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      基于Origin的表面粗糙度參數(shù)的計(jì)算機(jī)評(píng)定

      2014-11-28 05:49:48馬海榮葛杏衛(wèi)
      河北工業(yè)科技 2014年5期
      關(guān)鍵詞:基準(zhǔn)線中線輪廓

      馮 運(yùn),馬海榮,葛杏衛(wèi)

      (河北科技大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院,河北石家莊 050018)

      表面粗糙度是評(píng)定零件表面質(zhì)量的重要性能指標(biāo)[1-2]。表面粗糙度測(cè)量及數(shù)據(jù)處理是機(jī)械類專業(yè)學(xué)生必做的一項(xiàng)基本實(shí)驗(yàn),同時(shí)也是幾何測(cè)量中應(yīng)用比較頻繁的測(cè)量項(xiàng)目之一。在過去的實(shí)驗(yàn)過程中,一般采用手工作圖進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性受到限制。有關(guān)粗糙度的研究,有的關(guān)注粗糙度的影響因素和控制措施[3],有的關(guān)注一些特殊的測(cè)量方法以及特定表面的測(cè)量技術(shù)和圖像處理等[4-6]。一些利用計(jì)算機(jī)程序?qū)崿F(xiàn)表面粗糙度參數(shù)的計(jì)算比較復(fù)雜[7],筆者利用Origin軟件的繪圖和數(shù)據(jù)處理功能[8-9],對(duì)表面粗糙度的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分析和處理,取得了較好的實(shí)驗(yàn)效果。

      為了定量地評(píng)定表面粗糙度輪廓,首先應(yīng)確定一條基準(zhǔn)線——評(píng)定表面粗糙度的一段參考線,以基準(zhǔn)線為基礎(chǔ)來計(jì)算各種評(píng)定參數(shù)的數(shù)值?;鶞?zhǔn)線通常有以下2種情況[10]。

      1)輪廓的最小二乘中線:在取樣長度內(nèi),使輪廓上各點(diǎn)至一條線的距離平方和為最小。

      2)輪廓的算術(shù)平均中線:在取樣長度內(nèi),將實(shí)際輪廓?jiǎng)澐譃樯舷聝刹糠?,且使上下兩邊面積相等。這里采用最小二乘中線作為評(píng)定粗糙度的基準(zhǔn)線。

      為了定量地評(píng)定表面粗糙度輪廓,必須用參數(shù)及其數(shù)值來表示表面粗糙度輪廓的特征。鑒于表面輪廓上的微小峰、谷的幅度和間距的大小是構(gòu)成表面粗糙度輪廓的2個(gè)獨(dú)立的基本特征,因此,國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定評(píng)定表面粗糙度輪廓的參數(shù)有幅度參數(shù)、間距參數(shù)、混合參數(shù)以及曲線和相關(guān)參數(shù)[10]。下面介紹其中較主要的幅度參數(shù)。

      輪廓的算術(shù)平均偏差:在一個(gè)取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值絕對(duì)值的算術(shù)平均值,如圖1所示。

      圖1 輪廓的算術(shù)平均偏差Fig.1 Arithmetic average deviation of the contour

      近似為

      式中:Z為輪廓偏距(輪廓上各點(diǎn)至輪廓中線的距離);Zi為第i點(diǎn)的輪廓偏距(i=1,2,…,n)。

      輪廓最大高度Rz:在一個(gè)取樣長度lr內(nèi),最大輪廓峰高和最大輪廓谷深之和,用Rz表示,如圖2所示。

      圖2 輪廓最大高度Fig.2 Maximum height of the contour

      1 表面粗糙度參數(shù)的計(jì)算

      表面粗糙度參數(shù)的計(jì)算主要由實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)輸入、數(shù)據(jù)處理和結(jié)果輸出3部分組成。1)數(shù)據(jù)輸入:將測(cè)量數(shù)據(jù)手工輸入,數(shù)據(jù)可保存在ASCII文件中,也可直接讀入Origin 工作表中,數(shù)據(jù)的導(dǎo)入簡(jiǎn)單;2)數(shù)據(jù)處理:根據(jù)采樣數(shù)據(jù)求最小二乘中線,通過坐標(biāo)轉(zhuǎn)換將采樣數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為在新坐標(biāo)中的坐標(biāo),計(jì)算各個(gè)粗糙度參數(shù);3)結(jié)果輸出:輸出數(shù)據(jù)曲線和各粗糙度值。

      實(shí)例:設(shè)采樣點(diǎn)為25個(gè),取樣長度為2.5mm,橫坐標(biāo)依次為0.1,0.2,0.3,…,2.5mm。用光切顯微鏡測(cè)量采樣點(diǎn)的縱坐標(biāo),見表1。將數(shù)據(jù)輸入,繪制出數(shù)據(jù)曲線,如圖3所示,通過線性擬合找到測(cè)量數(shù)據(jù)的最小二乘中線(見圖3中直線y=ax+b)。以最小二乘中線為橫坐標(biāo),以過原點(diǎn)且垂直于最小二乘中線的直線為縱坐標(biāo)建立新坐標(biāo)系,通過公式(3)將測(cè)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為新坐標(biāo)系中的坐標(biāo)。

      表1 測(cè)量數(shù)據(jù)Tab.1 Measurement datamm

      圖3 測(cè)量數(shù)據(jù)曲線Fig.3 Curve of the measurement data

      (x0,y0)為測(cè)量數(shù)據(jù)在原坐標(biāo)系中的坐標(biāo),(x,z)為測(cè)量數(shù)據(jù)在新坐標(biāo)系中的坐標(biāo),θ為在原坐標(biāo)系中最小二乘中線與橫坐標(biāo)正向的夾角。畫出測(cè)量數(shù)據(jù)在新坐標(biāo)系中的曲線,如圖4所示,對(duì)結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,計(jì)算出粗糙度的評(píng)定參數(shù):Ra=4.452μm,Rz=10.26μm。

      圖4 在新坐標(biāo)系中的測(cè)量數(shù)據(jù)曲線Fig.4 Curve of the measurement data in the new coordinate system

      2 結(jié) 語

      本文中的計(jì)算過程簡(jiǎn)單易操作,只要將測(cè)量結(jié)果導(dǎo)入,就會(huì)自動(dòng)計(jì)算出表面粗糙度的評(píng)定參數(shù),顯著提高了計(jì)算表面粗糙度評(píng)定參數(shù)的精度和效率,在生產(chǎn)和教學(xué)中有一定的推廣價(jià)值。若能將檢測(cè)儀器和后續(xù)的數(shù)據(jù)處理連接起來,一邊檢測(cè)一邊將測(cè)量數(shù)據(jù)輸入到程序中,則表面粗糙度參數(shù)值會(huì)直接顯示出來,可大大提高檢測(cè)的效率,測(cè)量結(jié)果也可直接用于指導(dǎo)生產(chǎn)工藝的調(diào)整。

      /References:

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