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    基于Sentaurus Device的4H—SiC PiN二極管的仿真

    2014-12-25 08:58:37孫佳哲王磊
    電腦知識與技術 2014年33期
    關鍵詞:空穴二極管電流密度

    孫佳哲 王磊

    摘要:該文通過4H-SiC PiN二極管的模擬,給4H-SiC PiN二極管加了一個5V電壓,在室溫T=300K的情況下分析了4H-SiC PiN二極管的直流特性和溫度特性,從而介紹了Synopsys Inc.開發(fā)的新一代的器件物理特性仿真工具Sentaurus Device的一些仿真功能。

    關鍵詞:4H-SiC PiN二極管;Si;SenTaurus Device

    中圖分類號:TP31 文獻標識碼:A 文章編號:1009-3044(2014)33-8034-04

    電子電流密度要大于空穴電流密度。當溫度在300K-450K的時候電流密度是隨著溫度的增加而增加,在T=450K附近的時候電流密度達到了最大值,當溫度在450K-600K的時候電流密度隨著溫度增加而減小。

    3 總結

    利用器件模擬軟件Sentaurus Device對4H-SiC PiN 二極管的直流特性進行模擬。通過模擬 4H-SiC PiN 二極管的直流正向 I-V 特性、開關特性,載流子密度等特性。器件的導通電壓為2.6V 左右,同時漂移區(qū)少子濃度(空穴)增至5e+17[cm-3]比漂移區(qū)摻雜濃度1e+15[cm-3]高出倆個數(shù)量級。通過模擬發(fā)現(xiàn) 4H-SiC PiN 二極管的正向導通電壓隨著溫度的升高而逐漸減小。

    參考文獻:

    [1] B.Jayant Baliga. Fundamentals of Power Semiconductor Devices[J].Springer 2008.

    [2] Michael Shur, Sergey Rumyantsev, Michael Levinshtein. SiC Materials and Devices[M].Publishing House of Electronics Industry,2012.

    [3] B.J.Baliga.Power Semiconductor Devices[M].PWS Publishing Co,1996.

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