陸俊峰
(安徽芯紀元科技有限公司 安徽省合肥市 230088)
縱觀全球半導體市場快速發(fā)展,占據(jù)其超過 80%的份額的集成電路產(chǎn)業(yè),作為信息產(chǎn)業(yè)的基石,其被廣泛應用于自動化、信息產(chǎn)業(yè)、消費電子化等各個領域。時代賦予信息產(chǎn)業(yè)更快的發(fā)展步伐,集成電路將為其發(fā)展奠定堅實的基礎。測試作為集成電路制造中三大關鍵技術之一,與另外兩個環(huán)節(jié)——設計與制造有著緊密的關聯(lián)。集成電路測試技術在集成電路生產(chǎn)的各個環(huán)節(jié)發(fā)揮著不可取代的作用,其中集中表現(xiàn)在驗證芯片設計、測試晶圓及測試封裝成品等環(huán)節(jié)。
儀器是指具有特定功能精密儀器或小型機器的統(tǒng)稱。而集成電路測試儀是一種應用于集成電路測試中的智能儀器(Intelligent Instruments)。集成電路測試儀主要由機械結構、程序軟件以及電路硬件構成。硬件作為整個測試儀的電路基礎,其正常工作主要體現(xiàn)在控制環(huán)節(jié)、測試環(huán)節(jié)、電源模塊組成、人機交互實現(xiàn)等模塊組成。作為集成電路運行系統(tǒng)中不可或缺的協(xié)調職能的負責模塊,集成電路測試儀要實現(xiàn)這一職責就需要通過傳輸測試數(shù)據(jù)與測試命令等運作來達成協(xié)調工作。測試儀內置控制器模型的選擇成為控制模塊的設計重點工作之一,它直接決定著控制模塊的工作模式。按照人體功能學角度進行類比,控制模塊在整個集成電路測試儀中好比是人體的“大腦中樞”,“神經(jīng)中樞”機能運行就由通信總線負責。通過對行業(yè)集成電路測試儀控制器模型選型進行篩選,目前主要有以下幾種,如表1 所示。
以型號為J750 集成電路測試儀器為例。如表1 中描述,儀器內部PC 作為其系統(tǒng)配置中的控制器,并通過使用PCI 總線取得與上位機信息交換。當集成電路測試儀在正常運轉中,系統(tǒng)將始終保持通信串行總線的狀態(tài)。之所以采取該種設計模式,是對設計方式進行標準化表征,確保人機交互端操實現(xiàn)便利性,同時系統(tǒng)在可編程能力上也會獲得較大提升。內部處理部分要實現(xiàn)通信速率的增強,確保計算能力滿足PCI 總線要求,并受PCI 總線控制??刂颇K以FPGA 為主要內容,上位機可以對下級硬件各寄存器實施指令性訪問。測試儀內部獨立存在,而不會成為系統(tǒng)內其他處理器的附屬。它的工作原理可以簡單概括為實現(xiàn)系統(tǒng)內數(shù)據(jù)命令傳遞需要確保傳輸總線傳輸至外部計算機上來。
基于測試儀整機方案,擬采取如圖1 測試儀整機系統(tǒng)框圖。
測試儀整機可由器件接口板(DIB 板)、系統(tǒng)計算機、測試頭等部件或者板塊組成。其中,測試頭內部采用標準 PCIe+自定義總線,使得系統(tǒng)通信功能可順暢實現(xiàn)。DIB 板是測試頭和測試件的重要連接工具,并以測試信號為載體完成測試雙方間的溝通與連接。系統(tǒng)計算機能夠幫助測試程序有效運轉,同時也能夠清晰顯現(xiàn)出檢測的最終效果,以此完成人機交互。測試頭在系統(tǒng)中占據(jù)重要位置,是完成測試過程的關鍵性存在。測試頭的構造復雜,器件繁多,主要涵蓋了系統(tǒng)控制模塊、底板等零件。
表1:集成電路測試儀控制器模型的選型及性能比較
圖1:測試儀整機系統(tǒng)框圖
對于測試儀的架構與應用來說,要能夠實現(xiàn)有內容對控制板和系統(tǒng)背板這兩個主體功能。控制模板在通信方面發(fā)揮著重要作用,是實現(xiàn)信息傳輸?shù)年P鍵性存在。實際上,控制模塊主要是對上位機和測試模塊間所產(chǎn)生的向量聯(lián)系,以此有效把握各部分性能狀況。相對于測試頭這一部位來說,控制模塊對于整個儀器的操作具有調整連接的功能??刂葡到y(tǒng)必須具備核心處理器來獨立完成運轉且具有足夠的內部存儲空間,支撐其具有能力來驅動調用各測試模塊。同時,控制系統(tǒng)需要有完備的中斷響應線路。即便在脫離上位機的情況下控制模塊仍可正常運行,且其負責的大部分工作都可正常推進。因此,在集成電路測試控制儀控制模板設計時必須要設置對外的訪問接口。基礎信號產(chǎn)生后,測試儀為協(xié)調整機工作所需,會產(chǎn)生啟動信號、校準信號等不同類型的信號源。為更好地確保安全問題,電源和監(jiān)控模塊中要采取與之功能和型號相一致的零配件。
測試向量主要包括輸入和輸出兩種情況,是檢測器件邏輯功能的重要性指標與數(shù)據(jù)。向量存儲器里會對要被測試的向量進行保存與記錄,而在這集合中的任一向量都是不同測試過程中最原始的數(shù)據(jù)信息。當測試向量存儲器中進行數(shù)據(jù)錄入與存儲時,測試儀會按照波段變動以及電壓情況,以管腳電路為載體將其傳輸?shù)酱郎y器件。待測器件則要以管腳中的比較電路而基礎實現(xiàn)對數(shù)據(jù)的傳遞,而該類數(shù)據(jù)則會自主判斷采樣時間和存儲內容以相應提取。在某一時序中,系統(tǒng)需要實現(xiàn)對矢量進行逐條測試。直至最后一條系統(tǒng)里出現(xiàn)的矢量被檢測完畢后,才完成檢測,這個測試過程被稱為存儲響應。在模塊設計中待測器件的輸出數(shù)據(jù)與信息的質量直接關系到整個檢測結果的正確與否。有且僅當檢測數(shù)據(jù)與存儲器中先期期望結果配對正確,測試結果才正確,否則為錯誤。按照測試過程,測試向量可從可測試開始時便可獲得下載,并能夠對結果存儲器讀取測試結果。在FPGA 控制系統(tǒng)下,可按照流水線作業(yè)模式,從讀取向量、信號編碼、采集數(shù)據(jù)匹對、采集結果輸入等整套測試可自動完成。
按照上述控制模塊結構方案的設計,由控制板和兩塊系統(tǒng)底板共同組成測試儀器。在設計過程中所應用到的主控單元等器件要放置于所要求位置。自定義總線拓展主要依賴于信號發(fā)生單元FPGA所實現(xiàn)。所以,在控制板設計中可將其設計在系統(tǒng)底板當中來防止基礎信號受到板級級聯(lián)時接口不利影響。
在集成電路測試儀控制模塊設計過程中,通信單元相較其他單元復雜。通信總線設計在整機功能實現(xiàn)上作用巨大。通信單元設計是要將其設置為一塊子板,來確保其更加順利地實現(xiàn)功能與后期調試與更新。PFIe 總線協(xié)議的轉變也要借助相應的子板來實現(xiàn)。對于這一設計過程的有效控制,基XILINX 的 FPGA XC7K325T 的功能來實現(xiàn)。SEARAY SLIM 系列插座被直接選用在通信子板與控制板之間,以此實現(xiàn)二者的交互連接。操作中,12.5Gbps 傳輸速率對于傳輸速度給出更高需求。高度設計選擇在7~15mm 區(qū)間。其中7mm 的連接座,子板安裝高度要保證比SOM5897 模塊的安裝高度要低,才可滿足系統(tǒng)結構要求。
自定義總線控制器通過其自身數(shù)據(jù)下發(fā)與數(shù)據(jù)讀取實現(xiàn)從控制模塊FPGA 至測試模塊FPGA 的通信控制。按照實際系統(tǒng)運行需要,數(shù)據(jù)下發(fā)需要重點完成批量操作與單端口操作兩個主要環(huán)節(jié)。更進一步講,批量操作主要包括兩種情況,即模塊內部相同或不同的數(shù)據(jù)傳遞。然而在數(shù)據(jù)提取的過程中,F(xiàn)PGA 通信數(shù)據(jù)的下發(fā)和整合有時候會產(chǎn)生不一致性,二者會存在差異性,并不能一蹴而就。為此,在設計中,設計等待和中斷響應環(huán)節(jié)要重點對數(shù)據(jù)讀取工作下足功夫。
集成電路測試儀控制模塊主要包括控制板和底板兩個部分。其中,兩個硬件實物作為設計驗證平臺,集中在整個三層通信架構的設計。系統(tǒng)調試分析主要通過控制模塊基礎功能平臺測試、PCIe總線測試、信號同步電路測試及分析等三部分展開。
控制模塊設計首要任務要針對整個測試可操作的系統(tǒng)的硬件平臺。在可訪問搭建于模塊電腦的系統(tǒng)中,能夠實現(xiàn)各個接口訪問,從而確保整個控制模塊最基本功能予以實現(xiàn)??傊?,控制模塊基礎功能平臺測試是整個模塊功能驗證的基礎。
PCIe 是集成電路測試儀控制模塊中負責通信的關鍵組件,能夠實現(xiàn)對FPGA 數(shù)據(jù)的傳輸與存儲。對該板塊的測試功能進行劃分,主要包括以下內容:寄存器單端口寫入讀取測試、DMA 對 DDR 的批量讀寫測試。系統(tǒng)可以通過WinDriver 開發(fā)工具開發(fā)PCIe 總線的計算機驅動程序對PCIe 總線的訪問。在測試過程中,如若PCIe板卡不能被驅動識別或者被錯誤識別,此時具有驅動程序的API 接口就不能樹立完成掃描。只有被正確識別后,PCIe 設備內部寄存器才能被初始化,軟件中對應的板卡與端口才可被識別。
作為集成電路系統(tǒng)中一項不可或缺的內容,信號同步電路在集成電路中發(fā)揮著作用。鑒于基礎信號優(yōu)劣質量對后端輸出以及測試信號的質量有著直接關系,并且會對邊沿定位精度產(chǎn)生決定性作用。信號同步電路測試及分析主要包含時鐘抖動分析、時鐘同步分析等。
鑒于當前集成電路參數(shù)項目日漸繁雜,對其所匹配的測試機功能模塊的需求日漸迫切。比如占空比、時間、溫度頻率等因素。集成電路信號精度的提升對測試設備的測試精度方面提出更高要求。例如,對測試機的相位精度要求提升至 0.25%。在不久,集成電路將朝著高頻方向邁進。它將出現(xiàn)更多引腳數(shù),設計更為復雜。這一趨勢對集成電路測試系統(tǒng)的要求會更高。在通信架構基礎上,要找出通信模式的主要瓶頸,并設計并出更為高效的設計優(yōu)化方案以此來提升整個通信架構速率,全面推進集成電路產(chǎn)業(yè)的健康、高效發(fā)展。