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      從光刻、檢測到結(jié)構(gòu),5nm先進工藝的技術(shù)紛爭

      2020-06-24 12:52:16薛山
      電腦報 2020年23期
      關(guān)鍵詞:光刻機光刻制程

      薛山

      芯片制作的流程,首先是根據(jù)芯片的設(shè)計目的進行邏輯設(shè)計和規(guī)則制定,并根據(jù)設(shè)計圖制作掩模,接下來就需要光刻技術(shù)將掩模投射到光敏膠上,再經(jīng)歷刻蝕、離子注入、薄膜沉積、化學(xué)機械研磨等步驟,最后再進入切割、貼片、封裝、測試后才算完成。其中光刻是半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)流程中最復(fù)雜、最關(guān)鍵的工藝步驟,可以說光刻的工藝水平直接決定芯片的制程水平和性能水平,芯片在生產(chǎn)中需要進行20~50次的光刻循環(huán),耗時占整個生產(chǎn)環(huán)節(jié)的一半左右,占芯片生產(chǎn)成本的三分之一,所以,稱光刻技術(shù)是整個芯片制造產(chǎn)業(yè)的核心也不為過。而今年的光刻工藝節(jié)點將來到5nm,在這個被稱為工藝拐點的位置,將會有哪些技術(shù)上的全面革新呢?一起來研究一下吧。

      一切都要從EUV光源說起……

      光刻工藝的核心就是光刻機,從基本原理來說,光刻機的投影能力,也即光學(xué)上能達到多小的分辨率角受制于光學(xué)衍射極限,根據(jù)瑞利判據(jù),減小工藝因子常數(shù)、增大數(shù)值孔徑和縮小光源波長可以縮小分辨率角,也就是實現(xiàn)更小的器件特征尺寸,但目前來看前兩者已經(jīng)幾乎達到了物理極限,所以想要更進一步就需要發(fā)展更短波長光源。在7nm時代依然可以用193nm浸潤式DUV深紫外光刻機,通過至少4次套刻曝光來實現(xiàn),但缺點是成本很高,良率很低,也只有擁有大量經(jīng)驗的頂級代工廠才有能力做。但到5nm節(jié)點之后,DUV已經(jīng)基本無法再支撐更多的套膜曝光,所以需要更短波長的光源,目前來看新選擇就是13.5nm的極紫外EUV,還是以7nm節(jié)點為例,EUV光刻機只需一次掩模就能實現(xiàn),無疑會大大減少相應(yīng)的成本和時間,并明顯提高良率。

      事實上對EUV光源的研究早在20世紀80年代就已經(jīng)開始,國內(nèi)的長春光機所在2002年就研制出了EUV光刻原理裝置,并在2017年研制出線寬32nm的EUV光刻投影曝光裝置,不過科研與商用還是有著巨大的現(xiàn)實鴻溝。EUV光源需要至少205W的穩(wěn)定輸出功率,同時需要整個光刻機的體積和重量控制在合理范圍內(nèi),并且低污染、易于維修維護,除此之外因為13.5nm屬于超高能量光束,不會被透射型光學(xué)系統(tǒng)完全吸收,所以需要重新設(shè)計一套離軸反射鏡系統(tǒng),并且對鏡面粗糙度要求極高,目前的鉬硅多層反射膜對EUV光的反射率可以達到70%,但考慮到整套系統(tǒng)有多個反射面,所以最終抵達基板的光能其實已經(jīng)很少,所以才需要高功率的EUV光源。

      EUV光刻機是5nm節(jié)點往后的絕對核心

      而目前來看,易于商用的EUV光源需要利用高強度脈沖激光來照射靶材,使其產(chǎn)生高溫等離子體并輻射EUV光,ASML最新的EUV光刻機使用的就是二氧化碳激光器照射液滴型錫靶,達到了5%~6%的能量轉(zhuǎn)換率,也就是100W的激光器輸入可以實現(xiàn)5~6W的EUV光輸出,這已經(jīng)是目前的極限水平。在此基礎(chǔ)之上,還需要在光刻機內(nèi)充入惰性氣體并外加磁場,來嚴格控制靶材被照射后產(chǎn)生的金屬碎屑,因為碎屑會損傷、污染反射膜并降低EUV光轉(zhuǎn)換率,這顯然是不能被接受的。

      所以不難看出,雖然EUV是5nm之后的必需,但EUV光刻機本身就有非常多的難點需要攻克,目前最先進的型號是ASML的NXE 3400C型,多次套膜曝光的極限分辨率為1.5nm,可滿足5nm(需極限分辨率2.4nm)甚至3nm節(jié)點的制造需求,還會推出輸出功率達350W的產(chǎn)品……簡單來說,光刻,尤其是先進工藝的光刻是一個需要超高投資的產(chǎn)業(yè)。而且別忘了,它還只是芯片生產(chǎn)的環(huán)節(jié)之一,設(shè)計時的EDA工具、制造過程中的檢測,以及后續(xù)的封測工藝都必須跟上,才能完善整個鏈條。

      5nm產(chǎn)線是2020年的關(guān)鍵工藝,單臺積電就為產(chǎn)線投資超1600億元人民幣

      在這方面,ASML近期又推出了自家的多光束前道量檢測機HMI eScan1000,可以實現(xiàn)3×3陣列的9束檢測光同時工作。簡單來說,光檢測就是向晶圓發(fā)射光線,通過反射的光線來對潛在的缺陷進行檢測,而多光束則是指同時發(fā)射多道光束,且每道光束又由上萬道細光束組成,相當(dāng)于通過多線程處理的方式來提高檢測效率,ASML官方宣稱使用新檢測機能讓單位時間產(chǎn)能提高6倍之多……簡單來說,5nm不僅是代工廠,更是設(shè)備廠和材料廠的一次全面升級,再加上目前各國對芯片產(chǎn)業(yè)的重視度都提高到了前所未有的地步,這意味著行業(yè)可能會迎來新一輪的洗牌。

      晶體管之選,F(xiàn)inFET與GAA成分水嶺

      落到具體的產(chǎn)品設(shè)計來看,伴隨著制程的不斷下探,漏電、電壓不穩(wěn)等短通道效應(yīng)將會不斷加劇,所以晶體管的具體設(shè)計就非常重要了,早在2011年的22nm制程時代,英特爾就將FinFET鰭式場效應(yīng)晶體管商業(yè)化,這個立體式的結(jié)構(gòu)就是為了改善漏電并縮短晶體管柵長,但時隔近10年后這一結(jié)構(gòu)還是否能在5nm甚至3nm時代發(fā)揮作用,半導(dǎo)體代工的三大巨頭——臺積電、英特爾和三星有成兩派的趨勢,臺積電在今年第一季度法人說明會上透露了在3nm制程他們依然會延續(xù)FinFET的思路。與之對應(yīng)的,英特爾和三星都選擇了新式的GAA閘極全環(huán)晶體管工藝,英特爾預(yù)計2023年推出GAA技術(shù)5nm芯片,而三星則選擇在3nm時代進入GAA時代。

      5nm/3nm時代,晶體管的具體設(shè)計或?qū)⒊蔀殛P(guān)鍵

      如果成熟晶體管結(jié)構(gòu)在先進工藝上依然能夠保持性能、功耗控制等方面的優(yōu)勢,那么對于下游客戶來說就不必做太大的設(shè)計改變,對代工廠本身來說也能夠節(jié)省掉更換生產(chǎn)工具的成本,再加上規(guī)模經(jīng)濟的刺激,無疑將會是一個雙贏的局面。但萬一FinFET無法在更先進的制程下兌現(xiàn)性能,輸給三星或英特爾GAA的話,結(jié)果就是下游廠商流失用戶,代工廠丟掉訂單,所以這一步的決策其實很關(guān)鍵。

      而且對新型晶體管結(jié)構(gòu)的探索其實也一直在繼續(xù),比如imc推出的全新結(jié)構(gòu)Forksheet FET和GAA架構(gòu)下的Complementary FETs……可以說很多上游廠商都對新時代所帶來的機遇躍躍欲試。但說到底,先進半導(dǎo)體制造是一個無比“燒錢”的產(chǎn)業(yè),所以追求新技術(shù)和控制成本這兩手都得抓緊。并且考慮到這個產(chǎn)業(yè)鏈非常的長,決不能只把眼光放在光刻機等某一個環(huán)節(jié)上。

      編輯觀點

      總體來說,今年的5nm制程因采用EUV光刻而牽動了整個產(chǎn)業(yè)鏈的同步進化,而且這種變化的方向是未知的,有可能會有一些我們現(xiàn)在熟悉的企業(yè)在未來發(fā)展幾年后慢慢淡出視野,自然也可能會有一些新名字出現(xiàn)在大眾視野當(dāng)中。作為目前人類最精密的科技集大成者,先進制程的芯片工藝在很長時間內(nèi)都會是IT圈內(nèi)的核心話題,尤其是“國際上如何發(fā)展,國內(nèi)又將如何追趕”更將會是最受關(guān)注的主題,甚至可以說沒有之一。

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