不同蓋印壓力下光敏印章印文直徑變化規(guī)律研究

王 寧，郝紅光，王曉光,*

（1.中國(guó)人民公安大學(xué)，北京100038；2.公安部物證鑒定中心，北京100038）

光敏印章因其制作方法便捷、環(huán)保，成像清晰等優(yōu)點(diǎn)在現(xiàn)代社會(huì)中得到廣泛使用[1]。其印跡即印即干，附著力強(qiáng)，可以在塑料、銅版紙、玻璃、衣服和金屬上使用，可與印刷品質(zhì)媲美[2]。而隨著光敏印章使用范圍的日益擴(kuò)大，再加上其制作工藝十分簡(jiǎn)單，因而極易被犯罪分子利用從事各類違法犯罪活動(dòng)，因此不斷提高對(duì)光敏印章印文的檢驗(yàn)鑒定能力是檢驗(yàn)人員的一項(xiàng)長(zhǎng)期工作要求。檢驗(yàn)實(shí)踐中對(duì)光敏印章印文的特征主要可分為規(guī)格性特征和細(xì)節(jié)性特征兩類[3]。規(guī)格性特征是在制作印章的過程中，遵循一定的規(guī)格而形成的特征[4]，包括印文內(nèi)容、形狀、尺寸、布局、線條和文字特征。實(shí)際工作中，一些檢驗(yàn)人員往往都有這樣的感性認(rèn)識(shí)：隨著蓋印壓力的增大，印章的印面會(huì)發(fā)生一定程度的膨脹，進(jìn)而會(huì)導(dǎo)致其印文直徑的增大。但這一規(guī)律對(duì)于光敏印章是否適用至今還沒有人以實(shí)驗(yàn)的方式通過定量的數(shù)據(jù)來驗(yàn)證，因此，筆者借助FWJC-I印章質(zhì)量測(cè)試機(jī)做了一系列實(shí)驗(yàn)探究，希望實(shí)驗(yàn)結(jié)果能給檢驗(yàn)人員的鑒定實(shí)踐提供一些參考和啟發(fā)。

1 材料與方法

1.1 實(shí)驗(yàn)材料

通過調(diào)研，目前國(guó)內(nèi)生產(chǎn)光敏材料的廠商有多家，但是市場(chǎng)占有量比較大的光敏印章生產(chǎn)商大約為6家。因此筆者選擇了這6個(gè)不同廠商生產(chǎn)的共6種自含墨光敏印章新章為實(shí)驗(yàn)用章，用其在A4紙張上蓋印印文，襯墊物為印章質(zhì)量測(cè)試機(jī)自身配備的具有一定硬度的橡膠墊。

1.2 實(shí)驗(yàn)儀器

所有實(shí)驗(yàn)樣本均由廈門生產(chǎn)的FWJC-I印章質(zhì)量測(cè)試機(jī)（以下簡(jiǎn)稱蓋印機(jī)）蓋印完成。該蓋印機(jī)主體部分是兩個(gè)氣閥帶動(dòng)的機(jī)械蓋印裝置。裝置的控制系統(tǒng)可以控制機(jī)械蓋印上下運(yùn)動(dòng)的速度和壓力。將印章用螺絲固定在蓋印機(jī)上，蓋印速度可達(dá)每分鐘近兩百次。此蓋印機(jī)的優(yōu)勢(shì)在于可以控制恒定的壓力，有利于實(shí)驗(yàn)變量控制；另外也可以實(shí)現(xiàn)短時(shí)間內(nèi)蓋印兩萬次，解決了人力不易完成的問題。利用蓋印機(jī)將樣本制作出來后，用掃描儀（型號(hào)：Epson Perfection V370 Photo）將樣本印文掃描輸入到該蓋印機(jī)配有的印章質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)測(cè)量其直徑。

1.3 實(shí)驗(yàn)方案

中國(guó)公共安全行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)GA 241.9-2000印章治安管理信息系統(tǒng)第9部分《印章質(zhì)量規(guī)范與檢測(cè)方法》中規(guī)定：一枚印章正常使用的蓋印壓力為30 N，最大蓋印壓力為60 N，合格印章產(chǎn)品蓋印次數(shù)可達(dá)兩萬次。據(jù)此，筆者設(shè)計(jì)了兩部分實(shí)驗(yàn)方案。

1.3.1 恒定蓋印壓力下光敏印章印文直徑的變化實(shí)驗(yàn)

該實(shí)驗(yàn)選擇了6個(gè)不同廠家生產(chǎn)的光敏印章新章各1枚共計(jì)6枚，分別編號(hào)為A～F，其中A、B、C印章的直徑是40 mm，D、E、F印章的直徑是42 mm。每枚印章各蓋印 了20 000次，選取第1、500、1000、1500、2000、2500、……、20 000次蓋印的樣本印文共計(jì)41枚對(duì)其直徑進(jìn)行測(cè)量。所有樣本印文均是在30 N恒定壓力條件下蓋印的。

1.3.2 不同蓋印壓力下光敏印章印文直徑的變化實(shí)驗(yàn)

該實(shí)驗(yàn)選擇了6個(gè)不同的廠家生產(chǎn)的光敏印章新章各1枚共計(jì)6枚，分別編號(hào)為a～f，其中a、b、c印章的直徑是40 mm，d、e、f印章的直徑是42 mm。每枚印章分別在10、20、30、40、50、60 N一共6個(gè)壓力值下分別蓋印10枚印文樣本，分別編號(hào)為1～10。

2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

2.1 恒定蓋印壓力下光敏印章印文直徑的變化

將上述6枚印章印文的直徑數(shù)據(jù)用originpro8.0軟件繪圖，獲得圖1。

圖1 A～F光敏印章不同蓋印次數(shù)下的印文直徑變化（a:A章; b:B章; c:C章; d:D章; e:E章; f:F章）Fig.1 Observation of diameters of different photosensitive seals’ (A-F) prints to vary with different stamping times (a: A; b: B; c: C; d: D; e: E; f: F)

根據(jù)圖示可以看出，以A章為例，從蓋印0次到兩萬次的直徑變化幅度非常小，直徑的最小值和最大值的區(qū)間范圍是[40.1743 mm，40.3437 mm]，所有數(shù)據(jù)的差值都控制在0.2 mm以內(nèi)。為了進(jìn)一步衡量印章印文直徑的變化幅度，可以計(jì)算一下印章印文的變形率。任何一個(gè)蓋印次數(shù)下印文的直徑都可以設(shè)為標(biāo)準(zhǔn)，筆者在此設(shè)定蓋印次數(shù)1000次時(shí)的樣本印文直徑40.3386 mm為比較的標(biāo)準(zhǔn)，其余40次的數(shù)據(jù)都與這個(gè)數(shù)據(jù)比較，計(jì)算出每個(gè)蓋印次數(shù)下印文的變形率，計(jì)算公式為：

變形率的正負(fù)代表了印章印文直徑與標(biāo)準(zhǔn)印文直徑相比變大還是變小，把A章變形率計(jì)算結(jié)果的正負(fù)數(shù)據(jù)取了絕對(duì)值之后，變形率的大小區(qū)間是[0.012 4%，0.407 4%]，所有蓋印次數(shù)下印文的變形率都沒有超過0.5%，可見本實(shí)驗(yàn)A章印文的直徑變化非常小。參照前文提到的《印章質(zhì)量規(guī)范與檢測(cè)方法》中的內(nèi)容，一枚印章使用兩年內(nèi)的印文變形率只要控制在±1%以內(nèi)就是一枚合格的印章，而實(shí)際使用中大多數(shù)印章兩年內(nèi)蓋印次數(shù)遠(yuǎn)不到兩萬次。

由圖示可以看出，6枚光敏印章反映的規(guī)律十分一致：同一枚光敏印章在恒定蓋印壓力下，其印文直徑變化非常小，任意兩個(gè)數(shù)據(jù)的差值都小于0.2 mm，呈總體趨平的上下波動(dòng)的折線。

2.2 不同蓋印壓力下光敏印章印文直徑的變化

分別把6枚光敏印章在不同壓力下的的印文直徑數(shù)據(jù)用originpro8.0軟件繪圖，獲圖2。

圖2 a～f章不同壓力蓋印下的印文直徑變化（a:a章; b:b章; c:c章; d:d章; e:e章; f:f章）Fig.2 The diameters of a～f seals’ prints to vary with different stamping pressures (a: a; b: b; c: c; d: d; e: e; f: f)

下面以d光敏印章的數(shù)據(jù)為例進(jìn)行分析，60個(gè)數(shù)據(jù)中只有42.672 0 mm和42.714 3 mm兩個(gè)數(shù)據(jù)稍大一些，其余的樣本印文的直徑變化都在0.4 mm的幅度內(nèi)，圖中每個(gè)壓力下蓋印的樣本印文的直徑變化是上下波動(dòng)但都趨于一直線，并且6條折線有很多重合的點(diǎn)，數(shù)值都十分接近，可以看出6個(gè)不同的壓力下該章蓋印的樣本印文的直徑大小總體變化都非常小，且無明顯規(guī)律。由圖示可以看出，6枚光敏印章反映的規(guī)律十分一致：同一枚光敏印章在6個(gè)不同蓋印壓力下，其印文直徑呈上下波動(dòng)狀，數(shù)值十分接近。

3 結(jié)論

在恒定蓋印壓力下，同一枚光敏印章印文直徑變化非常小，與蓋印次數(shù)之間沒有直接的相關(guān)性。在不同的蓋印壓力下，同一枚光敏印章印文的直徑總體變化也非常小，與蓋印壓力的變化不成正比。

［1］ 張?jiān)溃陆?關(guān)于光敏印章印文的可變性特征［J］.刑事技術(shù)，2010(3):42-45.

［2］ 劉敬杰.法庭科學(xué)之印章與印文鑒定［M］.北京：中國(guó)政法大學(xué)出版社，2015:90-91

［3］ 黃建同.文件檢驗(yàn)［M］.北京：中國(guó)人民公安大學(xué)出版社，2013:257-258.

［4］ 張心源.光敏印章印文鑒定研究［D］.上海：華東政法大學(xué)，2011.