G EL i g h t S p e e d 1 6排螺旋C T故障維修1例

李松強(qiáng)，張 曄

G EL i g h t S p e e d 1 6排螺旋C T故障維修1例

李松強(qiáng)，張 曄

0 引言

GE LightSpeed 16排多層螺旋CT在應(yīng)用的過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)各種各樣的故障，其中圖像偽影是常見(jiàn)的1種。偽影的形狀有環(huán)狀、帶狀、點(diǎn)狀、線(xiàn)條狀等，偽影產(chǎn)生的原因也有很多[1]，有的是原始數(shù)據(jù)不正常引起的，有的是重建組件故障引起的[2]，有的是外部原因?qū)е碌腫3]，如設(shè)備突然斷電、患者運(yùn)動(dòng)、污染等。

1 故障維修實(shí)例

1.1 故障現(xiàn)象

患者圖像出現(xiàn)粒狀偽影，如圖1所示。故障大約1個(gè)月出現(xiàn)1次，進(jìn)行系統(tǒng)復(fù)位或斷電重啟系統(tǒng)均不能消除偽影，但是待機(jī)數(shù)小時(shí)后，偽影會(huì)自行消失。

1.2 維修過(guò)程

檢查系統(tǒng)日志文件，未見(jiàn)與偽影相關(guān)的任何報(bào)錯(cuò)信息，然后進(jìn)行如下操作：

（1）執(zhí)行日常校準(zhǔn)。當(dāng)進(jìn)行第 1次Mylar窗口清潔度檢查時(shí)，曝光停止，檢查日志文件有如下報(bào)錯(cuò)，提示X線(xiàn)有被阻擋的情況：

圖1 粒狀偽影

1154106386 0 1 Fri Jul 28 17：06：26 2006 230017082

4 ct99 accs

aircal_processing.c 922

Channel in non-bowtie airscan out of range-row 0（8A），detector channel 9，value=8.970308

1154106386 1 1 Fri Jul 28 17：06：26 2006 230017078 2

ct99 accs

accs_events.cxx 463

Aircal failed to process scan-Exam=50026，Series=1，Scan=1，Seconds=1154106375 Microseconds= 666344 View scanfileto check data and header information

1154106386 2 1 Fri Jul 28 17：06：26 2006 230023046 2

ct99 scanUtilsRx

DCStateMachineActions.c 534

Calibration limit check failed.Beam may be obstructed.

（2）檢查Mylar窗口。窗口清潔，沒(méi)有任何造影劑、血跡等污染物。

（3）在DAS Tool工具里，執(zhí)行1次自動(dòng)測(cè)試，所有測(cè)試項(xiàng)目均正常。

（4）進(jìn)行水模掃描，得到的圖像如圖2所示。內(nèi)側(cè)的圖像較好，但與外側(cè)的圖像相比有許多環(huán)狀偽影[4]。

（5）檢查DAS背板上的LED燈顯示，發(fā)現(xiàn)LEDs的狀態(tài)不正確，如圖3、4所示。正常情況下，DAS復(fù)位正常結(jié)束后，DS10應(yīng)該是熄滅狀態(tài)，但這臺(tái)機(jī)器在任何1種FET控制模式下，DS10（DFET3）始終處于點(diǎn)亮狀態(tài)。

圖3 DAS復(fù)位后LEDs的正常狀態(tài)

圖4 故障時(shí)的LEDs狀態(tài)

（6）測(cè)量DS10兩端的電壓值，VDS10=1.87 V。關(guān)閉DAS電源，測(cè)量R9和R10之間的電阻值R9-R10= 5 kΩ，阻值過(guò)小，故可以判斷FET3和FET4之間有短路現(xiàn)象，見(jiàn)表1，如圖5所示。

（7）將歐姆表連接在R9和R10之間，監(jiān)測(cè)電阻值的變化。當(dāng)DAS信號(hào)線(xiàn)從LBB左側(cè)背板上斷開(kāi)時(shí)，當(dāng)DAS信號(hào)線(xiàn)從CBB中間背板上斷開(kāi)時(shí)由此，可以判定是由于CBB的故障導(dǎo)致偽影的產(chǎn)生。

（8）更換DAS中間背板，偽影徹底消除。

表1 R9和R10之間電阻值的變化

圖5 FET控制原理圖

2 小結(jié)

由于CBB故障導(dǎo)致FET控制電路在進(jìn)行掃描層厚的組合選擇時(shí)發(fā)生錯(cuò)誤，DAS采集的原始數(shù)據(jù)不正常，最終導(dǎo)致圖像偽影的產(chǎn)生。

[1]蘇根元，王萍萍，于小晶.GE light speed 16排螺旋CT常見(jiàn)故障的維修和體會(huì)[J].中國(guó)醫(yī)學(xué)裝備，2011，8（9）：77-79.

[2]王子軍，葛合全，陳森彬.GE Ultra 16螺旋CT故障維修體會(huì)[J].醫(yī)療衛(wèi)生裝備，2009，30（4）：120-121.

[3]孟偉，郭子威.GE螺旋CT故障4例[J].醫(yī)療衛(wèi)生裝備，2009，30（11）：125.

[4]胡耀斌，王美萍，盧銘松.GE Hispeed dual雙排螺旋CT偽影故障分析與排除[J].中國(guó)民康醫(yī)學(xué)，2009，21（22）：2 926.

（收稿：2013-01-18 修回：2013-03-08）

（欄目責(zé)任編校：李 影 傅 靂）

R318.6；TH774

B

1003-8868（2014）03-0163-02

10.7687/J.ISSN1003-8868.2014.03.163

100102 北京，中國(guó)中醫(yī)科學(xué)院望京醫(yī)院放射科（李松強(qiáng)，張曄）