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      GEM探測器基線值獲取和數(shù)據(jù)零壓縮閾值的設(shè)定

      2012-03-22 02:42:24呂新宇祁輝榮章紅宇趙豫斌陳元柏歐陽群趙平平趙東旭董麗媛盛華義
      核技術(shù) 2012年6期
      關(guān)鍵詞:電子學(xué)電荷基線

      呂新宇 祁輝榮 章紅宇 趙豫斌 陳元柏 歐陽群趙平平 趙東旭 董麗媛,3 盛華義

      1 (核探測與核電子學(xué)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,中國科學(xué)院高能物理研究所 北京 100049)

      2 (中國科學(xué)院研究生院 北京 100049)

      3 (蘭州大學(xué)核科學(xué)與技術(shù)學(xué)院 蘭州 730000)

      GEM(gas electron multiplier)[1]是CERN開發(fā)的新型微結(jié)構(gòu)氣體探測器,空間分辨率好、耐輻照、讀出部分安排靈活、有效面積大,除用于粒子物理實(shí)驗(yàn)[2],如國際直線對(duì)撞機(jī)(ILC)探測器上徑跡室和數(shù)字強(qiáng)子量能器的讀出探測器,還可作為同步輻射X射線探測器[3]、散裂中子源位置靈敏探測器、醫(yī)學(xué)生物學(xué)成像[4]及天體物理實(shí)驗(yàn)探測器[5]等。

      針對(duì)北京同步輻射裝置(BSRF)對(duì)二維探測器的實(shí)際需求,我們研發(fā)了能滿足BSRF衍射和散射實(shí)驗(yàn)要求的基于GEM的二維X射線探測器。其采用三層GEM膜結(jié)構(gòu),從第三層GEM下表面取出信號(hào)作觸發(fā),讀出部分采用PCB工藝的二維條讀出,共有704個(gè)讀出條,每條獨(dú)立讀出[6]。

      探測器讀出條的感應(yīng)信號(hào)經(jīng)電荷靈敏放大器放大后進(jìn)入GQ插件里,經(jīng)緩沖放大、CR-(RC)3濾波成形,由FADC在高速時(shí)鐘(40 MHz)下對(duì)信號(hào)波形進(jìn)行取樣,數(shù)據(jù)暫存于數(shù)字流水線等待觸發(fā)信號(hào),一旦觸發(fā)有效,F(xiàn)PGA在開辟的窗口內(nèi)(門寬在程序界面可調(diào),目前為64個(gè)時(shí)鐘,即1.6 μs)從流水線中逐一取出數(shù)據(jù)進(jìn)行尋峰(尋找最大值),尋到的峰值與讀出條感應(yīng)電荷量成正比,從而得到感應(yīng)電荷值,再作數(shù)據(jù)零壓縮,進(jìn)行數(shù)據(jù)打包、緩存、等待讀出;待DAQ響應(yīng)中斷信號(hào),通過VME總線用CBLT方式將數(shù)據(jù)讀出,最后由網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)傳輸?shù)綌?shù)據(jù)獲取計(jì)算機(jī)(圖1)。

      圖1 GEM探測器讀出電子學(xué)工作框圖Fig.1 The schematic view of readout electronics.

      鑒于同步輻射實(shí)驗(yàn)的需要,探測器在高計(jì)數(shù)率下工作,會(huì)產(chǎn)生大量數(shù)據(jù),這就要求讀出電路有快速的信號(hào)處理能力,且進(jìn)一步提高DAQ系統(tǒng)的帶寬利用率。

      1 基線值獲取方法

      GEM 探測器每個(gè)電子學(xué)通道的基線值并不相同,且每道基線值均有漲落;實(shí)際測量中,基線測量值總伴隨噪聲,且每個(gè)通道的噪聲水平亦不同。受噪聲等各種因素的影響,實(shí)際基線值圍繞期望值上下起伏,服從正態(tài)分布。將真實(shí)基線值表示為μ,服從正態(tài)分布N(μ, σ),閾值設(shè)定為:

      根據(jù)正態(tài)分布,這樣因噪聲引起的誤記錄可消除99.865%,又能使幾乎所有信號(hào)被記錄。實(shí)際根據(jù)不同的測量架構(gòu),測得的基線并非真實(shí)的基線值μ,實(shí)測基線設(shè)為μ',一般μ≠μ',故:

      n根據(jù)實(shí)驗(yàn)測量而定。實(shí)驗(yàn)中我們分析了三種方法獲取每個(gè)通道的基線值。

      1.1 電荷分辨刻度模式獲取基線

      在電子學(xué)的電荷分辨率測量(Q_Res)模式下,由程序控制產(chǎn)生一確定的電荷量送到電荷靈敏前置放大器端,經(jīng)放大器放大,進(jìn)入GQ插件,再放大、濾波成形、ADC等一系列過程再讀回這個(gè)信號(hào),以刻度電子學(xué)系統(tǒng)。在這個(gè)模式下,若程序中設(shè)定送出信號(hào)幅度為 0,此時(shí)取得的值即為“基線值”,表示為hQ-Res(圖2中黑色實(shí)線)。

      圖2 三種方法測量基線值結(jié)果Fig.2 Test result of 3 methods.

      1.2 積分非線性測量模式下,擬合數(shù)據(jù)點(diǎn)測基線

      在電子學(xué)積分非線性測量模式(Q_INL)下,由程序產(chǎn)生一系列不同幅度的信號(hào)送至電荷靈敏前置放大器端,再由取數(shù)系統(tǒng)讀回,過程同§1.1,通過計(jì)算多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的統(tǒng)計(jì)信息,得到電子學(xué)系統(tǒng)的積分非線性。在此模式下,測得多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn),直線擬合后所得截距值即系統(tǒng)的“基線值”,表示為hQ-INL(圖2中虛線)。

      1.3 在線取數(shù)模式,由噪聲信號(hào)觸發(fā)獲取基線

      探測器加電,但高壓設(shè)置為0 V,此時(shí)探測器不工作,由于已經(jīng)通電,噪聲情況與工作時(shí)情況相同。此時(shí)將探測器設(shè)置在線取數(shù)模式,用噪聲觸發(fā),取得每道電荷值。由于探測器無高壓,故無增益,此時(shí)取得的數(shù)據(jù)是探測器系統(tǒng)的背景值。大統(tǒng)計(jì)量取數(shù)(N=10,000),得到每道背景值的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。由于電子學(xué)采用尋峰方式取數(shù),時(shí)間窗口為 64個(gè)時(shí)鐘,在取得的64個(gè)值中尋到最大值并記錄下來。假設(shè)噪聲服從正態(tài)分布,則問題簡化為:一個(gè)正態(tài)分布總體,從中取樣64次,取64個(gè)值的最大值,如此操作10,000次得到:Max1=MAX(a1, a2, a3…a64),Max2=MAX(b1, b2, b3… b64),Max3=MAX(c1, c2, c3… c64) …Max10000=MAX(n1, n2, n3… n64),這些Maxi(i=1,2,3, …10,000)的分布可經(jīng)計(jì)算得到:對(duì)于一個(gè)正態(tài)分布N(μ, σ),按上述方法操作得到的max值服從參數(shù)為μ', σ'的正態(tài)分布N(μ', σ'),其中μ'≈ μ + 3σ, σ'=σ/n1/2。

      用此法可得到每道的10,000個(gè)max的平均值,記作b,是真正的基線值加上了3倍標(biāo)準(zhǔn)偏差(由于基線跳動(dòng)和噪聲等因素綜合引起的),如圖2灰色線所示。此法取得的基線穩(wěn)定,引進(jìn)的額外誤差最少,實(shí)際應(yīng)用中,零壓縮的效果最好。由圖2可知,電子學(xué)積分非線性測量模式取得的截距值各道波動(dòng)最大,在高端與電荷分辨率測量模式測得的值一致。原因在于,在電荷分辨測量模式中,由程序控制產(chǎn)生的信號(hào)送至電荷靈敏前置放大器端的定值電容時(shí),即使設(shè)定DAC值為0,在電荷靈敏前置放大器端的定值電容上仍存在一定電荷,故測到的值應(yīng)在實(shí)際基線值之上;另一方面,由程序控制發(fā)給各道的信號(hào)幅度經(jīng) DAC后幅度并不相等,且各道的定值電容也并不相同,造成這種方法測得的各道基線值跳動(dòng)較大。

      積分非線性測量模式實(shí)驗(yàn)中,把由程序控制的DAC值與電荷靈敏前置放大器響應(yīng)的誤差全部歸結(jié)到非線性測量的結(jié)果處(與“電荷分辨刻度模式”中的影響情況相同)。這種做法可給出電子學(xué)的非線性指標(biāo),只要非線性小于某值,就認(rèn)為電子學(xué)非線性指標(biāo)符合要求。但用此法取基線會(huì)帶來誤差,表現(xiàn)為電子學(xué)非線性的低端測量效應(yīng),即實(shí)際測量時(shí)的數(shù)據(jù)點(diǎn)在低端會(huì)有上揚(yáng)。因?yàn)樾盘?hào)幅度小于噪聲幅度時(shí),電子學(xué)無法測到信號(hào)值。程序?qū)Σ煌珼AC值采樣50次作平均,得到該DAC值處的幅度值,再對(duì)不同幅度值作最小二乘法擬合,得到截距值,這樣會(huì)引進(jìn)擬合誤差。此法引進(jìn)多個(gè)因素的誤差,造成誤差偏大。若用此法取基線,結(jié)果將出現(xiàn)某些數(shù)據(jù)被誤壓縮,而另一些應(yīng)壓縮掉的數(shù)據(jù)則未被壓縮(圖3a )。

      圖3 無零壓縮時(shí)(a)及用1.2方法作零壓縮閾值時(shí)(b)單次擊中事例讀出條響應(yīng)Fig.3 Single hit sample without zero-suppression(a)and with zero-suppression(b).

      2 零壓縮閾值的設(shè)定

      在數(shù)據(jù)采集和傳輸應(yīng)用中,為提高計(jì)數(shù)能力,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行零壓縮是普遍使用的方法,恰當(dāng)?shù)牧銐嚎s閾值可在一定程度上壓縮掉噪聲信號(hào),提高數(shù)據(jù)利用率。為達(dá)到最大壓縮數(shù)據(jù)量的目的,在不壓縮掉小信號(hào)前提下,零壓縮閾值越大,效果越好。此時(shí)還要考慮信號(hào)起伏因素即最小信號(hào)情況。以X方向讀出條為例,要不壓縮掉小信號(hào),需nσ<10 fC。

      綜合上述兩因素,實(shí)驗(yàn)得到零壓縮閾值為hch=bch+σch時(shí)效果最好,此時(shí)hch=μch+4σch。單次事例零壓縮效果如圖4所示。得到的數(shù)據(jù)中幾乎全部為有響應(yīng)的讀出條數(shù)據(jù),而無相應(yīng)的讀出條數(shù)據(jù)全部被零壓縮機(jī)制壓縮掉,從而大大提高數(shù)據(jù)利用率。

      圖4 零壓縮后的單次事例讀出條響應(yīng)情況Fig.4 Test result of firing strips with zero-suppression.

      3 結(jié)語

      基于同步輻射實(shí)驗(yàn)對(duì)探測器計(jì)數(shù)率的要求,對(duì)GEM探測器采取零壓縮方法提高數(shù)據(jù)帶寬利用率,通過理論分析給出三種基線獲取方法。電子學(xué)積分非線性測量模式取得的截距值各道波動(dòng)最大,從而造成這種方法測得的各道基線值跳動(dòng)較大,結(jié)果出現(xiàn)某些地方數(shù)據(jù)被誤壓縮,而另一些地方應(yīng)該壓縮掉的數(shù)據(jù)反而未被壓縮。結(jié)合實(shí)際測量對(duì)比研究,給出準(zhǔn)確的零壓縮閾值的設(shè)定方法。采用此方法,實(shí)現(xiàn)了良好的零壓縮效果,數(shù)據(jù)有效率提高近 50倍,計(jì)數(shù)率由零壓縮前的2 kHz增加至25 kHz。得益于統(tǒng)計(jì)量的大幅度增加,圖像質(zhì)量也明顯提升。此方法對(duì)其它場合零壓縮的設(shè)定,如采用波形重建方法獲取基線也具有參考意義。

      1 Sauli F. Gem: A new concept for electron amplification in gas detectors[J]. Nucl Instrum Methods Phys Res Sect A, 1997, 386(2–3): 531–534

      2 Bencivenni G, Felici G, Murtas F, et al. A triple gem detector with pad readout for high rate charged particle triggering[J]. Nucl Instrum Methods Phys Res Sect A, 2002, 488(3): 493–502

      3 Aulchenko V M, Baru S E, Evdokov O V, et al. Fast high resolution gaseous detectors for diffraction experiments and imaging at synchrotron radiation beam[J]. Nucl Instrum Methods Phys Res Sect A, 2010, 623(1): 600–602

      4 Anulli F, Balla A, Bencivenni G, et al. A triple gem gamma camera for medical application[J]. Nucl Instrum Methods Phys Res Sect A, 2007, 572(1): 266–267

      5 Andersson H, Andersson T, Heino J, et al. Gem detectors for x-ray astronomy[J]. Nucl Instrum Methods Phys Res Sect A, 2003, 513(1–2): 155–158

      6 董 靜, 呂新宇, 劉 賁, 等. 基于讀出條讀出的二維位置靈敏氣體電子倍增器的研制[J]. 物理學(xué)報(bào), 2010, 59(9): 6029–6035

      DONG Jing, LU Xinyu, LIU Ben, et al. The study of the two-dimentional position sensitive gas electron multiplier based on strips readout[J]. Acta Phys Sinica, 2010, 59(9): 6029–6035

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