李坤坤,繆 旻
(北京信息科技大學(xué) 信息微系統(tǒng)研究所,北京 100192)
人工電磁結(jié)構(gòu)(AES)是指將人工設(shè)計(jì)的具有特定幾何形狀的金屬單元規(guī)則陣列排布,并植于介質(zhì)所構(gòu)成的復(fù)合功能結(jié)構(gòu),可實(shí)現(xiàn)自然介質(zhì)所達(dá)不到的電磁特性。AES的研究經(jīng)歷了數(shù)十載的探索和驗(yàn)證,最早由前蘇聯(lián)物理學(xué)家V.G.Veselago于上個(gè)世紀(jì)60年代提出[1],隨后經(jīng)過(guò)J.B.Pendry[2]和D.R.Smith[3]的驗(yàn)證和發(fā)展,最終由F.Capaso 在 2011 年提出了超表面的廣義定律。該定律拓展了二維AES的應(yīng)用范圍,特別是在天線設(shè)計(jì)領(lǐng)域以及平面電路濾波器設(shè)計(jì)領(lǐng)域得到了進(jìn)一步的研究和應(yīng)用[4-5]。
電磁帶隙結(jié)構(gòu)(electromagnetic bandgap,EBG)屬于二維平面周期AES。傳統(tǒng)的EBG結(jié)構(gòu)由于其本身面積較大,在系統(tǒng)封裝等微型化、平面化(2維或者2.5維)電路中應(yīng)用較為困難。為了實(shí)現(xiàn)EBG結(jié)構(gòu)面積小型化的技術(shù)需求,眾多專家學(xué)者做了廣泛研究[6-8]。同時(shí),增加電磁抑制頻段的帶寬,在微型電源網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)或天線以及濾波器的設(shè)計(jì)中應(yīng)用較廣[9]。因此,縮小EBG結(jié)構(gòu)面積,研發(fā)雙抑制頻段和多抑制頻段EBG結(jié)構(gòu)有著大量的市場(chǎng)需求和較好的應(yīng)用前景。
目前大多EBG結(jié)構(gòu)僅針對(duì)其中的某一問(wèn)題進(jìn)行研究。本文綜合考慮EBG結(jié)構(gòu)面積、抑制頻帶數(shù)量和應(yīng)用范圍情況,提出了一種新型EBG結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)較傳統(tǒng)型EBG結(jié)構(gòu)(conventional mushroom-type EBGs,CMT-EBGs)在面積上縮小了65.4%,同時(shí)相比于CMT-EBGs僅僅擁有單抑制頻段,新提出的結(jié)構(gòu)增加了抑制頻段的數(shù)量,這極大地提升了該結(jié)構(gòu)在傳輸高速信號(hào)的系統(tǒng)封裝和電路板上的應(yīng)用范圍。
AES能夠?qū)崿F(xiàn)獨(dú)特的電磁特性,如抑制表面波或引導(dǎo)表面波的傳播。AES的ε-μ參數(shù)象限空間劃分如圖1所示。自然界中的絕大部分材料處于第一象限(ε>0,μ>0),支持正向傳播的電磁波。由于該象限的材料對(duì)電磁波的傳輸滿足右手定則,因此稱之為右手材料(right-handed materials,RHM)。有少部分材料在某些狀態(tài)下會(huì)在第二象限(ε<0,μ>0),如等離子體以及位于特定頻段的部分金屬。電磁波只能在折射率為實(shí)數(shù)的材料中傳播。當(dāng)ε<0、μ>0時(shí),電磁波的折射率為虛數(shù),也即在這種材料中傳播的電磁波只能是消逝波(evanescent waves)。處于第三象限(ε<0,μ<0)中的材料,電磁波傳輸時(shí)的波矢和能流方向是反平行的,滿足左手定則,因此稱之為左手材料(left-handed materials,LHM)[10-12]。麥克斯韋方程表明允許電磁波在滿足第四象限(ε>0,μ<0)的材料中傳播,但此時(shí)材料的折射率卻必須取負(fù)值。
根據(jù)對(duì)AES電磁反射性不同的需求,可將其設(shè)計(jì)為高度各向異性的,且實(shí)現(xiàn)各種材料特性以及電磁學(xué)變換的靈活性,從而控制電磁波的傳輸,以增強(qiáng)其應(yīng)用范圍。
隨著5G通信技術(shù)的快速發(fā)展和商用,可將EBG應(yīng)用于制作定向天線、多頻帶濾波器等結(jié)構(gòu)。同時(shí),EBG結(jié)構(gòu)也有望廣泛應(yīng)用在系統(tǒng)封裝電源分配網(wǎng)絡(luò)同步開(kāi)關(guān)噪聲的抑制中,用以提高傳輸性能,增加阻帶帶寬,增強(qiáng)其電源系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
蘑菇型(mushroom-like EBGs)電磁帶隙結(jié)構(gòu)是EBG經(jīng)典結(jié)構(gòu),因此又被稱為傳統(tǒng)型電磁帶隙結(jié)構(gòu)(CMT-EBGs),如圖2 (a)所示。由于蘑菇型EBG結(jié)構(gòu)制造工藝簡(jiǎn)單,因此大量地運(yùn)用在電路板等二維電路與互連網(wǎng)絡(luò)中,近些年來(lái)受到了國(guó)內(nèi)外大量科研人員的關(guān)注。
EBG結(jié)構(gòu)可以看作是一個(gè)特殊形狀的LC電路,某些頻率段的電磁波通過(guò)EBG結(jié)構(gòu)時(shí),會(huì)在EBG結(jié)構(gòu)內(nèi)部腔體中形成一個(gè)諧振回路,從而抑制該頻段電磁波的傳輸。正如改變LC電路自身固有的諧振頻率一樣,通過(guò)改變EBG結(jié)構(gòu)等效電感和電容的數(shù)值可以達(dá)到控制其等效LC電路諧振頻率的目的。EBG結(jié)構(gòu)的電容值由金屬板之間的間隙距離來(lái)確定,而電感則由上平板和地平面之間的距離來(lái)確定。式(1)~(4)給出了CMT-EBGs的諧振頻率ω0、電感L、電容C和帶寬B的計(jì)算方法[13-14]。
(1)
L=μ0h
(2)
(3)
(4)
式中:w為CMT-EBGs單元的上平板邊長(zhǎng);g為相鄰兩個(gè)EBG結(jié)構(gòu)上平板之間的距離;h為通孔的高度;ε0和μ0分別為真空介電常數(shù)和磁導(dǎo)率;εr為介質(zhì)層的相對(duì)介電常數(shù)。
CMT-EBGs的LC等效電路模型如圖2 (b)所示。
圖2 單元EBG結(jié)構(gòu)模型及其等效電路圖
將單元CMT-EBGs排列組合為3×3模型結(jié)構(gòu),其俯視圖如圖3所示。利用HFSS全波仿真軟件對(duì)該模型結(jié)構(gòu)進(jìn)行掃頻分析,得出其插入損耗S12參數(shù)如圖4所示,圖中S12參數(shù)表明電磁波在CMT-EBGs中傳輸時(shí),其頻率在1.75~3.15 GHz之間出現(xiàn)了電磁抑制頻段,且衰減值均超過(guò)-10 dB。
圖3 3×3CMT-EBGs俯視圖
圖4 CMT-EBGs插入損耗參數(shù)S12
由圖4可知,CMT-EBGs僅僅存在一個(gè)電磁抑制頻段。另外,CMT-EBGs本身的面積較大,很難滿足系統(tǒng)封裝或電路板等平面化電路系統(tǒng)的要求。針對(duì)上述問(wèn)題,本文提出一種新型EBG結(jié)構(gòu)。
根據(jù)式(1)~(4)可知,增加EBG結(jié)構(gòu)的等效電容和電感數(shù)量會(huì)增加其電磁抑制頻段的數(shù)量。其中,上平板刻蝕溝壑的數(shù)量增多可以增加其等效電容的數(shù)量,同時(shí),通過(guò)刻蝕溝壑所產(chǎn)生的彎曲條狀金屬改變了上平板的等效物理長(zhǎng)度,隨著金屬條狀長(zhǎng)度的增加進(jìn)而增大了等效的電感值。因此通過(guò)控制變量法,在不改變其他參數(shù)的情況下逐步增多上平板的刻蝕溝壑,從而改變新型EBG結(jié)構(gòu)的等效電容電感值,如圖5所示。
圖5 新型EBG結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
由圖5可知,EBG1結(jié)構(gòu)與CMT-EBGs在幾何上具有相似性,但是削減了上平板的寬度從而減小了其面積。EBG2結(jié)構(gòu)在原有的EBG1結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)上各方向增加了一條刻蝕溝壑,EBG3結(jié)構(gòu)在EBG2結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上向內(nèi)靠近中心處再次增加了新的4條刻蝕溝壑,EBG4結(jié)構(gòu)在EBG3的基礎(chǔ)上繼續(xù)增加刻蝕溝壑的數(shù)量。EBG4即為新型EBG結(jié)構(gòu),新型EBG結(jié)構(gòu)的三維結(jié)構(gòu)圖、俯視圖和截面圖如圖6所示。
圖6 新型EBG結(jié)構(gòu)示意圖、俯視圖和截面圖
上平板條狀之間的間隙可以看作是一個(gè)等效電容,而條狀金屬本身有電感屬性,通過(guò)改變條狀金屬的長(zhǎng)度從而改變等效電感值,新型EBG結(jié)構(gòu)模型等效LC電路圖如圖7所示,其結(jié)構(gòu)模型與CMT-EBGs的設(shè)計(jì)參數(shù)對(duì)比如表1所示。
圖7 新型EBG結(jié)構(gòu)等效電路模型
由圖5可以看出,新型EBG結(jié)構(gòu)和CMT-EBGs的差別在于調(diào)整了上平板的形狀,通過(guò)在上平板中增加刻蝕溝壑空隙從而增加了等效的電容和電感數(shù)量。由表1上平板面積參數(shù)可得出新型EBG結(jié)構(gòu)相對(duì)于CMT-EBGs在面積上縮減了65.4%。
表1 CMT-EBGs和新型EBG結(jié)構(gòu)模型參數(shù)表
為了驗(yàn)證新設(shè)計(jì)的有效性,將EBG1~EBG4結(jié)構(gòu)按照3×3排列組合進(jìn)行全波仿真。在0~10 GHz范圍內(nèi)利用HFSS軟件對(duì)EBG1~EBG4結(jié)構(gòu)進(jìn)行掃頻分析,其插入損耗參數(shù)S12如圖8所示。
由圖8可知,EBG1結(jié)構(gòu)的插入損耗參數(shù)在3.2 GHz附近出現(xiàn)了僅有的1條電磁抑制頻段;EBG2結(jié)構(gòu)的插入損耗參數(shù)在EBG1結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上在4.7 GHz處出現(xiàn)了第2條電磁抑制頻段,但是其抑制程度較小;同樣地,EBG3結(jié)構(gòu)的插入損耗參數(shù)相比于EBG2結(jié)構(gòu)在第2條電磁抑制頻段的抑制程度上有明顯的提升;EBG4結(jié)構(gòu)其插入損耗參數(shù)具有3條較為良好抑制程度的電磁抑制頻段,分別在2.1 GHz、3.5 GHz和7.0 GHz附近。
圖8 EBG1~ EBG4結(jié)構(gòu)插入損耗參數(shù)S12
將新型EBG(EBG4)結(jié)構(gòu)與CMT-EBGs的插入損耗參數(shù)進(jìn)行對(duì)比,如圖9所示。由圖9可以看出,CMT-EBGs在0~10 GHz掃頻區(qū)間僅存在1個(gè)電磁抑制頻段,而新型EBG結(jié)構(gòu)則出現(xiàn)了3個(gè)電磁抑制頻段,且其抑制程度均大于-10 dB,這極大地提高了電磁帶隙結(jié)構(gòu)的應(yīng)用范圍。
圖9 新型EBG結(jié)構(gòu)與CMT-EBGs插入損耗對(duì)比
在上述全波仿真基礎(chǔ)上,利用HFSS后處理功能對(duì)3×3排列的CMT-EBGs和新型EBG結(jié)構(gòu)的表面電流分布進(jìn)行了提取,結(jié)果如圖10所示。
圖10(a)與(b)顯示出在0.1 GHz通帶處的表面電流分布均勻,表明該頻率處的電磁波信號(hào)能夠均勻且平穩(wěn)地通過(guò);由圖10(c)可見(jiàn),在2.1 GHz頻率阻帶處,新型EBG結(jié)構(gòu)由于存在電磁抑制效應(yīng),其表面電流只有極小部分在中心銜接處通過(guò),即對(duì)該頻率的信號(hào)或者噪聲有較強(qiáng)的抑制功能;同樣地,新型EBG結(jié)構(gòu)在3.5 GHz處的電磁抑制程度超過(guò)了-20 dB,由圖10(d)可知,其表面電流僅僅在端口1的附近有極少的電流分布;由圖10(e)可知,新型EBG結(jié)構(gòu)在7 GHz處表面電流僅有一小部分在單元新型EBG結(jié)構(gòu)邊緣通過(guò)。
圖10 EBG結(jié)構(gòu)在不同頻率處的表面電流分布
通過(guò)上述對(duì)比,印證了新型EBG結(jié)構(gòu)的表面電流與端口S參數(shù)分析結(jié)果的對(duì)應(yīng)關(guān)系,即電磁抑制頻率(阻帶)處僅有極少部分的表面電流通過(guò),而其他頻率(通帶)處有相對(duì)較多且分布均勻的表面電流通過(guò)。進(jìn)一步說(shuō)明了新型EBG結(jié)構(gòu)的電磁抑制效應(yīng)的來(lái)源和有效性。
將該新型EBG結(jié)構(gòu)應(yīng)用于系統(tǒng)封裝的電源網(wǎng)絡(luò)時(shí),電源網(wǎng)絡(luò)所產(chǎn)生的處于新型EBG阻帶頻段的噪聲通過(guò)該結(jié)構(gòu)時(shí),會(huì)在很大程度上受到抑制,因此新型EBG結(jié)構(gòu)有望提升系統(tǒng)封裝電源網(wǎng)絡(luò)的穩(wěn)定性。
CMT-EBGs本身面積較大且僅有1個(gè)電磁抑制頻段,限制了其應(yīng)用范圍。綜合考慮EBG結(jié)構(gòu)的面積、抑制頻帶數(shù)量和應(yīng)用范圍情況下,本文提出了一種新型EBG結(jié)構(gòu)。相比于CMT-EBGs,新型EBG結(jié)構(gòu)在面積上縮減65.4%,并且電磁抑制頻段的數(shù)量大幅增加,這極大地提升了該結(jié)構(gòu)在傳輸高速信號(hào)的系統(tǒng)封裝和電路板電源網(wǎng)絡(luò)的噪聲抑制方面的適用性。