王 倩,楊康寧,翟紹雄,尹立坤,何少劍*,林 俊
(1.中國長江三峽集團(tuán)有限公司科學(xué)技術(shù)研究院,北京 100038;2.華北電力大學(xué)新能源學(xué)院,北京 102206)
質(zhì)子交換膜(PEM)在燃料電池及電解水制氫等新能源領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用[1‐3],目前最常見的全氟磺酸膜盡管擁有較為突出的綜合性能,但其高昂的價格已成為制約其廣泛應(yīng)用的主要障礙[4‐5]。非氟的碳?xì)湎蒂|(zhì)子交換膜雖然成本較低,但是σ也一般相對較低[6]。通過提高膜的離子交換容量(IEC)可以有效提升σ[7];然而,過高的IEC通常會導(dǎo)致膜在液態(tài)水中過高的溶脹率,從而影響膜的力學(xué)穩(wěn)定性[8]。故而如何在提升PEM的σ的同時維持膜較低的溶脹率是PEM領(lǐng)域1個急需攻克的難點[9]。
有機(jī)‐無機(jī)納米復(fù)合膜結(jié)合有機(jī)組分的高柔性和無機(jī)組分的高強(qiáng)度,有望在有效提高質(zhì)子交換膜的σ的同時維持膜的溶脹穩(wěn)定性[10‐11]。近年來,MOF材料因其具有規(guī)整有序的孔洞結(jié)構(gòu)而受到科研人員的關(guān)注[12‐13],其中,UiO‐66系列MOF材料由于制備相對簡單而且穩(wěn)定性較高等優(yōu)點而被廣泛研究,在質(zhì)子交換膜領(lǐng)域也有所應(yīng)用[14‐15]。Sun 等[14]將 Zr4+與氧化石墨烯(GO)通過配位鍵結(jié)合,之后將其與含有—SO3H的配體反應(yīng),生成GO/UiO‐66‐SO3H納米填料,最后將填料加入SPEEK中制成納米復(fù)合膜,但填料含量達(dá)到10%時,復(fù)合膜在70oC、95%相對濕度下電導(dǎo)率達(dá)到0.268 S/cm,是純SPEEK的2.6倍。
AMPS價格低廉,由于其分子中磺酸基團(tuán)的存在而具有優(yōu)異的質(zhì)子傳導(dǎo)性。在本研究中,我們首先將AMPS在UiO‐66‐NH2分散液中自聚合,使聚合的AMPS(PAMPS)與UiO‐66‐NH2進(jìn)行雜化,然后再將雜化產(chǎn)物加入SPEEK中制備復(fù)合質(zhì)子交換膜,利用UiO‐66‐NH2的有序孔洞為質(zhì)子傳輸提供快速通道,借助PAMPS上的磺酸基團(tuán)來提供額外的質(zhì)子傳輸位點,最后對復(fù)合質(zhì)子交換膜的形貌特征及電化學(xué)性能進(jìn)行了測試和表征。
2‐氨基對苯二甲酸,純度99%,阿法埃莎(中國)化學(xué)有限公司;
ZrCl4,純度99.9%,美國Acros Organics公司;
PEEK,P450F,英國Victrex公司;
N,N‐二甲基甲酰胺(DMF),純度99.5%,國藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司;
N,N‐二甲基甲酰胺(DMAc),純度99.5%,福晨(天津)化學(xué)試劑有限公司;
AMPS,純度98%,北京伊諾凱科技有限公司。
集熱式恒溫磁力攪拌器,85‐1,邦西儀器科技(上海)有限公司;
電熱鼓風(fēng)干燥箱,DHB‐101‐2BY,天津中環(huán)電爐股份有限公司;
傅里葉紅外光譜儀(FTIR),IRTracer‐100,日本島津公司;
真空干燥箱,ZK‐2BY,天津中環(huán)電爐股份有限公司;
掃描電子顯微鏡(SEM),SU8010,日本日立公司;
X射線光電子能譜(XPS),EscaLab Xi+,美國賽默飛世爾科技公司;
X射線衍射儀(XRD),D8 Focus X,德國 Bruker AXS公司;
電化學(xué)工作站,ZENNIUMpro,德國ZAHNER公司。
納米填料制備:分別取0.16 g 2‐氨基對苯二酸和0.128 g ZrCl4溶于40 mL DMF中攪拌1 h;待溶質(zhì)充分溶解后加入1.2 mL乙酸,攪拌5 min;之后將溶液放入反應(yīng)釜中,在120oC下鼓風(fēng)烘箱中反應(yīng)24 h;反應(yīng)結(jié)束后將所得濁液在5 000 r/min轉(zhuǎn)速下離心,分離出固體粉末,用DMF和去離子水分別離心洗滌3次;所得粉末在 60oC干燥 24 h,得到最終產(chǎn)物 UiO‐66‐NH2;將1 g UiO‐66‐NH2、5 g AMPS、50 mL去離子水加入圓底燒瓶,通氮氣;然后在60℃下緩慢加入0.9 mL亞硫酸氫鈉(0.05 g/mL),攪拌20 min,再緩慢加入1.6 mL過硫酸銨(0.1 g/mL),攪拌20 min,反復(fù)循環(huán)3次,之后離心、洗滌和干燥,得到土黃色粉末,為UiO‐66‐NH2/PAMPS;
復(fù)合膜制備:首先將15 g PEEK在60℃下真空干燥24 h,再加入到300 mL濃H2SO4中,25℃下劇烈攪拌;36 h后,將溶液緩緩倒入冰水混合物中,然后用去離子水反復(fù)清洗,直到產(chǎn)物中性,此時所得產(chǎn)物即為SPEEK(磺化度為58%);據(jù)復(fù)合膜各成分比例,稱量出所需要的UiO‐66‐NH2/PAMPS和SPEEK的質(zhì)量,將UiO‐66‐NH2/PAMPS放入小玻璃瓶(記為1),加入3 g DMAc,超聲0.5 h,加入磁子攪拌24 h;將SPEEK放入小玻璃瓶(記為2),加入3 g DMAc,放入搖床中搖動0.5 h,加入磁子攪拌24 h,將1和2中的液體混合,超聲0.5 h,攪拌24 h,抽真空10 min后將混合液倒入玻璃皿中,在80℃鼓風(fēng)烘箱中成膜24 h,再在80℃真空烘箱干燥24 h除去殘余溶劑;將干燥后的膜用1.0 mol/L硫酸和去離子水中浸泡洗滌,最后放入去離子水中備用,所得復(fù)合膜記為SPEEK/UiO‐66‐NH2/PAMPS‐x,其中x為UiO‐66‐NH2/PAMPS在復(fù)合膜中的質(zhì)量分?jǐn)?shù)。
紅外分析:將納米填料粉末與光譜級KBr以質(zhì)量比1/50混合均勻,壓片后測試,掃描范圍500~3 000 cm-1;
形貌分析:將樣品在液氮中脆斷,然后利用離子濺射儀進(jìn)行噴金,再用SEM進(jìn)行觀測;
X射線光電子能譜分析:采用XPS進(jìn)行分析,運行氣壓低于8×10-10Pa;
X射線衍射分析:采用XRD進(jìn)行分析,Cu Kα輻射,管電壓40 kV,電流30 mA,波長1.540 6 ?,掃描范圍5°~55°,掃描速率 5(°)/min;
σ測定:將樣品經(jīng)過1.0 mol/L硫酸反復(fù)浸泡后再用去離子水浸泡24 h以上以達(dá)到平衡態(tài),之后用四電極法測量質(zhì)子交換膜的交流阻抗,σ(S/cm)可由式(1)計算:
式中L——膜長度,cm
R——膜的交流阻抗,Ω
d——膜寬度,cm
h——膜厚度,cm
IEC測定:用酸堿滴定法測定,將烘干的樣品在飽和NaCl溶液中充分浸泡,用0.01 mol/L NaOH溶液進(jìn)行滴定,滴定所用NaOH溶液的體積為VNaOH(mL)樣品的干重記為md(g),測量3次取平均值,IEC(I,mmol/g)通過式(2)計算:
吸水率、溶脹率測定:將薄膜浸泡在去離子水中24 h以達(dá)到完全水合的狀態(tài),取出薄膜后用濾紙快速擦拭去除膜表面的水,此時質(zhì)子交換膜的質(zhì)量和面積分別記為mwet(g)和swet(g),然后將樣品放置于鼓風(fēng)烘箱中在60℃干燥24 h以除去質(zhì)子交換膜里所含水分,測量此時膜的質(zhì)量和面積,分別記為mdry(g)和sdry(g);吸水率(W,%)及溶脹率(S,%)分別由式(3)和(4)計算:
如圖1所示UiO‐66‐NH2的FTIR譜圖與文獻(xiàn)一致,在1 337、1 574 cm-1處能看到明顯的C—N鍵和—NH2的峰,證明了UiO‐66‐NH2的成功制備[16]。與之相比,在UiO‐66‐NH2/PAMPS的FTIR譜圖中,除了仍然保留有UiO‐66‐NH2的特征峰外,在1 230 cm-1處出現(xiàn)了1個新峰,對應(yīng)于磺酸基團(tuán)的特征峰。這說明在UiO‐66‐NH2中成功引入了AMPS組分。
圖1 UiO‐66‐NH2和UiO‐66‐NH2/PAMPS的FTIR譜圖Fig.1 FTIR spectra of UiO‐66‐NH2and UiO‐66‐NH2/PAMPS
由于UiO‐66‐NH2/PAMPS在制備過程中經(jīng)歷了多次去離子水清洗,未聚合的AMPS單體或與MOF骨架之間作用力較弱的PAMPS都會因其在水中的高溶解性而被洗出。因此,在我們所制備的UiO‐66‐NH2/PAMPS中能夠穩(wěn)定存在的PAMPS,應(yīng)該與MOF骨架之間存在著較強(qiáng)的相互作用,包括MOF上—NH2基團(tuán)與PAMPS上—SO3H基團(tuán)之間的酸堿對相互作用。
納米填料的XRD譜圖如圖2所示。UiO‐66‐NH2的XRD譜圖與文獻(xiàn)中一致,在6°~9°出現(xiàn)很強(qiáng)的特征峰[17]。引入PAMPS后,產(chǎn)物的XRD譜圖與UiO‐66‐NH2相比基本沒有發(fā)生變化,說明AMPS的聚合并沒有影響UiO‐66‐NH2的晶體結(jié)構(gòu),生成得到的UiO‐66‐NH2/PAMPS依然保持了UiO‐66‐NH2的結(jié)構(gòu)特征。
圖2 UiO‐66‐NH2和UiO‐66‐NH2/PAMPS的XRD譜圖Fig.2 XRD patterns of UiO‐66‐NH2and UiO‐66‐NH2/PAMPS
圖 3為 UiO‐66‐NH2和 UiO‐66‐NH2/PAMPS 的XPS譜圖。如圖3(a)所示,相較于UiO‐66‐NH2,UiO‐66‐NH2/PAMPS的XPS譜圖中出現(xiàn)了新的S元素的信號,證明AMPS的成功聚合。在UiO‐66‐NH2/PAMPS中,Zr元素與S元素的摩爾比為3.7,由此可以計算出UiO‐66‐NH2/PAMPS中PAMPS的含量大約為16%。在S2p譜圖中[圖3(b)],可以發(fā)現(xiàn)結(jié)合能的峰的位置在168.7 eV處,對應(yīng)的即是—SO3H基團(tuán),這進(jìn)一步證明了UiO‐66‐NH2中PAMPS的成功引入。
圖3 UiO‐66‐NH2和UiO‐66‐NH2/PAMPS的XPS 譜圖Fig.3 XPS spectra of UiO‐66‐NH2and UiO‐66‐NH2/PAMPS
納米材料的SEM照片如圖4所示。UiO‐66‐NH2表現(xiàn)出經(jīng)典的正八面體結(jié)構(gòu),邊長在100 nm左右,大小均勻。在經(jīng)過加入的AMPS的聚合反應(yīng)后,產(chǎn)物UiO‐66‐NH2/PAMPS的形貌與UiO‐66‐NH2基本相似,但是粒徑明顯減小,約為50~60 nm。這可能是因為在UiO‐66‐NH2/PAMPS中,由于PAMPS分子之間存在靜電相斥作用,降低了與其雜化的MOF納米粒子之間的聚集傾向,因此在SEM照片中顯示其尺寸變小。因此,PAMPS的引入將有利于MOF納米粒子在高分子基體中的分散。
圖4 納米粒子的SEM照片F(xiàn)ig.4 SEM images of the nano‐particles
純SPEEK及SPEEK/UiO‐66‐NH2/PAMPS復(fù)合膜斷面的SEM照片如圖5所示。可以看到,純SPEEK膜的斷面均一、致密,外表平整。當(dāng)加入UiO‐66‐NH2/PAMPS填料后,復(fù)合膜斷面的形貌開始變得粗糙。當(dāng)填料含量不高于6%時,填料在SPEEK基體中的分散較為均勻,沒有出現(xiàn)明顯的團(tuán)聚,SPEEK基體與填料結(jié)合緊密。這是因為填料的—NH2基團(tuán)與SPEEK的—SO3H基團(tuán)之間存在較強(qiáng)的靜電相互作用,因此兩者之間的相容性較高。當(dāng)填料含量達(dá)到9%和更高時,復(fù)合膜的斷面形貌變得十分粗糙,同時填料堆積也較為嚴(yán)重,出現(xiàn)了明顯的團(tuán)聚現(xiàn)象。
圖5 膜的SEM照片F(xiàn)ig.5 SEM images of the membranes
純SPEEK與SPEEK/UiO‐66‐NH2/PAMPS復(fù)合膜的IEC如圖6所示。純SPEEK的IEC為1.75mmol/g,加入UiO‐66‐NH2/PAMPS填料后,復(fù)合膜的IEC有所下降,這主要是因為填料的IEC相對較低,為0.78 mmol/g。
圖6 純SPEEK及復(fù)合膜的IECFig.6 IEC of SPEEK and nanocomposite membranes
純SPEEK與SPEEK/UiO‐66‐NH2/PAMPS復(fù)合膜的吸水率如圖7所示。純SPEEK的吸水率為30%,當(dāng)加入UiO‐66‐NH2/PAMPS填料后,復(fù)合膜吸水率有所升高。填料含量為6%時,吸水率上升到42%。這主要是由于MOF的多孔結(jié)構(gòu)具有一定的儲水能力。此外,填料中的親水基團(tuán)有利于促進(jìn)復(fù)合膜親水相尺寸的增加,從而使復(fù)合膜的吸水率得以提高。當(dāng)填料含量繼續(xù)增加到9%和更高時,復(fù)合膜的吸水率則有所下降,這是由于過高的填料含量導(dǎo)致填料團(tuán)聚,而填料團(tuán)聚會使得填料的比表面積降低,從而減少了填料上親水基團(tuán)接觸水分子的機(jī)會,造成了復(fù)合膜吸水率降低[18‐20]。
圖7 純SPEEK及復(fù)合膜的吸水率Fig.7 Water absorption rate of SPEEK and composite membranes
純SPEEK與SPEEK/UiO‐66‐NH2/PAMPS的溶脹率如圖8所示。純SPEEK的溶脹率為29%,隨著UiO‐66‐NH2/PAMPS填料含量的增加,復(fù)合膜的溶脹率持續(xù)下降。當(dāng)填料含量為12%時,溶脹率下降到19%,比純SPEEK低35%。這是由于MOF本身具有剛性結(jié)構(gòu),而且MOF配體上的—NH2基團(tuán)與聚合物基體上的—SO3H基團(tuán)之間存在較強(qiáng)的靜電相互作用,能夠進(jìn)一步限制復(fù)合膜的溶脹。因此,得益于MOF的孔洞結(jié)構(gòu),復(fù)合膜因此可以在吸水率提高的同時擁有較低的溶脹率,這將極大促進(jìn)膜在燃料電池或電解池中的穩(wěn)定性。
圖8 純SPEEK及復(fù)合膜的溶脹率Fig.8 Swelling ratio of SPEEK and composite membranes
純SPEEK與SPEEK/UiO‐66‐NH2/PAMPS復(fù)合膜在水中的σ如圖9所示。純SPEEK的σ為0.040 S/cm,當(dāng)加入UiO‐66‐NH2/PAMPS填料后,復(fù)合膜的σ有所上升。當(dāng)填料含量為6%時,復(fù)合膜的σ從0.040 S/cm上升到0.057 S/cm,提升了42.5%。復(fù)合膜σ的顯著提升主要可以歸因于以下幾點:(1)UiO‐66‐NH2中的有序孔洞能夠為質(zhì)子提供較為快速的傳輸通道,同時PAMPS組分上的磺酸基團(tuán)則為這些通道提供了額外的質(zhì)子傳輸位點。(2)填料引入后導(dǎo)致的復(fù)合膜親水相尺寸的增大,能夠有效促進(jìn)膜中水合質(zhì)子的擴(kuò)散。但是,當(dāng)填料含量高于6%時,復(fù)合膜的σ卻有所下降,如當(dāng)填料含量增加到12%時,電導(dǎo)率下降到0.034 S/cm。這是因為填料的團(tuán)聚導(dǎo)致復(fù)合膜內(nèi)的缺陷增多,影響了膜的質(zhì)子傳導(dǎo)。
圖9 純SPEEK及復(fù)合膜的σFig.9 σ of SPEEK and composite membranes
純SPEEK及SPEEK/UiO‐66‐NH2/PAMPS‐6復(fù)合膜在不同溫度(T)下的σ如圖10所示。根據(jù)Arrhe‐nius公式可以計算得到質(zhì)子在膜中傳導(dǎo)的活化能。可以看到,與純 SPEEK 相比,SPEEK/UiO‐66‐NH2/PAMPS‐6的活化能從16.4 kJ/mol下降到15.1 kJ/mol。通常認(rèn)為,質(zhì)子交換膜中的質(zhì)子傳導(dǎo)機(jī)理主要包括躍遷機(jī)理和車載機(jī)理,對應(yīng)的質(zhì)子傳導(dǎo)活化能分別為0~14 kJ/mol和 14~40 kJ/mol[21]。 因 此 ,本 工 作 中 純SPEEK和復(fù)合膜的質(zhì)子傳導(dǎo)以躍遷機(jī)制為主,即質(zhì)子通過與膜傳導(dǎo)通道內(nèi)部載體分子之間形成的氫鍵的形成和斷裂來實現(xiàn)在膜內(nèi)的運動,而車載機(jī)制也對膜內(nèi)的質(zhì)子傳導(dǎo)有一定的作用。復(fù)合膜中質(zhì)子傳導(dǎo)活化能的降低說明,加入填料后復(fù)合膜的質(zhì)子傳輸環(huán)境得到較大改善,這主要得益于填料中MOF組分提供的有序孔洞結(jié)構(gòu)和PAMPS組分提供的磺酸基團(tuán)。
圖10 SPEEK和SPEEK/UiO‐66‐NH2/PAMPS‐6膜的活化能Fig.10 Activation energy of SPEEK and SPEEK/UiO‐66‐NH2/PAMPS‐6 membrane
(1)PAMPS的引入未改變MOF組分的晶體結(jié)構(gòu),且形貌保持良好;SPEEK與UiO‐66‐NH2/PAMPS有良好的相容性,當(dāng)填料含量不高于6%時,填料分散均勻,沒有明顯的團(tuán)聚;
(2)UiO‐66‐NH2/PAMPS填料上的親水基團(tuán)及MOF組分的多孔結(jié)構(gòu)促使復(fù)合膜吸水率有所提升,同時填料與基體之間的強(qiáng)靜電相互作用使復(fù)合膜的溶脹率有所下降;
(3)得益于填料為復(fù)合膜的質(zhì)子傳輸提供的有序通路和位點,復(fù)合膜的質(zhì)子傳輸環(huán)境得到了較大的改善,當(dāng)填料含量為6%時,復(fù)合膜在水中的σ達(dá)到最高值(0.057 S/cm),比純SPEEK高42.5%,同時質(zhì)子傳導(dǎo)的活化能由16.4 kJ/mol下降到15.1 kJ/mol。