多排螺旋CT診斷新生兒低血糖腦損傷的效果研究

周文娟，陳聰聰，宋鵬鵬

（鄭州大學(xué)附屬兒童醫(yī)院，河南省兒童醫(yī)院，鄭州兒童醫(yī)院醫(yī)學(xué)影像科，河南 鄭州 450000）

新生兒低血糖是臨床常見的綜合征。大多數(shù)此病患兒不會有特異性的臨床表現(xiàn)，只有一小部分患兒會表現(xiàn)出嘔吐、昏迷等臨床癥狀，嚴重時甚至?xí)斐尚律鷥旱脱悄X損傷的發(fā)生，從而可嚴重影響患兒的身體健康[1]。新生兒低血糖具有較高的致殘、致死率，而且新生兒長期處于低血糖水平狀態(tài)下容易出現(xiàn)腦細胞缺氧、腦部血液供應(yīng)不足、神經(jīng)元壞死、神經(jīng)系統(tǒng)功能障礙等情況。對于低血糖腦損傷患兒，臨床上應(yīng)該及時予以治療，以避免其腦組織出現(xiàn)不可逆的損傷（可影響其智力，導(dǎo)致其發(fā)生腦癱等后遺癥，嚴重時可導(dǎo)致死亡）[2]。及時對此病患兒的病情進行診斷、干預(yù)對改善其預(yù)后具有重要的意義。相關(guān)研究中以新生兒低血糖腦損傷患兒為觀察對象，進行了新生兒低血糖腦損傷影響因素的分析，結(jié)果發(fā)現(xiàn)驚厥、血糖水平在0.5 ～1.4 mmol/L、低血糖持續(xù)時間≥24 小時、腦電圖檢查結(jié)果異常以及孕婦合并妊娠期糖尿病均與新生兒低血糖腦損傷的發(fā)生密切相關(guān)[3]。有研究指出，在新生兒出現(xiàn)低血糖腦損傷后，需要及早診斷并及時治療，以提高其預(yù)后效果。對于新生兒低血糖腦損傷，臨床上主要是利用影像學(xué)檢查的方法（包括腦電圖、多排螺旋CT、核磁共振等）進行診斷鑒別[4]。本文對鄭州兒童醫(yī)院于2021 年1 月至2022 年2 月期間收治的40 例新生兒低血糖腦損傷患兒進行研究，旨在探討多排螺旋CT 診斷新生兒低血糖腦損傷的臨床效果。

1 資料與方法

1.1 一般資料

選取鄭州兒童醫(yī)院于2021 年1 月至2022 年2月期間收治的40 例新生兒低血糖腦損傷患兒進行研究。其中有男患兒21 例、女患兒19 例。男患兒的日齡為2 ～7 天，平均日齡（4.58±1.20）天；胎齡35 ～40 周，平均胎齡（38.17±1.03）周；平均體質(zhì)量為（3.15±0.26）kg。女患兒的日齡為3 ～7 天，平均日齡（4.63±1.25）天；胎齡36 ～40 周，平均胎齡（38.24±1.05）周；平均體質(zhì)量（3.16±0.22）kg?；純罕O(jiān)護人均知曉研究內(nèi)容并同意參與研究。此次研究經(jīng)醫(yī)院倫理委員會批準同意。病例納入標準：（1）無先天性免疫缺陷??；（2）經(jīng)腦電圖檢查診斷為新生兒低血糖腦損傷。病例排除標準：（1）在參與研究過程中退出；（2）存在非低血糖導(dǎo)致的神經(jīng)系統(tǒng)功能障礙；（3）臨床資料不全。

1.2 方法

采用飛利浦多排螺旋CT 機對40 例新生兒低血糖腦損傷患兒進行檢查，方法是：對患兒進行掃描檢查前，采用鉛衣對其除頭部外的其他重要部位進行遮蓋，然后實施掃描檢查。參數(shù)設(shè)置：電流180 mA、電壓80 kV，螺距為0.2，螺旋軸厚度在4 mm 左右，層間距5 mm，層厚1 mm，矩陣256×256。對患兒的頭部進行常規(guī)掃描，觀察其腦損傷部位，然后對掃描獲得的圖像信息進行三維重建（將影像數(shù)據(jù)信息傳至相應(yīng)工作臺進行處理，以獲得三維重建圖像）。由經(jīng)驗豐富的影像檢驗科醫(yī)師對檢查影像進行分析討論后作出診斷。對40 例患兒進行腦電圖檢查，方法是：使用腦電圖檢查儀對患兒進行檢查，為其連接檢查儀的電極，記錄電波形成的腦電圖，并由醫(yī)師進行觀察、分析及診斷。

1.3 觀察指標

（1）以腦電圖檢查結(jié)果為金標準，觀察多排螺旋CT 診斷新生兒低血糖腦損傷的準確率。（2）對比多排螺旋CT 檢查與腦電圖檢查檢出腦內(nèi)損傷位置的分布情況。

1.4 統(tǒng)計學(xué)方法

采用SPSS 25.0 統(tǒng)計學(xué)軟件進行研究數(shù)據(jù)的分析處理，采用百分數(shù)、頻數(shù)表示計數(shù)資料，數(shù)據(jù)的比較采用χ2檢驗，以P＜0.05 表示差異有統(tǒng)計學(xué)意義。

2 結(jié)果

2.1 多排螺旋CT 診斷新生兒低血糖腦損傷的準確率

用多排螺旋CT 診斷這些患兒病情的準確率為95.00%（38/40）。

2.2 對比多排螺旋CT 檢查與腦電圖檢查檢出腦內(nèi)損傷位置的分布情況

進行腦電圖檢查的結(jié)果顯示，這些患兒中腦內(nèi)損傷位置為顳葉的患兒有8 例，為頂枕葉的患兒有15 例，為額葉的患兒有12 例，為額顳葉的患兒有5 例。進行多排螺旋CT 檢查的結(jié)果顯示，這些患兒中腦內(nèi)損傷位置為顳葉的患兒有7 例，為頂枕葉的患兒有15 例，為額葉的患兒有11 例，為額顳葉的患兒有4 例。多排螺旋CT 檢查與腦電圖檢查檢出腦內(nèi)損傷位置的分布情況相比，差異無統(tǒng)計學(xué)意義（P＞0.05）。見表1。

表1 對比多排螺旋CT 檢查與腦電圖檢查檢出腦內(nèi)損傷位置的分布情況[例(%)]

3 討論

新生兒低血糖癥在臨床上較為常見。此病在低出生體重早產(chǎn)兒群體中的發(fā)病率明顯高于足月兒。新生兒在出生后24 h 內(nèi)其血糖濃度＜2.2 mmol/L，或是超過24 h 的血糖濃度＜2.8 mmol/L 則說明其患有低血糖癥。葡萄糖是胎兒機體以及新生兒腦組織代謝的唯一能源，新生兒的糖原儲備較少。在離開母體后，新生兒的血糖調(diào)節(jié)功能會變差。在腦組織代謝旺盛的情況下，其容易出現(xiàn)低血糖癥，病情加重后可引發(fā)腦損傷，甚至引發(fā)更多的后遺癥[5]。針對新生兒低血糖腦損傷患兒，臨床上要做到早發(fā)現(xiàn)、早治療，才能改善其預(yù)后。

3.1 新生兒低血糖腦損傷的致病機制

新生兒發(fā)生低血糖并引發(fā)腦損傷是臨床上常見的新生兒疾病。導(dǎo)致新生兒發(fā)生低血糖的原因是：新生兒的糖原和脂肪貯存量不足（新生兒的肝糖原以及棕色脂肪貯存量較小，常不能滿足代謝需求）；新生兒糖原異生緩慢或者延遲；新生兒對葡萄糖攝入需求的增加；新生兒糖攝入量不足。葡萄糖是人體能量代謝（特別是腦能量代謝）的主要物質(zhì)。血糖濃度過低會引起腦部疾病甚至引發(fā)永久性神經(jīng)功能損害，所以在新生兒的生長發(fā)育中維持正常的血糖濃度至關(guān)重要。葡萄糖是胎兒、新生兒腦組織的主要能源，如供給不足，腦組織會利用脂肪代謝產(chǎn)物——酮體作為能源。而酮體是一種有害物質(zhì)，對腦細胞會有所損傷。有研究指出，長時間處于持續(xù)性的嚴重低血糖狀態(tài)可造成不可逆的腦損傷。頂枕葉皮層是低血糖性腦損傷患兒最易受累的部位，單純頂枕葉皮層損傷的患兒可表現(xiàn)出驚厥、嗜睡、呼吸暫停等癥狀。出現(xiàn)昏迷、呼吸衰竭、呼吸心跳驟停等臨床癥狀的患兒，其因低血糖造成的腦損傷往往分布在基底節(jié)、丘腦等部位。此類部位的腦損傷可危及患兒的生命安全，并可導(dǎo)致其出現(xiàn)腦癱、精神發(fā)育遲緩、癲癇、認知、視覺及運動發(fā)育障礙等后遺癥，增加其家庭的負擔(dān)。有研究指出，新生兒低血糖會導(dǎo)致腦部神經(jīng)元的葡萄糖供給量減少，進而可導(dǎo)致腦部神經(jīng)系統(tǒng)功能的損傷。腦部神經(jīng)系統(tǒng)功能的損傷會增加患兒機體對葡萄糖、能量的需求，同時可導(dǎo)致其代謝功能出現(xiàn)紊亂，形成惡性循環(huán)[6-7]。本研究的結(jié)果顯示，進行腦電圖檢查的結(jié)果顯示，40例患兒中腦內(nèi)損傷位置為顳葉的患兒有8 例，為頂枕葉的患兒有15 例，為額葉的患兒有12 例，為額顳葉的患兒有5 例。進行多排螺旋CT 檢查的結(jié)果顯示，這些患兒中腦內(nèi)損傷位置為顳葉的患兒有7 例，為頂枕葉的患兒有15 例，為額葉的患兒有11 例，為額顳葉的患兒有4 例。多排螺旋CT 檢查與腦電圖檢查檢出腦內(nèi)損傷位置的分布情況相比，差異無統(tǒng)計學(xué)意義（P＞0.05）。有研究指出，相較于其他腦部區(qū)域，頂枕葉區(qū)域分布的神經(jīng)元更多，因而此區(qū)域更容易發(fā)生低血糖相關(guān)腦損傷。

3.2 新生兒低血糖腦損傷的多排螺旋CT 診斷

對于新生兒低血糖腦損傷，目前臨床上主要是利用影像學(xué)檢查的方法（包括多排螺旋CT、核磁共振、擴散加權(quán)成像等技術(shù)）進行診斷鑒別。進行CT 檢查主要是用X 線束對患者病變部位進行掃描，以形成圖像信息。而多排螺旋CT 可利用容積成像原理對病變部位掃描圖像進行三維重建成像處理。其成像分辨率較高，能夠有效地觀察新生兒腦部的情況，為醫(yī)師判斷病情以及制定治療方案提供參考依據(jù)。采用多排螺旋CT 對新生兒進行腦損傷檢查主要是對其頭顱進行掃描檢查。由于新生兒的顱骨組織發(fā)育尚不完全，其頭顱內(nèi)部密度較低，因此在進行頭顱掃描檢查時，通常會采用降低管電流、電壓、加大螺距、減少掃描次數(shù)等方法減少輻射劑量。有研究指出，對新生兒低血糖腦損傷患兒進行多排螺旋CT 檢查可清晰地觀察到其腦部結(jié)構(gòu)及相關(guān)改變情況[8-10]。研究表明，多排螺旋CT 在新生兒低血糖腦損傷診斷中的應(yīng)用價值較高，具有診斷效率高、應(yīng)用安全性高、操作簡單方便、掃描速度快、成像結(jié)果清晰等優(yōu)點，能夠為臨床干預(yù)新生兒低血糖腦損傷提供依據(jù)，進而可減少患兒因治療不及時產(chǎn)生的腦癱、智力低下等后遺癥，改善其預(yù)后[11-13]。本研究的結(jié)果顯示，用多排螺旋CT 診斷40 例患兒病情的準確率為95.00%（38/40）。這說明，多排螺旋CT 對新生兒低血糖腦損傷的診斷效果較好。

綜上所述，多排螺旋CT 在新生兒低血糖腦損傷診斷中的應(yīng)用價值較高。此法值得在臨床上推廣應(yīng)用。