GB/T17799.1和GB17799.3新版標準解析

葉瑀 劉浩明 樊翔 廣東省醫(yī)療器械質量監(jiān)督檢驗所 （廣東 廣州 510663）

內(nèi)容提要： 介紹了GB/T 17799.1和GB 17799.3新老版本的主要變化，包括：增加測試端口和測試限值、測量不確定度和標準符合性等，解讀適用于居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境中的產(chǎn)品的試驗配置、工作條件、試驗要求和性能判據(jù)等方面的新要求。

GB 17799.3-2012[1]發(fā)射標準和GB/T 17799.1-2017[2]抗擾度標準適用于居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境中使用的電氣和電子產(chǎn)品。該類產(chǎn)品是直接連接公共低壓電網(wǎng)、通過專用直流電源連接到低壓公用電網(wǎng)、使用電池供電或是非工業(yè)低壓電網(wǎng)電力配電系統(tǒng)供電。本文將對新版標準內(nèi)容的變化進行梳理與解讀。

1.產(chǎn)品預期使用環(huán)境

該類產(chǎn)品的預期使用環(huán)境是居住、商業(yè)和輕工業(yè)場所的室內(nèi)和室外環(huán)境。包括但不限于：居住場所，例如住宅、公寓等；零售網(wǎng)點，例如商店、超市等；商用樓宇，例如辦公室、銀行等；公共娛樂區(qū)，例如電影院、公共酒吧、舞廳等；戶外場所，例如加油站、停車場、游樂場等；輕工業(yè)場所，例如車間、實驗室、維修中心等。凡是通過公用電網(wǎng)直接獲得低壓供電的場所均屬于居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境。

2.GB 17799.3新版本解析

2.1 標準主要變化

與2001版相比，2012版主要變化如下：①增加了八個術語：電纜端口、電信/網(wǎng)絡端口、電源端口、公共電網(wǎng)、低壓、直流電網(wǎng)、低壓AC電源端口、最高內(nèi)部頻率。②增加測量不確定度的要求。③增加批量生產(chǎn)一致性試驗中的限值應用。④增加標準符合性說明。⑤增加1～6GHz外殼端口測試要求；增加對16A以上75A以下設備低壓交流電源端口0～2kHz測試要求；增加直流電源端口和電信/網(wǎng)絡端口測試要求。

對產(chǎn)品設備，GB 17799.3-2012新版標準在發(fā)射測試中重新定義了四種端口：外殼端口、電信/網(wǎng)絡端口、直流電源端口和低壓交流電源端口。其中，關于電信/網(wǎng)絡端口，對于通常用于連接ITE系統(tǒng)中各組成部分的連接端口（如RS-232、RS-485、IEEE1284并行打印機等），該端口如果按照性能規(guī)范（如對連接到它的最大長度有要求）使用，則該端口不屬于電信/網(wǎng)絡端口范圍內(nèi)。

2.2 試驗要求

對于發(fā)射測試，受試設備（EUT）應在最大發(fā)射的工作狀態(tài)下進行測量。通常，由于產(chǎn)品的工作模式或配件較多，會基于有限的預測試和改變EUT的配置來確定產(chǎn)品的最大發(fā)射狀態(tài)。當EUT是系統(tǒng)的一部分，或者能和輔助設備相連接，測量時EUT需要配置有代表性的輔助設備。當制造商要求有外部濾波或屏蔽裝置或其他規(guī)定的措施，測試應在加有規(guī)定的轉置和措施下進行。當EUT有許多類似的端口或一些端口有許多類似的連接，應選擇足夠數(shù)量的端口和連接來模擬實際工作狀態(tài)，以保證覆蓋所有不同類型的終端。具體測試要求見下表1～4。

表1. 外殼端口

表2. 低壓交流電源端口

表3. 直流電源端口

表4. 電信網(wǎng)絡端口

3.GB/T 17799.1新版本解析

3.1 標準主要變化

與1999版相比，2017版主要變化如下：①新增四個術語：信號端口、電源端口、長距離線路、低壓。②外殼端口抗擾度試驗中刪除原來的射頻電磁場鍵控載波，新增射頻電磁場調幅1.4～2.7GHz抗擾度試驗要求。③外殼端口抗擾度試驗中，工頻磁場試驗刪除60Hz試驗值。④交流電源輸入和輸出電源端口抗擾度試驗中，電壓暫降和電壓中斷試驗刪除60Hz相關值。

3.2 試驗要求

對于抗擾度試驗，EUT應在預期最不利的狀態(tài)下測試。因此，在試驗前，應通過各種配置組合和更改線纜布置狀態(tài)來進行預測試，確定EUT的最不利狀態(tài)。如果EUT是系統(tǒng)的一部分，或者可連接輔助設備，則應考慮最典型的狀態(tài)。見表5～8。

表5. 外殼端口

表6. 信號端口

表7. 直流輸入/輸入電源端口

表8. 交流輸入/輸入電源端口

3.3 性能判據(jù)

因為本標準涉及的產(chǎn)品種類繁多，很難都使用同一個性能判據(jù)來衡量全部設備。因此，產(chǎn)品的制造商應提供試驗期間和試驗之后的功能描述和性能判據(jù)。當進行GB/T 17799.1標準規(guī)定的抗擾度試驗會導致產(chǎn)品安全性下降時，則應認為產(chǎn)品的該試驗是失敗的。檢驗員應將試驗期間和試驗后產(chǎn)品的狀態(tài)記錄在檢驗報告中。

性能判據(jù)A：在試驗期間和試驗之后，設備應按預定方式連續(xù)工作，性能降低程度或功能喪失不允許低于制造商規(guī)定的性能水平。性能水平可以用允許的性能喪失替代。如果制造商沒有規(guī)定最低性能水平或允許喪失的性能，則應符合產(chǎn)品使用說明書或技術說明書中明確的功能，或根據(jù)用戶的需求確定。

性能判據(jù)B：在試驗后，設備應按預定方式連續(xù)工作。在試驗期間，允許性能水平降低，但實際工作狀態(tài)或存儲的數(shù)據(jù)不允許改變。

性能判據(jù)C：允許暫時喪失功能，這種功能可自行恢復或者通過操作控制器來恢復。

4.結語

標準GB/T 17799.1和GB 17799.3針對產(chǎn)品的更新變化提出了新的電磁兼容的測試要求。新版標準通過細化測試布置，引入測量不確定度和批量生產(chǎn)的一致性試驗中的限值來提供測試的可行性和一致性，有利于提高行業(yè)內(nèi)產(chǎn)品的電磁安全性。本文對新版標準內(nèi)容作了簡要的分析說明，對相關測試人員有借鑒的意義。