劉金賀 郝春來(lái) 李文昊 肖鶴旋
(河南平芝高壓開(kāi)關(guān)有限公司,河南 平頂山 467013)
當(dāng)今社會(huì),在所有電力傳輸和分配、大多數(shù)控制和信息交換過(guò)程中,電力至少有一次電接觸。電氣觸點(diǎn)發(fā)生故障可能會(huì)有很?chē)?yán)重的后果。中國(guó)電網(wǎng)容量的迅速增長(zhǎng)和電力電子技術(shù)的發(fā)展都離不開(kāi)氣體絕緣金屬封閉開(kāi)關(guān)(GIS)設(shè)備做出的巨大貢獻(xiàn)。GIS具有結(jié)構(gòu)緊湊、占地面積小、可靠性高、維護(hù)方便、對(duì)環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),深受人們的青睞。550 kV GIS 長(zhǎng)母線(xiàn)承擔(dān)主要的電力運(yùn)輸任務(wù),長(zhǎng)距離的電力輸送使母線(xiàn)之間必然存在大量電接觸,要不斷減少母線(xiàn)因自身?yè)p耗而發(fā)熱的情況。溫升是影響GIS設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)的重要物理量,而電阻是影響設(shè)備溫升的重要因素。對(duì)GIS 設(shè)備而言,導(dǎo)電回路電阻一直是影響設(shè)備質(zhì)量和運(yùn)行狀態(tài)的重要技術(shù)指標(biāo),在相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中均有明確規(guī)定[1]。
接觸電阻是所有電接觸件中最重要和最普遍的物理量,與整個(gè)電路電阻相比,接觸電阻明顯更小,在其發(fā)生變化時(shí),會(huì)導(dǎo)致裝置出現(xiàn)嚴(yán)重故障。這是因?yàn)榻佑|電阻會(huì)隨實(shí)際接觸面積、接觸壓力、電阻膜不均勻性及其他因素的變化而發(fā)生顯著變化,導(dǎo)致電壓增加,使設(shè)備的精細(xì)調(diào)整或良好操作變得更困難。接觸電阻是表征某一導(dǎo)電回路連接是否良好的關(guān)鍵參數(shù),每一種高壓設(shè)備接觸電阻值的大小都有相關(guān)規(guī)定。若接觸電阻超過(guò)規(guī)定值,很可能是導(dǎo)電回路某一連接處接觸不良所致的。通常GIS 設(shè)備的額定電流較大,若設(shè)備內(nèi)部導(dǎo)電回路接觸不良,則接觸不良處的局部會(huì)溫升增高,嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)斐山佑|部分熔焊,所以要加倍注意應(yīng)用于大電流運(yùn)行的高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備[1]。因此,對(duì)GIS 固定接觸部接觸電阻的影響因素進(jìn)行研究是非常必要的[2-13]。
本研究選用幾種典型的鋁制母線(xiàn)導(dǎo)體,從鍍銀層厚度、接觸面積、接觸壓力這3 個(gè)方面出發(fā),對(duì)GIS固定接觸部的接觸電阻進(jìn)行試驗(yàn)。在彈性接觸下,研究鍍銀層厚度、接觸面積、接觸壓力對(duì)固定接觸部接觸電阻的影響。
任何經(jīng)過(guò)精細(xì)加工的名義上平面,實(shí)際上都是粗糙不平的表面。當(dāng)這種名義上的平面相互接觸時(shí),即外加很大的接觸力(如彈簧力、螺栓力)使兩個(gè)表面相互緊壓,但接觸面上也只有少數(shù)的點(diǎn)(小面)發(fā)生了真正接觸,這些實(shí)際接觸的小面承受全部的外加接觸力。由于金屬表面一般都覆蓋著不導(dǎo)電的氧化膜或其他類(lèi)型的膜,導(dǎo)致在實(shí)際接觸的小面內(nèi)只有少部分膜被壓破的區(qū)域才能形成直接接觸,電流只能從這些更小的金屬接觸點(diǎn)通過(guò)。為了區(qū)分實(shí)際接觸的小面中的導(dǎo)電和不導(dǎo)電部分,把實(shí)際發(fā)生機(jī)械接觸的小面稱(chēng)為“機(jī)械接觸斑點(diǎn)”,簡(jiǎn)稱(chēng)“接觸斑點(diǎn)”,其中形成金屬接觸或準(zhǔn)金屬接觸的更小面(實(shí)際傳導(dǎo)電流的面)稱(chēng)為“導(dǎo)電斑點(diǎn)”,通常被稱(chēng)為“a斑點(diǎn)”。
當(dāng)兩個(gè)覆蓋表面膜的接觸元件相互接觸時(shí),其接觸內(nèi)表面的詳細(xì)結(jié)構(gòu)如圖1 所示。在視在接觸面Aa(即兩接觸元件宏觀重疊接觸的面積)中,只有很少部分的實(shí)際接觸面Ab(即機(jī)械接觸斑點(diǎn)面積之和),而在實(shí)際接觸中又只有少部分導(dǎo)電面Ac(即導(dǎo)電斑點(diǎn)面積之和)。
圖1 兩個(gè)具有表面膜的接觸元件相互接觸時(shí)接觸表面結(jié)構(gòu)示意
導(dǎo)電斑點(diǎn)的存在使電流在流過(guò)接觸元件內(nèi)表面時(shí),電流線(xiàn)發(fā)生收縮。由于電流線(xiàn)在導(dǎo)電斑點(diǎn)附近發(fā)生收縮,使電流流過(guò)路徑增長(zhǎng),有效導(dǎo)電面積減小,從而產(chǎn)生局部的附加電阻,即收縮電阻,如圖2 所示。如果電流流過(guò)的導(dǎo)電斑點(diǎn)不是純金屬接觸,而是通過(guò)極薄的膜時(shí),還會(huì)遇到另一個(gè)附加電阻,即膜電阻。在電路中,這兩部分附加電阻是串聯(lián)相加的,這兩個(gè)附加電阻被總稱(chēng)為接觸電阻。
圖2 導(dǎo)電斑點(diǎn)附近電流線(xiàn)發(fā)生收縮效應(yīng)
GIS回路電阻主要由連接件的接觸電阻和導(dǎo)電回路的體電阻組成,其中接觸電阻是主要成分。GIS設(shè)備導(dǎo)電回路的接觸電阻是指連接部位的端子接觸面之間所產(chǎn)生的附加電阻。影響接觸電阻的因素有很多,主要有導(dǎo)體材料性質(zhì)、表面狀況、接觸形式、接觸壓力等。綜合多種因素,接觸電阻的表達(dá)見(jiàn)式(1)。
式中:Rj為接觸電阻,μΩ;Fj為接觸壓力,N;Kc為與材料、表面狀況有關(guān)的接觸系數(shù),銅鍍銀-鋁鍍銀材料的Kc為100、銅鍍銀-鋁材料的Kc為450;m為與接觸形式有關(guān)的系數(shù),點(diǎn)接觸為0.5、線(xiàn)接觸為0.7、面接觸為1[14]。
導(dǎo)電斑點(diǎn)的形狀近似橢圓形,模型如圖3 所示。假設(shè)接觸面上的導(dǎo)電斑點(diǎn)為一橢圓平面,其長(zhǎng)軸、短軸分別為α、β,等位面用參量μ來(lái)表示,其相應(yīng)的收縮電阻見(jiàn)式(2)。
圖3 導(dǎo)電斑點(diǎn)附近電流線(xiàn)和等位面剖面圖(收縮電阻橢球場(chǎng)模型)
當(dāng)金屬導(dǎo)體處于大氣環(huán)境時(shí),導(dǎo)體表面會(huì)很快產(chǎn)生一層氧化膜。若氧化膜層足夠厚,會(huì)導(dǎo)致金屬導(dǎo)體變成絕緣體;若氧化膜層較薄,在接觸面上施加一定電壓,金屬導(dǎo)體之間會(huì)有電流流過(guò),而氧化膜層會(huì)有一定的電阻,即膜層電阻Rt。若外界壓力一定,且無(wú)其他外界因素的影響,Rt值基本保持恒定不變。
在實(shí)際工程應(yīng)用中,大多數(shù)觸頭屬球形粗糙表面接觸。觸頭上覆蓋著兩層不同性質(zhì)的膜,外層為絕緣膜,內(nèi)層為極薄的導(dǎo)電膜。假設(shè)外層絕緣膜已被接觸力壓破,導(dǎo)電面上保留著極薄的導(dǎo)電膜,在大接觸力下,接觸電阻的表示見(jiàn)式(3)。
式中:r為球形接觸表面的曲率半徑;E為接觸元件材料的彈性模量;ρ為接觸元件材料的電阻率;H為接觸元件材料的硬度;σf為導(dǎo)電膜的隧道電阻率;ξ為考慮表面粗糙度影響的矯正系數(shù);F為接觸力;a為導(dǎo)電斑點(diǎn)半徑。其中,式(3)右邊的第一項(xiàng)為收縮電阻分量,第二項(xiàng)為膜電阻分量[15]。
采用電壓降法對(duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量,即在被測(cè)電阻上通100 A 的直流電流,用電壓表來(lái)測(cè)量被測(cè)電阻上的電壓降,然后利用歐姆定律計(jì)算出被測(cè)電阻。在GIS 主回路中,接觸電阻一般較小,采用四線(xiàn)測(cè)量法能有效消除引線(xiàn)電阻對(duì)接觸電阻的影響,測(cè)試原理如圖4 所示。由于鋁的化學(xué)性質(zhì)較為活潑,常溫條件下,其在空氣中很容易形成堅(jiān)硬的氧化膜,從而使接觸電阻變大。接線(xiàn)前要用細(xì)紗布將被測(cè)試品的接線(xiàn)端和各測(cè)量接線(xiàn)點(diǎn)的氧化膜去掉,從而確保接觸良好,保證測(cè)量的準(zhǔn)確性[16]。
圖4 試驗(yàn)測(cè)試原理
以550 kV 彈簧觸指連接鋁制母線(xiàn)導(dǎo)體為研究對(duì)象,彈簧觸指接觸模型如圖5 所示,根據(jù)定制的實(shí)物來(lái)進(jìn)行相關(guān)試驗(yàn)研究。
圖5 彈簧觸指接觸模型
選用若干絕緣支撐和彈簧觸指,導(dǎo)體接觸部的鍍銀層厚度分別為0 μm、5 μm、8 μm、15 μm、24 μm的彈簧觸指連接母線(xiàn)導(dǎo)體各5 組、接觸面積研究用彈簧觸指連接母線(xiàn)導(dǎo)體5 組、接觸壓力研究用彈簧觸指連接母線(xiàn)導(dǎo)體5組,試驗(yàn)平臺(tái)姿態(tài)如圖6所示。
圖6 試驗(yàn)平臺(tái)姿態(tài)
2.4.1 鍍銀層厚度影響研究。結(jié)合實(shí)際生產(chǎn)情況,研究0 μm、5 μm、8 μm、15 μm、24 μm 這5 種厚度的鍍銀層對(duì)母線(xiàn)接觸電阻產(chǎn)生的影響。嚴(yán)格按照生產(chǎn)工藝流程對(duì)母線(xiàn)連接部進(jìn)行裝配,分別對(duì)5種厚度的母線(xiàn)接觸電阻進(jìn)行多次測(cè)量。
2.4.2 接觸面積影響研究。母線(xiàn)導(dǎo)體連接處選用厚度為8 μm 的鍍銀層,分別對(duì)安裝1 道、2 道、3 道觸指的接觸電阻進(jìn)行測(cè)量,分析接觸面積對(duì)接觸電阻的影響。
2.4.3 接觸壓力影響研究。導(dǎo)體連接處選用厚度為8 μm 的鍍銀層,變更接觸壓力。接觸壓力變更是在滿(mǎn)足彈簧觸指彈性形變范圍內(nèi)進(jìn)行適當(dāng)調(diào)整,彈簧壓型前、壓型后及并圈時(shí)的狀態(tài)如圖7、圖8、圖9 所示。在對(duì)并圈狀態(tài)分析后可知,pcosφb=d,得到并圈傾角φb,通過(guò)實(shí)際計(jì)算測(cè)量得到并圈短軸(中心位置)Hb、并圈長(zhǎng)軸Bb及極限壓縮量。
圖7 壓型前彈簧狀態(tài)
圖8 壓型后彈簧自由狀態(tài)
圖9 彈簧并圈時(shí)狀態(tài)
根據(jù)以上計(jì)算結(jié)果,選取3 種接觸壓力對(duì)彈簧觸指連接母線(xiàn)導(dǎo)體的接觸電阻進(jìn)行研究,總結(jié)接觸壓力對(duì)接觸電阻產(chǎn)生的影響。為保證試驗(yàn)的精準(zhǔn)度,以上關(guān)于鍍銀層厚度、接觸面積及接觸壓力試驗(yàn)均在20 ℃的恒溫環(huán)境中進(jìn)行。
由于鋁的導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性較好,且價(jià)格較低,從而被廣泛用于制作母線(xiàn),但其不耐弧,且化學(xué)性質(zhì)活潑,常溫條件下,在空氣中容易生成厚厚的氧化膜(Al2O3)。Al2O3膜具有很好的絕緣性,導(dǎo)致接觸電阻增大。在擴(kuò)建電站現(xiàn)場(chǎng)后期調(diào)試設(shè)備時(shí),通過(guò)前期出線(xiàn)套管對(duì)新老設(shè)備對(duì)接處的回路電阻進(jìn)行測(cè)量,回路電阻值與管理值相差非常大,這是由于氧化膜沒(méi)有徹底清除而造成的。銀在常溫下不易被氧化,高溫下銀的氧化物又很容易被還原成金屬銀,且其氧化物的電阻率也很小,加上銀表面膜的機(jī)械性能差,易被壓掉和磨破,其可用于連接固定接觸,不影響導(dǎo)電性能,且其價(jià)格相對(duì)便宜,是理想的固定接觸材料。在實(shí)際生產(chǎn)中,常對(duì)母線(xiàn)接觸部進(jìn)行鍍銀處理。此外,不同接觸部位的鍍銀厚度不同。現(xiàn)場(chǎng)安裝完成后,若無(wú)特殊情況,后期基本不會(huì)對(duì)母線(xiàn)導(dǎo)體連接面進(jìn)行二次裝配。對(duì)同一種結(jié)構(gòu)母線(xiàn)導(dǎo)體接觸部采用5 種不同厚度鍍銀處理后,研究鍍銀厚度對(duì)接觸電阻產(chǎn)生的影響,多次試驗(yàn)結(jié)果如圖10所示。
圖10 鍍銀厚度對(duì)接觸電阻影響數(shù)據(jù)分析
由圖10 可知,隨著鍍銀層厚度增加,接觸電阻逐漸減小。當(dāng)鍍銀層厚度從0 μm 增加至5 μm 時(shí),母線(xiàn)導(dǎo)體接觸部的接觸電阻減小程度非常明顯;當(dāng)鍍銀層厚度從5 μm 增加至8 μm 時(shí),接觸電阻繼續(xù)減小,但變化較小。隨著鍍銀層厚度的增加,接觸電阻會(huì)不斷減小,但接觸電阻的減小幅度卻越來(lái)越小。因此,在實(shí)際生產(chǎn)中,鍍銀層厚度并非是越厚越好,而是根據(jù)額定電流要求,在滿(mǎn)足溫升試驗(yàn)要求的前提下,以經(jīng)濟(jì)指標(biāo)最優(yōu)為佳。
為研究接觸面積對(duì)接觸電阻的影響,對(duì)同種結(jié)構(gòu)導(dǎo)體在同鍍銀厚度(8 μm)下,對(duì)裝配1、2、3 道彈簧觸指的接觸電阻進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量結(jié)果見(jiàn)表1。分別計(jì)算每種狀態(tài)下測(cè)量數(shù)據(jù)平均值,分析接觸面積對(duì)接觸電阻的影響,結(jié)果如圖11所示。
表1 接觸面積對(duì)接觸電阻的影響測(cè)量結(jié)果
圖11 接觸面積對(duì)接觸電阻的影響數(shù)據(jù)分析
由圖11可知,當(dāng)導(dǎo)體接觸部彈簧觸指由1道變?yōu)? 道時(shí),接觸電阻值從2.144 μΩ 降至1.312 μΩ,接觸電阻改善比較明顯;當(dāng)觸指增加至3 道時(shí),接觸電阻降至0.819 μΩ,接觸電阻值的減小幅度稍微變緩。在同種接觸狀態(tài)(即導(dǎo)體間接觸壓力不變的情況)下,每道觸指導(dǎo)電斑點(diǎn)的面積基本相同,隨著彈簧觸指的數(shù)量增加,導(dǎo)體間視在接觸面積不斷增大,導(dǎo)電斑點(diǎn)會(huì)相應(yīng)增加。假設(shè)導(dǎo)體接觸內(nèi)表面有n個(gè)半徑為a的導(dǎo)電斑點(diǎn),總收縮電阻為,忽略膜電阻的影響,理論結(jié)合實(shí)際測(cè)量表明,隨著導(dǎo)體接觸面的不斷變大,接觸電阻不斷減小,但減小幅度逐漸變緩,最終趨于一個(gè)穩(wěn)定值。
通過(guò)調(diào)整彈簧觸指的壓縮變形量來(lái)改變接觸壓力的大小,從而研究接觸壓力對(duì)接觸電阻的影響。測(cè)量施加3 種不同彈簧觸指壓縮變形量的導(dǎo)體接觸電阻,彈簧觸指在3 種狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的接觸壓力及測(cè)量的接觸電阻值見(jiàn)表2。彈簧觸指壓縮量與接觸壓力的關(guān)系如圖12 所示,接觸壓力與接觸電阻的關(guān)系如圖13所示。
表2 接觸壓力對(duì)接觸電阻的影響測(cè)量結(jié)果
圖12 彈簧觸指壓縮量與接觸壓力的關(guān)系
圖13 接觸壓力與接觸電阻的關(guān)系
對(duì)圖12、圖13 分析后可知,在彈簧觸指彈性形變范圍內(nèi),隨著彈簧觸指壓縮量的不斷增大,導(dǎo)體接觸部的接觸壓力會(huì)快速增加,對(duì)應(yīng)接觸電阻前期下降非常明顯,然后趨于一種穩(wěn)定略有下降的趨勢(shì),最終接觸電阻值趨于穩(wěn)定狀態(tài)。在小接觸壓力下,接觸電阻具有很大的分散性,并符合一定的統(tǒng)計(jì)分布特性;在大接觸壓力下,膜產(chǎn)生的影響很小,如果忽略膜電阻,接觸電阻等于收縮電阻。因此,當(dāng)彈簧觸指壓縮量在合理的形變范圍內(nèi),即在一定區(qū)間內(nèi),接觸壓力的變化對(duì)接觸電阻的影響不大,不會(huì)引起接觸電阻產(chǎn)生較大的波動(dòng)。因此,在實(shí)際工程中,選取合適的接觸力至關(guān)重要。
通過(guò)研究得到以下3個(gè)結(jié)論。
①導(dǎo)體接觸部的鍍銀層厚度對(duì)接觸電阻的影響非常大。尤其是,當(dāng)導(dǎo)體接觸部鍍銀層缺失時(shí),其接觸電阻值是鍍銀層為8 μm 時(shí)接觸電阻值的5倍,因此在實(shí)際生產(chǎn)中,嚴(yán)禁接觸部鍍銀層缺失的導(dǎo)體投入生產(chǎn)。當(dāng)鍍銀層增加至8 μm 以上時(shí),其對(duì)母線(xiàn)接觸部接觸電阻產(chǎn)生的影響不斷減小。因此,在一定鍍銀層范圍內(nèi),隨著鍍銀層厚度的增加,接觸電阻逐漸減小。
②接觸力一定時(shí),在一定范圍內(nèi),通過(guò)調(diào)整接觸部的視在接觸面積,能有效增加導(dǎo)體內(nèi)表面接觸部的導(dǎo)電斑點(diǎn)。隨著導(dǎo)電斑點(diǎn)的增加,收縮電阻及膜電阻不斷減小,總的接觸電阻也會(huì)不斷減小。因此,生產(chǎn)時(shí)可根據(jù)產(chǎn)品溫升的需求,結(jié)合經(jīng)濟(jì)因素來(lái)適當(dāng)調(diào)整導(dǎo)體接觸部的接觸面積,從而滿(mǎn)足生產(chǎn)需求。
③在彈性接觸階段,隨著接觸壓力的不斷變大,導(dǎo)體間的接觸更緊實(shí),相應(yīng)的機(jī)械接觸斑點(diǎn)增加,導(dǎo)電斑點(diǎn)也相應(yīng)增大,導(dǎo)體間的實(shí)際接觸面積也必然增加,接觸電阻不斷減小。隨著彈簧觸指壓縮量的不斷增加,當(dāng)彈簧壓縮量增加至最大值時(shí),接觸面積趨于穩(wěn)定,接觸壓力再增加也基本不對(duì)接觸電阻造成多少影響,接觸電阻趨于穩(wěn)定。因此,在實(shí)際生產(chǎn)中,GIS 接觸部接觸壓力的選取非常重要,過(guò)小會(huì)造成接觸電阻較大,甚至?xí)绊懺O(shè)備的安全運(yùn)行;過(guò)大會(huì)造成裝配困難、資源浪費(fèi)。