文獻(xiàn)與摘要(130)
Literatures & Abstracts (130)
文章敘述影響電路阻抗和信號(hào)性能的三個(gè)關(guān)鍵因素:基板介電性能、導(dǎo)體銅粗糙度和電路布線設(shè)計(jì)。針對大規(guī)模生產(chǎn)的高頻撓性電路設(shè)計(jì)時(shí)的考慮,說明介質(zhì)材料與高頻電路的關(guān)系,應(yīng)該怎樣選擇材料;導(dǎo)體對高頻率性能起什么作用,高頻率電子沿銅粗糙外表面?zhèn)鬟f而造成不良影響;設(shè)計(jì)高頻應(yīng)用時(shí),應(yīng)該注意會(huì)影響信號(hào)性能的一些關(guān)鍵點(diǎn)和規(guī)范。并以優(yōu)化電路數(shù)據(jù)說明,只需使用較低Dk和Df介質(zhì)材料和降低銅箔粗糙度,就可增加頻帶寬5 GHz至10 GHz。
(Jay Desai,PCDandF,2012/06,共3頁)
現(xiàn)代的PCB上搭載高功率的IC器件會(huì)產(chǎn)生大量的熱量,對于PCB要有散熱能力。發(fā)熱問題有多種解決方式,如增加散熱件、改變氣流、分離熱元件等,文章是從配電網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)角度提出解決方案,電路中狹細(xì)線和微通孔是電流瓶頸,設(shè)計(jì)時(shí)必須提供足夠的電流承載能力,以防額外的發(fā)熱。設(shè)計(jì)中一個(gè)簡單的解決散熱問題方案:添加更多的金屬,可以使用較厚的銅,或增加更多的散熱孔。
(Patrick Carrier,PCDandF,2012/06,共6頁)
現(xiàn)有許多種金屬的和有機(jī)的可焊性涂飾層,各有相應(yīng)的基本性能和適宜性。文章對PCB多年來采用的HASL、ENIG、ImAG、ImSn和OSP等涂飾層應(yīng)用情況作了介紹,并進(jìn)行性能評(píng)價(jià)和成本比較。幫助讀者對可焊性涂飾層從成本、性能和可靠性多方面作綜合考慮,分析復(fù)雜因素,作出正確選擇。
(Joe Fjelstad,PCB Magazine,2012/05,共3頁)
印制板表面連接盤的涂飾是為了有利于線路與元器件連接,不同涂飾層在焊接后會(huì)形成不同的金屬間化合物(IMC)影響連接可靠性。文章敘述了當(dāng)前PCB表面連接盤涂飾層種類,包括ENIG、ENEPIG、ImAg、ImSn、OSP和銅上直接金(DIG)等各自性能特點(diǎn)。為了滿足PCB細(xì)節(jié)距、高頻信號(hào)、控制阻抗和打線鍵合等新技術(shù)要求,PCB制造商們在尋找新的涂飾層,如鎳上化學(xué)鍍銀,銅上直接化學(xué)鍍鈀等,多種選擇以求適應(yīng)多變的市場要求。
(George Milad,PCB Magazine,2012/05,共6頁)
傳統(tǒng)的行掃描方法檢查圖像的水平較低,而時(shí)間延遲積分法(TDI)是基于同一對象多次曝光積累成像,有優(yōu)異的信號(hào)噪聲比,檢查圖像效率高。TDI為基礎(chǔ)的儀器,可以有效地用于高密度電路板和元件安裝板的高速自動(dòng)光學(xué)檢查(AOI)或自動(dòng)X光檢查(AXI)。文章介紹TDI的概念和TDI成像基本要素,TDI與CCD成像傳感器組合,TDI照相高靈敏度在AOI和AXI的應(yīng)用,成為有效的非破壞性檢測工具。
(Yakov Bulayev,PCB Magazine,2012/05,共8頁)
PCB的線路越來越細(xì),細(xì)線條面臨著結(jié)合力的問題。文章介紹一種新材料(SAPP),即半加成法引導(dǎo)膜(Primer)。應(yīng)用SAPP可以實(shí)現(xiàn)低粗糙度銅面與基材有高結(jié)合力。SAPP是樹脂中導(dǎo)入能與電鍍銅起化學(xué)作用官能基團(tuán)的材料,在銅面粗糙度小于0.25 mm時(shí)做到線路抗剝離強(qiáng)度0.7N/mm。另外,還有一種新材料(AS-Z4),即半加成法積層絕緣介質(zhì)(Matrix)。是在SAPP技術(shù)基礎(chǔ)上,用AS-Z4層代替半固化玻璃布,使積層板介質(zhì)更薄和尺寸穩(wěn)定。
(日立化成公司,JPCA News,2012/02,共3頁)
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