徐向陽,張 偉
(北京信息科技大學(xué) 傳感器重點實驗室,北京 100101)
MEMS 技術(shù)本質(zhì)上是把電子電路和微機械元件集成到一顆芯片的半導(dǎo)體技術(shù),自20 世紀(jì)80 年代以來MEMS 技術(shù)越來越受到人們的重視[1],被應(yīng)用到非常多的領(lǐng)域,在民用國防等領(lǐng)域發(fā)揮著不可或缺的作用。因項目要求-45~85 ℃全溫范圍內(nèi)零偏變化小于5 mg。因此本文以不同的高精度MEMS 加速度計、微控制單元MSC1214、數(shù)/模轉(zhuǎn)換芯片AD5781、MAX6350 為硬件基礎(chǔ),不僅實現(xiàn)了寬量程范圍內(nèi)的加速度的精確測量輸出,還解決了零位溫度偏移過大的問題。
每一款加速度計都有設(shè)定好的敏感軸向,可測量在該方向上的加速度。由于本文實驗測試平臺為高精度三軸轉(zhuǎn)臺,固定安裝后的組合加速度計是在水平面內(nèi)繞固定圓心做半徑為r的圓周運動。根據(jù)力學(xué)原理可知,敏感軸向測量的是圓周運動時產(chǎn)生的離心加速度a,具體示意圖如圖1 所示。
圖1 離心加速度示意圖
由物理力學(xué)知識可推導(dǎo)出加速度的矢量表達式:
式中:a為本文組合加速度計所要測量的加速度;ω是組合加速度計繞中軸旋轉(zhuǎn)的角速度;r為加速度計的中心點到中軸圓心的距離。角速度ω可由高精度轉(zhuǎn)臺的工控計算機精確控制,r可由游標(biāo)卡尺測量得到,所以可根據(jù)已知量計算得出加速度值來標(biāo)定本文的組合加速度計。
MCU(Microcontroller Unit)即微控制器,是電路系統(tǒng)中起數(shù)據(jù)處理,控制系統(tǒng)運行的核心芯片,俗稱單片機。經(jīng)過綜合考量采樣精度、操作難易程度、信號處理和經(jīng)濟成本等因素,最終選擇TI 公司的MSC1214 作為微控制器,周圍電路如圖2 所示??捎肒eil C 編程并下載程序進行電路調(diào)試??稍诟鞣N對體積、功耗、性能有很高要求的測控系統(tǒng)中作為控制和數(shù)據(jù)處理中心。
圖2 MCU 周圍電路
本文設(shè)計的MEMS 組合加速度計,主要由模擬電路和數(shù)字電路兩部分組成。為了達到項目全溫范圍5 mg零偏的要求,對關(guān)鍵芯片會有一定要求,穩(wěn)壓電源關(guān)系著后續(xù)所有元器件的性能,所以穩(wěn)壓電源的穩(wěn)定性至關(guān)重要。設(shè)計方案中兩個備選的電源穩(wěn)壓芯片為REF195和MAX6350,前者溫度漂移特性為5 ppm/℃,后者為1 ppm/℃??梢奙AX6350 工作溫度范圍內(nèi)穩(wěn)定性比REF195 高了5 倍。因此選用MAX6350 作為穩(wěn)壓電源芯片。
在加速度敏感元件的選擇方面,ADXL355 與ADXL1002 是兩款不同量程、不同精度的加速度計,通過對比分析ADXL1002 與ADXL355 發(fā)現(xiàn)后者的0g溫度穩(wěn)定性較好,如表1 所示。
表1 兩款加速度計部分性能對比表
在設(shè)計方案中,電路采用ADXL355 用來測量±2g范圍以內(nèi)的加速度,ADXL1002 用來測量±2g范圍以上的加速度,即小范圍內(nèi)使用精度更高的加速度敏感元件。由于ADXL355 本身已經(jīng)是數(shù)字輸出,可直接使用SPI 的方式與控制器通信,而ADXL1002 為模擬輸出,需經(jīng)過A/D 采樣模/數(shù)轉(zhuǎn)換之后才可進行數(shù)據(jù)處理。
ADXL1002 測量載體加速度后通過MSC1214 內(nèi)部的24 位A/D 采樣轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。由2 個加速度計獲取的數(shù)字信號經(jīng)過MSC1214 處理后,數(shù)字量通過RS 485 轉(zhuǎn)換輸出,模擬量通過AD5781 轉(zhuǎn)換后輸出。電路邏輯如圖3 所示。
圖3 電路邏輯圖
MSC1214 內(nèi)部ADC(模/數(shù)轉(zhuǎn)換器)精度高達24 位,轉(zhuǎn)換后的數(shù)字量范圍為:-16 777 216~16 777 216,但MSC1214 的內(nèi)部DAC(數(shù)/模轉(zhuǎn)換器)只有16 位的精度,包含數(shù)字量范圍是-65 536~65 536,如果直接使用MSC1214 內(nèi)部的DAC,數(shù)模轉(zhuǎn)換時會丟失很高的精度,損失了分辨率。根據(jù)以上問題,本文提出使用更高精度的數(shù)/模轉(zhuǎn)換芯片AD5781。AD5781 芯片具有18 位的數(shù)模轉(zhuǎn)換精度,覆蓋數(shù)字量為:-262 144~262 144。比MSC1214 內(nèi)部的DAC,分辨率提高了一個數(shù)量級。AD5781 電路圖如圖4 所示。
圖4 AD5781 電路圖
在使用精度更高,溫度性能更穩(wěn)定的硬件基礎(chǔ)上,程序算法通過去零偏、卡爾曼濾波等算法實現(xiàn)了高精度、高穩(wěn)定度、寬量程的加速度測量。具體程序流程如下:
步驟1:系統(tǒng)上電初始化;
步驟2:讀取零位初始數(shù)據(jù)并保存,方便后續(xù)去零偏;
步驟3:讀取加速度值,判斷其絕對值是否大于2g,若超過2g,則使用ADXL1002 模數(shù)轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù),反之則使用ADXL355 通過SPI 傳來的數(shù)據(jù);
步驟4:在單片機內(nèi)完成去零偏、濾波去噪等處理;
步驟5:通過AD5781 數(shù)/模轉(zhuǎn)換成模擬量輸出,通過RS 485 串口輸出數(shù)字量;
步驟6:重復(fù)步驟3~步驟5。
依托于北京市傳感器重點實驗室實驗平臺,使用高低溫恒溫溫箱測試不同溫度下加速度計的輸出。設(shè)定測量溫度為-45 ℃,20 ℃,85 ℃,具體溫度測試步驟如下:
步驟1:將4 臺待測產(chǎn)品放置在溫箱內(nèi),可讀取產(chǎn)品模擬量輸出后密閉溫箱;
步驟2:設(shè)定溫箱溫度為-45 ℃,待溫度穩(wěn)定1 h 后讀取電壓表輸出;
步驟3:設(shè)定溫箱溫度為20 ℃,待溫度穩(wěn)定1 h 后讀取電壓表輸出;
步驟4:設(shè)定溫箱溫度為85 ℃,待溫度穩(wěn)定1 h 后讀取電壓表輸出;
步驟5:重復(fù)步驟2~步驟4。
實驗測試時溫箱照片如圖5 所示。
圖5 高低溫恒溫箱
為了驗證系統(tǒng)設(shè)計在不同溫度下零位輸出是否穩(wěn)定,準(zhǔn)備4 臺產(chǎn)品進行實驗。實驗結(jié)果得到表2 和表3。表2 和表3 中高、低溫與常溫變化量分別為高溫和低溫的零位模擬輸出與20 ℃輸出的差值的絕對值。項目要求全溫范圍內(nèi)零偏變化小于5 mg,根據(jù)模擬輸出對應(yīng)標(biāo)度因數(shù)換算成模擬量后為小于0.003 V。
表2 改進前零位溫度數(shù)據(jù) V
表3 改進后零位溫度數(shù)據(jù) V
對比表2 和表3 中數(shù)據(jù)可知,改進前高低溫對常溫的零位最大偏差均方差為0.025 7,改進后為0.001 2,提高了約21.42 倍;改進前零位溫度變化最大為0.062 6 V,改進后為0.002 9 V。由此說明改進方案有效,滿足了項目要求,具有優(yōu)秀的零位溫漂穩(wěn)定性。
改進了一種新型車載MEMS 加速度計,通過對比實驗分析硬件電路和不同元器件的溫度特性,發(fā)現(xiàn)影響零位溫度特性不穩(wěn)定的主要原因是穩(wěn)壓電源易受溫度影響,MSC1214 內(nèi)部DAC 位數(shù)不夠和加速度計0g附近精度不夠。針對以上問題采用了溫度特性更好的穩(wěn)壓電源、D/A 位數(shù)更多的AD5781 與精度更高的加速度芯片。改進后的零位溫度穩(wěn)定性大幅度提高,模擬輸出零位溫漂小于0.003 V,均方差小于0.001 2,滿足了項目小于5 mg的要求。