徐 琳,趙曉卓
(河北農(nóng)業(yè)大學(xué),保定 071000)
CT,即電子計(jì)算機(jī)斷層掃描,利用平行入射且垂直于探測(cè)器表面的X射線通過發(fā)射-探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行斷面掃描,發(fā)射器和探測(cè)器固定位置不變,整個(gè)系統(tǒng)繞某固定的旋轉(zhuǎn)中心逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)180次。其廣泛可用于醫(yī)學(xué)檢查、工業(yè)檢測(cè)等方面。
確定CT系統(tǒng)參數(shù)和成像問題,一般是利用樣品對(duì)射線的吸收特性來進(jìn)行斷層成像,對(duì)每一個(gè)X射線方向,在具有多個(gè)等距單元的探測(cè)器上測(cè)量經(jīng)位置固定不動(dòng)的二維待檢測(cè)介質(zhì),處理后得到180組接受信息。而系統(tǒng)安裝往往存在誤差,影響成像質(zhì)量,所以我們要對(duì)其進(jìn)行參數(shù)標(biāo)定。影響圖像質(zhì)量的參數(shù)有空間分辨力、密度分辨力、噪聲、層厚與層距、場(chǎng)均勻性等等。我們可以借助已知結(jié)構(gòu)的樣品標(biāo)定CT系統(tǒng)的參數(shù),之后對(duì)未知結(jié)構(gòu)的樣品進(jìn)行成像。
Ct參數(shù)的標(biāo)定大概分為三個(gè)步驟,分別是:
(1)計(jì)算探測(cè)器單元之間的距離。
(2)計(jì)算X射線的180個(gè)方向。
(3)計(jì)算旋轉(zhuǎn)中心的位置。
我們通過查找資料在均勻物體中x射線是按指數(shù)衰減的。在不同物體中x射線的衰減函數(shù)的系數(shù)不同,設(shè)穿過的系數(shù)為u1、u2u3……un。
假設(shè)發(fā)射出的射線強(qiáng)度為t0,那么接收到的x射線強(qiáng)度為t,此式可轉(zhuǎn)化為
由于接收強(qiáng)度較小,所以一般將ui進(jìn)行一定比例的放大,得到CT值,
將CT值用灰度圖像表示出來,即為CT圖像
在旋轉(zhuǎn)中心O處建立坐標(biāo)系,CT系統(tǒng)逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)。假定CT系統(tǒng)固定不動(dòng),建立xoy坐標(biāo)系,相對(duì)于CT系統(tǒng)正方形托盤順時(shí)針旋轉(zhuǎn),以O(shè)為原點(diǎn)建立sot坐標(biāo)系。
(1)坐標(biāo)系的建立
在旋轉(zhuǎn)中心o處建立xoy坐標(biāo)系和sot坐標(biāo)系。其中探測(cè)器在s軸上。xoy坐標(biāo)系固定,sot坐標(biāo)系繞o點(diǎn)旋轉(zhuǎn)。
(2)由圖形得到投影值
(3)由投影對(duì)圖形進(jìn)行重建
由中心切片定理[1]:二維物體函數(shù)f(x,y)的線積分投影數(shù)據(jù)p(s)的一維傅里葉變換p(w)等于二維物體函數(shù)f(x,y)的傅里葉變換F(wx,wy)沿與探測(cè)器平行方向過原點(diǎn)的一個(gè)一維切片即對(duì)pθ(s)進(jìn)行一維傅里葉變換的結(jié)果與原圖像進(jìn)行二維傅里葉變換的結(jié)果相同。
所以,將pθ(s)進(jìn)行一維傅里葉變換之后,再對(duì)其進(jìn)行二維傅里葉反變換,即可得到原圖像f(x,y)
其中R為r的頻域分量,(u,v)為(x,y的頻域分量),u=R cos θ、v=R sin θ。
(1)Radon變換
(2)Radon逆變換
由投影值得到原圖形,即將Radon變換公式反演。公式:
可以直接利用Radon逆變換公式反投影:將p(s,θ)按公式直接投影到原來的像素點(diǎn)上。
但是此方法會(huì)導(dǎo)致投影不清晰。所以我們決定加入S-L濾波函數(shù)來進(jìn)行求解。
(3)模型求解
對(duì)于該公式,在計(jì)算機(jī)中我們需要用求和代替積分,用差分代替微分。
所以Radon逆變換的公式為:
依此方法可對(duì)圖像進(jìn)行重建。
由于CT系統(tǒng)本身安裝時(shí)往往存在誤差,會(huì)導(dǎo)致投影數(shù)據(jù)的測(cè)量發(fā)生錯(cuò)誤。而本文提出的Radon變換原理和中心切片定理,通過這種算法可以得到較為準(zhǔn)確的CT系統(tǒng)的成像。建立不同的模型,盡可能減小機(jī)械誤差造成的影響,使得最終結(jié)果更精確。S-L反投影圖像要比直接投影圖像清晰。