiān)控的被測(cè)試部件正常運(yùn)行，則返回步驟（4），即繼續(xù)升高溫度。

（7）若步驟（5）所監(jiān)控的被測(cè)試部件自動(dòng)關(guān)機(jī)，說(shuō)明在此時(shí)的溫度下，被測(cè)試部件受。高溫影響導(dǎo)致其自動(dòng)關(guān)機(jī)，該溫度為被測(cè)試部件所能承受的最高溫度，記錄該溫度，測(cè)試結(jié)束。

（8）若步驟（3）監(jiān)控的被測(cè)試部件自動(dòng)關(guān)機(jī)，即表明初始溫度T1 有可能是受溫差影響而產(chǎn)生的不準(zhǔn)確的測(cè)試溫度，由控制器控制電源給繼電器供電，繼電器得電后導(dǎo)通，使得與被測(cè)試部件的常開觸點(diǎn)開關(guān)的并聯(lián)電路導(dǎo)通，從而重新啟動(dòng)被測(cè)試部件。

（9）控制器監(jiān)控被測(cè)試部件的運(yùn)行情況。

（10）若步驟（9）所監(jiān)控的被測(cè)試部件正常運(yùn)行，即表明初始溫度T1 確實(shí)是不準(zhǔn)確的，需要升高溫度，即返回步驟（4）。

（11）若步驟（9）所監(jiān)控的被測(cè)試部件自動(dòng)關(guān)機(jī)，一種情況可能是，初始溫度T1 設(shè)高了，因此由控制器降低溫控箱的溫度，并返回步驟S8 進(jìn)行重啟；在一實(shí)施例中，控制器控制溫控箱的溫度降低0.1-1℃。

需要說(shuō)明的是，本論文在被測(cè)試部件處于初始溫度T1 時(shí)，利用繼電器進(jìn)行復(fù)檢，可以避免溫差帶來(lái)的影響。但是，在步驟S7 中，即在溫度升高后，監(jiān)控被測(cè)試部件自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)，此時(shí)也可以進(jìn)行復(fù)檢，以使測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確。

圖2：測(cè)試電子產(chǎn)品關(guān)機(jī)溫度的方法流程圖

在步驟（7）中復(fù)檢的步驟如下：

a.通過(guò)繼電器啟動(dòng)被測(cè)試部件。

b.監(jiān)控被測(cè)試部件的運(yùn)行情況。

c.若步驟b 監(jiān)控的被測(cè)試部件正常運(yùn)行，則返回步驟（4）。

d.若步驟b 監(jiān)控的被測(cè)試部件關(guān)機(jī)，則記錄此時(shí)溫度。

3 結(jié)語(yǔ)

本論文的有益效果是：本論文通過(guò)繼電器的導(dǎo)通來(lái)開啟被測(cè)試部件，從而可以在被測(cè)試部件由于受溫差影響導(dǎo)致其不正常關(guān)機(jī)時(shí)，可以重啟被測(cè)試部件并監(jiān)控其運(yùn)行情況，以此來(lái)確定測(cè)試結(jié)果是否精確。