光彈性顆粒的線掃描測(cè)力方法

陳福星,楊朝宇,邵榮生,黃旋格,張興剛

(貴州大學(xué) 物理學(xué)院，貴州 貴陽(yáng) 550025)

光彈性效應(yīng)[1]在研究顆粒物質(zhì)也具有很大的意義. 采用光彈性研究二維顆粒，可通過(guò)拍攝光彈性顆粒上的全場(chǎng)光強(qiáng)分布，從而獲取顆粒在偏振光場(chǎng)中的干涉條紋分布圖，即應(yīng)力光圖. 應(yīng)力光圖反映了二維顆粒的應(yīng)力分布. 通過(guò)應(yīng)力光圖反應(yīng)的應(yīng)力分布，可能反推出顆粒邊界上的接觸力大小. 數(shù)字圖像的處理[2-3]與二維顆粒的光彈性理論相結(jié)合，通過(guò)應(yīng)力光圖獲知加載力大小及顆粒接觸點(diǎn)位置等信息. 光彈性理論的難點(diǎn)在于光彈性模型的應(yīng)力分布的求解[4]. 對(duì)于兩點(diǎn)對(duì)心對(duì)稱(chēng)加載顆粒[5-6]的理論已經(jīng)有較為全面的研究. 而要處理顆粒的多點(diǎn)不對(duì)稱(chēng)接觸的復(fù)雜情況，則需要更加完善的多點(diǎn)接觸圓盤(pán)理論[6-7].

杜克大學(xué)Behringer等，用光彈顆粒實(shí)驗(yàn)探究了力網(wǎng)、力的概率分布、顆粒物質(zhì)的堵塞態(tài)和堵塞轉(zhuǎn)變等問(wèn)題[8-9]，包括使用對(duì)顆粒的應(yīng)力光圖的等差條紋圖進(jìn)行非線性最小二乘法擬合獲取顆粒的加載力大小的方法，但該方法是對(duì)每個(gè)顆粒的全場(chǎng)光強(qiáng)進(jìn)行擬合，在應(yīng)用中有較大的運(yùn)算量，且只有當(dāng)3維圓柱顆粒的接觸方式接近線接觸時(shí)才較為實(shí)用，其對(duì)實(shí)驗(yàn)拍攝的應(yīng)力光圖的精度要求也較高. 基于平均平方灰度梯度獲取平均接觸力[10-11]的經(jīng)驗(yàn)方法，在處理大量顆粒平均接觸力時(shí)較為適用，但它不能得到顆粒上各個(gè)加載點(diǎn)的精確的加載力大小，只能獲得顆粒接觸力的平均值. 通過(guò)對(duì)顆粒進(jìn)行閾值切割從而實(shí)現(xiàn)幾何形態(tài)學(xué)操作的方法可以獲取顆粒圓心位置、大小、接觸點(diǎn)[11-12]. 然而這種方法檢測(cè)接觸點(diǎn)時(shí)，存在拍攝角度、圖像識(shí)別精度等問(wèn)題，可能會(huì)把2個(gè)靠得很近卻不接觸的顆粒識(shí)別為相互接觸. 這樣在計(jì)算平均接觸力時(shí)，由于接觸點(diǎn)的數(shù)目的誤判，會(huì)帶來(lái)平均接觸力大小的判斷錯(cuò)誤. 另外對(duì)于單個(gè)顆粒，或者顆粒堆邊緣處的顆粒，要通過(guò)該方法獲取接觸點(diǎn)位置也是不可能的.

為了解決顆粒閾值切割尋找接觸點(diǎn)的位置出現(xiàn)誤判，并能尋找邊緣處顆粒或者單個(gè)顆粒的接觸點(diǎn)位置，需要一種新的尋找接觸點(diǎn)方法. 而為了解決對(duì)顆粒的全場(chǎng)光強(qiáng)進(jìn)行的非線性擬合方法運(yùn)行慢、依賴(lài)線接觸方式的問(wèn)題，考慮對(duì)顆粒全場(chǎng)光強(qiáng)的擬合轉(zhuǎn)換為對(duì)顆粒上幾條連線的光強(qiáng)進(jìn)行擬合，即對(duì)顆粒的應(yīng)力光圖進(jìn)行線掃描.

1 二維多點(diǎn)加載的顆粒的光彈性原理

光彈性實(shí)驗(yàn)光路如圖1所示，在正交圓偏光場(chǎng)中，對(duì)于半徑為R的二維光彈性材料的顆粒圓盤(pán)，存在厚度的三維圓柱，在其圓邊界處若存在點(diǎn)加載的載荷，由于光彈性材料的暫時(shí)雙折射效應(yīng)，會(huì)出現(xiàn)明暗分布的等差條紋. 條紋的光強(qiáng)[1]為

(1)

其中，Ia為光源光強(qiáng)，δ為某處光彈性材料的相位，N為條紋級(jí)數(shù)，對(duì)于整數(shù)級(jí)的條紋，如N=0，1，2，…，光強(qiáng)I為0. 又比如當(dāng)I=Ia/2時(shí)對(duì)應(yīng)的條紋級(jí)數(shù)為N=1/4，3/4，5/4，…

光彈性顆粒上每個(gè)位置的相位都由其應(yīng)力分布得到，即二維應(yīng)力光學(xué)定理：

δ=2π(σ1-σ2)h/f,

(2)

其中(σ1-σ2)，h和f分別為主應(yīng)力差、模型厚度和材料條紋值.

圖1 光彈性實(shí)驗(yàn)光路圖

要求得光彈性顆粒光強(qiáng)的分布，還需要求出多點(diǎn)加載時(shí)顆粒圓盤(pán)各處的主應(yīng)力差(σ1-σ2). 求出單點(diǎn)載荷在圓盤(pán)上的應(yīng)力分布，通過(guò)應(yīng)力的疊加原理，即可得到多點(diǎn)加載的圓盤(pán)的應(yīng)力分布.

如圖2所示，對(duì)于過(guò)顆粒模型圓心的加載力F，要求它在圓盤(pán)上產(chǎn)生的應(yīng)力分布，可以建立以加載點(diǎn)為原心的坐標(biāo)系O1，以及在圓心處建立的直角坐標(biāo)系O.O1坐標(biāo)系y軸與O坐標(biāo)系的y軸夾角為α，在圓心坐標(biāo)O中，圓盤(pán)上任意一點(diǎn)坐標(biāo)可表示為(r,θ)，r為P點(diǎn)到圓心距離，θ為P點(diǎn)到原心連線與y軸的夾角.

圖2 與O坐標(biāo)系的y軸夾角為α的力作用在顆粒模型上的示意圖

同時(shí)，P點(diǎn)也可在O1坐標(biāo)系下的坐標(biāo)可表示為(r1,θ1)，在O1坐標(biāo)系中可給出力F在y軸的正半平面中的應(yīng)力函數(shù)[7]為

(3)

為了方便應(yīng)力疊加，將應(yīng)力函數(shù)在O坐標(biāo)系中表示. 坐標(biāo)系O的可由坐標(biāo)系O1先通過(guò)平移R距離再逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)α變換而來(lái)，由幾何關(guān)系

(4)

則坐標(biāo)系O下的F產(chǎn)生的應(yīng)力函數(shù)寫(xiě)為

(5)

應(yīng)力張量可以由應(yīng)力函數(shù)[4]表達(dá)為

(6)

如圖3所示，現(xiàn)在考慮有i個(gè)點(diǎn)加載力作用在圓盤(pán)上，若考慮在顆粒圓盤(pán)邊界處的加載均為無(wú)摩擦的對(duì)心點(diǎn)加載，現(xiàn)考慮這i個(gè)點(diǎn)加載力半平面的應(yīng)力疊加近似為圓盤(pán)上的應(yīng)力分布，其表達(dá)式為

(7)

由于主應(yīng)力差為

(8)

即可由此得到顆粒圓盤(pán)的光強(qiáng)分布. 雖然是近似結(jié)果，在模擬中發(fā)現(xiàn)其完全能夠滿足實(shí)驗(yàn)的要求.

圖3 多個(gè)力(F1,F2,F3,…,Fi)作用在顆粒上的示意圖

2 加載實(shí)驗(yàn)裝置

為搭建多點(diǎn)加載顆粒的實(shí)驗(yàn)裝置如圖4所示，可先設(shè)計(jì)所需的具有不同加載點(diǎn)位置的加載裝置的模型，并使用3D打印機(jī)打印制作，安裝螺旋微分頭. 為了能夠?qū)崿F(xiàn)在顆粒上進(jìn)行多點(diǎn)加載，同時(shí)也能夠檢測(cè)出加載力的大小，需要在螺旋微分頭與顆粒圓盤(pán)之間放置力傳感器. 要使力傳感器的檢測(cè)頭能與螺旋微分頭之間不出現(xiàn)相對(duì)滑動(dòng)，還需要使用3D打印制作小的力傳感盒來(lái)固定測(cè)微頭與應(yīng)力檢測(cè)頭的相對(duì)位置. 搭建正交圓偏光場(chǎng)，需要打印能搭載偏振片和1/4玻片的裝置，該裝置應(yīng)能實(shí)現(xiàn)玻片與偏振片的在一定角度范圍內(nèi)的旋轉(zhuǎn)，以方便調(diào)節(jié)得到正交圓偏光場(chǎng). 另外由于顯示屏上已有偏振膜，所以不用再添加起偏鏡，僅需要旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)1/4玻片與檢偏鏡即可得到正交圓偏光場(chǎng).

圖4 實(shí)驗(yàn)裝置搭建與加載裝置示意圖

制作光彈顆粒時(shí)，可先使用3D打印機(jī)打印凹形圓柱硅膠模具的模具，由于打印精度的問(wèn)題，在模具圓面會(huì)有一定程度的粗糙，可使用細(xì)砂紙將其打磨平整. 使用硅膠澆筑，得到光彈性材料的硅膠模具. 另外，為了制作能在力傳感器的檢測(cè)范圍內(nèi)有豐富圖案變化的光彈性顆粒，可調(diào)試需要的比例，將環(huán)氧樹(shù)脂的軟膠和硬膠按需求進(jìn)行混合，可澆筑得到不同材料條紋值的顆粒試件.

3 對(duì)顆粒應(yīng)力光圖的數(shù)字圖像處理

3.1 顆粒圓盤(pán)的邊界、圓心、半徑的提取

獲得顆粒實(shí)驗(yàn)的應(yīng)力光圖如圖5(a)所示，可以發(fā)現(xiàn)，由于二維顆粒存在一定厚度，對(duì)環(huán)境光源有折反射，在顆粒邊界處，也有一定的光強(qiáng). 可通過(guò)簡(jiǎn)單的閾值二值化[圖5(b)]、閉操作以及填充操作獲得顆粒圓盤(pán)的范圍[圖5(c)].

(a)實(shí)驗(yàn)顆粒應(yīng)力光圖

(b)對(duì)實(shí)驗(yàn)應(yīng)力光圖進(jìn)行閾值二值化

(c)閉操作及填充操作得到顆粒形態(tài)矩陣圖5 顆粒圓盤(pán)的邊界、圓心和半徑的提取

對(duì)顆粒圓盤(pán)范圍圖5(c)進(jìn)行遍歷，可以確定顆粒圓盤(pán)范圍內(nèi)的像素點(diǎn)，通過(guò)質(zhì)心公式得到圓盤(pán)圓心. 統(tǒng)計(jì)模型范圍內(nèi)像素點(diǎn)數(shù)，即可用圓面積公式得到圓盤(pán)的半徑[12]. 如此將顆粒圓盤(pán)的邊界抽象為圓.

3.2 邊界圓模板尋找加載點(diǎn)位置的方法

當(dāng)處理多顆粒接觸問(wèn)題時(shí)，可直接采用閾值分割的方法對(duì)顆粒幾何形態(tài)學(xué)操作獲取顆粒的邊界，對(duì)2個(gè)顆粒邊界相切的位置即可直接判斷為接觸點(diǎn)位置[11-12]. 然而這種方法檢測(cè)接觸點(diǎn)時(shí)，存在拍攝角度、光照、圖像識(shí)別精度等問(wèn)題，會(huì)把2個(gè)靠得很近卻不接觸的顆粒識(shí)別為相互接觸. 另外有一種情況，雖然顆粒接觸但卻沒(méi)有接觸力存在，這樣把它判斷為接觸也是不合適的.

本文提出直接通過(guò)邊界圓模板尋找加載點(diǎn)位置的方法. 直觀觀測(cè)得知，接觸點(diǎn)的位置即條紋產(chǎn)生的位置，高級(jí)條紋在接觸點(diǎn)附近密集，于是其位置對(duì)應(yīng)的像素灰度梯度方就較大，相反地，其他區(qū)域的灰度梯度方較小. 如圖6(a)，圖片某一像素點(diǎn)Ii,j的灰度梯度方[10-11]可由其8個(gè)鄰域像素點(diǎn)及其自身的光強(qiáng)定義為

(9)

(a)計(jì)算Ii,j像素點(diǎn)的平方灰度梯度

(b)實(shí)驗(yàn)的灰度梯度方分布圖

(c)模板內(nèi)H與θ的關(guān)系圖像圖6 邊界圓模板尋找加載點(diǎn)位置的方法

在處理接觸點(diǎn)位置時(shí)，發(fā)現(xiàn)單單使用邊界圓模板法得到接觸點(diǎn)位置有時(shí)會(huì)有1°～4°的不確定度，而接觸位置的誤差可能會(huì)影響最后處理得到的加載力大小，所以，若顆粒數(shù)較多時(shí)，采用邊界圓模板法與閾值切割法[11-12]相結(jié)合的方法，先采用邊界圓模板法獲得加載點(diǎn)的初步位置，再對(duì)應(yīng)閾值分割法得到的精確位置，如此可結(jié)合2種方法的優(yōu)勢(shì)，既不出現(xiàn)對(duì)接觸點(diǎn)的誤判，也能保證接觸點(diǎn)位置的精度. 處理單個(gè)顆粒或者少量的邊緣處的顆粒時(shí)，若想獲得更精確的加載點(diǎn)位置，則需要讓邊界圓模板法獲得的結(jié)果再經(jīng)過(guò)人為檢驗(yàn)來(lái)確定更精確的加載點(diǎn)位置.

4 線掃描光強(qiáng)擬合確定接觸力的方法

通過(guò)3.2的方法獲取得到加載點(diǎn)位置后, 通過(guò)加載圓盤(pán)的應(yīng)力分布的理論可知圓盤(pán)內(nèi)的光強(qiáng)的分布，從而由光強(qiáng)的變化反推出加載力的情況. 然而，對(duì)于顆粒的應(yīng)力光圖，若使用該顆粒全場(chǎng)應(yīng)力光圖作擬合，計(jì)算量與誤差都很大. 接下來(lái)只考慮每個(gè)加載點(diǎn)到圓心的連線上的光強(qiáng)變化.

4.1 離散坐標(biāo)系下直線的確定

由于圖片是離散的像素點(diǎn)的灰度值矩陣，要得到加載點(diǎn)到圓心2個(gè)像素點(diǎn)的連線的灰度變化，先確定哪些像素點(diǎn)屬于在離散的坐標(biāo)系中2個(gè)像素點(diǎn)之間的“連線”，“連線”實(shí)際上是一系列的像素點(diǎn). 為得到兩像素點(diǎn)之間“連線”，可參考Bresenham算法[13]. 該算法雖然可以得到2個(gè)像素點(diǎn)之間的“連線”，但得到的“連線”的“長(zhǎng)度”，即找到的像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，在兩像素點(diǎn)所在直線的斜率為非零有限值時(shí)并不合適. 因?yàn)轭w粒為圓形，那么加載點(diǎn)到圓心2個(gè)像素點(diǎn)距離的定義應(yīng)該按照歐氏距離來(lái)定義才較為合理，比如，起點(diǎn)像素點(diǎn)坐標(biāo)為(10,5)，終點(diǎn)像素點(diǎn)坐標(biāo)為(40,45)時(shí)，“連線”像素點(diǎn)個(gè)數(shù)按照歐氏距離的定義應(yīng)該為50個(gè)或接近50個(gè)，然而使用Bresenham算法得到的“連線”的“長(zhǎng)度”為30個(gè)或40個(gè).

為了解決這個(gè)問(wèn)題，提出了像素點(diǎn)的逐步行進(jìn)的方法,如圖7所示，從起點(diǎn)像素點(diǎn)開(kāi)始，對(duì)當(dāng)前像素點(diǎn)十字4鄰域的像素點(diǎn)進(jìn)行判斷，判斷滿足以下2個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的像素點(diǎn)則為下一步需要走的像素點(diǎn)：1)該像素點(diǎn)與起終點(diǎn)之間的理論直線的點(diǎn)線距離最短;2)該像素點(diǎn)與終點(diǎn)的直線距離最短. 注意，如在像素點(diǎn)的十字4鄰域中，某一點(diǎn)為已經(jīng)走過(guò)的點(diǎn)，則需要在判斷時(shí)將其略去，這樣逐步行進(jìn)，即可遍歷2個(gè)像素點(diǎn)在二維離散坐標(biāo)系下的“連線”所對(duì)應(yīng)的像素點(diǎn)，獲得連線的光強(qiáng)變化. 另外，之所以不以像素點(diǎn)的8鄰域進(jìn)行判斷是由于使用8鄰域判斷出來(lái)的兩點(diǎn)間“連線”的長(zhǎng)度與實(shí)際長(zhǎng)度也有較大的誤差，這也是離散坐標(biāo)系的對(duì)于長(zhǎng)度的定義與連續(xù)坐標(biāo)系的差異之處.

圖7 步行進(jìn)法示意圖(藍(lán)色線為已經(jīng)走過(guò)的像素點(diǎn))

4.2 線掃描光強(qiáng)變化擬合法

獲取了加載點(diǎn)到圓心連線上的灰度變化如圖8所示，連線上像素點(diǎn)到圓心的距離d=R-r，可以觀察到，灰度變化曲線起伏成峰，在接近加載點(diǎn)位置(左)峰比較密集，在靠近顆粒圓心的位置，峰較為稀疏，實(shí)際上這些峰正是反映了連線上各級(jí)應(yīng)力條紋的位置及條紋寬度. 這樣，可以通過(guò)與理論對(duì)比的結(jié)果來(lái)反推加載力的大小. 對(duì)比實(shí)驗(yàn)中加載點(diǎn)到圓心連線灰度變化的峰的位置與理論的峰的位置，可以觀察知道由于在峰谷與峰頂位置灰度變化不夠平滑，原因是存在噪聲的起伏. 由此，以較為平滑的腰的位置來(lái)確定峰的位置.圖片為0～255的灰度級(jí)圖片，若以I=Ia/2的光強(qiáng)來(lái)決定腰的位置，即以灰度級(jí)127確定腰的位置. 另外，灰度級(jí)變化以像素點(diǎn)位置離散，如一像素點(diǎn)灰度級(jí)為123，下一像素點(diǎn)灰度級(jí)為130，在這2個(gè)像素點(diǎn)之間，要找灰度級(jí)為127對(duì)應(yīng)的位置則需以插值法進(jìn)行插值找根，由于實(shí)驗(yàn)圖像精度足夠，2個(gè)像素點(diǎn)之間直接采用線性插值即可.

圖8 某一加載點(diǎn)至圓心連線的灰度變化

值得注意的是，這樣處理往往只能得到連線上靠近圓心的一些級(jí)數(shù)較低的峰的腰的位置. 這是因?yàn)閷?shí)驗(yàn)中由于顆粒模型存在厚度，發(fā)生光的折射，加載點(diǎn)附近的峰的暗條紋不夠明顯，以及拍攝角度問(wèn)題，在顆粒邊界光強(qiáng)附近會(huì)有較大的誤差. 但同樣由于在接觸點(diǎn)附近的條紋均為高級(jí)條紋，且理論的灰度變化在靠近加載點(diǎn)附近也奇異，對(duì)尋找接觸力意義不大. 在處理時(shí)往往只處理低級(jí)的條紋，這是可以接受的，且無(wú)法避免. 如此獲取了實(shí)驗(yàn)的加載點(diǎn)到圓心連線灰度變化的峰的腰的位置后，這些位置相當(dāng)1組描述峰的腰的位置的數(shù)組向量. 有幾個(gè)加載點(diǎn)就會(huì)有幾個(gè)這樣的向量，將其定義為s(i)，i表示對(duì)應(yīng)的加載點(diǎn). 同樣的，由顆粒的多點(diǎn)加載光彈性理論，在加載情況下，也可從理論上得到描述加載點(diǎn)到圓心的連線灰度峰的腰的位置的向量. 理論得到的向量的維數(shù)往往比實(shí)驗(yàn)得到的向量的維數(shù)要多，這是由于由理論可直接得到更多高級(jí)的條紋峰的腰的位置. 但是在對(duì)比理論和實(shí)驗(yàn)的峰腰位置向量時(shí)，需要將理論的向量的維數(shù)截取到與實(shí)驗(yàn)的向量維數(shù)一致，相當(dāng)舍棄掉了高級(jí)條紋，將這樣處理后得到的峰腰位置向量定義為w(i,Fi)，i代表對(duì)應(yīng)的加載點(diǎn)，F(xiàn)i為第i個(gè)加載點(diǎn)的加載力.

要反推出加載點(diǎn)的加載力大小，接下來(lái)讓加載點(diǎn)的加載力Fi在某范圍內(nèi)變化，計(jì)算出每種加載力大小的峰腰的位置數(shù)組向量，即計(jì)算出一系列的w(i,Fi)，減去實(shí)驗(yàn)對(duì)應(yīng)加載點(diǎn)的峰腰位置向量w(i)，再取其模方，即得到了第i個(gè)加載點(diǎn)理論的加載力與實(shí)驗(yàn)的差值的平方. 而每個(gè)加載點(diǎn)在某一加載力下都能得到這樣的差值方，對(duì)于一種加載情況，以加載點(diǎn)的加載力大小為索引，可建立對(duì)應(yīng)不同加載情況理論與實(shí)驗(yàn)的差值方的i個(gè)維度矩陣C，其矩陣的矩陣元表示為C(F1,F2,F3,…，F(xiàn)i)，i代表第i個(gè)加載點(diǎn)，F(xiàn)i為第i個(gè)加載點(diǎn)的加載力，對(duì)其數(shù)學(xué)定義為

(10)

比如加載點(diǎn)數(shù)3，每個(gè)加載點(diǎn)的加載力的變化以1N為步長(zhǎng)，且F∈[10,30]，那么矩陣C為20×20×20的3維矩陣，這個(gè)矩陣的最小元素值對(duì)應(yīng)的索引(F1,F2,F3)則為需要的接觸力的大小. 使用矩陣C尋找加載力大小的好處是它對(duì)于誤差的包容性，因?yàn)槔碚撁總€(gè)加載力情況的結(jié)果與真實(shí)實(shí)驗(yàn)結(jié)果都存在相同的誤差因子，誤差因子包括：對(duì)低級(jí)條紋峰的腰位置的錯(cuò)誤獲取，顆粒應(yīng)力光圖的灰度級(jí)范圍不在0～255. 這些誤差因子有時(shí)難以甚至不能抹除，而矩陣C最小元素即對(duì)應(yīng)誤差因子存在時(shí)與實(shí)驗(yàn)的差別最小加載情況，也就是所需的最優(yōu)結(jié)果.

通過(guò)多點(diǎn)加載二維顆粒實(shí)驗(yàn)，利用線掃描光強(qiáng)變化方法尋找加載力大小的過(guò)程如圖9所示.

圖9 線掃描方法流程圖

如圖10所示，以3個(gè)加載點(diǎn)為例，實(shí)驗(yàn)測(cè)得加載力與線掃描光強(qiáng)方法處理得到的加載力對(duì)比如表1所示.

(a)線掃描法獲取連線上灰度變化的示意圖

(b)線掃描法得到的結(jié)果模擬圖10 線掃描法獲得連線上灰度變化及模擬結(jié)果

表1 3點(diǎn)加載力對(duì)比表

將線掃描方法處理得到的加載力大小反過(guò)來(lái)模擬出顆粒的應(yīng)力光圖,如圖10(b)所示，可以看出與實(shí)驗(yàn)圖案圖10(a)相比還是有所區(qū)別，這是由于實(shí)際實(shí)驗(yàn)中模型受加載后發(fā)生形變，加載處的加載方式已經(jīng)由線接觸變?yōu)榱嗣娼佑|，這也是通過(guò)先掃描的方式來(lái)尋找加載力的大小的原因. 如果對(duì)顆粒上全場(chǎng)的光強(qiáng)來(lái)考慮，一是由于3維圓柱顆粒的線與面接觸方式不同帶來(lái)的應(yīng)力光圖的差異帶來(lái)的誤差在考慮全場(chǎng)的光強(qiáng)時(shí)會(huì)更大；二是顆粒邊界處的光強(qiáng)由于折射拍攝角度等帶來(lái)的誤差也難以處理；三是計(jì)算量較大. 但考慮顆粒上的全場(chǎng)光強(qiáng)的方法也有一定好處，即可以處理更加復(fù)雜加載情況下的圖案. 要靠這種方式來(lái)尋找加載力大小，先讓計(jì)算機(jī)進(jìn)行預(yù)處理再人工調(diào)節(jié)尋找加載力大小，通過(guò)計(jì)算機(jī)與人的相互協(xié)作的方式反而更簡(jiǎn)單.

5 結(jié)束語(yǔ)

基于顆粒應(yīng)力光圖的灰度梯度平方分布圖像的邊界模板法可以獲取顆粒的接觸點(diǎn)位置. 該方法優(yōu)點(diǎn)是能夠在光彈顆粒條紋不十分密集的情況下，找出在顆粒邊界處有較大的加載力存在的加載點(diǎn)的位置. 其缺點(diǎn)是不能夠適用過(guò)于密集的顆粒應(yīng)力條紋光圖，且處理得到的加載點(diǎn)位置可能存在1°～4°的不確定度. 如果在大量顆粒接觸時(shí)，可采用該方法與閾值切割方法[12]結(jié)合的思路. 在離散坐標(biāo)系下尋找2點(diǎn)之間“連線”的算法，能夠更加優(yōu)化地處理Bresenham算法得到的“連線”的像素點(diǎn)個(gè)數(shù)在2點(diǎn)斜率在為非零有限值時(shí)不合適的問(wèn)題. 基于對(duì)顆粒應(yīng)力光圖的線掃描的獲取接觸力大小方法，結(jié)合了二維顆粒多點(diǎn)接觸的光彈性理論、數(shù)字圖像處理，能夠得到顆粒每一接觸點(diǎn)的較為精確的接觸力的大小. 為了提高該方法的運(yùn)行速度與處理精度，應(yīng)該事先確定顆粒上的加載力合理的模擬的范圍，可采用平均灰度梯度方的方法得到顆粒的平均加載力以確定加載力的范圍.