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      基于點云的谷粒高通量表型信息自動提取技術(shù)

      2018-04-19 00:39:25鄭順義趙麗科
      農(nóng)業(yè)機械學(xué)報 2018年4期
      關(guān)鍵詞:谷粒表型投影

      黃 霞 鄭順義 桂 力 趙麗科 馬 浩

      (1.武漢大學(xué)遙感信息工程學(xué)院, 武漢 430079; 2.地球空間信息技術(shù)協(xié)同創(chuàng)新中心, 武漢 430079)

      0 引言

      表型組學(xué)[1]是近年來植物學(xué)研究的熱點,它是一門在基因組水平上系統(tǒng)研究某一生物或細(xì)胞在各種不同環(huán)境條件下所有表型的學(xué)科。表型指生物體個別或少數(shù)性狀以至全部性狀的表現(xiàn),基因型是指生物的全部遺傳物質(zhì)(基因)組成[2]。表型是基因的直接反映,基因是表型的內(nèi)因[3],通過研究作物的表型數(shù)據(jù),可以建立基因與表型之間的關(guān)聯(lián)分析(Genome wide association study,GWAS)[4],進(jìn)而通過基因篩選達(dá)到品種改良的目的[5]。水稻谷粒的形狀和長、寬、高、表面積以及體積等表型信息,對反映水稻的生長發(fā)育、生理生化以及遺傳等生命過程現(xiàn)象至關(guān)重要[6],也是建立谷粒離散元模型的基礎(chǔ)[7]。在水稻表型組學(xué)研究中,需要龐大的表型信息作為基礎(chǔ)數(shù)據(jù),因此,高通量自動獲取谷粒表型信息十分重要。

      傳統(tǒng)的谷粒表型信息主要是人工測量[8-9]。由于谷粒的尺寸較小,手工測量操作困難,極易出錯,且耗時長[10],測量的表型信息僅局限于谷粒的長和寬,不能測量更多的信息,不適合進(jìn)行大規(guī)模谷粒表型信息的采集。

      計算機視覺技術(shù)的飛速發(fā)展,使谷粒信息的自動測量成為了可能[11]。常見的基于圖像的谷粒信息測量的開源軟件有SmartGrain[12]、ImageJ[13]、CellProfiler[14]和P-TRAP[15]以及WinSeedle等商業(yè)軟件[16]。這些軟件都能實現(xiàn)谷粒表型信息的測量,但是需要對每一粒谷粒進(jìn)行一一量取,并不能實現(xiàn)谷粒表型信息的批量測量。因此,有學(xué)者基于手機圖像進(jìn)行谷粒信息的提取[17],實現(xiàn)了谷粒表型信息的自動和批量輸出。但是,在圖像上直接量取幾何信息是不準(zhǔn)確的,因為二維俯視圖是一個中心投影,離投影中心越遠(yuǎn),圖像變形越大。

      近年來3D技術(shù)日新月異,小目標(biāo)的三維測量也獲得了較高的精度[18-19],3D技術(shù)在種子測量方面也有了成功的應(yīng)用[20]。OGAWA等[21]利用3D技術(shù)獲取了稻谷的多個剖面影像,實現(xiàn)了谷粒的三維建模,但此方法僅適合單個谷粒的三維建模,不適合批量建模。青克樂其其格等[22]利用數(shù)字顯微攝影測量技術(shù)采集了稻谷的顯微圖像,基于多角度匹配技術(shù)實現(xiàn)了谷粒的三維重建,但此方法需要對單粒谷粒進(jìn)行多角度拍照,在數(shù)據(jù)獲取時耗時較長,且實驗設(shè)備昂貴。劉彩玲等[23]利用全自動高精度立體掃描儀CF-30獲取了500粒水稻種子的三維點云數(shù)據(jù),精度可達(dá)毫米級,但其長度、寬度及厚度等參數(shù)是用Geomagic Studio軟件逐一量取的,沒能實現(xiàn)谷粒表型信息的自動化提取和批量處理。

      當(dāng)前谷粒表型信息參數(shù)自動計算多采用圖像技術(shù),不能實現(xiàn)谷粒三維表面積和體積等參數(shù)的提取[22]。為增加表型參數(shù)的種類和數(shù)量,改進(jìn)谷粒表型參數(shù)提取的算法,本文提出一種基于軸對齊包圍盒(Axis-aligned bounding box,AABB)算法的長寬高測量方法,基于三角網(wǎng)格的表面積算法,帶符號投影的體積算法,基于凸包的剖面周長和面積的計算方法。

      綜上,為了實現(xiàn)谷粒表型信息批量和自動提取,增加谷粒表型信息的種類和數(shù)量,本文根據(jù)數(shù)字化考種、水稻種子建模和谷粒表型庫建設(shè)等農(nóng)業(yè)應(yīng)用實際需求,整合三維掃描技術(shù)、信息處理技術(shù)以及計算機視覺技術(shù)等,提出一種基于點云的谷粒高通量表型信息自動提取方法。該方法旨在批量、快速和自動地獲取谷粒的三維模型和40個表型參數(shù),以期為科學(xué)研究和生產(chǎn)應(yīng)用提供一種谷粒高通量表型信息自動提取方法。

      1 材料與方法

      1.1 數(shù)據(jù)獲取

      將100粒干粳稻隨意鋪撒在桌面上(避開標(biāo)志點),采用Handyscan 700型手持式激光掃描儀進(jìn)行掃描,獲得谷粒的三維點云數(shù)據(jù)。

      Handyscan 700型掃描儀的測量原理是三角測量法,是一種非接觸測量法,利用激光二極管發(fā)出激光,通過透鏡聚焦投射到目標(biāo)上,反射或漫射后的激光按照一定的三角關(guān)系成像,從而獲取目標(biāo)的空間位置信息[24]。Handyscan 700型掃描儀共有7束交叉激光線,精度為0.030 mm。在掃描谷粒的同時,其附帶的VXelements軟件可實時顯示谷粒的三維數(shù)據(jù)采集情況。

      圖1為100粒谷粒和單個谷粒的掃描數(shù)據(jù),從形態(tài)上可以看出組成谷粒的點云均勻分布,谷粒的三維形態(tài)逼真。

      圖1 谷粒點云數(shù)據(jù)Fig.1 Cloud point data of grain

      1.2 方法

      本文的谷粒表型信息提取方法主要分為3部分:谷粒數(shù)據(jù)預(yù)處理,即點云分類,將組成單個谷粒的點云單獨分為一類;三維重建,獲取谷粒的三維模型;表型信息提取,實現(xiàn)谷粒40個表型參數(shù)的自動提取。

      1.2.1分類

      對谷粒的原始點云數(shù)據(jù)進(jìn)行平面與谷粒的分離。平面上的點采用最小二乘法進(jìn)行平面擬合,平面和每個點到平面的距離分別為

      Ax+By+Cz+D=0

      (1)

      (2)

      式中A、B、C——平面方程的系數(shù)

      D——常數(shù)

      xi、yi、zi——i點的坐標(biāo)值

      如果d(i)大于給定的閾值T(T取2倍點云密度),則i點為谷粒的點,如圖2a中紅色的點;如果d(i)小于給定的閾值T,則i點為平面的點,如圖2a中灰色的點。

      實現(xiàn)谷粒點的提取后,如圖2b所示,采用基于歐氏距離的最短聚類分析方法對谷粒進(jìn)行分類。基本原理是:假設(shè)總共有n個樣本,第1步,將每個樣本單獨聚成一類,共有n類;第2步,根據(jù)確定樣本的距離(本文采用歐氏距離)公式,把距離較近的2個樣本聚合成一類,其他樣本為另一類,共有n-1類;第3步,按照第2步將樣本聚成n-2類,依次循環(huán),直到類間距離達(dá)到給定的閾值,如圖2c所示。

      基于歐氏距離的最短聚類結(jié)果一般會出現(xiàn)過分類的現(xiàn)象,如圖2d所示,有單獨的孤點自成一類或者幾個飛點聚集成一類。則需要對這類點進(jìn)行處理。計算每類樣本點的個數(shù)Ni和平均每類樣本的個數(shù)N0,如果Ni小于閾值Tn0(Tn0=0.5N0),則判定此類點為飛點,直接刪除,結(jié)果如圖2e所示。

      在實際鋪撒谷粒時,往往會出現(xiàn)有谷粒重疊或者粘連在一起的情況,且由于其重疊的隨意性,導(dǎo)致其在幾何上沒有規(guī)律可循。對于這樣的谷粒,本文在計算谷粒表型信息時,直接剔除。判定方法為:Ni大于Tn1(1.5N0),則判定該目標(biāo)不止一個谷粒,為相連的多個谷粒,直接刪除該類點。如圖2e所示,紫色的點為2粒粘在一起的谷粒,圖2f為刪除粘連谷粒點云后的結(jié)果,每一類點云就是一粒谷粒,點云的分類個數(shù)就是谷粒的個數(shù)。

      圖2 谷粒點云分類Fig.2 Classifications of grain cloud point

      1.2.2三維重建

      要獲取谷粒的表面積、體積等信息,需要進(jìn)行三維重建。根據(jù)谷粒的三維特征可知,谷粒是一個較為簡單的凸幾何體,則采用柱面擬合的方式構(gòu)建谷粒的曲面。

      采用最近鄰域法得到點的鄰域(k=15),由點的鄰域集計算擬合平面。定義鄰域k范圍內(nèi)點云的協(xié)方差矩陣

      (3)

      式中n1——某鄰域內(nèi)點的個數(shù)

      pi——某鄰域內(nèi)i點的坐標(biāo)

      pi0——某鄰域內(nèi)點云的質(zhì)心坐標(biāo)

      式(3)中矩陣M為質(zhì)量分布矩陣,此矩陣為對稱矩陣,亦為半正定矩陣,其對應(yīng)的最小特征值的特征向量nj為擬合平面的法向量。進(jìn)一步構(gòu)建鄰域點集的法矢方差矩陣

      (4)

      式中n2——法向量的個數(shù)

      求得該矩陣的3個特征值λ1、λ2、λ3(λ1≤λ2≤λ3),歸一化后為tk=λk/(λ1+λ2+λ3)(k=1,2,3)。則2個較小的特征值對應(yīng)2個主曲率,相應(yīng)的特征向量為主曲率對應(yīng)的方向。

      其較小的特征值對應(yīng)的曲率方向作為柱面的母線方向,將鄰域點集投影到法矢方差矩陣的另2個特征值對應(yīng)的方向上,再將投影得到的平面點集擬合為一條圓錐曲線。平面點的坐標(biāo)記為(x1,x2),一般的圓錐曲線方程

      (5)

      式中a1~a5——方程系數(shù)a6——常數(shù)

      (6)

      式中Si——i點局部鄰域點集

      1.2.3參數(shù)計算

      1.2.3.1基本參數(shù)

      (1)AABB包圍盒法提取長寬高參數(shù)

      掃描儀自帶的參考坐標(biāo)系和信息提取的全局坐標(biāo)系往往是不一致的。為簡化谷粒表型信息計算,構(gòu)建AABB包圍盒[25],實現(xiàn)表型信息的批量提取,本文先對谷粒進(jìn)行坐標(biāo)轉(zhuǎn)換,使在全局坐標(biāo)系下任意方向的谷粒有統(tǒng)一的三軸(X軸、Y軸和Z軸)方向。校正后的谷粒在全局坐標(biāo)系統(tǒng)的姿態(tài)為:谷粒的幾何中心為原點,主對稱面(谷粒長軸與短軸構(gòu)成的平面)平行于XOY平面,長軸為X軸,短軸為Y軸,Z軸遵循右手坐標(biāo)法則。如圖3所示,左圖為坐標(biāo)轉(zhuǎn)換前的谷粒,右圖為經(jīng)坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)后的谷粒。

      圖3 坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)Fig.3 Coordinate rotation

      分析算法進(jìn)行坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)。根據(jù)谷粒的幾何特性,本文采用谷粒的長軸、短軸及高作為谷粒幾何分布的第一、二、三主成分量。坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)公式為

      (7)

      式中(x0,y0,z0)——原始坐標(biāo)

      (x,y,z)——全局坐標(biāo)

      R——旋轉(zhuǎn)矩陣

      按照式(3)構(gòu)建所有谷粒三維點的協(xié)方差矩陣,求得該矩陣的3個特征向量構(gòu)成的矩陣即為所求的旋轉(zhuǎn)矩陣

      R=[r1r2r3]

      (8)

      式中r1、r2、r3——谷粒點云協(xié)方差矩陣的特征值對應(yīng)的特征向量

      根據(jù)旋轉(zhuǎn)矩陣R,可實現(xiàn)任意坐標(biāo)系下的谷粒在全局坐標(biāo)系中有統(tǒng)一的測量姿態(tài)。此時,求出谷粒三軸的最大最小坐標(biāo)即可得到AABB包圍盒的8個角點,進(jìn)而構(gòu)建AABB包圍盒。

      構(gòu)建谷粒包圍盒后,可知一個谷粒的AABB包圍盒就是一個簡單的六面體,每一邊都平行于一個坐標(biāo)平面,谷粒在這個矩形邊界框內(nèi),則測出邊界框的三邊長度即為谷粒的長、寬、高。如圖3中的l、b、h即為谷粒的長、寬、高。

      (2)三角面求和計算表面積

      谷粒的三維表面積可看作三角網(wǎng)格模型的總表面積S,即所有構(gòu)網(wǎng)的三角形面積之和。

      (9)

      式中k——三角形面的總數(shù)

      si——第i個三角形面的面積

      (3)帶符號投影的凸五面體法求體積

      谷粒的三維模型是三角網(wǎng)格圍成的封閉空間,其體積V為所有帶符號三角形面的投影體積之和。

      (10)

      式中N——正負(fù)號的判定符號,取值為0或1

      Vi——第i個三角形面的投影體積

      N是體積的符號判定,0和1分別為該三角形的法向量背向和指向投影平面。設(shè)定一個與網(wǎng)格模型中所有三角形面均不相交的投影平面,投影體積為三角形面與投影平面圍成的凸五面體的體積。如圖4所示,A、B、C為三角形的3個頂點,A0、B0、C0為A、B、C在投影平面上的投影頂點,將此凸五面體剖分為3個四面體,凸五面體ABCA0B0C0體積計算公式為

      Vi=V(A0ACB)+V(A0BCC0)+
      V(A0BC0B0)

      (11)

      圖4 凸五面體Fig.4 Convex pentahedron

      對于任意的四面體,若4個頂點的三維坐標(biāo)分別為(x1,y1,z1)、(x2,y2,z2)、(x3,y3,z3)和(x4,y4,z4),則其體積計算公式為

      (12)

      因此,確定此三角網(wǎng)格模型體積的關(guān)鍵問題在于確定各三角形面投影體積的符號。如圖4所示,△ABC的頂點按A、B、C依次存儲,按照右手坐標(biāo)系法則,法向量方向背向投影面,則該三角形面的投影體積為正,若△ABC的頂點按A、C、B依次存儲,則該三角形面的投影體積為負(fù)。

      (4)凸包法求剖面周長與剖面面積

      本文基于凸包法,計算谷粒的剖面周長(C)和剖面面積(A)。本文計算谷粒的3個主要剖面,即谷粒幾何形狀第一、二、三主成分分量構(gòu)成的橫剖面、縱剖面以及水平剖面。以水平剖面為例,先截取質(zhì)心δ(δ為2倍點云密度)鄰域的點集,通過正投影直接把三維點云轉(zhuǎn)換為二維數(shù)據(jù),如圖5a所示,綠色的點為組成谷粒的平面投影點,對其用凸包法進(jìn)行排序,算法如下:

      (1)以X軸為主序,Y軸為副序?qū)c從左到右進(jìn)行升序排列。

      (2)使用逐點插入法尋找包圍盒:以升序方式從左到右逐步插入上凸包點,再以逆序方式從右到左逐步插入下凸包點,凸點的判斷條件為凸點總是位于上一條邊的右側(cè)。

      (3)連接所有的凸包點(圖5a中紅色的點),藍(lán)色曲線為所求的周長曲線,剖面的周長計算公式為

      (13)

      式中m——凸包點的數(shù)目

      剖面面積為所有凸包點與中心點構(gòu)成的三角形面積總和(圖5b),計算公式為

      (14)

      式中ai——第i個剖面三角形的面積

      本文的基本參數(shù)有11個,見表1中參數(shù)1~11。其中,包圍盒體積V_AABB=lbh。

      圖5 剖面周長和面積Fig.5 Perimeter and area of a profile

      1.2.3.2衍生參數(shù)和形狀因子

      本文衍生參數(shù)11個(表1中參數(shù)12~22)。

      傳統(tǒng)谷粒形狀描述因子為水平剖面的5個形狀因子和1個緊湊度指數(shù)[26],本文計算3個主成分剖面(水平剖面xy、縱剖面xz和橫剖面yz)對應(yīng)的形狀因子和緊湊度指數(shù)共計18個參數(shù),見表1中參數(shù)23~40。形狀因子(f1~f5)和緊湊度指數(shù)(c)計算公式為

      (15)

      (16)

      (17)

      (18)

      (19)

      (20)

      式中l(wèi)p——剖面的長w——剖面的寬

      表1 40個表型參數(shù)Tab.1 40 phenotypic parameters

      2 實驗與分析

      在實際考種中,對谷粒表型信息的測量通常選用15~30粒種子[27],本文選用100粒水稻谷粒進(jìn)行谷粒高通量表型信息自動提取實驗。經(jīng)分類后,除去4粒粘連在一起的谷粒,本文實現(xiàn)了對96粒谷粒的三維建模和40個表型參數(shù)的提取。

      2.1 實驗結(jié)果與谷粒形態(tài)分析

      圖6為谷粒的三維模型。圖6a為96粒谷粒的三維模型,圖6b為單粒谷粒的三維模型,從圖中可以看出,本文所構(gòu)建的谷粒三維模型仿真度較高。

      表2~4分別是谷粒表型信息的基本參數(shù)、衍生參數(shù)及形狀因子的最大值、最小值和均值。如表2所示,谷粒的表面積、長、寬、水平剖面面積和周長的值差異較小,體積、高、橫縱剖面面積和周長的值差異較大。

      圖6 谷粒三維模型Fig.6 3D models of grain

      表2 基本參數(shù)Tab.2 Primary parameters

      表3 衍生參數(shù)Tab.3 Derived parameters

      表4 3個主成分剖面的形狀因子Tab.4 Shape factors of three principal component profiles

      研究發(fā)現(xiàn),體積、高、橫縱剖面面積和周長的值較小均為癟粒,而這些參數(shù)直接與谷粒的高度信息有關(guān),因此,谷粒的高度信息可用于區(qū)分谷粒實粒和癟粒,在一定程度上能直接反映谷粒的灌漿程度。如表3和表4所示,谷粒的衍生參數(shù)和形狀因子的差異均不大,反映了谷粒表型信息的細(xì)節(jié)差異,例如,相同長寬的谷粒的衍生參數(shù)和形狀因子卻不一定相同。

      2.2 基于主成分分析的參數(shù)權(quán)重分析

      本文提取的40個參數(shù)很好地定量描述了谷粒的幾何形態(tài),可用于逆向工程谷粒建模[23,28]。本文利用主成分分析法對谷粒表型參數(shù)的權(quán)重進(jìn)行分析,建立谷粒形狀模型[29]。

      利用SPSS軟件對40個參數(shù)進(jìn)行主成分分析,獲得6個主成分,累積貢獻(xiàn)率為93.356%,滿足主成分分析特征向量累積達(dá)到85%的要求。由SPSS軟件可得到各主成分特征值、主成分貢獻(xiàn)率和主成分載荷矩陣。以主成分的方差貢獻(xiàn)率為權(quán)重,建立谷粒形狀綜合得分模型

      Y=0.096 5X1+0.063 6X2+0.099 1X3+
      0.118 6X4+0.010 4X5+0.146 3X6+
      0.129 8X7+0.085 0X8+0.097 5X9+
      0.128 3X10+0.131X11+0.040 2X12+
      0.011 8X13+0.023 9X14+0.064 4X15+
      0.023 5X16+0.059 3X17+0.024 1X18+
      0.044 5X19+0.070 4X20+0.060 1X21+
      0.094 6X22-0.060 3X23+0.060 1X24-
      0.134 1X25-0.023 2X26+0.045 9X27+
      0.007X28+0.064 5X29-0.068 4X30-
      0.010 5X31-0.078 7X32-0.065 9X33-
      0.006 4X34+0.112 3X35-0.112 2X36-
      0.047 2X37-0.101 2X38-0.078 4X39+
      0.001 2X40

      (21)

      式中Y——谷粒形狀綜合得分

      X1~X40——表1中對應(yīng)的40個表型參數(shù)

      由該模型可知谷粒參數(shù)權(quán)重分布,如圖7所示。

      圖7是本文提取的表1中40個表型參數(shù)的權(quán)重圖。從圖7可知,絕對值大于平均權(quán)重(1/40×100%=2.5%)的參數(shù)有表面積、體積與長等30個參數(shù),小于平均權(quán)重的有長高比、寬高比和水平剖面形狀因子等10個參數(shù)。

      圖7 谷粒表型參數(shù)權(quán)重Fig.7 Weight of grain phenotypic parameter

      2.3 精度與效率分析

      為了驗證算法的測量精度,本文利用精度為0.01 mm的游標(biāo)卡尺,測量96粒谷粒(除去粘連的4粒谷粒)的長、寬和高作為直線參數(shù)精度評價的參考值(真值),考慮到人為測量誤差,實測值取3次人工測量的均值;表面積、體積和剖面積的參考值由Geomagic Studio逐一量取,由于Geomagic Studio沒有直接計算周長的功能,本文的周長不做精度評價分析。

      圖8是谷粒表型測量值與參考值的誤差分析。從圖8可以看出,谷粒的體積和表面積參數(shù)與Geomagic Studio測量值相同。長、寬和高的最小絕對誤差均為0 mm,最小相對誤差均為零,最大絕對誤差依次為0.20、0.10、0.07 mm,最大相對誤差為2.63%、2.59%和2.89%。長、寬和高的平均絕對誤差為0.08、0.04、0.04 mm,平均相對誤差為1.14%、1.15%和1.62%。3個剖面面積與Geomagic Studio測量值的平均絕對誤差分別為0.62、0.44、0.19 mm2,最大絕對誤差為1.1、0.91、0.81 mm2,最小絕對誤差為0.11、0.08、0.06 mm2。3個剖面面積與Geomagic Studio測量值的平均相對誤差分別是1.82%、2.12%和2.43%,最大相對誤差為3.64%、3.71%和3.92%,最小相對誤差為0.14%、0.25%和0.29%。一般表型測量的精度要求是5%[17,30],可以看出,在精度上,本文提出的方法可以滿足應(yīng)用需求。

      圖8 谷粒表型測量值與參考值的誤差分析Fig.8 Error analysis of measured and reference phenotypic values of grain

      表5是本文方法與其他方法的精度對比,實驗對象都為粳稻,但品種略有不同。方法1[30]是2011年DUAN基于圖像對谷粒的長和寬進(jìn)行測量,方法2[17]是2016年MA等基于手機圖像進(jìn)行的谷粒的長寬測量。這兩種方法和本文的真值均是用游標(biāo)卡尺的測量值進(jìn)行檢測的。

      表5 本文方法與其他方法的精度對比Tab.5 Accuracy comparison between proposed method and two state-of-the-art methods

      從表5可以看出,本文方法的精度均不低于另外2種方法。且本文可以測量出由這2種方法不能測量的谷粒表面積、體積、剖面周長和剖面面積等其他表型參數(shù)。

      本次實驗的數(shù)據(jù)采集從鋪撒到三維數(shù)據(jù)采集完成,共計約160 s。數(shù)據(jù)分析和處理是在華碩臺式計算機(2.50 GHz,8.0 GB RAM)上完成,算法實現(xiàn)平臺為Microsoft Visual Studio 2010,共耗時98.497 s。包括數(shù)據(jù)采集和信息提取,平均2.69 s完成1粒谷粒的測量,耗時大大少于人工測量,可用于大規(guī)模數(shù)據(jù)采集和分析。

      3 結(jié)論

      (1)批量實現(xiàn)谷粒的三維建模和提取上百粒谷粒各40個表型參數(shù),表型信息提取不需要人工干預(yù),不需要人工設(shè)置參數(shù)。

      (2)以手工實測值和軟件測量值為真值,本文方法所提取的長、寬、高和3個主成分剖面面積的平均相對誤差在2.43%以內(nèi)。與相關(guān)文獻(xiàn)方法相比,精度略高且表型信息種類更豐富。

      (3)所提取的40個參數(shù)可建立谷粒形狀綜合得分模型。包括數(shù)據(jù)采集和信息提取,平均2.69 s完成單粒谷粒40個表型參數(shù)的測量。

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