張寶慶 史國(guó)權(quán) 石廣豐 蔡洪彬
長(zhǎng)春理工大學(xué),長(zhǎng)春,130022
衍射光柵是航空、軍工等領(lǐng)域光譜儀器的核心元件。機(jī)械刻劃加工方式[1]在制作低刻線(xiàn)密度原刻衍射光柵方面具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。它是利用金剛石刻劃刀在鍍有金屬膜(如鋁膜)的基底上進(jìn)行擠壓、拋光,形成光柵槽形的過(guò)程[2-3]。
光柵機(jī)械刻劃已有近200年的歷史。目前,世界上光柵刻劃技術(shù)領(lǐng)先的是法國(guó)、德國(guó)、美國(guó)和日本等發(fā)達(dá)國(guó)家,其機(jī)械刻劃光柵工藝先進(jìn),光柵品質(zhì)已經(jīng)接近極限。國(guó)內(nèi)衍射光柵機(jī)械刻劃工藝方法仍與幾十年前相同——正式刻劃前需要通過(guò)多次、長(zhǎng)時(shí)間的試刻劃,并且在刀具設(shè)計(jì)與刻劃時(shí)加入經(jīng)驗(yàn)值進(jìn)行槽形補(bǔ)償[4-5],才能獲得合格品。這導(dǎo)致成本高、浪費(fèi)大,機(jī)械刻劃槽形無(wú)法預(yù)控。近年來(lái),國(guó)內(nèi)外許多學(xué)者針對(duì)刻劃?rùn)C(jī)、金剛石刻劃光柵理論、金剛石[6]刻刀晶面定向與刃磨工藝等開(kāi)展了研究,并取得了階段性成果,但尚未有針對(duì)刻劃工藝與槽形預(yù)控的研究報(bào)道。
光柵刻劃中,鋁膜材料變形是幾何非線(xiàn)性與材料非線(xiàn)性的問(wèn)題,而有限元模擬分析技術(shù)是解決復(fù)雜工程技術(shù)問(wèn)題的有效途徑,故將材料試驗(yàn)與有限元模擬技術(shù)相結(jié)合是研究光柵刻劃槽形預(yù)控的有效方法。對(duì)光柵刻劃成槽工藝過(guò)程的研究結(jié)果表明:光柵成槽與刀具結(jié)構(gòu)參數(shù)、工藝及安裝參數(shù)(統(tǒng)稱(chēng)為工裝參數(shù))關(guān)系密切,因此需要一種有效的方法,即通過(guò)預(yù)先設(shè)定正確的工裝參數(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)槽形的預(yù)控。
1.1.1工裝參數(shù)的分析與確定
金剛石尖劈刀刀具結(jié)構(gòu)如圖1所示,它由2個(gè)前刀面(定向面和非定向面)、1個(gè)后刀面、1條主刻劃刃和2條副刻劃刃構(gòu)成,是一個(gè)以刀尖為基點(diǎn),具有“三面三刃”的空間三棱錐結(jié)構(gòu)。由此建立刀具正交參考坐標(biāo)平面,如圖2所示。
在此坐標(biāo)系下定義刀具結(jié)構(gòu)參數(shù):
(1)刀尖角——在正交平面內(nèi)測(cè)量的刀具定向面與非定向面之間的夾角。
圖1 尖劈刀刀具幾何結(jié)構(gòu) 圖2 刀具正交參考平面
(2)定向角——在正交平面內(nèi)測(cè)量的刀具定向面與基面間的夾角。
(3)俯仰后倒角——在倒角平面內(nèi)測(cè)量的刀具后刀面與基面間的夾角。
(4)滾轉(zhuǎn)后倒角——在基面內(nèi)測(cè)量的后倒角面的法平面與刻劃平面之間的夾角。
(5)刃口半徑——磨制刀具時(shí),3條刃上產(chǎn)生的圓角半徑。
刀具安裝參數(shù):
(1)滾轉(zhuǎn)角——繞刻劃平面與基面相交軸旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的角度。
(2)俯仰角——繞正交平面與基面相交軸旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的角度。
(3)方位角——繞刻劃平面與正交平面相交軸旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的角度。
(4)刻劃速度——刻劃過(guò)程中,刻刀單位時(shí)間內(nèi)的行進(jìn)距離。
(5)落刀深度——刻劃刀刀尖點(diǎn)距離薄膜表面的垂直距離。
1.1.2槽形參數(shù)的定義
圖3為衍射光柵機(jī)械刻劃示意圖,刻劃后理想的槽形各參數(shù)用圖4表示。圖4中,φ為槽底角;θ1為閃耀角;θ2為非閃耀角,θ2=180°-θ1-φ;d為光柵常數(shù);b為槽寬;h為槽深。
圖3 衍射光柵機(jī)械刻劃示意圖
由于實(shí)際刻劃的槽形截面與理想槽形截面不一致,所以實(shí)際槽形各參數(shù)的度量采用“主要近似法”或“加權(quán)平均法”對(duì)槽形作幾何近似,將代表槽形的主要結(jié)構(gòu)作為度量對(duì)象,或?qū)⒉坌沃饕Y(jié)構(gòu)與次要結(jié)構(gòu)作加權(quán)平均后作為度量對(duì)象。本文根據(jù)光柵刻劃的實(shí)際情況,采用“主要近似法”對(duì)槽形參數(shù)進(jìn)行描述。
圖4 理想化槽形參數(shù)示意圖
利用高倍率顯微鏡對(duì)刻劃后的光柵端面及截面進(jìn)行觀測(cè),發(fā)現(xiàn)兩端沒(méi)有材料擠出的現(xiàn)象(圖5),多個(gè)光柵槽形截面的重合性好(圖6)。從兩端無(wú)材料擠出且多個(gè)槽形截面重合性好可知,刻劃過(guò)程中不產(chǎn)生切屑,幾乎沒(méi)有材料沿縱向流動(dòng),光柵刻劃過(guò)程可近似認(rèn)為是鋁膜受刻劃刀擠壓,薄膜材料向兩側(cè)隆起的過(guò)程。
圖5 高倍顯微鏡下刻劃光柵始、末端面圖
圖6 原子力顯微鏡光柵多截面槽型
刀具在刻劃光柵行進(jìn)過(guò)程中,在鋁膜上形成三角槽形。經(jīng)過(guò)刀尖點(diǎn)沿刻劃方向取鋁膜任意截面C(圖7),當(dāng)刻刀沿刻劃方向進(jìn)給至L1時(shí),刻刀在截面C上投影的三角形高為H1。同理,進(jìn)給至L2時(shí),高為H2。依此類(lèi)推,當(dāng)刻劃深度不再變化時(shí)槽形截面投影的三角形高便是刻劃深度。由此,便可將刻劃過(guò)程轉(zhuǎn)化為楔形片壓入過(guò)程,將三維刻劃轉(zhuǎn)化為二維平面應(yīng)變問(wèn)題。
圖7 光柵刻劃截面成型原理示意圖
初始建立的坐標(biāo)系如圖8所示,以O(shè)X軸正方向?yàn)榭虅澋缎羞M(jìn)方向,在正交平面OYZ上投影:角A為定向角。OP為初始定向面在OYZ上的投影,當(dāng)?shù)毒呓?jīng)過(guò)安裝參數(shù)俯仰角α、滾轉(zhuǎn)角β、方位角θ調(diào)整后,定向面在OYZ上新的投影為OP′,新定向角為A′。
圖8 光柵截面定向面投影位置圖
根據(jù)OP 的方向余弦(0,cos A,sinA),可求得
從式(1)可知,光柵刻劃實(shí)際截面投影與定向角、俯仰角、方位角、滾轉(zhuǎn)角的函數(shù)關(guān)系,通過(guò)調(diào)整其中幾個(gè)參數(shù),便可得到新的投影位置與截面形狀。
為了進(jìn)行有效、準(zhǔn)確的光柵刻劃數(shù)值模擬試驗(yàn),須對(duì)刻劃成槽有較大影響的力學(xué)參數(shù)如彈性模量、金剛石與鋁薄膜的摩擦因數(shù)等進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。
這里以79線(xiàn)/mm中階梯衍射光柵刻劃模擬實(shí)例為參照,對(duì)6.5μm厚鋁薄膜樣本做納米壓痕與劃痕實(shí)驗(yàn),圖9為納米壓痕實(shí)驗(yàn)圖,橫坐標(biāo)為納米壓頭壓入深度(位移),縱坐標(biāo)是壓頭壓入力的大?。ㄝd荷)。圖10為納米劃痕實(shí)驗(yàn)圖,橫坐標(biāo)為劃針劃入鋁薄膜時(shí)間,縱坐標(biāo)分別為法向力、橫向力及它們對(duì)應(yīng)的位移。表1所示為多次重復(fù)試驗(yàn)分別得到的彈性模量E、金鋼石刻刀與鋁薄膜間摩擦因數(shù)的平均值。根據(jù)文獻(xiàn)[7-10],運(yùn)用量綱理論、反演方法和有限元模擬對(duì)納米壓痕實(shí)驗(yàn)進(jìn)行分析,最終擬合出應(yīng)力-應(yīng)變曲線(xiàn)。以上力學(xué)參數(shù)的獲取,保證了模擬仿真結(jié)果的準(zhǔn)確性。
圖9 鋁膜納米壓痕實(shí)驗(yàn)圖
圖10 納米劃痕實(shí)驗(yàn)圖
表1 彈性模量與摩擦因數(shù)
通過(guò)對(duì)光柵刻劃工藝的分析,采用有限元軟件DEFORM[11]進(jìn)行模擬時(shí)作如下設(shè)定:
(1)刻劃刀為金剛石材料,其強(qiáng)度、硬度遠(yuǎn)高于鋁膜材料,將其設(shè)為剛性材料。
(2)鋁膜在刻劃過(guò)程中發(fā)生塑性形變并伴有非線(xiàn)性彈性變形,將其設(shè)為彈塑性材料。
(3)對(duì)刻劃刀作用鋁膜處采用局部細(xì)化網(wǎng)格與自動(dòng)重劃網(wǎng)格設(shè)定,以解決運(yùn)算精度與模擬時(shí)間的矛盾,使后面的正交試驗(yàn)具有可行性,如圖11所示。
圖11 局部細(xì)化網(wǎng)格圖
模擬后為了獲得準(zhǔn)確槽形,利用DEFORM軟件后處理功能對(duì)槽形作剖切分析:在光柵槽形各參數(shù)中,槽深及槽寬可通過(guò)點(diǎn)的坐標(biāo)采集方式直接利用DEFORM 中相關(guān)功能計(jì)算得出[12]。由于DEFORM-3D不含有角度測(cè)量功能,故將槽形截面圖導(dǎo)入CAD中進(jìn)行角度測(cè)量(圖12)。同時(shí),為了提高數(shù)據(jù)采集精度,采用多次測(cè)量計(jì)算取平均值的方式。
圖12 光柵槽底角和閃耀角的測(cè)量
為分析各工裝參數(shù)對(duì)槽形的影響程度,對(duì)各影響因素取不同的水平進(jìn)行正交試驗(yàn)。
正交試驗(yàn)[13]具有試驗(yàn)次數(shù)少、試驗(yàn)效率高、試驗(yàn)效果好等優(yōu)點(diǎn),光柵機(jī)械刻劃過(guò)程中對(duì)槽形產(chǎn)生影響的因素有刀尖角等10個(gè)因素。水平數(shù)選的越多,規(guī)律曲線(xiàn)越趨于真實(shí)可信,但水平數(shù)過(guò)多,正交試驗(yàn)的次數(shù)越多,綜合考慮正交模擬試驗(yàn)所需時(shí)間與可信程度,采用正交試驗(yàn)法并按照L50(511)進(jìn)行正交試驗(yàn),如表2(部分)所示。
表2 正交模擬試驗(yàn)結(jié)果表
以槽底角為評(píng)測(cè)指標(biāo),分析各工裝參數(shù)對(duì)槽底角影響輕重程度,其他槽形參數(shù)的評(píng)測(cè)與此類(lèi)似。表3為10個(gè)工裝參數(shù)在不同水平下,評(píng)測(cè)指標(biāo)-槽底角之和列表。Ⅰ~Ⅴ分別為各影響因素的水平,R為因素的極差,即每個(gè)因素水平Ⅰ~Ⅴ中最大值與最小值之差。R越大,因素對(duì)試驗(yàn)指標(biāo)的影響越顯著。影響槽底角各因素的輕重程度從大到小排序依次為刀尖角、方位角、定向角、俯仰后倒角、刻劃速度、刃口半徑、刻劃深度、滾轉(zhuǎn)后倒角、滾轉(zhuǎn)角、俯仰角。R值過(guò)小的影響因素可忽略不計(jì),取極差為0.1,這樣得到影響槽底角的主要因素:刀尖角、方位角與定向角。
表3 各因素對(duì)槽底角影響規(guī)律統(tǒng)計(jì)表
仍以槽底角為例,為建立一個(gè)可信的、優(yōu)化的多因素?cái)?shù)學(xué)評(píng)價(jià)模型,需要確定每個(gè)單因素對(duì)其影響規(guī)律。故采用單因素分析法,觀察刀尖角、方位角與定向角對(duì)槽底角的影響關(guān)系,發(fā)現(xiàn)三者對(duì)槽底角的影響關(guān)系均成近似線(xiàn)性關(guān)系,如圖13~圖15所示。
圖13 刀尖角對(duì)槽底角的影響規(guī)律
圖14 方位角對(duì)槽底角的影響規(guī)律
圖15 定向角對(duì)槽底角的影響規(guī)律
根據(jù)主要影響因素對(duì)光柵槽形影響規(guī)律的分析,槽底角多因素解析數(shù)學(xué)模型可設(shè)為
式中,X1、X2、X3分別為刀尖角、方位角與定向角;B1、B2、B3分別為X1、X2、X3的系數(shù)。
用矩陣形式表示式(2)并變換后得系數(shù)B:
根據(jù)表3結(jié)果,對(duì)式(3)求解,得B1=0.9763,B2=0.9574,B3=0.0537。故
為評(píng)測(cè)模型(式(4))整體參數(shù)的顯著性,引入F檢驗(yàn),其中取δ=0.001,查表F(3,46)=6.60。而F′(3,46)=167.4047?F=6.60,拒絕原假設(shè),即自變量全體對(duì)因變量Y產(chǎn)生顯著線(xiàn)性影響。
上述模型的計(jì)算與仿真是基于真實(shí)的光柵刻劃過(guò)程所進(jìn)行的有限元模擬分析,通過(guò)所建立的槽底角數(shù)學(xué)模型,可預(yù)先計(jì)算得到槽底角的大小。
仍以刻劃79線(xiàn)/mm中階梯衍射光柵90°理論槽底角為例,采用舒伯哈特公司制作的刻劃刀進(jìn)行刻劃實(shí)驗(yàn)。刀具結(jié)構(gòu)參數(shù)如下:刀尖角為87.5°,定向角為62.5°,后倒角為60°。安裝參數(shù)如下:滾轉(zhuǎn)角為2°,俯仰角為3°,方位角為0.5°,刻劃深度為3.4μm。
刻劃后經(jīng)空間分辨達(dá)納米級(jí)的原子力掃描電鏡檢測(cè),運(yùn)用NanoScope軟件的section分析功能,得到實(shí)際槽形截面剖切圖(圖16中,角1為非閃耀角,角2為閃耀角),通過(guò)量取V1、H1、V2、H2,計(jì)算得刻劃實(shí)驗(yàn)槽底角:
通過(guò)解式(4)得
圖16 實(shí)際槽形槽底角計(jì)算示意圖
從觀測(cè)結(jié)果可以看出,預(yù)測(cè)槽底角與實(shí)際刻劃槽底角的值十分接近,證明所建立的數(shù)學(xué)模型是可用的,以刻劃模擬為基礎(chǔ)的槽形數(shù)學(xué)模型建立方法是可行的。
采用刻劃實(shí)驗(yàn)與有限元模擬技術(shù)相結(jié)合的研究方法,并結(jié)合正交試驗(yàn)與單因素試驗(yàn)手段,可建立以槽底角、閃耀角、槽寬、定向面槽深、非定向面槽深等為槽形評(píng)測(cè)指標(biāo)的預(yù)測(cè)性解析數(shù)學(xué)模型。該項(xiàng)研究將有限元模擬技術(shù)、材料測(cè)試技術(shù)、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)與分析等多種方法相結(jié)合,成功地應(yīng)用于光柵刻劃工藝分析中,使刻劃光柵工藝手段更先進(jìn)、工藝更合理。
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