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    基于間接標(biāo)定法的結(jié)構(gòu)光視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)三維測(cè)量技術(shù)與試驗(yàn)評(píng)估

    2018-08-15 02:17:50羅凱璐惠記莊楊永奎
    關(guān)鍵詞:光條標(biāo)靶中心線

    羅凱璐 惠記莊 劉 瓊 楊永奎

    (長(zhǎng)安大學(xué),西安 710064)

    結(jié)構(gòu)光視覺(jué)三維測(cè)量具有非接觸、動(dòng)態(tài)響應(yīng)快、系統(tǒng)柔性好、成本低以及體積小等特點(diǎn),目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品加工質(zhì)量控制和快速設(shè)計(jì)、自動(dòng)控制、物體識(shí)別以及汽車、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域[1-4]。線結(jié)構(gòu)光測(cè)量是基于激光三角法原理的一種非接觸式測(cè)量,其原理是激光器產(chǎn)生線激光照射到被測(cè)物體上,通過(guò)攝像機(jī)從一定角度獲取被測(cè)物體調(diào)制后的光條信息,最后依據(jù)攝像機(jī)光條信息反求線激光照射處被測(cè)物體的三維坐標(biāo)[5-7]。該技術(shù)較之于雙目視覺(jué)測(cè)量技術(shù)解決了雙目視覺(jué)技中存在的特征點(diǎn)匹配問(wèn)題,但增加了光平面的標(biāo)定問(wèn)題。目前,常規(guī)標(biāo)定法如拉絲法和鋸齒法的缺陷:標(biāo)定點(diǎn)的三維坐標(biāo)點(diǎn)的獲取需要借助昂貴的外部測(cè)量設(shè)備,并且獲取的標(biāo)定點(diǎn)數(shù)目有限,標(biāo)定精度也有限[8-9]。徐光祐和Huynh等人為了獲得更多精確的標(biāo)定特征點(diǎn),提出了運(yùn)用交比不變?cè)淼臉?biāo)定特征點(diǎn)提取方法[10-12]。魏振忠在徐光祐的研究基礎(chǔ)上進(jìn)行優(yōu)化并提出了一種雙重交比不變的算法,該算法提高了標(biāo)定精度,穩(wěn)定性好,但遮擋問(wèn)題導(dǎo)致較難獲得準(zhǔn)確清晰的圖像[13]。周富強(qiáng)針對(duì)光平面的標(biāo)定,提出了一種自由移動(dòng)平面靶標(biāo)定法,算法復(fù)雜[14]。為此,本文提出了一種基于定向移動(dòng)平面標(biāo)靶的光平面間接標(biāo)定法。該算法通過(guò)特征加窗提取技術(shù)提高了算法速度和檢測(cè)實(shí)時(shí)性,相對(duì)于立體標(biāo)靶,該方法靶標(biāo)制作的要求較低,操作簡(jiǎn)單容易實(shí)現(xiàn),光平面參數(shù)的標(biāo)定精度得到一定提高。

    1 基于定向移動(dòng)平面標(biāo)靶的間接標(biāo)定法

    間接法標(biāo)定結(jié)構(gòu)光視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng),是指對(duì)結(jié)構(gòu)光光平面采用間接標(biāo)定的方法。由于人工測(cè)量誤差和儀器自身的測(cè)量誤差,光平面標(biāo)定的準(zhǔn)確性容易受到影響。本文首先通過(guò)圖像處理方法獲取平面標(biāo)靶上標(biāo)定點(diǎn)的像素坐標(biāo),結(jié)合已經(jīng)完成標(biāo)定的攝像機(jī)參數(shù)值,反解得到表定點(diǎn)的三維世界坐標(biāo)。算法流程如圖1所示。

    1.1 光條中心線提取

    通過(guò)基于背景校正Otsu的形態(tài)細(xì)化算法提取標(biāo)靶在世界坐標(biāo)系下不同位置Zi的光條中心線,其中Zi為標(biāo)靶平面在世界坐標(biāo)系下Zw軸上的位置,位置變換的多少影響算法的準(zhǔn)確性。綜合考慮算法的運(yùn)算速度和準(zhǔn)確性要求,本文選取兩個(gè)不同位置Z1、Z2,且Z1、Z2為已知定值。

    圖1 基于定向移動(dòng)平面標(biāo)靶的間接標(biāo)定法

    1.2 獲取光條圖像像素坐標(biāo)點(diǎn)

    利用圖像處理算法中g(shù)ainput函數(shù)分別在每個(gè)光條上提取m個(gè)標(biāo)定特征點(diǎn)像素坐標(biāo)(ui,vi),其中,i=1,2,3,…,2m,像素坐標(biāo)點(diǎn)(ui,vi)對(duì)應(yīng)的圖像坐標(biāo)點(diǎn)(xi,yi)關(guān)系式為:

    考慮攝像機(jī)鏡頭的畸變因素,利用求得的實(shí)際圖像坐標(biāo)點(diǎn)(xi,yi)解得其對(duì)應(yīng)的理想狀態(tài)下的圖像坐標(biāo)點(diǎn),yi):

    將獲得的畸變因素矯正后的圖像坐標(biāo)點(diǎn)(x-i,y-i)反解,獲得對(duì)應(yīng)的理想狀態(tài)下的圖像像素坐標(biāo)點(diǎn)

    1.3 反解對(duì)應(yīng)的三維世界坐標(biāo)點(diǎn)

    由圖像坐標(biāo)和世界坐標(biāo)的關(guān)系式:

    消去Zci后得到:

    分別將Zwi=Z1,i=1,2,3,…,m和 Zwi=Z2,i=m+1,m+2,m+3,…,2m以及其分別對(duì)應(yīng)的圖像坐標(biāo)點(diǎn)(,)帶入式中求解,攝像機(jī)的內(nèi)外參數(shù)已知,于是可以解得對(duì)應(yīng)的三維世界坐標(biāo)點(diǎn)(Xwi,Ywi,Z1),i=1,2,3,…,m和(Xwi,Ywi,Z1),i=m+1,m+2,m+3,…,2m。

    1.4 光平面擬合

    文本用最小二乘法擬合光平面,上述過(guò)程可以得到2m個(gè)世界坐標(biāo)點(diǎn)(Xwi,Ywi,Zwi),并由幾何知識(shí)可知:兩條平行線可唯一確定一平面,由此可得光平面方程為:

    式中,A、B、C為待標(biāo)定的光平面參數(shù),(Xw,Yw,Zw)為光條上特征點(diǎn)的世界坐標(biāo),將上述2m個(gè)標(biāo)定特征點(diǎn)代入式(6)可以構(gòu)造方程組的矩陣形式為式(7):

    可以簡(jiǎn)寫為:

    最小二乘法解得光平面參數(shù)A、B、C的解為:

    試驗(yàn)具體操作實(shí)現(xiàn)步驟:前后移動(dòng)共面模板并且保持結(jié)構(gòu)光平面位置不動(dòng),使得共面模板標(biāo)靶與結(jié)構(gòu)光平面分別相交得到直線光條紋l1、l2,對(duì)采集到的光條圖像進(jìn)行特征加窗提取、濾波、分割、形態(tài)學(xué)細(xì)化等圖像處理運(yùn)算,從而提取得到光切線上各點(diǎn)的圖像坐標(biāo)(ui,vi);在Zw坐標(biāo)軸移動(dòng)位置的坐標(biāo)Z1、Z2是已知的,設(shè)定Z1=0、Z2=50mm,由圖像處理算法獲得光條上的圖像坐標(biāo),結(jié)合攝像機(jī)試驗(yàn)標(biāo)定的參數(shù)結(jié)果,反解獲得對(duì)應(yīng)的三維坐標(biāo)值,最后用最小二乘法對(duì)獲得的三維坐標(biāo)點(diǎn)進(jìn)行平面擬合。

    2 結(jié)構(gòu)光平面參數(shù)標(biāo)定試驗(yàn)

    試驗(yàn)步驟:本文結(jié)構(gòu)光平面標(biāo)靶試驗(yàn)采用10×8的棋盤格進(jìn)行標(biāo)定,每個(gè)小方格的尺寸均為28mm×28mm,當(dāng)標(biāo)定靶位于第一個(gè)位置時(shí)Z1=0mm時(shí)構(gòu)建世界坐標(biāo)系。已知攝像機(jī)標(biāo)定結(jié)果如表1所示。

    圖2 光平面參數(shù)標(biāo)定界面

    表1 攝像機(jī)參數(shù)標(biāo)定結(jié)果

    攝像機(jī)標(biāo)定外參數(shù)矩陣由攝像機(jī)標(biāo)定試驗(yàn)可得:

    其中,式(10)表示平移矩陣,式(11)表示旋轉(zhuǎn)矩陣。

    根據(jù)結(jié)構(gòu)光平面標(biāo)定流程圖設(shè)計(jì)基于Matlab GUI的編程,圖2為開發(fā)的光平面的標(biāo)定界面運(yùn)行后的效果圖。

    2.1 讀取特征光條圖像

    單擊標(biāo)定界面的左上角菜單欄中的圖像顯示菜單,圖3中,第一幅圖像對(duì)應(yīng)的標(biāo)定靶平面位置Z1=0,即標(biāo)靶平面和世界坐標(biāo)系XwOwYw重合。在世界坐標(biāo)系下,第二幅圖像對(duì)應(yīng)的標(biāo)定靶平面的位置Z2=50mm,標(biāo)定靶平面的第二個(gè)位置是在第一個(gè)位置沿著世界坐標(biāo)系的Zw軸正方向移動(dòng)50mm得到的。

    圖3 獲取光條紋圖像

    2.2 光條中心線提取

    分別單擊標(biāo)定界面命令區(qū)中的光條中心線提取1和光條中心線提取2兩個(gè)命令按鈕,對(duì)第一幅圖像和第二幅圖像進(jìn)行光條中心線的提取,如圖4(a)和圖4(b)所示,經(jīng)局部區(qū)域提取的效果分別如圖4(c)和圖4(d)所示。

    圖4 提取到的光條中心線

    2.3 提取光條二維圖像像素坐標(biāo)

    分別單擊提取光條二維坐標(biāo)1和提取光條二維坐標(biāo)2命令按鈕,程序運(yùn)用gainput函數(shù)分別選取光條上5個(gè)標(biāo)定特征點(diǎn),得到的二維圖像坐標(biāo)如圖5所示。

    2.4 反解對(duì)應(yīng)的三維坐標(biāo)

    首先,在運(yùn)行界面的右上角區(qū)域輸入光條圖像分別對(duì)應(yīng)的世界坐標(biāo)系下的Z坐標(biāo)值,Z1=0mm,Z2=50mm,然后分別在反解三維坐標(biāo)1和反解三維坐標(biāo)2,加入前面攝像機(jī)標(biāo)定的內(nèi)外參數(shù),得到對(duì)應(yīng)的三維世界坐標(biāo)值,如圖6所示。

    圖5 提取到的光條二維圖像像素坐標(biāo)圖

    圖6 標(biāo)定點(diǎn)三維坐標(biāo)獲取

    2.5 擬合求得光平面參數(shù)方程

    對(duì)上述獲得的10個(gè)標(biāo)定特征點(diǎn)的三維坐標(biāo)用最小二乘法擬合求得光平面參數(shù)方程,對(duì)光條中心線普通全局提取得到的光平面標(biāo)定結(jié)果如表2所示。

    表2 光平面的參數(shù)標(biāo)定結(jié)果1

    A=-0.0785,B=-2.3801,C=217.1425,把光平面參數(shù)代入式(6),于是得到第一組光平面方程為:

    對(duì)光條中心線進(jìn)行局部區(qū)域提取后得到的標(biāo)定結(jié)果如表3所示。

    表3 光平面的參數(shù)標(biāo)定結(jié)果2

    A=-0.0258,B=-2.6617,C=235.3190,把光平面參數(shù)代入式(6),于是得到第二組光平面方程為:

    3 基于光平面標(biāo)定參數(shù)的三維測(cè)量試驗(yàn)

    3.1 讀取圖像

    單擊界面上命令按鈕區(qū)中的讀取圖像按鈕,把待測(cè)量的模擬焊縫圖像加載到界面上顯示出來(lái)。

    3.2 光條中心線提取

    文中實(shí)現(xiàn)的光條中心線的提取方法采用局部特征提取結(jié)合形態(tài)細(xì)化算法,其中,局部特征提取采用imcrop函數(shù)實(shí)現(xiàn),得到的加窗圖像尺寸大小為120mm×500mm。

    3.3 獲取光條上二維圖像坐標(biāo)

    采用gainput函數(shù)提取光條中心線上面包含的二維圖像坐標(biāo)點(diǎn)云(ui,vi)其中,i表示細(xì)化后光條上的第i個(gè)點(diǎn)。這里點(diǎn)擊提取光條上11個(gè)特征點(diǎn)。三維測(cè)量程序采用了局部區(qū)域特征提取,使得圖像坐標(biāo)系由窗口圖像坐標(biāo)系和原圖像坐標(biāo)系組成,由上面可知:局部區(qū)域圖像的左上角角點(diǎn)在原圖坐標(biāo)下的位置坐標(biāo)點(diǎn)為(1310,820),為了實(shí)現(xiàn)從局部區(qū)域圖像坐標(biāo)系向原圖像坐標(biāo)系實(shí)現(xiàn)坐標(biāo)系之間的變換,本文采用式(14)實(shí)現(xiàn)兩種坐標(biāo)系之間的變換:

    其中,(u,v)表示原圖像坐標(biāo)系下的任一點(diǎn),(uc,vc)表示窗口圖像坐標(biāo)系下的任一點(diǎn),(uc0,vc0)表示局部區(qū)域圖像的左上角點(diǎn)(即窗口坐標(biāo)系原點(diǎn))在原圖像坐標(biāo)下的像素坐標(biāo)值,在本試驗(yàn)中,(uc0,vc0)為(1310,820)。

    3.4 求解三維坐標(biāo)

    在三維檢測(cè)界面的右上角區(qū)域分別輸入前面標(biāo)定得到的兩組光平面參數(shù),并且將前面標(biāo)定出來(lái)的攝像機(jī)參數(shù)輸入到該按鈕的回調(diào)函數(shù)程序中,利用得到圖像像素坐標(biāo)點(diǎn)(u,v)結(jié)合公式(5)、式(6)反解三維坐標(biāo)值(Xwi,Ywi,Zwi) ,如式(15)所示:

    其中,第一組獲得的三維坐標(biāo)是輸入未加窗處理時(shí)得到的光平面參數(shù)得到的世界坐標(biāo)系下的三維坐標(biāo),第二組獲得的三維坐標(biāo)是輸入加窗處理時(shí)得到的光平面參數(shù)得到的世界坐標(biāo)系下的三維坐標(biāo)。

    3.5 兩組測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比

    測(cè)量完成后,整理得到的兩種方法的三維坐標(biāo),選取的結(jié)構(gòu)光光細(xì)化曲線上11個(gè)點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果具體數(shù)值如表4所示。

    人們以所提取特征點(diǎn)在三維測(cè)量坐標(biāo)中的Z值為波峰坐標(biāo),從上述試驗(yàn)結(jié)果可以看出:第一組通過(guò)未加窗處理得到的光平面方程參數(shù)在三維坐標(biāo)測(cè)量結(jié)果中的第六個(gè)特征點(diǎn)時(shí),試驗(yàn)結(jié)果中Z值最大,即波峰高度為9.4198mm,按照理論值,第一個(gè)特征點(diǎn)和第11個(gè)特征點(diǎn)三維測(cè)量坐標(biāo)點(diǎn)的Z值應(yīng)為0mm,但實(shí)際測(cè)量值分別為2.4984mm和1.1764mm,因此特征光條未經(jīng)加窗處理時(shí),試驗(yàn)測(cè)量結(jié)果最大誤差2.4984mm。

    而第二組通過(guò)加窗處理得到的光平面方程參數(shù)在三維坐標(biāo)測(cè)量結(jié)果中的第六個(gè)特征點(diǎn)時(shí),試驗(yàn)結(jié)果中Z值最大,即波峰高度為8.3028mm,按照理論值,第一個(gè)特征點(diǎn)和第11個(gè)特征點(diǎn)三維測(cè)量坐標(biāo)點(diǎn)的Z值應(yīng)為0mm,但實(shí)際測(cè)量值分別為0.9458mm和-0.074mm,特征光條經(jīng)加窗處理后,試驗(yàn)測(cè)量最大誤差0.9458mm。

    表4 圖像坐標(biāo)與對(duì)應(yīng)的三維坐標(biāo)

    通過(guò)兩組測(cè)量結(jié)果的誤差對(duì)比分析可知:通過(guò)加窗處理所提取的光條中心線精度更為準(zhǔn)確,因此也降低了光平面參數(shù)標(biāo)定時(shí)的誤差,而運(yùn)用基于定向移動(dòng)平面標(biāo)靶的間接標(biāo)定法測(cè)量的精度和速度得到提高。

    4 結(jié)語(yǔ)

    本文首先采用特征加窗以及基于背景校正Otsu的形態(tài)細(xì)化算提取標(biāo)靶平面上的光條中心線,大大地提高了結(jié)構(gòu)光中心線提取的精度和提取算法的運(yùn)算速度,為光平面的標(biāo)定提供較為準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)支持,從而提高了光平面參數(shù)標(biāo)定的準(zhǔn)確性。

    基于定向移動(dòng)平面標(biāo)靶的光平面間接標(biāo)定法,結(jié)合校正后特征點(diǎn)的圖像坐標(biāo)和標(biāo)定的攝像機(jī)內(nèi)外參數(shù),反解得到標(biāo)定特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的三維世界坐標(biāo),比常用的直接測(cè)量標(biāo)定點(diǎn)的三維世界坐標(biāo)獲取的精度高。這種間接標(biāo)定光平面的方法比拉絲法、靶標(biāo)法、交比不變性法的精度高,穩(wěn)定性和適用性好,并且該方法的靶標(biāo)制作要求低,操作簡(jiǎn)單,從而提高了結(jié)構(gòu)光視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)的精度和測(cè)量速度。

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