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    一種用于逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器的時域比較器

    2018-03-21 01:39:27岑遠(yuǎn)軍伍鈺涵
    實驗科學(xué)與技術(shù) 2018年1期
    關(guān)鍵詞:單端觸發(fā)器低電平

    岑遠(yuǎn)軍,伍鈺涵,樊 華

    (1.成都華微電子科技有限公司,四川 成都 610041;2.成都市第七中學(xué)高新校區(qū),四川 成都 610041;3.電子科技大學(xué) 電子科學(xué)與工程學(xué)院,四川 成都 610054 )

    隨著便攜式醫(yī)學(xué)儀器、通信產(chǎn)業(yè)、安防安檢系統(tǒng)、高性能計算、生物醫(yī)學(xué)、數(shù)字信號處理等技術(shù)的不斷發(fā)展,對模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的要求也在不斷提高,推動著ADC 向高速、高精度和低功耗的方向發(fā)展。

    ADC一般分為全并行模數(shù)轉(zhuǎn)換器(flash ADC)、流水線模數(shù)轉(zhuǎn)換器(pipeline ADC)、過采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換器(∑Δ ADC)以及逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器(SAR ADC)。品質(zhì)因數(shù)(FOM)表示ADC 每步轉(zhuǎn)換需要的能量,是衡量ADC設(shè)計水平的重要指標(biāo)。國外針對高精度ADC的研發(fā)較早,投入的人力、物力較大,眾多歐美的高校和科研機(jī)構(gòu)都開始研發(fā)高精度的ADC芯片。近年來,國內(nèi)也開始對ADC進(jìn)行了大量深入的研究,ADC已成為近年來國內(nèi)外的研究熱點[1-8]。

    1 逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器基本原理

    逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器的基本結(jié)構(gòu)如圖1所示,由采樣保持、數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC、比較器和數(shù)字控制四個模塊構(gòu)成,所以面積小、功耗低。比較器是逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器中唯一的模擬元件,所以逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器是所有模數(shù)轉(zhuǎn)換器中模擬元件最少、數(shù)字化程度最高、隨工藝進(jìn)步占優(yōu)勢最明顯的模數(shù)轉(zhuǎn)換器。

    圖1 逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器基本結(jié)構(gòu)

    圖2 二進(jìn)制搜索算法

    逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器中唯一的模擬元件是比較器,傳統(tǒng)的比較器一般由多級前置預(yù)放大器與鎖存器組成,如圖3所示,也是逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器中唯一消耗靜態(tài)電流的模塊。如果將這唯一的模擬元件變?yōu)閿?shù)字元件,則整個逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)入數(shù)字域。數(shù)字化的時域比較器[9]順應(yīng)了工藝進(jìn)步的需求,取代了模擬的電壓比較器,因此,時間域逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器全部由數(shù)字電路構(gòu)成,能更好地利用工藝進(jìn)步帶來的優(yōu)勢,從工藝的不斷進(jìn)步中獲益。

    圖3 傳統(tǒng)的電壓比較器

    2 時間域逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器基本原理

    隨著CMOS工藝器件尺寸、電壓余度和晶體管的本征增益的不斷減小,很多原有的模擬電路單元也許不再適用,因此需要設(shè)計適應(yīng)CMOS工藝進(jìn)步的新電路模塊[10]。但是隨著工藝進(jìn)步,晶體管速度越來越快,而電源電壓越來越低,意味著時間精度隨工藝進(jìn)步不斷提高,而電壓精度卻不斷降低,因此,時間信號處理作為一種新的信號處理方式不斷興起,為突破原有的模擬電路技術(shù)瓶頸帶來了希望。如圖4所示,體現(xiàn)了時間域逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器的基本思想。因為模數(shù)轉(zhuǎn)換器需要處理的是電壓信號,所以首先利用電壓-時間轉(zhuǎn)換器將輸入電壓信號VINP和VINN轉(zhuǎn)換為時間信號Ф1和Ф2,時間-數(shù)字轉(zhuǎn)換器根據(jù)Ф1和Ф2的時間間隔ΔT輸出相應(yīng)的數(shù)字信號[11]。

    電壓-時間轉(zhuǎn)換器一般是將輸入信號V(t)首先轉(zhuǎn)換為電壓控制的電流信號I(t),再將電流信號I(t)轉(zhuǎn)換為時間脈沖,如圖5所示。當(dāng)TCLK為低電平時,電容C1通過M5被充電至電源電壓VDD,輸出端TOUT輸出低電平。當(dāng)TCLK從低電平變?yōu)楦唠娖綍r,NMOS管M4導(dǎo)通,電容C1通過M4放電,電容C1上的電壓VC1開始下降,下降至M2、M3組成的反相器的閾值電壓Vth,INV時,反相器輸出發(fā)生翻轉(zhuǎn),輸出端VOUT由低電平變?yōu)楦唠娖?,產(chǎn)生脈沖輸出,其傳輸特性如圖6所示。

    圖4 時間模式信號處理

    圖5 電壓-時間轉(zhuǎn)換器

    圖6 電壓-時間轉(zhuǎn)換器輸入、輸出特性曲線

    3 高速數(shù)字化的時域比較器

    如圖7所示,是Agnes發(fā)明的時域比較器[9]。TCLK為時鐘信號,VIN和VB為輸入電壓,VOUT為比較器的輸出電壓。 Agnes采用一個簡單的負(fù)邊沿觸發(fā)的觸發(fā)器來完成時間信號到數(shù)字信號的轉(zhuǎn)換。如圖8所示,當(dāng)時鐘信號TCLK為低電平時,VOUTP和VOUTN均重置,輸出高電平。當(dāng)時鐘信號TCLK從低電平變?yōu)楦唠娖綍r,電容C1和C2開始放電,放電電流與輸入電壓VIN和VB的大小有關(guān)。VOUTN作為觸發(fā)器的時鐘,當(dāng)VOUTN下降至觸發(fā)器的觸發(fā)電平時,觸發(fā)器輸出判決結(jié)果。若VIN>VB,則VOUTP下降速度比VOUTN快,觸發(fā)器輸出低電平;反之,若VIN< VB,則VOUTP下降速度慢,觸發(fā)器輸出高電平。

    Agnes發(fā)明的時域比較器采用觸發(fā)器作為時間-數(shù)字轉(zhuǎn)換器來判斷兩個脈沖之間的快慢雖然簡單,其缺點在于,只能用于單端逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器,不能用于差分逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器。此外,該時域比較器的另一缺陷在于,該時域比較器依靠電容充放電將輸入電壓差轉(zhuǎn)換成時間差,再在時間域進(jìn)行比較,使得ADC最高采樣率只有100 kS/s,只能用于低速的逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器中。

    圖7 Agnes發(fā)明的時域比較器

    圖8 Agnes發(fā)明的時間-數(shù)字轉(zhuǎn)換器輸入輸出波形

    本文提出一種基于電壓控制延遲單元的高速時域比較器,能用于高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器中,并且該時域比較器既適用于單端逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器,也適用于全差分逐次逼近模數(shù)轉(zhuǎn)換器。

    如圖9所示,是本文提出的高精度數(shù)字化的時域比較器,它由電壓-時間轉(zhuǎn)換器和時間-數(shù)字轉(zhuǎn)換器兩部分構(gòu)成,其中,電壓-時間轉(zhuǎn)換器由若干級電流限制的反相器串聯(lián)構(gòu)成。在復(fù)位模式時,時鐘信號TCLK為低電平,電壓-時間轉(zhuǎn)換器的輸出VTIP和VTIN重置為低電平。在比較模式,時鐘信號TCLK為高電平,VTIP和VTIN也從低電平變?yōu)楦唠娖?,它們從低電平變?yōu)楦唠娖降乃俣扰c輸入電壓VINP和VINN的大小有關(guān),輸入電壓越大,VTIP和VTIN從低電平變?yōu)楦唠娖降臅r間越短,時間-數(shù)字轉(zhuǎn)換器[12]根據(jù)VTIP和VTIN從低電平變?yōu)楦唠娖降臅r間差輸出判決結(jié)果。假設(shè)VINP大于VINN,比較器輸出VOUTP為高電平,VOUTN為低電平;反之,若VINP小于VINN,比較器輸出VOUTN為高電平,VOUTP為低電平。

    (a) 電壓-時間轉(zhuǎn)換器

    (b) 時間-數(shù)字轉(zhuǎn)換器

    圖9 基于電壓控制延遲單元(VCDL)的比較器

    HJTC 0.18 μm工藝仿真結(jié)果表明,本文提出的基于電壓控制延遲線的時域比較器的分辨率為5 mV,最高工作速度可達(dá)到200 MHz,輸入電壓范圍為-1~1 V,本文提出的比較器與Agnes 提出的比較器的性能對比如表1所示,可知本文提出的比較器在工作速度、精度和電壓輸入范圍方面都優(yōu)于傳統(tǒng)Agnes 提出的比較器。

    表1比較器性能對比

    Agnes比較器本文提出的比較器工藝(μm)0.180.18單端/差分單端單端、差分最高工作速度/MHz5200分辨率/μV1005輸入信號范圍/V0~1-1~1

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