毛增闖
(蘇州坤元微電子有限公司,江蘇蘇州, 215000)
電信號通過任何電路都會(huì)造成時(shí)間上的延遲,只是延遲大小的區(qū)別。在高速應(yīng)用場合或?qū)r(shí)間要求比較高的情況下,信號經(jīng)過集成電路后的傳播延遲,成了考核集成電路較為重要的一個(gè)特性。比如比較器、驅(qū)動(dòng)器、電平轉(zhuǎn)換器件等,往往我們需要這些器件的傳播延遲越小越好。但是越小的傳播延遲,對自動(dòng)化測量系統(tǒng)的要求就越高。
待測的時(shí)間間隔越小,測量該時(shí)間間隔所需要的系統(tǒng)時(shí)鐘頻率就越高,對測試系統(tǒng)的性能要求也越高。時(shí)間間隔為1ns時(shí),時(shí)鐘頻率至少需要提高到1GHz,一般的測試系統(tǒng)無法勝任。
既然電信號通過任何電路都會(huì)造成時(shí)間上的延遲,集成電路的設(shè)計(jì)師們巧妙地利用該固有延遲測量未知的延遲。瑞盟科技的高精度時(shí)間測量芯片MS1022是一款TDC(Time-Digital Converter)集成電路,利用信號通過固定門電路的絕對傳輸時(shí)間來實(shí)現(xiàn)時(shí)間間隔的測量。測量精度由信號通過MS1022內(nèi)部門電路的最短傳播延遲時(shí)間決定。
MS1022的工作電壓范圍是2.5~3.6V,具備4線SPI通訊接口。內(nèi)置溫度測量電路,可以對溫度引入的誤差進(jìn)行校準(zhǔn)。MS1022內(nèi)部集成了模擬開關(guān)、比較器、施密特觸發(fā)器等,簡化了外圍電路。MS1022主要用在激光測距、超聲波熱量表和水表上,這里借助其內(nèi)部的TDC電路實(shí)現(xiàn)高精度的時(shí)間間隔測量。
TDC測量原理如圖1所示。START和STOP是兩個(gè)待測的邊沿信號,測量單元由START信號觸發(fā),接收到STOP信號時(shí)停止。START和STOP信號之間的時(shí)間間隔由門電路的個(gè)數(shù)決定,而每個(gè)門電路的傳播延遲是固定的,由集成電路的工藝來確定。
MS1022有兩種測量范圍,可以針對不同的應(yīng)用場景,其中:
測量范圍1:
測量范圍:3.5ns~2μs,使用2個(gè)stop通道和1個(gè)start通道時(shí),典型分辨率為75ps;使用1個(gè)stop通道和1個(gè)start通道時(shí),典型分辨率為37ps.脈沖之間的最小間隔是20ns,可選擇每個(gè)通道的上升沿/下降沿觸發(fā);可以測量任意兩個(gè)脈沖之間的時(shí)間間隔。
測量范圍2:
測量范圍:2*Tref~4ms@4MHz(Tref表示時(shí)鐘的最小分辨率),只能1個(gè)stop通道對應(yīng)1個(gè)start通道,典型分辨率為19ps/37ps/75ps.
現(xiàn)采用MS1022測量范圍1中的2個(gè)stop通道結(jié)合1個(gè)start通道的測量方式,實(shí)現(xiàn)時(shí)間間隔的測量。
以信號的上升沿有效為例,上述測量方式的測量機(jī)制如圖2所示,STOP1和STOP2分別代表兩個(gè)待測邊沿信號,START是在STOP1之前人為產(chǎn)生的一個(gè)信號,START信號產(chǎn)生后至少等待20ns才能發(fā)送STOP1信號,確保MS1022能夠正確捕捉到STOP1信號。
圖2 TDC測量機(jī)制
STOP1和STOP2信號的時(shí)間差t2-t1就是待求的時(shí)間間隔。t2-t1是通過對“t0到t2的時(shí)間長度”和“t0到t1的時(shí)間長度”做差求出:
t0,t1,t2分別代表START、STOP1和STOP2信號的上升沿時(shí)刻點(diǎn),忽略信號的邊沿時(shí)間。下降沿原理同上。
基于MS1022的時(shí)間間隔測量方案的原理框圖如圖3所示。MCU選用珠海極海32位單片機(jī)APM32F030K6T6,MCU的主要功能是通過SPI總線和MS1022通訊,由MCU向MS1022發(fā)送初始化命令、開始測量命令、獲取測量結(jié)果等。
圖3 基于MS1022的時(shí)間間隔測量電路
MCU和MS1022都采用3.3V的供電電壓,EN_START、EN_STOP1和EN_STOP2都接高電平,確保START和STOP引腳一直處于使能狀態(tài)。MS1022外接4MHz的陶瓷晶振,確保系統(tǒng)工作穩(wěn)定,減小溫度對系統(tǒng)的影響。START引腳接MCU,由MCU控制MS1022是否開啟測量;INIT引腳接MCU,測量結(jié)束后產(chǎn)生中斷通知MCU獲取數(shù)據(jù);STOP1和STOP2引腳接待測邊沿信號,該信號可以是上升沿或下降沿;MS1022的其他引腳(圖中未顯示)如果未用到可以懸空處理。具體測量流程如下:
(1)MS1022的初始化
在SPI的CS引腳(即SSN引腳)為低電平的狀態(tài)下,對MS1022進(jìn)行初始化操作,主要是配置MS1022的寄存器。其中寄存器0開啟晶振,開啟校準(zhǔn)功能,選擇捕獲邊沿的類型等;寄存器1選擇測量方式,此處設(shè)置為HIT1=STOP2,HIT2=STOP1,則有HIT1-HIT2=STOP2-STOP1,寄存器1的值為0x81 194900;寄存器2打開所有中斷,寄存器5關(guān)閉Fire up和Fire down功能,開啟噪聲單元,關(guān)閉相位噪聲移位單元;寄存器6將STOP1和STOP2設(shè)置為數(shù)字輸入端,關(guān)閉EEPROM動(dòng)作結(jié)束中斷。另外寄存器3設(shè)置為0x83000000, 寄存器4設(shè)置為0x84200000。
(2)邊沿測量
如果寄存器0中設(shè)置的是下降沿觸發(fā),則MCU通過START引腳發(fā)送一個(gè)下降沿信號,MS1022接收到START信號后開始工作,直到采樣完成。如果MS1022在接收到START信號后一直未檢測到STOP信號,則超時(shí)2μs后自動(dòng)停止工作。
(3)數(shù)據(jù)解析
MS1022在測量結(jié)束后,根據(jù)寄存器1中HIT1和HIT2的設(shè)置開始處理數(shù)據(jù),把結(jié)果發(fā)送到輸出寄存器中。由于寄存器0開啟了校準(zhǔn),傳輸?shù)捷敵黾拇嫫鞯氖?2位的浮點(diǎn)數(shù)。待求的時(shí)間間隔Time = RES_X * Tref * N,其中RES_X是32位浮點(diǎn)數(shù),Tref是4MHz晶振的時(shí)鐘周期,N=1,2,4,如果分頻系數(shù)為0,則N=2^0=1。
利用該測量方案,可以實(shí)現(xiàn)任意邊沿之間的時(shí)間間隔的測量。以下以傳播延遲為例,驗(yàn)證該測量系統(tǒng)的可行性。
TS8111是坤元微電子的一款單通道、高速、同向的電平轉(zhuǎn)換器。TS8111作為兩個(gè)系統(tǒng)之間電平轉(zhuǎn)換的橋梁,典型應(yīng)用如圖4所示,A是信號輸入引腳,B是信號輸出引腳;VCCA是輸入信號側(cè)的供電電源,和輸入信號電平保持一致;VCCB是輸出信號側(cè)的供電電源,和輸出信號電平保持一致。VCCA和VCCB的工作電壓范圍是0.9~3.6V,TS8111可以實(shí)現(xiàn)該電壓范圍內(nèi)任何電壓之間的電平轉(zhuǎn)換。
圖4 TS8111典型應(yīng)用
TS8111傳播延遲的定義如圖5中tPLH和tPHL所示,以輸入信號邊沿的50%至輸出信號邊沿的50%之間的時(shí)間間隔來表示。TS8111的電源電壓越高,傳播延遲越小,VCCA=VCCB=3.6V時(shí),傳播延遲tPLH=1.1ns, -40℃的環(huán)境溫度下,tPLH可能小于1ns。為了測量TS8111的傳播延遲,就需要精確地測量納秒級或更小的時(shí)間間隔,而傳統(tǒng)的測量方法無法對其進(jìn)行準(zhǔn)確的測量。
圖5 TS8111的傳播延遲
為了測量上述輸入和輸出邊沿信號之間的時(shí)間間隔,可以采用示波器直接測量。但是在芯片的批量測試中,需要用到自動(dòng)化測量方案。常規(guī)的自動(dòng)化測量方案采用測試機(jī),利用測試機(jī)自帶的時(shí)間測量模塊,可實(shí)現(xiàn)快速高效測量。但是測試機(jī)的時(shí)間測量模塊的測量范圍一般大于10ns, 對于納秒級或更小的時(shí)間間隔,測試機(jī)則不能勝任。
現(xiàn)在利用基于MS1022的時(shí)間間隔測量系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)傳播延遲的測量,STOP1信號代表TS8111的輸入信號,STOP2信號代表其輸出信號,STOP1和STOP2信號的時(shí)間間隔t2-t1就是待求的TS8111的傳播延遲。因?yàn)門S8111是同向器件,所以STOP1和STOP2同時(shí)為上升沿或同時(shí)為下降沿。
利用MS1022測量TS8111的傳播延遲的測量方案如圖6所示,圖中DUT是TS8111,TDC是MS1022,MCU是32位單片機(jī),CMP是比較器,CBIT1和TMU0接測試機(jī)。
圖6 人臉識別模塊測試圖
圖6 TS8111基于TDC的傳播延遲測量電路
DUT的輸入和輸出信號各經(jīng)過一路相同的路徑到達(dá)TDC芯片,作為TDC的兩路STOP信號,在PCB布線和器件選型等方面盡可能地確保兩路STOP信號公共路徑的傳播延遲相同;
比較器負(fù)輸入端的參考電壓分別為VCCA和VCCB的50%,用于捕獲輸入和輸出信號邊沿的50%;目前使用的比較器自身的傳播延遲700ps,通道間的傳播延遲偏差75ps, PECL的輸出電平。由于VCCA和VCCB在0.9~3.6V范圍內(nèi)可調(diào),而TDC芯片和MCU的電壓是3.3V,所以比較器與TDC之間加了電平轉(zhuǎn)換器(如果只需要測量3.3V電壓下的傳播延遲,DUT和TDC可以直連)。該電平轉(zhuǎn)換器自身的傳播延遲500ps,通道間的傳播延遲偏差10ps, PECL電平輸入,與比較器的輸出電平兼容。
以測試機(jī)為主導(dǎo),MCU輔助,系統(tǒng)完整的流程如下:
首先,測試機(jī)通過CBIT1向MCU發(fā)送開始測試的指令,MCU收到開始指令后,向TDC發(fā)送開始測量的指令,同時(shí)通過Start_TDC引腳向TDC發(fā)送一個(gè)邊沿信號作為TDC的START信號。延時(shí)500ns(可適當(dāng)縮短以減小測量周期)后,MCU通過Pulse_Test引腳向DUT發(fā)送一個(gè)邊沿信號,作為DUT的輸入信號,其中Level_Shift的作用是電平轉(zhuǎn)換以及提供快邊沿的信號。TDC測量結(jié)束后會(huì)通過INT引腳(圖中未標(biāo)出)向MCU發(fā)送一個(gè)中斷信號。MCU捕獲到中斷信號后,向TDC請求測試結(jié)果,MCU獲取到測量結(jié)果后,將結(jié)果解析為最終的傳播延遲數(shù)據(jù)。
最后,MCU將傳播延遲數(shù)據(jù)放大合適的固定倍數(shù),利用定時(shí)器產(chǎn)生一個(gè)以放大后的數(shù)據(jù)作為脈寬的脈沖,通過t_OUT引腳發(fā)送給測試機(jī)。測試機(jī)通過其內(nèi)部的時(shí)間測量單元,便可以測量出放大后的傳播延遲數(shù)據(jù)。這樣便可以實(shí)現(xiàn)高速高效的自動(dòng)化量產(chǎn)測試。注意放大倍數(shù)足夠大時(shí)可忽略該步驟引入的誤差,但是過大的倍數(shù)會(huì)增大測量周期。
實(shí)際測量過程中使用示波器抓取的波形如圖7所示,通道1是START信號,通道2是STOP1信號,通道3是STOP2信號,測量tPHL時(shí),捕獲所有信號的下降沿;測量tPLH時(shí),捕獲所有信號的上升沿。需要保證待測START邊沿距離待測STOP邊沿的時(shí)間大于20ns且小于2.4μs;同時(shí)待測邊沿的邊沿時(shí)間要盡量短。
圖7 START和STOP引腳實(shí)際測量波形
為了提高數(shù)據(jù)穩(wěn)定性,避免數(shù)據(jù)分布在最小分辨率的整數(shù)倍上,可以在每個(gè)測量周期內(nèi)多次測量并求平均值。為了使測量結(jié)果更接近實(shí)際值,需要對系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。比如兩個(gè)STOP信號的路徑差異引入的固定誤差,可以通過校準(zhǔn)消除。
為了驗(yàn)證結(jié)果的準(zhǔn)確性,將TDC測量的值和示波器測量的結(jié)果進(jìn)行對比驗(yàn)證。如表1所示,VCCB=3.6V,改變VCCA,利用示波器測量的傳播延遲與采用TDC方案測量的結(jié)果,差值穩(wěn)定,偏差小于10%;VCCA=3.6V,改變VCCB,利用示波器測量的傳播延遲與采用TDC方案測量的結(jié)果,差值同樣穩(wěn)定,如圖8所示。這樣便可以利用該時(shí)間間隔測量系統(tǒng),代替示波器實(shí)現(xiàn)納秒級甚至更小的時(shí)間間隔的高精度測量。
表1 VCCB=3.6V時(shí),不同VCCA下的傳播延遲
圖8 VCCA=3.6V時(shí),不同VCCB下的傳播延遲
利用MS1022測量時(shí)間間隔的方法,分辨率高,測量范圍下限低,測量周期短,成本低,適用于自動(dòng)化測量納秒級或更小的時(shí)間間隔?;贛S1022的時(shí)間間隔測量系統(tǒng),除了應(yīng)用在集成電路傳播延遲的測量上,還可以用于測量信號的邊沿時(shí)間等。