代明偉,胡 浩,1b,1c,宋克興,1b,1c,程浩艷,1b,1c,盧偉偉,張彥敏,1b,1c,徐 靜,馮 慶,楊祥魁
(1.河南科技大學 a.材料科學與工程學院; b.有色金屬材料與先進加工技術省部共建協(xié)同創(chuàng)新中心; c.河南省有色金屬材料科學與加工技術重點實驗室; d.化工與制藥學院, 河南 洛陽 471023;2.江西宏業(yè)銅箔有限公司,江西 吉安 343000;3.西安泰金工業(yè)電化學技術有限公司,陜西 西安 710005;4.山東金寶電子股份有限公司,山東 煙臺 265499)
隨著5G通訊[1]、電子行業(yè)[2]和新能源汽車[3]等產業(yè)的快速發(fā)展,電解銅箔在印制電路板(printed circuit board, PCB)覆銅板和鋰離子電池[4-5]行業(yè)的應用越來越廣泛,電解銅箔的需求量逐漸增大。目前,中國電解銅箔發(fā)展迅速,2019年電解銅箔產量達45×104t,比2018年同期增長15%[6]。然而,在生產電解銅箔過程中,容易導致銅箔撕邊、幅面厚度不均、起皺、翹曲度高等問題,無法滿足客戶對銅箔更高抗拉強度的需求。
因此,選擇合理的方法制備光亮[7]、超薄、高抗拉[8-9]、高延伸率、低輪廓、高信號傳輸?shù)碾娊忏~箔具有重要的意義,但目前對電解銅箔的研究大多集中在電解參數(shù)及添加劑對銅箔形貌和力學性能的影響[10-13]。文獻[14]研究了羥乙基纖維素(hydroxyethyl cellulose)、硫脲(thiourea)、聚乙二醇(polyethylene glycol)和N,N-二甲基二硫代甲酰胺丙烷磺酸鈉(sodium N,N-dimethyldithiocarbamide propane sulfonate)對電解銅箔性能的影響,高溫抗拉強度達到328.7 MPa,高溫延伸率達到3.8%。文獻[10]研究了生產工藝條件對電解銅箔性能的影響,電解液溫度為53 ℃,流速控制在6 m3/h,鈦輥粗糙度Rz控制在2 μm以下時,有利于生產高性能銅箔。
電解工藝參數(shù)和添加劑會影響銅箔的質量,但是國內大多數(shù)生產電解銅箔的企業(yè)所使用添加劑幾乎全部依賴進口,添加劑及配方復雜,而且供貨周期長、價格昂貴。因此,迫切需要自主研發(fā)復配添加劑制備低輪廓高抗拉電解銅箔。Cl-是超低輪廓電解銅箔必加的添加劑之一[15],通常以無機物HCl的形式加入(簡稱無機Cl-),但有機物(十六烷基三甲基氯化銨)中的Cl-(簡稱有機Cl-)對電解銅箔的影響并未被研究。明膠具有整平電解銅箔的作用,在電解銅箔生產過程中具有組織細化和提高強度的效果,能夠提高銅箔的力學強度和延伸率[16-17]。因此,本文在一定明膠的存在下,研究有機Cl-對電解銅箔表面形貌和力學性能的影響,并通過ANSYS Maxwell軟件進行電場強度模擬,分析了電場強度對電解銅箔的影響。
濃硫酸(H2SO4,98%)購自煙臺市雙雙化工有限公司,明膠和五水硫酸銅(CuSO4·5H2O,≥99.0%)均購自天津市德思化學試劑有限公司,鹽酸(HCl,36.0%)購自洛陽昊華化學試劑有限公司,十六烷基三甲基氯化銨(C19H42ClN,97%)購自上海麥克林生化科技有限公司。
使用自制200 mL電解槽進行直流電沉積,以雙面鍍銥鈦板作為陽極(20 mm×40 mm),尺寸為20 mm×40 mm的工業(yè)純鈦分別用300目、600目和1 200目的砂紙水磨明亮后,使用無水乙醇、1 mol/L硝酸、去離子水各超聲清洗15 min,干燥后用絕緣膠帶包裹非工作表面,作為陰極待用。陰陽極板之間的距離為60 mm,電極浸入溶液獲得20 mm×20 mm的工作表面,電解液中Cu2+的質量濃度為100 g/L,H2SO4的質量濃度為95 g/L,明膠的質量濃度為5 mg/L,Cl-的質量濃度為0~10 mg/L,電解溫度為50 ℃,電流密度為30~50 A/dm2。每次電解相同的時間后取出,用去離子水沖洗后冷風吹干、剝離。
使用高倍數(shù)碼照相機觀察樣品的宏觀表面形貌特征,JSM-IT100型掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)觀察樣品的微觀形貌特征。使用三維表面輪廓測定儀觀察三維形貌及測量樣品表面粗糙度。使用X射線衍射儀(X-ray diffraction,XRD)進行銅箔的物相分析,樣品尺寸為10 mm×10 mm,掃描范圍為20°~95°,掃描步長2θ=0.02°,掃描速度為4°/min。使用電子萬能試驗機測量樣品的抗拉強度,拉伸機最大拉力為1 000 N,拉伸速度為5 mm/min,樣品的寬度為10 mm,標距為10 mm,厚度為8 μm,在非標距段雙面用薄鋁片粘住,每個樣品測試4次,取平均值作為最終結果。
電解銅箔宏觀形貌圖見圖1。在不添加任何添加劑(無明膠,無Cl-),只有Cu2+和H2SO4溶液時,如圖1a所示,銅箔宏觀表面光澤度較差,并且四周出現(xiàn)大面積粗糙鍍層。電解液中加入添加劑5 mg/L明膠后,如圖1b所示,銅箔表面變得光亮,四周的粗糙鍍層明顯減少。明膠是大分子蛋白質,在電解液中常作為整平劑加入,在酸性溶液中明膠的氨基易得到氫離子使明膠解離成陽離子,吸附在陰極表面使陰極極化,增加陰極過電位,阻礙銅離子的還原,減緩晶粒的長大速度,使銅箔表面更加平整致密[18]。
(a) 無添加劑
無機Cl-質量濃度對電解銅箔表現(xiàn)出促進或抑制作用,對電解銅箔的光澤度和致密性都有一定的影響。圖2為5 mg/L明膠存在下,不同無機Cl-質量濃度作用下電解銅箔宏觀形貌圖。從圖2可以看出:當無機Cl-質量濃度從2 mg/L上升至5 mg/L時,銅箔表面逐漸變得有光澤,四周的粗糙鍍層明顯減少(見圖2a和圖2b),而當無機Cl-質量濃度繼續(xù)上升至10 mg/L后,電解銅箔光澤度迅速下降(見圖2c),四周的粗糙鍍層急劇上升。因此在5 mg/L明膠作用下,無機Cl-質量濃度為5 mg/L時,銅箔表面質量達到最優(yōu)。在低質量濃度的無機Cl-電解液中,溶液中的Cu2+在陰極首先被還原成Cu+,Cu+再與Cl-結合在陰極表面形成CuCl鈍化膜,具有去極化作用,抑制銅在陰極的電沉積使銅箔致密,而高質量濃度的無機Cl-會發(fā)生絡合反應,增大陰極極化使沉積速度加快,晶粒長大過快導致銅箔表面不均勻、不致密[19-20]。
(a) 2 mg/L Cl-
有機Cl-不僅含有Cl-而且還含有有機物分子,十六烷基三甲基氯化銨是一種化學穩(wěn)定性好的有機化合物,還是一種良好的陽離子表面活性劑,因此本研究采用含有機Cl-的十六烷基三甲基氯化銨(簡稱有機Cl-)作為HCl的替代物,探究有機Cl-質量濃度對電解銅箔表面質量的影響。
圖3為5 mg/L明膠存在下,不同有機Cl-質量濃度作用下電解銅箔宏觀形貌圖。由圖3可知:與圖1b中不含Cl-的條件下制備得到的銅箔相比,添加有機Cl-能夠明顯地提高銅箔表面的光澤度,四周的粗糙鍍層也比較少。當有機Cl-的質量濃度為2 mg/L(見圖3a)時,銅箔表面光澤度最優(yōu)。隨著有機Cl-質量濃度的增加,銅箔光亮度又開始下降(見圖3b)。當有機Cl-的質量濃度為10 mg/L(見圖3c)時,銅箔表面不致密,邊緣出現(xiàn)粗糙鍍層。銅箔的電沉積是通過形核/生長的機理進行的, Cl-能夠促進銅離子的電沉積形成銅,提高銅的形核速度,合適的Cl-質量濃度使銅離子的成核密度達到最大,并得到光亮的鍍層,并且十六烷基三甲基氯化銨中有機物大分子鏈能夠吸附在陰極表面,與明膠和Cl-共同作用增加過電位,阻礙銅離子的還原使銅箔表面致密。但Cl-的質量濃度過高,使吸附在陰極沉積銅箔表面的明膠、有機物大分子鏈及Cl-脫附受阻,晶粒長大過快使銅箔表面粗化,邊緣出現(xiàn)粗糙鍍層[21]。
(a) 2 mg/L Cl-
由圖1~圖3可以看出:銅箔的邊緣部分會產生大量的粗糙鍍層,導致銅箔邊緣的光亮度、粗糙度和力學性能變差,對銅箔的整體性能產生不利影響,生產的電解銅箔邊緣部分會被切除。但是對于這一現(xiàn)象目前沒有明確的解釋,因此采用模擬溶液中的電場強度來解釋這一現(xiàn)象。
電解銅箔時,只有處于溶液中的陰陽極板才是工作表面,因此將尺寸為20 mm×20 mm×1 mm的兩個極板作為陰極和陽極,并且陰極板非工作表面為絕緣體,使陰陽極板之間的極距為60 mm,在ANSYS Maxwell軟件中進行電場強度模擬,兩極板之間的電壓為5 V時電場強度分布如圖4所示。
場強的大小用顏色來表示,顏色越紅表明電場強度越大。由圖4可以看出:陰極板邊緣的電場強度達到90 V/m,而陰極板中央部分類似于勻強電場,電場強度為83 V/m,在電解沉積時由于邊緣部分場強大,使電流密度在陰極產生不均勻分布,極板邊緣部分的電流密度大于中央部分,Cu2+的沉積就越快,產生粗糙鍍層,如圖1~圖3四周邊緣部分,此部分電解銅箔表面光亮度和力學性能越差。添加有機Cl-下,電解銅箔產生的粗糙鍍層明顯少于同一質量濃度下無機Cl-得到的電解銅箔,也表明有機Cl-能夠均勻溶液中的電場強度分布,減小陰極極板邊緣部分的電場,減少粗糙鍍層。
為了進一步研究Cl-對電解銅箔質量的影響,對不同質量濃度Cl-電解銅箔的粗糙度進行了測量。所得的粗糙度與Cl-質量濃度的關系如圖5所示。由圖5可知:當添加少量Cl-時,電解銅箔的粗糙度開始減小。無機Cl-與有機Cl-的質量濃度分別在5 mg/L和2 mg/L時,粗糙度RZ達到最低,分別為4.2 μm和3.6 μm;但當Cl-質量濃度增加到10 mg/L時,所得銅箔的粗糙度明顯增大。添加無機Cl-時成核基底少于添加有機Cl-的成核基底,顆粒長大的速度不均勻,會產生較大的粗糙度,隨著無機Cl-質量濃度的提高,變化也不是很明顯。但添加2 mg/L有機Cl-會產生較多的成核基底,顆粒長大速度均勻,粗糙度較小,隨著有機Cl-質量濃度的升高,由于有機物的吸附作用,成核基底會發(fā)生區(qū)域堆疊,導致銅箔在某些方向產生凸起,增大粗糙度。
圖4 電解銅箔溶液中電場強度分布
圖6為不同質量濃度的無機Cl-與有機Cl-作用下,所制備的電解銅箔掃描電子顯微鏡圖。無Cl-時(見圖6a),銅箔表面顆粒呈圓球狀且尺寸不均勻。加入質量濃度為2 mg/L無機Cl-時,顆粒變得粗大且不均勻,相鄰顆粒之間出現(xiàn)界面分離(見圖6b)。當無機Cl-的質量濃度為5 mg/L時(見圖6c),顆粒尺寸相對均勻。隨著無機Cl-質量濃度的繼續(xù)增加,顆粒尺寸增大明顯,并且相鄰顆粒之間出現(xiàn)明顯的界面分離(見圖6d)。當有機Cl-的質量濃度為2 mg/L時(見圖6e),顆粒大小分布最均勻。當有機Cl-的質量濃度繼續(xù)增大到5 mg/L(見圖6f)、10 mg/L(見圖6g)時,相鄰顆粒之間產生輕微的界面分離。添加無機Cl-制備銅箔的微觀結構中,相鄰顆粒之間界面分離較為嚴重,由于只有明膠和Cl-吸附在陰極表面,表面活性位點少、晶粒成核數(shù)少,結晶顆粒相對較大。但添加有機Cl-,有機物分子鏈能夠提供更多的活性位點,產生更多的結晶成核基底,使結晶顆粒均勻細小,相鄰顆粒之間相對緊湊。充分體現(xiàn)了有機Cl-相比無機Cl-,能夠減小電解銅箔顆粒尺寸和界面分離的優(yōu)勢。
對不同質量濃度Cl-電解液下得到的電解銅箔進行X射線衍射分析,結果如圖7所示。圖7中圖譜均出現(xiàn)4個明顯的衍射峰,與Cu(PDF#04-0836)標準卡片對應,從左到右分別為(111)、(200)、(220)、(311)晶面。然后由Scherrer公式計算出不同質量濃度Cl-電解銅箔的平均晶粒尺寸,計算結果如圖8所示,由圖8可知:無Cl-時得到的銅箔平均晶粒尺寸為49 nm,添加無機Cl-后銅箔的平均晶粒尺寸變化不大,但在10 mg/L時平均晶粒尺寸達到59 nm。添加有機Cl-后銅箔的平均晶粒尺寸比較細小,在有機Cl-質量濃度為2 mg/L時最為細小,達到31 nm,而后隨著有機Cl-質量濃度的增加,平均晶粒尺寸也開始增大。添加2 mg/L無機Cl-產生的成核基底較為有限,不能夠細化晶粒,因此平均晶粒尺寸幾乎無變化。隨著無機Cl-質量濃度提高至5 mg/L時,產生較多的成核基底,提高了銅的成核速度,能夠細化晶粒。添加2 mg/L有機Cl-后,由于大分子鏈的作用,成核基底數(shù)明顯增多,產生較為細小的晶粒。當Cl-質量濃度過高,Cl-與銅離子之間形成配合物吸附在陰極表面,影響銅的成核,不能起到細化晶粒的作用,但有機Cl-中的有機物分子鏈與Cl-起到協(xié)調作用,細化晶粒效果優(yōu)于無機Cl-。
圖7 不同Cl-質量濃度作用下電解銅箔的XRD圖譜
對不同質量濃度Cl-的電解液下得到的電解銅箔進行力學性能測試,其抗拉強度結果如圖9所示。由圖9可知:當溶液中不含Cl-時,電解銅箔的抗拉強度比較低,只有230.5 MPa,但隨著無機Cl-與有機Cl-的添加,電解銅箔的抗拉強度開始增加。當有機Cl-的質量濃度為2 mg/L時,抗拉強度達到380.9 MPa,相比于同一質量濃度無機Cl-的抗拉強度235.2 MPa,提高了61.9%。隨著有機Cl-質量濃度的增加,在5 mg/L時,抗拉強度為364.3 MPa,相比于同一質量濃度無機Cl-的抗拉強度278.6 MPa,提高了30.8%,隨著質量濃度的繼續(xù)增加抗拉強度逐漸下降。由細晶強化理論可知,晶粒越細,強度越高,抗拉強度與圖8中平均晶粒尺寸變化趨勢一致。添加有機Cl-的電解銅箔晶粒尺寸細小,整體表現(xiàn)為添加有機Cl-的電解銅箔的抗拉強度均在添加無機Cl-的電解銅箔之上,因此,有機Cl-比無機Cl-更能提高電解銅箔的抗拉強度。
圖8 不同Cl-質量濃度電解銅箔的平均晶粒尺寸
(1)明膠具有使陰極極化的作用,能夠整平電解銅箔、減少銅箔四周的粗糙度層。
(2)在明膠作為添加劑時,有機Cl-比無機Cl-更能提高電解銅箔的表面形貌和力學性能。
(3)添加2 mg/L的有機Cl-后,電解銅箔光亮度提高、粗糙度最低,達到3.6 μm;晶粒尺寸較小,為31 nm;抗拉強度最高,為380.9 MPa,相比于同一質量濃度的無機Cl-的抗拉強度235.2 MPa,提高了61.9%。