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      SRM狀態(tài)轉(zhuǎn)換表和應(yīng)用中新狀態(tài)獲取方法

      2018-07-03 02:41:30王吉華任傳波曲金玉
      微特電機(jī) 2018年6期
      關(guān)鍵詞:狀態(tài)值檢測點磁阻

      王吉華,任傳波,曲金玉,李 超

      (山東理工大學(xué), 淄博 255000)

      0 引 言

      隨著開關(guān)磁阻電機(jī)(以下簡稱SRM)在航空航天、礦山、紡織、家電和交通等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,人們對其調(diào)速系統(tǒng)的研究越來越重視。SRM的運行控制要遵循 “磁阻最小”原理,即在轉(zhuǎn)子合適位置給對應(yīng)的定子相繞組通電和斷電進(jìn)行換相控制,確保合適的開通角和關(guān)斷角,達(dá)到正常運行和進(jìn)一步調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)速、轉(zhuǎn)矩等目的[1,2],可見,轉(zhuǎn)子位置檢測是驅(qū)動控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。

      轉(zhuǎn)子位置檢測有直接和間接法。前者是利用光電和磁敏等位置傳感器進(jìn)行檢測,后者是無位置傳感器檢測,利用測得的相電壓[3]和相電流[4-6]等估算磁鏈和電感等電磁量,也有直接測得附加線圈電感[7,8]和附加電容值[9]等,再分別由磁鏈、電流、電壓、電感和電容等與轉(zhuǎn)子位置的關(guān)系來獲取轉(zhuǎn)子位置參數(shù)。由于傳感器檢測的成本、體積和可靠性等因素,無傳感器的間接檢測方法一直是近年來研究熱點,并取得了很多重要成果,但目前還沒有達(dá)到普及應(yīng)用[10,11]。

      目前在市場上應(yīng)用多的仍然是傳感器直接檢測[12-16],特別是在大中型SRM調(diào)速系統(tǒng)中,而且傳感器直接檢測可作為航空航天等重要領(lǐng)域SRM位置檢測的冗余備份[10]。對于SRM調(diào)速系統(tǒng),只要能檢測到轉(zhuǎn)子的關(guān)鍵位置信息即可進(jìn)行換相控制,傳感器直接位置檢測和部分無傳感器位置檢測[17,18]均基于這種思想。換相控制需檢測出這些關(guān)鍵位置,并且當(dāng)轉(zhuǎn)子從一個關(guān)鍵位置到另一個關(guān)鍵位置轉(zhuǎn)換時傳感器輸出值必須作出相應(yīng)變化,此值稱作轉(zhuǎn)子的一個位置狀態(tài),一個電角度周期內(nèi)若干個狀態(tài)就組成狀態(tài)轉(zhuǎn)換表。它是換相控制的重要依據(jù),但文獻(xiàn)中很少有對其進(jìn)行具體的分析,特別是在設(shè)計實踐中的新狀態(tài)值獲取方法。

      因此,以目前應(yīng)用中占大多數(shù)的光電位置傳感器為例,針對轉(zhuǎn)子相對位置和傳感器輸出值分析狀態(tài)轉(zhuǎn)換表及其規(guī)律;分析在電機(jī)運行時直接讀取傳感器來獲取新狀態(tài)值所遇到的問題,基于狀態(tài)轉(zhuǎn)換表規(guī)律,提出了依據(jù)上一次狀態(tài)值和捕捉當(dāng)前輸出值發(fā)生變化的傳感器編號而通過查表獲取的方法,并設(shè)計轉(zhuǎn)子正反轉(zhuǎn)查詢的表格。狀態(tài)轉(zhuǎn)換表分析和實踐中獲取新狀態(tài)值的思路和方法對于其它結(jié)構(gòu)形式的SRM調(diào)速系統(tǒng)均適用,可提供參考和借鑒。

      1 位置分布關(guān)系

      分析狀態(tài)轉(zhuǎn)換表可從轉(zhuǎn)子、定子和位置傳感器的相對位置關(guān)系著手。針對某三相12/8 SRM,對其進(jìn)行拆卸和位置關(guān)系測量,如圖1所示,確定其光電位置傳感器(實質(zhì)為光耦,后簡稱光耦)、定子和轉(zhuǎn)子的分布及位置關(guān)系,如圖2所示。在圖2中,3個光耦按圓周方向固定安裝在電機(jī)后端蓋上,其和定子均用粗實線表示,二者剛性連接;擋板和擋板間隙交叉分布在擋板圓盤的外圓周上,擋板圓盤和轉(zhuǎn)子均剛性連接在轉(zhuǎn)子軸上,擋板圓盤和轉(zhuǎn)子用細(xì)實線表示;定子、轉(zhuǎn)子、光耦安裝圓周面和擋板圓盤四者同軸。光耦槽正對于擋板所在的擋板盤外圓周,當(dāng)擋板盤隨著轉(zhuǎn)子一起轉(zhuǎn)動時,擋板和擋板間隙將輪流通過3個光耦槽。

      圖1 SRM拆卸圖

      圖2 SRM位置關(guān)系圖

      圖2中,將轉(zhuǎn)子和定子圓周平分為48個扇形,用虛線標(biāo)識,每個虛線夾角即機(jī)械角為7.5°,由于對稱性和為了簡化,只標(biāo)出相對的2個90°區(qū)域。定子上A,B和C三相各有4個凸極1~4,轉(zhuǎn)子有凸極1~8。定子是凸極和凹槽均為15°的均勻交叉分布,3個光耦是兩兩中心線之間為15°的均勻分布,見圖2中的雙點劃線,并且中間光耦的中心線和定子凸極B1中心線重合。轉(zhuǎn)子是凸極15°和凹槽30°的交叉分布,擋板盤的外圓周上是擋板和擋板間隙均為22.5°的均勻交叉分布,并且擋板順時針轉(zhuǎn)動的前邊沿和各個轉(zhuǎn)子凸極中心線重合。電機(jī)運行時,剛性連接的定子和光耦靜止,而剛性連接的轉(zhuǎn)子和擋板盤同軸轉(zhuǎn)動。

      當(dāng)一款SRM定型生產(chǎn)時,其定子、轉(zhuǎn)子、光耦位置傳感器和擋板圓盤四者的裝配關(guān)系將確定,這決定了在轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動一周的各個位置上這四者的相對位置雖各不相同但均確定,圖2為某一位置上這四者的相對位置關(guān)系。由于轉(zhuǎn)子和擋板盤剛性同軸連接,擋板和轉(zhuǎn)子凸極的相對位置固定;定子和光耦位置傳感器剛性連接,定子凸極和傳感器的相對位置固定。當(dāng)轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動時,擋板和擋板間隙輪流通過光耦槽,光耦將產(chǎn)生的變化輸出,不同的輸出就代表了轉(zhuǎn)子凸極和定子凸極離散的關(guān)鍵相對位置信息,即狀態(tài),狀態(tài)變化的時刻就是關(guān)鍵位置檢測點。

      2 關(guān)鍵位置檢測點

      根據(jù)SRM的電感線性模型[1-2]和圖2的電機(jī)結(jié)構(gòu)特點,分析轉(zhuǎn)子關(guān)鍵位置檢測點。電機(jī)為12/8三相結(jié)構(gòu),每相四極串聯(lián),由SRM設(shè)計理論可知,轉(zhuǎn)子極距τr=45°,步進(jìn)角θstep=15°,在圖2的電機(jī)結(jié)構(gòu)中,由于3個光耦兩兩夾角15°,擋板和擋板間隙為22.5°均勻分布,使得轉(zhuǎn)子每轉(zhuǎn)動7.5°就有一個光耦的值發(fā)生變化,可檢測半個步距的相對位置關(guān)系,控制可更加精細(xì)。

      由于轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動一個轉(zhuǎn)子極距就完成了一個電角度周期,由圖2可看出,3個光耦相鄰極A1,B1和C1的各自相鄰轉(zhuǎn)子極8-1,1-2和2-3均分別完成一個電角度周期,而A,B,C三相的各自4個極1~4與各自的相鄰轉(zhuǎn)子極位置關(guān)系完全相同,所以只需選擇某相一個極與轉(zhuǎn)子一個極來分析關(guān)鍵位置檢測。以B1和轉(zhuǎn)子極1為例,并假設(shè)B1為通電相,隨轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動的電感變化和對應(yīng)角度如圖3所示。

      圖3 關(guān)鍵位置檢測點分布圖

      圖3中, 對應(yīng)圖2的順時針旋轉(zhuǎn)方向,每2條虛線之間夾角對應(yīng)機(jī)械角為7.5°和電角度60°,從O到(O)的轉(zhuǎn)子極距τr對應(yīng)機(jī)械角為45°和電角度360°,轉(zhuǎn)子每順時針轉(zhuǎn)動7.5°就對應(yīng)一個關(guān)鍵位置檢測點,如圖3中各條虛線對應(yīng)的θ軸上點和角度。由圖2結(jié)構(gòu)圖,在θ軸上,從O向順時針轉(zhuǎn)動方向的θ5各檢測點,依次對應(yīng)轉(zhuǎn)子凸極1和2的凹槽中心與A1和B1的凹槽中心對齊、轉(zhuǎn)子凸極1前邊沿與B1后邊沿對齊、轉(zhuǎn)子凸極1前邊沿與B1中心對齊、轉(zhuǎn)子凸極1前邊沿與B1前邊沿對齊(即兩者的中心對齊)、轉(zhuǎn)子凸極1中心與B1前邊沿對齊、轉(zhuǎn)子凸極1后邊沿與B1前邊沿對齊等6個關(guān)鍵位置檢測點。

      O對應(yīng)圖2位置狀態(tài)下轉(zhuǎn)子極1的相對位置角0。B1繞組電感為最小值Lmin,O和θ2之間通常為開通角區(qū)域;θ2到θ34之間為電感上升區(qū)域;由于定子極弧βs和轉(zhuǎn)子極弧βr相等,且均為15°,最大電感Lmax退化為一個點,對應(yīng)角度范圍為0;θ23和θ34之間通常為關(guān)斷角區(qū)域;θ34到θ5之間是電感下降區(qū)域。

      這樣就可根據(jù)各區(qū)域控制的需要,由該區(qū)域的前后檢測點為基準(zhǔn)進(jìn)行相應(yīng)的轉(zhuǎn)速和角度計算,從而達(dá)到換相控制所需的準(zhǔn)確時刻。當(dāng)?shù)竭_(dá)一個檢測點時,將有1個光耦輸出值發(fā)生變化,3個光耦組合值也就發(fā)生變化,即狀態(tài)值變化,實際應(yīng)用中轉(zhuǎn)子相對位置就是通過變化的狀態(tài)值來得到。

      3 狀態(tài)轉(zhuǎn)換分析和狀態(tài)轉(zhuǎn)換表規(guī)律

      在轉(zhuǎn)子和擋板盤轉(zhuǎn)動時,分析轉(zhuǎn)子相對位置的變化,并通過擋板盤和3個光耦組成的檢測電路所輸出的值表示這些位置狀態(tài)轉(zhuǎn)換關(guān)系,從而得到狀態(tài)轉(zhuǎn)換表,并分析其規(guī)律。

      3個光耦的檢測電路相同,以1號光耦為例,如圖4所示。當(dāng)擋板擋住時,光敏三極管不接收光而斷開,P1輸出低電平,邏輯值為0;當(dāng)間隙通過光耦時,光敏三極管接收光而導(dǎo)通,P1輸出高電平,邏輯值為1。光耦1、2和3的輸出結(jié)果依次從低位到高位排列,形成一個三位二進(jìn)制數(shù)作為狀態(tài)值,此狀態(tài)值就表示了擋板圓盤的位置即轉(zhuǎn)子的相對位置。

      圖4 光耦檢測電路

      為了便于分析,將圖2中定子和轉(zhuǎn)子圓柱體沿同一棱剖開,將圓周方向位置分布展成直線方向位置分布,如圖5和圖6所示,分別表示轉(zhuǎn)子順、逆時針方向轉(zhuǎn)動,并假設(shè)單相通電使轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動。分析時,不妨將圖2中的位置作為進(jìn)入各自狀態(tài)1的臨界位置,轉(zhuǎn)子順時針轉(zhuǎn)動一個角度即進(jìn)入順時針狀態(tài)1,如圖5;轉(zhuǎn)子逆時針轉(zhuǎn)動一個小角度即進(jìn)入逆時針狀態(tài)1,如圖6。每兩條虛線間隔為機(jī)械角7.5°,轉(zhuǎn)子和擋板圓盤每轉(zhuǎn)動7.5°狀態(tài)值將發(fā)生一次變換。由圖3可知,一個電周期由6個狀態(tài)組成,每一相定子極的相對位置均按此作周期性變化。

      對于順時針轉(zhuǎn)動的狀態(tài)1,如圖5,光耦3被擋板擋住而輸出0,光耦1和光耦2通過間隙而輸出1,對應(yīng)狀態(tài)值為二進(jìn)制數(shù)011B(十進(jìn)制數(shù)3),應(yīng)使C相通電而到達(dá)下一個狀態(tài)。同理,狀態(tài)2~6的狀態(tài)值分別為010B(2),110B(6),100B(4),101B(5)和001B(1),并應(yīng)分別使B,B,A,A和C相通電而到達(dá)各自的下一個狀態(tài)。

      同樣,對于轉(zhuǎn)子逆時針轉(zhuǎn)動的狀態(tài)1,如圖6,光耦2和光耦3被擋板擋住而輸出0,光耦1通過間隙而輸出1,對應(yīng)狀態(tài)值為001B(1),應(yīng)使A相通電而到達(dá)下一個狀態(tài)。同理,狀態(tài)2~6的狀態(tài)值分別為101B(5),100B(4),110B(6),010B(2)和011B(3),并應(yīng)分別使B,B,C,C和A相通電而到達(dá)各自的下一個狀態(tài)。

      圖5 轉(zhuǎn)子順時針轉(zhuǎn)動時位置狀態(tài)分析圖

      圖6 轉(zhuǎn)子逆時針轉(zhuǎn)動時位置狀態(tài)分析圖

      總結(jié)以上分析,便可得到轉(zhuǎn)子順、逆時針轉(zhuǎn)動的位置狀態(tài)轉(zhuǎn)換表,如表1所示,其均以圖2中的臨界位置為起始點。對于狀態(tài)轉(zhuǎn)換表,狀態(tài)1~6僅是為了便于分析而進(jìn)行的人為定義,對實際控制系統(tǒng)并無作用,實際起作用的是單片機(jī)讀取光耦檢測的狀態(tài)值,是換相控制的依據(jù)。各狀態(tài)值下的單相通電僅是為了分析需要而采用的一種換相控制方式,實際中不同的控制目的和策略可對應(yīng)不同的方式。

      表1 三相12/8 SRM的狀態(tài)轉(zhuǎn)換表

      從表1可以得到如下規(guī)律:

      (1)總體看,在一個轉(zhuǎn)子極距內(nèi),轉(zhuǎn)子順、逆時針轉(zhuǎn)動的狀態(tài)值轉(zhuǎn)換順序和通電相剛好相反。順時針狀態(tài)是3-2-6-4-5-1-3周期循環(huán),通電是C-B-A-C相循環(huán);相反,逆時針分別是1-5-4-6-2-3-1和A-B-C-A循環(huán)。

      (2)在一個轉(zhuǎn)子極距內(nèi),針對同一狀態(tài)值,也即轉(zhuǎn)子的同一位置區(qū)域,順、逆時針方向轉(zhuǎn)動的下一個狀態(tài)值不同。

      (3)在一個轉(zhuǎn)子極距內(nèi),針對同一狀態(tài)值,順、逆時針方向轉(zhuǎn)動的通電相不同。

      (4)從二進(jìn)制數(shù)可看出,順、逆時針方向轉(zhuǎn)動的相鄰狀態(tài)值變換均由其中一個相應(yīng)的傳感器值變化引起。

      (5)從二進(jìn)制數(shù)可看出,順、逆時針方向轉(zhuǎn)動上,引起相鄰狀態(tài)值變化的光耦是相鄰的,其沿著各自轉(zhuǎn)動方向,而且是3個光耦作周期性循環(huán)變化。

      (6)從二進(jìn)制數(shù)可看出,引起相鄰狀態(tài)值變化的相鄰光耦的輸出值是邏輯值0和1交錯循環(huán)的,即沿旋轉(zhuǎn)方向某擋板前邊沿或某擋板后邊沿正對光耦中心線,擋板進(jìn)入或退出光耦檢測區(qū)。

      (7)從圖2~圖6可知,某光耦值發(fā)生變化的時刻,即狀態(tài)值發(fā)生變化的時刻,正是關(guān)鍵位置檢測點,即轉(zhuǎn)子進(jìn)入下一位置狀態(tài)的起始點。

      規(guī)律(1)和(2)僅從總體上反映了順、逆時針方向上變化趨勢的差異,(3)是二者“磁阻最小”原理的本質(zhì)上區(qū)別,(4)~(7)是轉(zhuǎn)子相對位置關(guān)系在外在表現(xiàn)上的不同??傊瑺顟B(tài)轉(zhuǎn)換表不能將順、逆時針方向狀態(tài)值和通電相按相反順序排列來簡單地表示,而完整的狀態(tài)轉(zhuǎn)換表應(yīng)包含十進(jìn)制數(shù)狀態(tài)值、通電相和反映光耦值變化規(guī)律的二進(jìn)制數(shù)狀態(tài)值,而且要有三者之間的一一對應(yīng)關(guān)系。

      4 獲取當(dāng)前狀態(tài)值的方法

      對于一款SRM,其結(jié)構(gòu)和狀態(tài)轉(zhuǎn)換表確定,是單片機(jī)調(diào)速控制的重要依據(jù),關(guān)鍵是單片機(jī)要獲得電機(jī)運行的當(dāng)前時刻狀態(tài)值和關(guān)鍵檢測點的準(zhǔn)確時刻,才能根據(jù)狀態(tài)表準(zhǔn)確地進(jìn)行換相控制。從圖5和圖6的分析可看出,表1中狀態(tài)值是通過單片機(jī)讀取3個光耦值而得到,但此方法在各種轉(zhuǎn)速下并不是都可以得到準(zhǔn)確的換相時刻。

      單片機(jī)匯編語言或C語言的主程序均采用順序結(jié)構(gòu),含有跳轉(zhuǎn)和中斷響應(yīng)。讀取光耦語句將放在主程序大循環(huán)中或某個中斷響應(yīng)中;前者需等到下一循環(huán)到來時才能讀取,后者需等到此中斷事件發(fā)生時才能讀取;兩者均需等待一定時間,前者時間不確定,后者時間可能確定,如定時中斷,但電機(jī)轉(zhuǎn)速卻不確定。這將帶來2個問題:一是狀態(tài)漏檢,特別是高速運行時;二是讀取狀態(tài)不一定是在剛進(jìn)入此狀態(tài)的時刻,即關(guān)鍵位置檢測點。

      解決方法是利用單片機(jī)捕捉功能,由表1規(guī)律(4)、 (5)和 (7),實時捕捉狀態(tài)變化的準(zhǔn)確時刻。又由規(guī)律(6),光耦輸出變化可能是上升沿或下降沿,則捕捉模塊要設(shè)置為上升沿和下降沿均捕捉,由此不會發(fā)生狀態(tài)漏檢,克服了以上2個問題。

      但會帶來另一問題,捕捉并不像讀取那樣能得到當(dāng)前狀態(tài)值。若采用捕捉并讀取的方法,也只能在捕捉中斷響應(yīng)中讀取,但從捕捉事件發(fā)生到進(jìn)入捕捉中斷響應(yīng)來讀取需要一個時間片,這將影響換相控制的滯后,特別在高速時可能會造成控制失敗。

      單片機(jī)查表能有效提高實時性,為此,通過捕捉和查表的方式來獲取當(dāng)前狀態(tài)值。由狀態(tài)表規(guī)律(4)~(6),對于轉(zhuǎn)子順、逆時針方向轉(zhuǎn)動,狀態(tài)值和光耦變化規(guī)律存在一一對應(yīng)關(guān)系,將上一個狀態(tài)值作為行,當(dāng)前發(fā)生跳變的光耦編號作為列,設(shè)計的二維表格如表2所示,“*”表示不會被查表而可設(shè)置為單片機(jī)寄存器任何值。某種意義上,表2是用于捕捉的狀態(tài)轉(zhuǎn)換表,和表1一一對應(yīng)。此表格也包含了表1的正反轉(zhuǎn),查詢時不必考慮正反轉(zhuǎn)。

      表2 單片機(jī)新狀態(tài)查詢二維表

      由于捕捉必須發(fā)生在轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動時,在靜止起動時刻仍然采用讀取3個光耦值獲取狀態(tài),此時不存在實時性問題,硬件上與3個捕捉端口線并聯(lián)3個普通I/O口線來實現(xiàn)。靜止起動時讀取狀態(tài)值也是必需的,為查表提供初始的上一次狀態(tài)值。以上分析的狀態(tài)轉(zhuǎn)換表和狀態(tài)值獲取方法,已經(jīng)在某12/8 SRM調(diào)速系統(tǒng)上進(jìn)行了應(yīng)用,經(jīng)起動及各種轉(zhuǎn)速下的實驗,均能可靠運行。

      5 結(jié) 語

      從SRM的工程應(yīng)用角度,測得位置傳感器、定子和轉(zhuǎn)子的位置關(guān)系,分析關(guān)鍵位置檢測點、狀態(tài)轉(zhuǎn)換表及其規(guī)律;分析電機(jī)運行時采用讀取光耦方法獲得新狀態(tài)值可能帶來的問題,利用狀態(tài)轉(zhuǎn)換表規(guī)律,提出利用捕捉和查表獲取的方法,并設(shè)計包含了正反轉(zhuǎn)的二維查詢表格。狀態(tài)轉(zhuǎn)換表分析方法和新狀態(tài)值獲取方法已在調(diào)速系統(tǒng)中得到驗證,可為SRM的工程應(yīng)用提供參考。

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