焦度計(jì)使用及檢測(cè)中由支座帶來(lái)的誤差分析

簡(jiǎn)蕤潔

摘要：焦度計(jì)是驗(yàn)光配鏡領(lǐng)域應(yīng)用最廣泛的眼科光學(xué)儀器之一，它用于測(cè)量眼鏡鏡片的頂焦度和棱鏡度，確定鏡片的光學(xué)中心和軸位并打印標(biāo)記，檢查鏡片是否正確安裝在鏡架中。在自動(dòng)焦度計(jì)使用和檢測(cè)過(guò)程中，排除儀器本身問(wèn)題，由焦度計(jì)測(cè)量鏡片讀數(shù)支座引起的數(shù)值變化尤為顯著。而支座高度的增減和支座孔徑大小的變化，是引起數(shù)值變化的主要來(lái)源。基于此，本文主要對(duì)焦度計(jì)使用及檢測(cè)中由支座帶來(lái)的誤差進(jìn)行分析探討。

關(guān)鍵詞：焦度計(jì);使用;檢測(cè);支座誤差

1、支座孔徑變化帶來(lái)的數(shù)值影響

在焦度計(jì)實(shí)際使用中，產(chǎn)生影響孔徑大小變化的主要原因在于支座的混用。焦度計(jì)在購(gòu)買(mǎi)時(shí)，大多數(shù)都會(huì)配有角膜接觸鏡專用支座和普通眼鏡支座，而很多用戶由于未看說(shuō)明，很容易將兩個(gè)高度相同，孔徑相差不大的支座混淆使用，從而造成誤差。根據(jù)焦度計(jì)原理可知，頂焦度數(shù)值的變化，受到光線在光闌以及光電位置探測(cè)器處的高度，以及被測(cè)鏡片后定點(diǎn)至光闌的距離和光闌至光電位置探測(cè)器距離的影響?？讖阶冃?，會(huì)使入射光線光路變窄，從而改變光線在光闌以及光電位置探測(cè)器處的高度，使被測(cè)鏡片后頂焦距數(shù)值發(fā)生變化，影響后頂焦度數(shù)值的準(zhǔn)確度。

下面以角膜接觸鏡專用支座和普通眼鏡支座的孔徑變化作為研究對(duì)象。在實(shí)驗(yàn)室，利用TOPCONCL-2800焦度計(jì)進(jìn)行試驗(yàn)。將標(biāo)準(zhǔn)鏡片置于角膜接觸鏡專用支座及普通眼鏡支座上，分別對(duì)檢定規(guī)程中要求的所有球鏡檢定項(xiàng)目（2.50m-1、5.00m-1、10.00m-1、15.00m-1、20.00m-1、25.00m-1）的數(shù)值做正常檢測(cè)。數(shù)據(jù)如表1所示。

表1?TOPCON?CL-2800對(duì)比數(shù)據(jù)

由試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以看出：在10m-1范圍內(nèi)時(shí)，頂焦度顯示數(shù)值開(kāi)始變小，但仍維持在0.08m-1偏差以內(nèi)，且負(fù)值變化大于正值。示值誤差符合規(guī)程要求。當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)鏡片為-15m-1的時(shí)候，數(shù)值開(kāi)始發(fā)生明顯變化，負(fù)值偏差達(dá)0.17m-1，已超規(guī)程要求，正值偏差為0.05m-1，在正常范圍內(nèi)，符合規(guī)程要求。負(fù)值變化大于正值。

當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)鏡片大于±15m-1的時(shí)候，正負(fù)值的示值誤差均已超過(guò)規(guī)程要求，且負(fù)值變化大于正值。從試驗(yàn)數(shù)據(jù)中，我們得知，若混淆使用角膜接觸鏡專用支座和普通眼鏡支座，正值在15m-1范圍和負(fù)值在10m-1范圍內(nèi)示值誤差未超差。正值大于15m-1，負(fù)值大于10m-1時(shí)，示值誤差已超差，且負(fù)值數(shù)值變化大于正值變化。在示值上，即所有示值受孔徑縮小影響，全部變小，亦即正向數(shù)值變小，負(fù)向絕對(duì)值變大。

因此，混淆使用角膜接觸鏡專用支座與普通眼鏡支座，不僅影響了焦度計(jì)的正常使用，極易造成誤差，從而影響眼鏡的驗(yàn)配質(zhì)量。同時(shí)，對(duì)于新接觸焦度計(jì)檢測(cè)的同志來(lái)說(shuō)，也不易察覺(jué)到兩種支座的混淆使用，致使在檢測(cè)時(shí)因?yàn)槭局嫡`差過(guò)大而判定器具不合格。所以，在日常使用或檢測(cè)中如果發(fā)現(xiàn)在±10m-1以內(nèi)示值誤差不大，而到±15m-1以上，出現(xiàn)明顯偏差時(shí)，在排除灰塵影響情況下，首先要考慮的是支座的混淆使用。

2、支座高度變化帶來(lái)的數(shù)值影響

為在使用中防止和減少焦度計(jì)支座對(duì)鏡片的磨損，一些焦度計(jì)配備有防劃墊。但國(guó)產(chǎn)機(jī)型大多數(shù)都沒(méi)有配備防劃墊，而在實(shí)際使用中，鏡片的保護(hù)又是一個(gè)非常普遍的問(wèn)題。許多用戶在實(shí)際處理鏡片防劃問(wèn)題時(shí)，都選擇了自己加裝防劃墊。由于墊片厚度不一，很容易引起數(shù)值的變化，甚至造成示值誤差超差。下面，就支座高度的增加或損減變化對(duì)焦度計(jì)數(shù)值的影響做個(gè)對(duì)比試驗(yàn)，通過(guò)數(shù)據(jù)來(lái)說(shuō)明上述問(wèn)題對(duì)焦度計(jì)數(shù)值變化的影響。

在實(shí)驗(yàn)室，利用（TOPCONCL-2800）焦度計(jì)進(jìn)行模擬加裝墊片厚度的試驗(yàn)，分別對(duì)0.25mm、0.5mm、0.75mm三種厚度墊片按檢定規(guī)程中要求的所有球鏡檢定項(xiàng)目（2.50m-1、5.00m-1、10.00m-1、15.00m-1、20.00m-1、25.00m-1）的數(shù)值做正常檢測(cè)結(jié)果，當(dāng)墊片厚度為0.25mm時(shí)，所有標(biāo)準(zhǔn)鏡片最大偏差為0.03m-1，未超過(guò)規(guī)程要求的最大允許誤差，可以正常使用。當(dāng)墊片厚度為0.5mm時(shí)，在小于±15m-1范圍內(nèi)，最大偏差為0.06m-1。當(dāng)大于±15m-1時(shí)，最大可達(dá)0.18m-1。示值誤差已達(dá)到最大允許誤差的邊緣。

當(dāng)墊片厚度為0.75mm時(shí)，在±15m-1內(nèi)，數(shù)值未超過(guò)規(guī)程要求的最大允許誤差。當(dāng)大于±15m-1時(shí)，示值誤差已超過(guò)規(guī)程最大允許誤差的要求。由此我們可以得知，當(dāng)墊片大于0.75mm時(shí)，已經(jīng)出現(xiàn)了超差點(diǎn)。所以，在焦度計(jì)廠家無(wú)配備相應(yīng)的防劃墊片而用戶根據(jù)需要，選擇加裝墊片時(shí)，應(yīng)把厚度控制在0.5mm以內(nèi)。如果材料允許，厚度最好控制在0.25mm以內(nèi)，且孔徑與原尺寸一樣。

當(dāng)前某些高端新型號(hào)的焦度計(jì)已經(jīng)有防劃墊數(shù)值修正選項(xiàng)，可以利用焦度計(jì)本身進(jìn)行修正，但市面上大部分機(jī)型都沒(méi)有此功能。所以，建議用戶在使用防劃墊時(shí)控制好厚度，并適當(dāng)利用加修正值的方法，使數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。通過(guò)實(shí)驗(yàn)，在0.25mm范圍左右時(shí)，當(dāng)被測(cè)鏡片讀數(shù)≤±15m-1時(shí)，可采取加上修正值-0.01m-1進(jìn)行修正使用;當(dāng)被測(cè)鏡片讀數(shù)>±15m-1時(shí)，可采取加上修正值-0.03m-1進(jìn)行修正使用。在0.5mm范圍左右時(shí)，當(dāng)被測(cè)鏡片讀數(shù)≤±15m-1時(shí)，可采取加上修正值-0.03m-1進(jìn)行修正使用;當(dāng)被測(cè)鏡片讀數(shù)>±15m-1時(shí)，可采取加上修正值-0.10m-1進(jìn)行修正使用。

對(duì)于檢測(cè)者，也同樣要注意用戶加裝墊片所帶來(lái)的儀器誤差。若在加裝墊片的儀器上進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，有數(shù)據(jù)超差，一定要求用戶摘下墊片，重新進(jìn)行檢測(cè)，切記不要直接判定儀器不合格。同時(shí)，告知用戶墊片厚度及孔徑大小對(duì)焦度計(jì)示值的影響。

3、結(jié)語(yǔ)

在用戶使用計(jì)量器具的周期內(nèi)，由于使用人員對(duì)儀器理解或使用不當(dāng)而出現(xiàn)的問(wèn)題甚至數(shù)值超差，可以通過(guò)檢測(cè)人員的指導(dǎo)，及時(shí)發(fā)現(xiàn)并利用身邊的工具輕松方便地解決，從而使器具在周期內(nèi)更加準(zhǔn)確可靠。同時(shí)，針對(duì)焦度計(jì)的使用者，從醫(yī)院到眼鏡店，群體廣泛，素質(zhì)不一，檢測(cè)人員更應(yīng)該通過(guò)簡(jiǎn)單易懂的方式方法，來(lái)指導(dǎo)用戶在實(shí)際使用中解決各種問(wèn)題。對(duì)于基層計(jì)量工作者來(lái)說(shuō)，幫助用戶更深入了解自己使用的計(jì)量器具，并使他們?cè)趯?shí)際使用中切實(shí)提高工作效率，同樣具有重要的意義，且是我們應(yīng)負(fù)的責(zé)任。

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（作者單位：衢州市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督檢測(cè)中心）