劉彤,趙巧妮,劉傳
(1.湖南鐵道職業(yè)技術(shù)學(xué)院,湖南株洲,412001;2.東北石油大學(xué),黑龍江大慶,163319)
電阻是電子電路當(dāng)中常用的元件,電阻的制作和使用需要滿足有一定的精度要求,且作文分離元件使用,特定場合使用時,需要把若干電阻集成封裝在一起,與外部電路結(jié)合,實(shí)現(xiàn)電路集成化,減小電路體積。通常的電阻測量方法,都是針對單一電阻進(jìn)行測量,對于具有一定連接關(guān)系的電阻進(jìn)行測量,除了考慮測量方法外,還要考慮電阻之間的連接對被測電阻的影響。電路應(yīng)用中,為了減小部件尺寸,要求PCB電路尺寸減小,往往把電路芯片周圍的電阻封裝成電阻網(wǎng)絡(luò)的形式,其內(nèi)部連接關(guān)系取決于外部電路的設(shè)計。
電阻按照阻值大小可分為高阻(大于100kΩ )、中阻(1-100kΩ)、低阻(小于1Ω )。在測量這些類別的電阻時,必須考慮到影響測量誤差的各個因素,并選擇合適的測量方法。本文針對封裝后的具有固定連接關(guān)系的電阻網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行測試,測量其各個電阻的阻值是否符合精度要求,設(shè)計一種自動測試儀,完成封裝后各個電阻的自動測試。
待測電阻網(wǎng)絡(luò)封裝后是一個14引腳DIP芯片形式,由11個電阻構(gòu)成電阻網(wǎng)絡(luò),內(nèi)部電路連接形式如圖1所示,封裝電阻網(wǎng)絡(luò),只有一個電阻是單獨(dú)引出,其它電阻均沒有單獨(dú)引出,相互之間都有連接關(guān)系。
圖1 待測電阻網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)示意圖
電阻網(wǎng)絡(luò)的電阻阻值與外部電路設(shè)計有關(guān),電阻標(biāo)稱值如表1所示,精度要求5%??梢钥闯?,為了滿足電路需要,11個電阻中阻值最小的680Ω,最大的390kΩ。
表1 待測電阻網(wǎng)絡(luò)標(biāo)稱阻值表
電阻測試的主要方法有電橋法和恒流測壓法,電橋法測量準(zhǔn)確,精度高,適合單一電阻的測量,但是電路和操作復(fù)雜。恒流測壓法測試原理簡單,電路設(shè)計靈活測量精度取決于電路設(shè)計的合理性,適合自動化測試。
恒流測壓法測量電阻,就是利用歐姆定律的變形公式R=V/I,如圖2所示,I是程控恒流源,V是高阻抗測試電壓裝置,r是引線和接觸電阻之和。對待測電阻Rt施加已知恒流源I,測量電阻兩端電壓V,當(dāng)Rt>>r時,根據(jù)公式Rt= V/I就可計算出電阻值[1]。在滿足測量精度要求下,恒流測壓法測量電路設(shè)計簡單、實(shí)用。
圖2 恒流測壓法測量電阻原理
待測電阻構(gòu)成電阻網(wǎng)絡(luò)形式,采用恒流測壓法測量對其電路進(jìn)行設(shè)計,滿足不同型號電阻網(wǎng)絡(luò)的測試要求,測試電路包括電源電路、核心測控電路、程控恒流源電路、程控切換電路、顯示按鍵電路、存儲電路及待測電阻等幾個部分,如圖3所示。
圖3 系統(tǒng)測試結(jié)構(gòu)框圖
核心測控電路以STM32單片機(jī)小系統(tǒng)為控制核心,控制系統(tǒng)電阻測試流程,控制恒流源電路產(chǎn)生與待測電阻檔對應(yīng)的恒流源,控制程控切換電路,正確接通待測電阻回路,將待測電阻兩端電壓通過自身AD模塊采集,并進(jìn)行處理,實(shí)現(xiàn)電阻測試結(jié)果的判斷和顯示,將電阻的測試數(shù)據(jù)通過通訊接口上傳到上位機(jī)顯示和存儲。
恒流源為電路提供恒定電流,是精確測量電阻的基礎(chǔ),由精密穩(wěn)壓源和高阻抗運(yùn)算放大器為主要元件構(gòu)成[2],工作原理如圖4所示,Vs是精密穩(wěn)壓源,Rx為被測電阻,R是采樣電阻,電路是一個負(fù)反饋電路,當(dāng)采樣電阻的電壓變化時,直接反饋到運(yùn)放的反相輸入端,與同相輸入端電壓的差值被運(yùn)放放大,輸出控制三極管的基極電流,改變?nèi)龢O管的內(nèi)阻,從而改變發(fā)射極與集電極間的電壓降,從而使采樣電阻的電壓保持不變,以達(dá)到負(fù)載電流恒定的目的。
圖4 恒流源電路原理圖
改變采樣電阻R的阻值就可以改變恒流源,通過程序改變接入電路的阻值,輸出1μA~10mA的電流。
恒流源實(shí)際應(yīng)用電路如圖5所示,R5是負(fù)載電阻,用MOS管替代三極管,減小導(dǎo)通電阻,提高測量精度,R3和R5構(gòu)成采樣電路,由采樣電阻實(shí)時反饋負(fù)載電流,當(dāng)負(fù)載電流變大時,運(yùn)放反相輸入端的電壓比正相輸入端的電壓高,運(yùn)放輸出低電平,使MOS管截止,使負(fù)載電流減??;當(dāng)負(fù)載電流變小時,運(yùn)放反相輸入端的電壓比正相輸入端的電壓低,運(yùn)放輸出高電平,使MOS管導(dǎo)通,使負(fù)載電流增大。因此,負(fù)載電流經(jīng)過采樣電阻的實(shí)時反饋,最終達(dá)成恒定的穩(wěn)定電流。可變電阻R3改變采樣電阻的阻值,可以調(diào)整恒流源的電流。TL431為運(yùn)放正向輸入端,提供穩(wěn)定電壓值。
圖5 恒流源實(shí)際應(yīng)用電路
待測電阻網(wǎng)絡(luò)電阻阻值差距較大,三角形連接電阻測量需要單獨(dú)電路處理,恒流源另外設(shè)立,其它待測電阻需要的恒流源,電路根據(jù)待測網(wǎng)絡(luò)電阻設(shè)計四檔恒流源,電阻值R≤1k采用2.5mA恒流源,電阻值1k<R≤5k采用500μA恒流源,電阻值10k≤R<100k采用25μA恒流源,電阻值100k≤R采用5μA。
程控切換電路采用繼電器矩陣,用于選擇合適恒流源,流過被測電阻。對電阻網(wǎng)絡(luò)中不同連接形式,通過繼電器切換選擇的不同測試連接方式,最終目的時把待測電阻兩端的電壓正確采集到控制核心電路的A/D模塊,如圖6所示,Is為恒流源輸入端,IN+和IN-為數(shù)據(jù)采集輸入端,SW1~SW15為切換繼電器。例如,當(dāng)需要測量R1時,STM32控制器接通對應(yīng)的恒流源2.5mA,恒流源通過閉合SW14、SW10、SW1、SW7構(gòu)成回路,電阻R1通過SW1和SW7接入STM32控制器的數(shù)據(jù)采集輸入端IN+和IN-,讀取電阻R1兩端的電壓值,計算出電阻測量值和誤差。
圖6 電阻測試切換連接電路
如果按照網(wǎng)絡(luò)中其它電阻的測量方法直接接入A/D,恒流源在流過任何一個電阻時,都會在于其并聯(lián)的電阻上產(chǎn)生分流,比如,恒流源Is通過閉合SW8、SW14和SW10,流過電阻R5,同時恒流源也經(jīng)過R3和R4并聯(lián)回路產(chǎn)生分流,在R5流過的就不是恒流源Is。所以,在測試三角形連接電阻時,需要考慮相互之間的影響。
三角形連接電阻的測量采用虛地的方法,引入運(yùn)算放大器,實(shí)現(xiàn)在線測量,測量原理如圖7所示,被測電阻Rx與Z1、Z2構(gòu)成三角形連接,b點(diǎn)的電位與a點(diǎn)相同,流過Z1的電流為零,合理選擇恒流源Is,流過被測電阻Rx,運(yùn)算放大器輸出端的電壓Vo=-Is*Rx,所以,Rx=-Vo/Is。
圖7 三角形連接測量原理圖
電阻網(wǎng)絡(luò)當(dāng)中,被測電阻R3、R4和R5構(gòu)成三角形連接,如圖8所示,電阻R3、R4和R5每兩個的連接作為三角形的三個頂點(diǎn),電阻R3和R4的連接由14腳引出,電阻R4和R5的連接由13腳引出,電阻R3和R5的連接由11腳引出。
圖8 三角形電阻連接形式
三角形連接電阻測量仿真電路如圖9所示,待測三角形連接電阻阻值差別較大,采用恒流源需要合理選擇,選擇恒流源的原則是,在被測電阻兩端產(chǎn)生的電壓在A/D輸入端量程的中間已上,可以避免因?yàn)殡妷禾≡斐傻碾妷焊蓴_,影響測量精度。圖9(a)是電阻R5的測量電路,測量時引腳14接地,恒流源采用5μA,在電阻R5產(chǎn)生壓降為1.95V,圖9(b)是電阻R4的測量電路,恒流源采用10μA,在電阻R4兩端產(chǎn)生壓降為1.56V,圖9(c)是電阻R3的測量電路,恒流源采用40μA,在電阻R3兩端產(chǎn)生壓降為1.88V。
圖9 三角形電阻測量仿真電路
測試系統(tǒng)與上位機(jī)的連接有兩種方式,一種是有線模式,采用RS485電路,另外一種是無線模式,采用Zigbee通訊模塊,如圖10所示。STM32控制器的串口1實(shí)現(xiàn)RS485電路連接,串口2實(shí)現(xiàn)Zigbee電路連接。兩種模式都能夠?qū)崿F(xiàn)測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)傳輸和網(wǎng)絡(luò)構(gòu)建,實(shí)現(xiàn)集中管理模塊與測量終端的連接。RS485電路是成熟電路,是基本的通訊電路保障,需要布線,Zigbee電路則不需要布線,也可以構(gòu)成測試網(wǎng)絡(luò),兩者實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)構(gòu)建的互補(bǔ)。
圖10 通訊電路
系統(tǒng)測試通過STM32控制器完成,測試過程包括系統(tǒng)初始化,測試選擇,恒流源選擇,待測電阻網(wǎng)絡(luò)電阻測試,數(shù)據(jù)采集及處理,顯示及存儲等環(huán)節(jié),如圖11所示。首先,系統(tǒng)初始化對測試系統(tǒng)上電硬件狀態(tài)檢查,顯示、存儲區(qū)域正常,供電正常,無短路,初始化完成,然后進(jìn)行測試選擇,可以選擇要測試的電阻網(wǎng)絡(luò),也可以選擇測試校準(zhǔn),對恒流源及電壓進(jìn)行校準(zhǔn),選擇電阻網(wǎng)絡(luò)后開始自動測試,對被測電阻逐個測試,進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,待測電阻兩端電壓采集進(jìn)行均值濾波,濾除干擾數(shù)據(jù),使測試更準(zhǔn)確,同時,將測試數(shù)據(jù)上傳至上位機(jī)進(jìn)行顯示和存儲。
圖11 系統(tǒng)測試流程圖
測試系統(tǒng)與上位機(jī)的通訊采用自定義協(xié)議[3],傳輸電阻網(wǎng)絡(luò)測試數(shù)據(jù),兼容有線和無線兩種模式。數(shù)據(jù)通訊幀結(jié)構(gòu)如表2所示。數(shù)據(jù)通訊的目的是將每個測試站點(diǎn)的測試產(chǎn)品數(shù)據(jù)上傳到上位機(jī)和集中管理模塊,管理模塊依據(jù)數(shù)據(jù)不僅可以對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,還可以定位到測試產(chǎn)品的具體位置和個體。通訊幀的總長度40個字節(jié),幀頭和幀尾各1個字節(jié),第二個字節(jié)用ID號表示測量網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn),第三個字節(jié)表示數(shù)據(jù)長度,由被測電阻的個數(shù)決定,后面跟被測電阻的阻值數(shù)據(jù),字節(jié)個數(shù)由數(shù)據(jù)長度字節(jié)決定,如表2所示。
表2 通訊幀結(jié)構(gòu)
表2中測量數(shù)據(jù)的內(nèi)容,包括被測電阻網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品批次、產(chǎn)品編號、被測電阻網(wǎng)絡(luò)芯片類型及每個電阻的測試數(shù)值,兼容多種電阻網(wǎng)絡(luò)芯片,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品測試的可逆追蹤,產(chǎn)品批次、編號和類型各占一個字節(jié),測試數(shù)據(jù)包括該類型網(wǎng)絡(luò)電阻的所有電阻測試數(shù)值,按照序號依次排列,每個電阻測試數(shù)值占2個字節(jié),第一個字節(jié)表示整數(shù)部分,第二個字節(jié)表示小數(shù)部分,如表3所示。
表3 測量數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)
測試系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)是否滿足精度要求,需要進(jìn)行測試,被測試產(chǎn)品屬于非標(biāo)產(chǎn)品,不能用常規(guī)方法進(jìn)行標(biāo)定測量。所以,首先對測試系統(tǒng)進(jìn)行標(biāo)定,使用標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品進(jìn)行測量、校準(zhǔn),然后再在標(biāo)定的基礎(chǔ)上測量實(shí)際產(chǎn)品,測量的實(shí)際產(chǎn)品與標(biāo)稱值做比較,得出測量誤差。
待測電阻網(wǎng)絡(luò)采用5個標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品進(jìn)行標(biāo)定測試,測試數(shù)據(jù)如表4所示,可以看出,雖然電阻阻值大小不一,但是測試過程中,采用不同的恒流源,避免了測量誤差的累計,待測電阻均值誤差最小值0.18%,最大值是2%,基本滿足了測試要求。將均值誤差作曲線圖進(jìn)一步分析,除了電阻R2誤差在-2%外,其余電阻均值誤差都在-1%~1%區(qū)間波動。對被測電阻分段修正,可使誤差范圍在-1%~1%內(nèi),進(jìn)一步滿足測試準(zhǔn)確度,提高測試精度。
表4 產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)表
校準(zhǔn)后的測試系統(tǒng),就能夠進(jìn)行產(chǎn)品測試檢驗(yàn),以驗(yàn)證電路的穩(wěn)定性,提高測試精度。
本測試系統(tǒng)能夠測試多種類型電阻網(wǎng)絡(luò),并且可以單機(jī)測試,也可以構(gòu)建測試網(wǎng)絡(luò),實(shí)現(xiàn)了測試數(shù)據(jù)的集中管理。測試系統(tǒng)解決了三角形連接電阻的測試,通過分析測試數(shù)據(jù),可以看出,測試數(shù)據(jù)符合測試精度要求,滿足了生產(chǎn)和測試的需要。