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      基于SEM圖像的閾值回歸法計(jì)算印刷紙張孔隙率

      2020-06-23 05:32:46薛美貴陳紅倩
      中國(guó)造紙 2020年5期
      關(guān)鍵詞:紙張圖像處理灰度

      薛美貴 陳紅倩 李 慧 魏 華 李 偉

      (1.東莞職業(yè)技術(shù)學(xué)院媒體傳播系,廣東東莞,523808;2.北京工商大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息工程學(xué)院,北京,100048;3.北京工商大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息工程學(xué)院,食品安全大數(shù)據(jù)技術(shù)

      北京市重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,北京,100048;4.北京聯(lián)合大學(xué)管理學(xué)院,北京,100101)

      紙張的孔隙率是指紙張中未被填充的空間體積與紙張總體積的比值。孔隙率是影響紙張微觀結(jié)構(gòu)的一個(gè)重要參數(shù),直接影響其力學(xué)性能與物理、化學(xué)性能,如結(jié)構(gòu)強(qiáng)度和對(duì)水、油墨、乳濁液、懸濁液等的吸收和過(guò)濾性能等,進(jìn)而影響其在印刷、包裝等相關(guān)領(lǐng)域的使用[1-2]。

      目前常用的獲知材料孔隙率的方法分為傳統(tǒng)物理測(cè)量法與計(jì)算機(jī)圖像處理法。傳統(tǒng)物理測(cè)量法有壓汞法、金相法、飽和介質(zhì)法等,但這些測(cè)量方法存在實(shí)驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng)、實(shí)驗(yàn)條件苛刻、成本高等問(wèn)題,且存在測(cè)量操作誤差;計(jì)算機(jī)圖像處理法一般是通過(guò)對(duì)材料使用掃描電子顯微鏡(SEM)或CT 掃描儀拍攝SEM 圖像或CT 圖像,運(yùn)用圖像處理技術(shù)將圖像中的實(shí)體部分與孔隙部分識(shí)別出來(lái)并用于計(jì)算孔隙率。相比傳統(tǒng)物理測(cè)量法,計(jì)算機(jī)圖像處理法分析材料的孔隙率,可以減少大量的物理實(shí)驗(yàn)操作,能有效提高孔隙率檢測(cè)的工作效率,降低實(shí)驗(yàn)造成的操作誤差,并減輕實(shí)驗(yàn)造成的環(huán)境污染。

      目前已有人將計(jì)算機(jī)圖像處理法應(yīng)用于多種X射線斷層成像圖像分割[3]、土石混合體材料[4]、網(wǎng)格圈織物[5]、土體結(jié)構(gòu)的顆粒分布[6]、反應(yīng)性粉末混凝土[7]、納米材料孔徑分布[8]、探井的地震阻抗體積[9]、儲(chǔ)層巖石孔隙率等[10]的計(jì)算與分析,計(jì)算效果良好。

      對(duì)于紙張SEM 圖像的孔隙率計(jì)算目前主要有二維和三維[11]2 種方法。其中,二維方法中一個(gè)重要的步驟是二值化,即將紙張表面的SEM 灰度圖像轉(zhuǎn)換為黑白二值化圖像,從而分析計(jì)算得到紙張表面的孔隙孔徑分布、個(gè)數(shù)頻率以及孔隙率。而二值化過(guò)程中,閾值的選取需要使用者具有一定的圖像軟件處理知識(shí),每張圖片孔隙與纖維分割閾值(即像素或是圖片顏色亮度等)的設(shè)定受主觀因素影響較大,具有不確定性,計(jì)算結(jié)果波動(dòng)也較大[12]。另一方面,由于紙張纖維材料的類(lèi)型多樣,不同類(lèi)型纖維的表面處理工藝差異大,造成該方法在應(yīng)用過(guò)程中出現(xiàn)計(jì)算結(jié)果誤差較大的現(xiàn)象。所以,在二值化過(guò)程中選擇合適的閾值是非常關(guān)鍵的,閾值的不同會(huì)導(dǎo)致二值化后識(shí)別的孔隙數(shù)目與大小不同,從而影響結(jié)果的可靠性[13]。

      針對(duì)上述問(wèn)題,本研究提出了一種基于閾值回歸的紙張纖維材料SEM 圖像孔隙率分析方法,整個(gè)分析方法分為兩個(gè)過(guò)程:回歸模型建立過(guò)程和回歸模型應(yīng)用過(guò)程。在回歸模型建立過(guò)程中,將小部分樣品同時(shí)進(jìn)行物理實(shí)驗(yàn)和計(jì)算機(jī)圖像處理,然后將物理實(shí)驗(yàn)結(jié)果和計(jì)算機(jī)圖像處理結(jié)果組成聯(lián)合數(shù)據(jù)集,依托聯(lián)合數(shù)據(jù)集建立閾值回歸模型。在回歸模型應(yīng)用過(guò)程中,使用建立的模型確定圖像的最佳分割閾值,并用于計(jì)算機(jī)圖像處理過(guò)程,從而降低孔隙率的計(jì)算誤差。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本研究提出的方法能夠有效降低計(jì)算機(jī)圖像處理法的結(jié)果誤差,并提高了計(jì)算機(jī)圖像處理法在多種類(lèi)型材料上的適應(yīng)能力。

      1 閾值回歸模型建立

      在閾值回歸模型建立過(guò)程中,選取少量紙張樣品,通過(guò)同時(shí)進(jìn)行計(jì)算機(jī)圖像處理和物理實(shí)驗(yàn),獲取信息建立模型,閾值回歸模型建立過(guò)程如圖1所示。

      圖2為一幅典型的非涂布紙SEM 圖,其為高分辨率的類(lèi)灰度圖片,圖像格式為.tif。圖2 中顯示了紙張的內(nèi)部纖維結(jié)構(gòu),易于研究者們進(jìn)行觀察、分辨纖維和孔隙結(jié)構(gòu)。以圖2為例,模型建立過(guò)程具體描述如下。

      1.1 圖像初步處理

      針對(duì)SEM圖像的初步處理過(guò)程,包括以下幾步。

      (1)對(duì)紙張SEM 圖像進(jìn)行濾波平滑處理,以降低拍攝過(guò)程中產(chǎn)生的噪聲。在本研究實(shí)驗(yàn)中發(fā)現(xiàn),通過(guò)“中值濾波法”能夠有效去除圖像中的高斯噪聲和椒鹽噪聲等,平滑效果較好。

      (2)對(duì)平滑后的圖像進(jìn)行灰度化處理,即將像素的顏色值轉(zhuǎn)換為灰度值,灰度化處理后的圖像如圖3所示。

      1.2 獲取圖像灰度信息

      紙張SEM 圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖像后,將獲取圖像的以下3方面灰度信息。

      (1)圖像的全局灰度信息,以此確定圖像拍攝時(shí)亮度、對(duì)比度的影響,為便于描述,命名第i 幅圖像的全局灰度值為Ai。

      圖2 非涂布紙SEM圖(×200)

      圖3 紙張SEM圖像平滑和灰度化處理后的結(jié)果圖(×200)

      (2)通過(guò)點(diǎn)選圖像的多處纖維位置,確定圖像中纖維處的平均灰度值,所點(diǎn)選的纖維位置個(gè)數(shù)可以根據(jù)需要自行設(shè)定,本研究實(shí)驗(yàn)表明一般設(shè)定為5個(gè)較為穩(wěn)定,為便于描述,命名第i 幅圖像的纖維平均灰度值為Bi。

      (3)通過(guò)點(diǎn)選圖像的多處孔隙位置,確定圖像中孔隙處的平均灰度值,所點(diǎn)選的孔隙位置個(gè)數(shù)可以根據(jù)需要自行設(shè)定,本研究實(shí)驗(yàn)表明一般設(shè)定為5個(gè)較為穩(wěn)定,為便于描述,命名第i 幅圖像的孔隙平均灰度值為Ci。

      1.3 獲取圖像最佳分割閾值

      對(duì)紙張樣品進(jìn)行物理實(shí)驗(yàn),獲取紙張的物理實(shí)驗(yàn)孔隙率,物理實(shí)驗(yàn)獲取的孔隙率結(jié)果一般來(lái)說(shuō)準(zhǔn)確度高,且實(shí)驗(yàn)誤差小,可以認(rèn)為是紙張的真實(shí)孔隙率,為便于描述,命名第i 幅圖像對(duì)應(yīng)的物理實(shí)驗(yàn)孔隙率值為Pi。針對(duì)圖像平滑和灰度化處理后的圖像,根據(jù)圖像對(duì)應(yīng)材料的真實(shí)孔隙率,獲取其最佳分割閾值。

      在圖像分割處理中低于分割閾值的像素點(diǎn)劃分為孔隙,高于分割閾值的像素點(diǎn)劃分為纖維,統(tǒng)計(jì)孔隙像素在整個(gè)圖像中的占比即為孔隙率。最佳分割閾值是指當(dāng)分割閾值為Di時(shí),通過(guò)對(duì)灰度圖像進(jìn)行處理計(jì)算出的孔隙率值最接近于物理實(shí)驗(yàn)孔隙率值Pi。

      1.4 回歸模型參數(shù)計(jì)算

      通過(guò)圖像處理過(guò)程,可獲得全局灰度值、纖維平均灰度值和孔隙平均灰度值,將每個(gè)紙張樣品SEM圖像的這3個(gè)變量作為模型的自變量,將每個(gè)圖像對(duì)應(yīng)的物理實(shí)驗(yàn)孔隙率對(duì)應(yīng)的最佳分割閾值作為模型的因變量,建立起自變量與因變量之間的關(guān)系模型,該模型的目的是預(yù)測(cè)樣品圖像中能夠分割孔隙和纖維的最佳分割閾值。本研究選取的是多元線性回歸模型,該模型能夠很好地?cái)M合孔隙、纖維處以及全體圖像的平均像素與最佳分割閾值之間的關(guān)系,通過(guò)前3個(gè)變量實(shí)現(xiàn)對(duì)最佳分割閾值的預(yù)測(cè)。該模型如式(1)所示。該模型中的參數(shù)可以通過(guò)Python、R 語(yǔ)言等的算法進(jìn)行求解。

      式中,Di為第i 張圖像的最佳分割閾值;Ai、Bi、Ci分別為圖像全局灰度值、圖像纖維處以及孔隙處平均灰度值。

      將數(shù)據(jù)分割為訓(xùn)練集和測(cè)試集,通過(guò)訓(xùn)練集獲取回歸模型參數(shù)。需要注意的是,回歸模型參數(shù)的計(jì)算,需要多組數(shù)據(jù)才能進(jìn)行計(jì)算,數(shù)據(jù)量越大一般來(lái)說(shuō)所獲取的模型越準(zhǔn)確。模型訓(xùn)練完后,通過(guò)測(cè)試集獲取回歸模型誤差,假如誤差范圍符合要求,則模型建立完成。

      2 閾值回歸模型應(yīng)用

      在閾值回歸模型應(yīng)用過(guò)程中,將需要確定孔隙率的樣品,拍攝SEM 圖像后進(jìn)行平滑處理和灰度化處理;然后依次獲取其全局灰度值、纖維平均灰度值、孔隙平均灰度值;然后將這3個(gè)值作為自變量分別代入式(1),即可計(jì)算出最佳分割閾值,并統(tǒng)計(jì)孔隙像素占比,從而獲得紙張孔隙率。

      實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本研究方法建立的閾值回歸模型,在獲取最佳分割閾值時(shí)具備較好的分割性能,且對(duì)孔隙率的計(jì)算誤差也較小。圖4是通過(guò)本研究模型獲取的最佳分割閾值獲得的1 個(gè)圖像分割結(jié)果實(shí)例(二值化圖像已反轉(zhuǎn))。

      3 結(jié)果與討論

      3.1 應(yīng)用系統(tǒng)及使用過(guò)程

      本研究已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了閾值回歸模型的建立和應(yīng)用系統(tǒng),系統(tǒng)能對(duì)紙張樣品圖像進(jìn)行處理,獲得圖像的全局灰度值、纖維平均灰度值、孔隙平均灰度值,在模型建立階段,通過(guò)輸入圖像對(duì)應(yīng)的物理實(shí)驗(yàn)孔隙率,即可進(jìn)行模型訓(xùn)練。圖5是本研究應(yīng)用系統(tǒng)建立模型的具體流程。

      圖4 閾值回歸模型的圖像分割結(jié)果(反轉(zhuǎn))(×200)

      圖5 應(yīng)用系統(tǒng)建立模型的流程圖

      模型建立完畢后,使用過(guò)程中可根據(jù)單個(gè)紙張樣品的圖像計(jì)算其孔隙率,使用方法為:輸入紙張樣品圖像,點(diǎn)選若干纖維位置及孔隙位置,即可計(jì)算獲得其孔隙率。具體應(yīng)用過(guò)程與結(jié)果展示如圖6所示。

      3.2 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)及分析

      本研究針對(duì)一組紙張樣品進(jìn)行基于閾值回歸模型的孔隙率模型建立和應(yīng)用過(guò)程,其中紙張樣品的灰度圖像處理結(jié)果如表1所示。

      對(duì)紙張樣品進(jìn)行物理實(shí)驗(yàn),獲得其物理實(shí)驗(yàn)孔隙率值,通過(guò)對(duì)紙張樣品的灰度圖像調(diào)整分割閾值,獲得最接近于物理實(shí)驗(yàn)孔隙率值的最佳分割閾值及分割閾值為Di時(shí)與物理實(shí)驗(yàn)結(jié)果的誤差,結(jié)果見(jiàn)表2。

      表1 紙張樣品灰度圖像處理結(jié)果(部分)

      圖6 應(yīng)用模型計(jì)算的過(guò)程與最終結(jié)果展示

      表2 樣品的物理實(shí)驗(yàn)孔隙率、物理實(shí)驗(yàn)結(jié)果對(duì)應(yīng)的最佳分割閾值及校驗(yàn)誤差(部分)

      通過(guò)R語(yǔ)言的運(yùn)行環(huán)境獲得各自變量的系數(shù)如表3所示。

      根據(jù)表3中系數(shù)建立的回歸方程如式(2)所示。

      式中,Di為第i 張圖像的最佳分割閾值;Ai、Bi、Ci分別為圖像全局灰度值、圖像纖維處以及孔隙處平均灰度值。

      表3 閾值回歸模型的各變量系數(shù)

      表4 和表5 分別為本研究模型中所給出的紙張樣品的圖像處理結(jié)果和孔隙率計(jì)算結(jié)果,從表中可以看出,本研究提出的模型應(yīng)用于樣品的孔隙率計(jì)算誤差率較小。

      表4 模型應(yīng)用的紙張樣品圖像處理結(jié)果(部分)

      表5 模型應(yīng)用的紙張樣品孔隙率計(jì)算結(jié)果 %

      4 結(jié) 論

      針對(duì)非涂布紙張孔隙率的計(jì)算機(jī)圖像處理法中,分割閾值確定受主觀因素影響大的問(wèn)題,本研究提出了一種使用閾值回歸模型降低處理誤差的方法。本方法通過(guò)針對(duì)小部分紙張樣品,同步進(jìn)行物理實(shí)驗(yàn)和圖像處理,使用兩部分實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)對(duì)閾值模型進(jìn)行訓(xùn)練,從而獲取最佳分割閾值。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本研究提出的方法,應(yīng)用于紙張孔隙率計(jì)算時(shí),能夠?qū)D像處理過(guò)程的最佳分割閾值選取過(guò)程客觀化,從而有效降低圖像處理過(guò)程的結(jié)果誤差,并使其在多種類(lèi)型紙張上均具備較高的適應(yīng)能力。

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