李洪毅,歐祖軍,黎奇升
(1. 吉首大學(xué)師范學(xué)院,湖南 吉首 416000;2. 吉首大學(xué)數(shù)學(xué)與統(tǒng)計(jì)學(xué)院,湖南 吉首 416000)
混水平飽和正交設(shè)計(jì)在廣義離散偏差下的均勻性
李洪毅1, 2,歐祖軍2,黎奇升2
(1. 吉首大學(xué)師范學(xué)院,湖南 吉首416000;2. 吉首大學(xué)數(shù)學(xué)與統(tǒng)計(jì)學(xué)院,湖南 吉首416000)
摘要:針對(duì)二、 三混水平飽和正交設(shè)計(jì)d,在適當(dāng)?shù)膭澐窒耫=(D ? ), 給出設(shè)計(jì)d的廣義離散偏差與子設(shè)計(jì))的廣義字長(zhǎng)型及均勻性模式的解析關(guān)系. 同時(shí), 給出這類因子設(shè)計(jì)的廣義離散偏差的下界. 最后, 通過(guò)例子來(lái)驗(yàn)證其結(jié)論.
關(guān)鍵詞:混水平飽和正交設(shè)計(jì); 廣義離散偏差; 廣義字長(zhǎng)型; 均勻性模式
0引言
1基本概念
關(guān)于強(qiáng)度為2的二、 三混水平飽和正交設(shè)計(jì), Qin[3]給出了下列結(jié)論.
(1)
對(duì)于任意的設(shè)計(jì)d∈u(n; 2s13S2),其廣義離散偏差值記為DDd((a1,b1), (a2,b2)), Chatterjee等[2]給出了如下關(guān)于[DDd((a1,b1), (a2,b2))]2的表達(dá)式:
(2)
其中:a1,b1,a2,b2為常數(shù), 且a1>b1>0,a2>b2>0. 當(dāng)a1=a2,b1=b2, DDd((a1,b1), (a2,b2))簡(jiǎn)記為DDd(a1,b1),即為設(shè)計(jì)d的離散偏差,關(guān)于式(2)的詳述參見(jiàn)文[2].
對(duì)于n次試驗(yàn)s個(gè)因子的設(shè)計(jì)d, 定義:
(3)
Ma和Fang[4]基于向量(A1(d), …,AS(d))給出了如下的最小廣義低階混雜(MGA)準(zhǔn)則.
定義2對(duì)兩個(gè)設(shè)計(jì)d1(n;qs)和d2(n;qs), 設(shè)r為使得Ar(d1)≠Ar(d2)的最小整數(shù),如果Ar(d1) 現(xiàn)在來(lái)簡(jiǎn)單地描述最小投影均勻性(MPU)準(zhǔn)則. 基于中心化L2-偏差,F(xiàn)ang和Qin[5]對(duì)于設(shè)計(jì)d∈u(n; 2s),利用Ii(d)來(lái)衡量設(shè)計(jì)d的i維投影均勻性,其中: 向量(I1(d), …,IS(d))被稱為設(shè)計(jì)d的均勻性模式[5-6]. 引理2設(shè)d∈u(n; 2s), 對(duì)任意的j(1≤j≤s),Aj(d)和Ij(d)有如下的線性關(guān)系: (4) 定義3對(duì)兩個(gè)設(shè)計(jì)d1∈u(n; 2s)和d2∈u(n; 2s), 設(shè)r為使得Ir(d1)≠Ir(d2)的最小整數(shù),如果Ir(d1) 對(duì)于二水平設(shè)計(jì)的投影均勻性模式的下界,Zhang和Qin[6]給出了下面的結(jié)論: 引理3設(shè)d∈u(n; 2s), 則: (5) 其中:Rn, l為n除以2l的余數(shù),1≤l≤s. 2主要結(jié)論 (6a) (6b) (6c) 證明只給出式(6a)的證明, 其余等式可類似證明. 由式(1)和(2),可得: (7a) (7b) 其中: 證明只考慮式(7a)的證明, 其余等式可類似證明. 據(jù)式(4)和式(6a)可得: 根據(jù)Zhang和Qin[6]給出二水平設(shè)計(jì)的投影均勻性模式的下界, 有下面的定理. (8a) (8b) 其中: Rn, l為n除以2l的余數(shù),1≤l≤s1. 證明只考慮式(8a)的證明, 其余的可類似證明,由式(5)和式(7a)即可得式(8a). 表1 d的設(shè)計(jì)表及數(shù)值結(jié)果 參考文獻(xiàn): [1]HICKERNELLFJ,LIUMQ.Uniformdesignslimitaliasing[J].Biometrika, 2002, 89: 893-904. [2]CHATTERJEEK,QINH.Generalizeddiscretediscrepancyanditsapplicationsinexperimentaldesigns[J].JournalofStatisticalPlanningandInference, 2011, 141: 951-960. [3]QINH.Characterizationofgeneralizedaberrationofsomedesignsintermsoftheircomplementarydesign[J].JournalofStatisticalPlanningandInference, 2003, 117: 141-151. [4]MACX,FANGKT.Anoteongeneralizedaberrationfactorialdesigns[J].Metrika, 2001, 53: 85-93. [5]FANGKT,QINH.Uniformitypatternandrelatedcriteriafortwo-levelfactorials[J].ScienceinChina:SerA, 2005, 48: 1-11. [6]ZHANGSL,QINH.Minimumprojectionuniformitycriterionanditsapplication[J].Statistics&ProbabilityLetters, 2006, 76: 634-640. [7] 李洪毅, 歐祖軍. 互補(bǔ)設(shè)計(jì)在Lee偏差下的均勻性[J]. 華中師范大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版), 2011, 45(1): 1-5. (責(zé)任編輯: 沈蕓) Uniformity in mixed levels saturated orthogonal designs in term of generalized discrete discrepancy LI Hongyi1, 2, OU Zujun2, LI Qisheng2 (1. Normal College, Jishou University, Jishou, Hunan 416000,China;2. College of Mathematics and Statistics, Jishou University, Jishou, Hunan 416000,China) Abstract:We consider a kind of mixed two and three levels saturated orthogonal designs d. Under a proper decomposition of d=(D ? ), we give connections between the generalized discrete discrepancy of d and generalized word length pattern or uniformity pattern of D or . Meanwhile, we also present the lower bound of generalized discrete discrepancy of this kind of fractional factorials. Finally, an illustrative example is given to shown our theoretical results. Keywords:mixed levels saturated orthogonal design; generalized discrete discrepancy; generalized word length pattern; uniformity pattern DOI:10.7631/issn.1000-2243.2016.03.0368 文章編號(hào):1000-2243(2016)03-0368-07 收稿日期:2014-08-27 通訊作者:歐祖軍(1979-),副教授,主要從事試驗(yàn)設(shè)計(jì)及計(jì)算機(jī)試驗(yàn)研究, ozj9325@mail.ccnu.edu.cn 基金項(xiàng)目:國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(11201177, 11561025); 湖南省教育廳優(yōu)秀青年基金資助項(xiàng)目(14B146) 中圖分類號(hào):O212.6 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A