實時雙平面成像在觀察胎兒上牙槽突中的應用

張曉嬌，劉彩霞，廖姍姍

中國醫(yī)科大學附屬盛京醫(yī)院婦產(chǎn)科，遼寧沈陽 110004；

上牙槽突是上頜骨包繞牙根周圍的突起部分，是胎兒上腭的重要組成部分。目前常規(guī)二維超聲是觀察胎兒上牙槽突的主要方法。胎兒上牙槽突成像需要胎兒仰伸位經(jīng)口裂向顱頂方向掃查，常規(guī)二維超聲需要良好的體位才能獲取，故成像率低。實時雙平面成像通過電子矩陣探頭同時顯示2幅互相垂直的高分辨率、高幀頻平面，從而通過胎兒顏面矢狀切面間接觀察胎兒上牙槽突[1]。本研究擬探討實時雙平面成像在產(chǎn)前觀察胎兒上牙槽突中的應用價值。

1 資料與方法

1.1 研究對象 收集2018年1—6月在中國醫(yī)科大學附屬盛京醫(yī)院進行胎兒系統(tǒng)超聲檢查的100名孕婦，年齡22～32歲，平均（25.8±3.6）歲；孕周22～26周，平均（23.0±2.2）周。納入標準：①單胎，孕周明確，無產(chǎn)科并發(fā)癥；②超聲系統(tǒng)篩查未發(fā)現(xiàn)結構異常；③胎兒圖像質(zhì)量良好。

1.2 儀器與方法 選用GE Voluson E10超聲儀，eM6C矩陣探頭，頻率1～6 MHz，設置為產(chǎn)科程序。孕婦取仰臥位，觀察胎兒各系統(tǒng)發(fā)育及附屬物情況。胎兒顏面部掃查包括鼻唇冠狀切面、正中矢狀切面、眼眶橫切面以及經(jīng)口裂上牙槽突切面。所有胎兒產(chǎn)后觀察上牙槽突外觀。

1.3 圖像分析 二維超聲上牙槽突切面于胎兒仰伸位時經(jīng)口裂向顱頂方向掃查，凍結圖像觀察上牙槽突結構（圖1）。聲束平面通過胎兒鼻尖處作矢狀切面，清晰顯示前額、鼻、上唇、口裂、下頜，使上頜骨牙槽突位于顯示屏中央，開啟Bi-plane模式。同時顯示左側胎兒顏面矢狀切面和右側顏面橫切面2幅相互垂直的切面。于左側初始切面調(diào)節(jié)側向旋轉(zhuǎn)角度，使取樣線通過上頜骨牙槽突；于右側可顯示胎兒上牙槽突結構，凍結圖像（圖2）。記錄2種成像技術的成像率和采集時間。

1.4 統(tǒng)計學方法 采用SPSS 22.0軟件，二維超聲技術和實時雙平面成像技術的成像率比較采用χ2檢驗，采集時間比較采用獨立樣本t檢驗。P＜0.05表示差異有統(tǒng)計學意義。

圖1 孕24周，二維超聲觀察胎兒上牙槽突（箭）；ST：上牙槽突

圖2 孕25周，實時雙平面成像觀察胎兒上牙槽突。以胎兒顏面部正中矢狀切面為初始切面，取樣線通過上頜骨牙槽突（箭，A）；圖像清晰顯示胎兒上牙槽突（箭，B）；ST：上牙槽突

2 結果

100例胎兒中，二維超聲采集胎兒上牙槽突結構成功68例，成功率為68%；實時雙平面成像采集成功89例，成功率為89%。2種成像技術的成像率比較，差異有統(tǒng)計學意義（χ2=13.065，P＜0.05）。

二維超聲采集胎兒上牙槽突結構平均時間為（5.49±1.00）s，兩者差異有統(tǒng)計學意義（t=10.657，P＜0.05）。

3 討論

上牙槽突是上頜骨包繞牙根周圍的突起部分，兩側牙槽突在中線相接，形成牙槽骨弓，是上腭的一部 分。唇腭裂是胎兒時期常見的面部畸形。一項流行病學調(diào)查顯示，唇裂、腭裂、唇裂合并腭裂的發(fā)生率分別為32.4%、24.9%和42.7%[2]。本病不僅影響患兒的美觀程度，還影響鼻腔及口腔功能，造成患兒心理及生理上的不良影響。唇裂產(chǎn)前超聲易診斷，腭裂產(chǎn)前超聲檢出率低，僅局限于上牙槽突裂和原發(fā)腭裂[3]。二維超聲對唇裂的檢出率為91%～96%，唇裂合并腭裂的檢出率僅為41%～49%[4]。腭裂分為不完全腭裂和完全腭裂。不完全腭裂者上牙槽突完整，完全腭裂者上牙槽突斷裂[5]。因此，顯示上牙槽突是判斷腭裂嚴重程度的重要部位。二維超聲具有無創(chuàng)、高效以及高分辨力等優(yōu)點，是目前觀察上牙槽突的常規(guī)檢查方法。但二維超聲僅能通過一個平面觀察胎兒上牙槽突，對胎兒體位要求較高，需要胎頭上仰才能顯示上牙槽突的全貌，且對操作者手法也有較高要求，故產(chǎn)前上牙槽突顯示率低。

實時雙平面成像采用電子曲面矩陣4D探頭，可在任意方向獲取高分辨率圖像，任一方向、任一序列偏轉(zhuǎn)聲束均可聚焦。該技術是超聲束和掃描平面以垂直方式偏轉(zhuǎn)進行采集和實時顯示2個相互垂直的平面，并且保持高幀頻和優(yōu)異的分辨力，操作者無需移動探頭即可觀察到2幅不同角度的二維圖像。屏幕左側是初始切面，右側是與之垂直的切面，通過調(diào)節(jié)左側初始切面的取樣線可改變右側圖像切面。實時雙平面成像通過有限的聲窗顯示更多的切面，在掃查胎兒顏面部正中矢狀切面的同時獲得上牙槽突切面，操作簡便，減少了操作者手法熟練程度的影響[6]。本研究中，實時雙平面成像較常規(guī)二維超聲觀察胎兒上牙槽突的成像率顯著提高，采集時間顯著縮短。因此，該技術可作為觀察胎兒上牙槽突的重要輔助方法。

目前，除上述2種技術外，三維超聲中的多種成像技術也可進行胎兒上牙槽突顯像。Tonni等[7]采用三維超聲中的Omni View技術觀察胎兒唇腭部。該技術是三維后處理技術，可沿胎兒結構任意角度和方向進行描畫，從而顯示非平面結構的全景影像。沈小玲等[8]研究認為Omni View技術顯示胎兒腭部優(yōu)于二維超聲。席梅等[9]應用三維超聲斷層成像觀察胎兒唇腭部。該技術對采集數(shù)據(jù)進行處理，獲得類似MRI的斷層成像，屏幕上同時顯示連續(xù)的斷層圖像，通過調(diào)節(jié)X、Y、Z軸改變圖像方位，從而直觀、立體顯示胎兒唇腭部，簡化了二維超聲對操作者手法的要求，避免了重復檢查。其他顯示胎兒唇腭部的三維超聲成像方法包括反轉(zhuǎn)臉法、彈臉法、V-型法，均通過橫切面及冠狀 切面立體顯示胎兒腭部[10]。但三維超聲技術采集的圖像質(zhì)量受胎兒顏面周圍羊水量及顏面遮擋等影響[11]；且采集時間長，后處理復雜，存在一定的局限性。實時雙平面成像節(jié)約了采集和后處理時間，通過胎兒顏面正中矢狀切面間接觀察胎兒上牙槽突。該方法省時易行，對產(chǎn)前系統(tǒng)篩查有一定意義。

實時雙平面成像存在一定的局限性。當左側初始切面的取樣線不經(jīng)過上牙槽突時，則無法觀察到上牙槽突全貌，故對胎兒體位有一定要求。當胎兒位置不滿意時，囑孕婦適當活動后獲取顏面部正中矢狀切面即可。二維超聲是該技術的成像基礎，故孕婦腹壁厚度及前壁胎盤等影響均可導致圖像質(zhì)量下降。

總之，實時雙平面成像是一種產(chǎn)前觀察胎兒上牙槽突的新方法，其簡便快捷，可完整顯示胎兒上牙槽突的全貌，為產(chǎn)前系統(tǒng)篩查提供了更大的保障。