張國鳴,郝志東,趙 奇,張志文,蔡柏林,李 兵
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相移輪廓術(shù)(phase shifting profilometry,PSP)是一種有效的光學(xué)三維測量方法,在生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)檢測和逆向工程等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用[1-3]。通常,PSP 系統(tǒng)由投影儀和攝像機構(gòu)成,投影儀投射一系列周期性圖案至目標(biāo)物體,同時使用攝像機捕捉經(jīng)過物體調(diào)制后的條紋圖像[4-5]。在系統(tǒng)無非線性的假設(shè)下,調(diào)制后的條紋可以通過條紋分析方法獲取物體相貌信息[6-7]。但在實際的系統(tǒng)中,由于投影儀和攝像機的使用,獲取的圖像強度值會發(fā)生截斷,從而產(chǎn)生非線性誤差[8]。
為了獲取高精度的三維測量結(jié)果,很多學(xué)者針對系統(tǒng)的非線性誤差提出了解決方案[9]。Huang 等人提出對測量系統(tǒng)的亮度進行預(yù)標(biāo)定,獲取輸入輸出亮度值,構(gòu)建查找表(lookup table,LUT)[10]。這樣整個系統(tǒng)的非線性可以通過LUT 法進行有效的校正。但是,該校正法針對的是某一固定不變的系統(tǒng)。當(dāng)測量系統(tǒng)某一變量發(fā)生變化時,預(yù)標(biāo)定的參數(shù)就無法使用。所以主動校正方法不具有通用性,同時需要人工干預(yù)標(biāo)定。為了減少人工標(biāo)定操作,Zhang 提出使用投射的條紋圖像獲取系統(tǒng)輸入輸出強度的LUT[11]。該方法同樣會由于環(huán)境變化而產(chǎn)生偏離誤差。隨后Pan 推導(dǎo)了N步相移的相位與非線性相位誤差的關(guān)系,并使用迭代法進行較正[12],但是該方法需要大量的計算。為了避免非線性對測量的影響,Lei 提出了離焦二值條紋測量技術(shù)[13]。離焦效應(yīng)相當(dāng)于低通濾波器,通過較大程度的透鏡離焦可以顯著降低投影儀的非線性。一般來說,二值條紋對離焦程度和頻率較為敏感,測量精度很大程度上取決于條紋的質(zhì)量,精度不穩(wěn)定。
為了解決上述問題,Mo 等人提出了復(fù)合梯形正弦方法來減少圖像的數(shù)量,同時能夠保證該方法的通用性[14]。但該方法在測量過程中,仍然需要3 組相移條紋共9 幅圖像。對于快速測量來說,9 幅圖像仍顯冗余?;诖?,本文提出了優(yōu)化的梯形正弦相移算法,引入希爾伯特變換,使得一次測量只需要7 幅圖像,測量的效率提高了28%。
N步相移算法因其測量速度快、測量精度高和非接觸的優(yōu)點[15],而被廣泛地應(yīng)用于相位測量中。在N步相移算法中,三步相移算法是高速三維測量應(yīng)用中的最佳選擇,因為它需要最少的圖像來獲得絕對相位圖。三步相移算法的步長是2π/3,每個條紋的強度值可以表示為
式中:A(x,y)是測量環(huán)境背景光強;B(x,y)是條紋的調(diào)制度;φ(x,y)是截斷相位;(x,y)是圖像坐標(biāo)點。依據(jù)相移算法,A(x,y)、B(x,y)、φ(x,y)可分別通過下式計算得到(為了公式簡潔,后文省略坐標(biāo)(x,y)):
通過求解方程(4)可得到截斷相位,因為反正切函數(shù)的值域范圍只有?π 到π。2π 相位跳變點需要通過相位展開算法消除。相位展開算法的核心問題是獲得條紋級次k(x,y)。最終絕對相位可以由(5)式得到。
系統(tǒng)非線性引起的誤差會影響偽攝像機投影儀標(biāo)定法的精度,在標(biāo)定過程中需要對非線性誤差進行補償。一般的結(jié)構(gòu)光系統(tǒng)使用的是基于DMD 開發(fā)的DLP 數(shù)字投影儀。它在一定程度上消除了機械光柵的相移步進的相移誤差,但引進了由于自身Gamma 非線性導(dǎo)致的光柵非正弦化。同時攝像機本身也存在非線性響應(yīng),在實際實驗中將兩者非線性作為一個整體考慮。在測量過程中,攝像機拍攝的過程如圖1所示。
忽略環(huán)境光對被測物體表面的影響,假設(shè)生成的正弦條紋為I(x,y),那么攝像機拍攝的圖像強度分布可表示為
式中:Fc、Fp分別為投影儀和攝像機的非線性響應(yīng)函數(shù);Ic為拍攝得到的圖像。經(jīng)過兩次非線性響應(yīng)后,拍攝圖像的非正弦表現(xiàn)為圖像的高次諧波。為了簡化校正模型,本文中使用多項式模型來表示非正弦化,其中二階和三階因素對結(jié)果影響最大。該模型可表示為
式中:e3、e2、e1、e0為常系數(shù),需要通過擬合得到,在 本文中非線性模型的階數(shù)為三。
希爾伯特變換被廣泛地應(yīng)用在信號處理領(lǐng)域中,一個實函數(shù)μ(t)的希爾伯特變換是將μ(t)與1/πt做卷積,得到另一個實函數(shù)H(μ)(t):
希爾伯特變換可以看作是頻域乘法操作:
式中:F 表示傅里葉變換操作,δH(ω)可被定義為
由上式可知,希爾伯特變換可使信號相位滯后π/2。那么對于正弦信號I(x,y)=B(x,y)cos[φ(x,y)],希爾伯特變換后可得:
最終截斷相位可以由下式計算得到:
為了提高條紋解析的效率,Huang 提出了梯形相移算法[16]。梯形相移條紋在圖像強度變化上不再是正弦曲線,而是呈梯形變化。梯形條紋是基于圖像強度編碼的,條紋處理速度較快。本文提出使用正弦曲線代替梯形過渡的斜線,通過正弦編碼,將其解析的值域擴展為0~6π。改進后的梯形條紋強度可表示為
式中:T1、T2、T3為三步相移的梯形條紋,A、B、φ同上文。三步相移梯形條紋強度分布如圖2(a)~(c)所示。將三步相移的梯形條紋相加后,其強度分布如圖2(d)所示,同時其可視為如圖2(e)~(g)所示3 幅圖像的復(fù)合。所以在獲取上述3 幅梯形條紋后,可通過下式獲取圖像最大和最小強度分布圖。
從圖像生成的原理,可知梯形條紋的區(qū)域由6 個局部區(qū)域組成,這6 個局部區(qū)域的級次可通過圖像強度在局部區(qū)域的不同獲取,如圖3所示。
獲取的局部級次信息是0、1、2、3、4、5,如果2 幅局部級次信息,1 幅圖像中周期是另一幅圖像的6 倍,那么可唯一確定36 個條紋級次。具體的原理由文中第2 節(jié)給出。
為了消除系統(tǒng)非線性對測量精度影響,并進一步提高測量速度,本文提出了梯形與正弦相移相結(jié)合的非線性誤差校正算法。該方法使用2 組改進的梯形相移條紋(T1,T2,T3;T4,T5,T6)和1 幅正弦條紋圖(I)。2 組改進的梯形相移條紋頻率不同,高頻條紋頻率是低頻條紋的6 倍。假設(shè)圖像的深度是8 位,高頻梯形條紋中A+B=195和A-B=55;低頻梯形條紋中A+B=255和A-B=0。正弦條紋的背景強度和調(diào)制度與低頻條紋相同,而其條紋頻率是高頻梯形條紋6 倍,低頻梯形條紋的36 倍。該方法的流程圖如圖4所示,圖中低頻梯形條紋的頻率為1。
文中所提方法的主要步驟如下:
1)使用2 組復(fù)合梯形條紋是用公式可以獲得4 幅圖像強度不一的圖像(F0,F1,F2,F3),同時利用A=(F0+F3)/2可以獲取低頻條紋圖像的背景強度。
2)4 幅圖像強度不一的圖像作為輸出,圖像生成時給定的強度值作為輸入。由此可建立系統(tǒng)的非線性響應(yīng)曲線[14]。
3)利用希爾伯特變換,可以獲取原正弦條紋相位滯后的條紋。文中正弦條紋為I,希爾伯特變換后獲取的條紋可表示為H(I),截斷相位可以通過公式(12)獲取,并使用步驟2 獲取的非線性響應(yīng)曲線去校正截斷相位。
4)利用公式,分別獲取低頻和高頻梯形條紋的局部級次M1和M2,那么條紋級次可表示為
5)在完成上述步驟后,使用文獻(xiàn)[17]方法對條紋級次k存在的相位誤差進行消除。利用公式(5),可直接獲取非線性校正后的絕對相位。
為了驗證文中方法在實際測量中的有效性,搭建了條紋投影系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括DLP Light-Crafter 4500 和攝像機Balser a2A1920-160ucBAS,其中投影儀的分辨率為912 pixel×1 140 pixel,攝像機的分辨率為1 920 pixel ×1 280 pixel。實驗過程中,梯形低頻條紋的頻率為1,周期為1 140 像素;高頻條紋頻率為6,周期為190 像素;正弦條紋的頻率為36。
為了驗證文中方法的性能,首先對一個平面進行了測量。將生成的條紋圖像,依次投射到光滑的平板上,攝像機同步拍攝經(jīng)過平板調(diào)制后的圖像。調(diào)制后的低高頻條紋及正弦條紋圖像分別如圖5(a)~(c)所示。利用第2 節(jié)中所述算法步驟,首先求取非線性響應(yīng)函數(shù)y=-1.31×10-5x3+0.004 6x2+x-1。然后獲取高頻條紋圖像的背景強度。正弦條紋圖像經(jīng)過希爾伯特變換后,利用公式(13)可以求取截斷相位 φ,如圖5(d)所示。隨后利用公式,可求得局部級次M1和M2,最終獲取整幅圖像的條紋級次分布k。M1、M2和k分別如圖5(e)~(g)所示。將上述 φ和k代入公式(5),可求得最終的絕對相位 Φ,如圖5(h)所示。
圖6 展示了對上述平面的重建結(jié)果,分別為非線性校正前后的結(jié)果。圖中可以看出校正后的結(jié)果表面更為平滑。為了更清楚地表明校正的效果,圖6(c)~(d)顯示了校正前后重建結(jié)果的第840 列的橫截面。圖中可以看出,校正后的結(jié)果,其表面明顯更為光滑,而校正前的表面會出現(xiàn)些許的紋波。此外,實驗中也對比了文中方法與文獻(xiàn)[14] 方法的結(jié)果,如圖6(d)所示。在第840 列的橫截面上,兩種方法的結(jié)果幾乎完全吻合,再一次佐證了本文方法的有效性。
使用文中方法測量了表面較為復(fù)雜的單個雕塑。攝像機采集的圖像如圖7(a)~(c)所示,依照第2 節(jié)的算法,可以求出其條紋級次和絕對相位,分別如圖7(d)和7(e)所示。依據(jù)所求取的非線性響應(yīng)曲線,可消除表面紋波,重建結(jié)果如圖7(f)所示。本節(jié)實驗結(jié)果證明了該方法的有效性。
本文提出了一種基于梯形與正弦條紋組合使用的非線性校正方法。文中使用2 組圖像強度不同的梯形條紋,其強度值作為輸入求取系統(tǒng)的非線性響應(yīng)曲線,然后完成系統(tǒng)的校正。希爾伯特變換的使用減少了正弦條紋的數(shù)量。與傳統(tǒng)方法相比,文中方法使用更少的圖像,仍然能夠有效獲取被測物體的三維形貌,同時測量效率提高了28%。