姜?jiǎng)購(gòu)?qiáng),譚援強(qiáng),張高峰,彭銳濤
(湘潭大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院,湘潭411105)
陶瓷材料由于具有優(yōu)良的力學(xué)性能而被廣泛應(yīng)用于航天、航空、發(fā)動(dòng)機(jī)、機(jī)械電子等領(lǐng)域。以碳化硅(SiC)陶瓷為例,因其具有優(yōu)良的高溫力學(xué)性能以及較低的熱膨脹系數(shù)、較高的熱導(dǎo)率以及密度小等優(yōu)點(diǎn),而被廣泛用于制造火箭發(fā)動(dòng)機(jī)燃燒室內(nèi)壁、噴嘴及鼻錐等重要零件[1-2]。從文獻(xiàn)報(bào)道可知[3-5],近年來(lái)諸多研究人員針對(duì)陶瓷等結(jié)構(gòu)材料的高溫力學(xué)性能進(jìn)行了大量試驗(yàn),雖然獲得了比較可靠的力學(xué)性能參數(shù),但試驗(yàn)周期長(zhǎng),需要消耗大量的人力、物力和財(cái)力,且對(duì)于具有復(fù)雜形狀的陶瓷結(jié)構(gòu)件來(lái)說(shuō),受試驗(yàn)條件限制,難以獲得其力學(xué)性能參數(shù)及高溫破壞機(jī)理。
隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)及數(shù)值分析技術(shù)等的飛速發(fā)展,采用數(shù)值模擬的手段來(lái)研究陶瓷材料在不同溫度下力學(xué)性能的方法得到了廣泛應(yīng)用。朱偉等[6]采用分子動(dòng)力學(xué)法模擬了不同溫度下RDX(三亞甲基三硝胺)晶體的力學(xué)性能,王超等[7]采用分子動(dòng)力學(xué)法模擬了防熱陶瓷材料的高溫力學(xué)性能及斷裂模式。
1971年,Cundall[8]首次提出了適用于巖石力學(xué)的離散元法(DEM),目前該方法已在巖石[9]、混凝土[10]和陶瓷[11-13]等材料中得到了廣泛應(yīng)用。離散元法起源于分子動(dòng)力學(xué),將材料視為離散顆粒的集合體,顆粒之間用鍵連接,用鍵的斷裂來(lái)描述微裂紋的產(chǎn)生,而且模擬過(guò)程中溫度具有可控性,從而使離散元法成為模擬陶瓷等脆性材料高溫力學(xué)性能及高溫?fù)p傷破壞過(guò)程的一種新手段。
作者基于離散元法建立并校準(zhǔn)了碳化硅陶瓷常溫下的力學(xué)性能,并建立了對(duì)塊體材料離散化的熱力學(xué)模型,將其引入單軸壓縮及三點(diǎn)彎曲等試驗(yàn)來(lái)模擬碳化硅陶瓷在不同溫度下的力學(xué)響應(yīng),并動(dòng)態(tài)地觀察其損傷破壞過(guò)程。
離散元中顆粒與顆粒之間的相互作用力由位移重疊量及相應(yīng)的力-位移準(zhǔn)則來(lái)確定,顆粒在任意時(shí)步內(nèi)的運(yùn)動(dòng)滿足牛頓第二定律。離散元法將裂紋的生成與擴(kuò)展看成是顆粒與顆粒之間連接鍵的斷裂,能直觀地處理裂紋的形成與擴(kuò)展過(guò)程,如圖1所示。
圖1 離散元模型中的裂紋Fig.1 Cracks in DEM model
為了建立與碳化硅陶瓷微觀結(jié)構(gòu)及力學(xué)行為相似的離散元模型,采用PFC2D[14]軟件生成一個(gè)顆粒隨機(jī)分布且緊密排列的顆粒粘結(jié)(BPM)模型,顆粒之間采用平行鍵連接。眾所周知,陶瓷材料屬于典型的非勻質(zhì)體,晶粒尺寸大小不一,且含有隨機(jī)分布的氣孔和雜質(zhì)。為了使離散元模型和實(shí)際材料在微觀角度上相似,采用不同尺寸的顆粒來(lái)描述晶粒(最大半徑與最小半徑之比為1.5),并使整個(gè)模型的孔隙率與材料的孔隙率相符。除此之外,為了使所建立的離散元模型與實(shí)際材料的力學(xué)性能(如彈性模量、抗壓強(qiáng)度、泊松比等)相匹配,需要對(duì)離散元模型中的參數(shù)(如顆粒剛度、顆粒之間的摩擦、顆粒之間的鍵強(qiáng)度等)進(jìn)行反復(fù)調(diào)試和設(shè)置。目前,這些微觀參數(shù)很難通過(guò)試驗(yàn)的方法來(lái)測(cè)試,將陶瓷材料的宏觀力學(xué)性能與微觀參數(shù)相匹配的方法也還在繼續(xù)探索中。因此,采用數(shù)字試驗(yàn)校準(zhǔn)的方法對(duì)離散元模型進(jìn)行不同的試驗(yàn)?zāi)M,以校準(zhǔn)模型中的微觀參數(shù)。采用單軸壓縮、三點(diǎn)彎曲、單邊切口梁等試驗(yàn)來(lái)校準(zhǔn)所建立的碳化硅離散元模型[12],結(jié)果如表1所示。前述力學(xué)性能試驗(yàn)過(guò)程中的碳化硅陶瓷通過(guò)真空反應(yīng)燒結(jié)工藝制備(碳化硅微粉粒徑8~10μm,反應(yīng)燒結(jié)溫度1 700℃),燒結(jié)成型后的材料中含約10%(質(zhì)量分?jǐn)?shù))的游離硅,其余為碳化硅。
表1 碳化硅陶瓷離散元模擬與實(shí)測(cè)主要力學(xué)性能Tab.1 Main mechanical properties of SiC ceramic in experiment and in DEM simulation
在PFC2D 中,采用含有熱存儲(chǔ)器(與顆粒相關(guān))和熱管(與鍵相關(guān))的微觀結(jié)構(gòu)模型來(lái)模擬溫度場(chǎng),熱量在通過(guò)熱存儲(chǔ)器之間的激活熱管中傳遞,如圖2所示。熱管與顆粒之間的接觸同時(shí)存在,但只有在兩個(gè)顆粒之間有重疊或者有連接鍵存在時(shí),熱管才是激活的。如果構(gòu)成材料的微觀模型在加載過(guò)程中有連接鍵產(chǎn)生或者斷裂,都將改變激活熱管的數(shù)量,從而改變材料的導(dǎo)熱能力。
圖2 PFC2D中顆粒、熱存儲(chǔ)器和熱管的示意Fig.2 Abridged general view of particles,thermal reservoirs and heat pipes in PFC2D
對(duì)于連續(xù)體而言,假定物體應(yīng)變的改變不會(huì)產(chǎn)生溫度的變化,則其熱傳導(dǎo)方程為
式中:qi為沿坐標(biāo)軸xi方向的熱流通量;qv為單位體積內(nèi)的熱功率密度;ρ為質(zhì)量密度;Cv為材料的比熱容;T 為溫度;t為時(shí)間,xi為空間坐標(biāo);下標(biāo)i為方向指標(biāo)(i=1,2,3)。
根據(jù)傅里葉變換,可以得到連續(xù)體的熱流通量與溫度梯度之間的關(guān)系:
式中:kij為材料在空間方向上的熱傳導(dǎo)率張量,對(duì)各向同性材料,熱傳導(dǎo)率在各個(gè)方向上保持常數(shù);xj為空間坐標(biāo),下標(biāo)j為方向指標(biāo)(j=1,2,3)。
對(duì)于離散的體系而言,需要將式(1)進(jìn)行轉(zhuǎn)換。假定離散體的總體積為V,單位體積內(nèi)的熱流通量以qi的散度來(lái)表示,在體積為V 的熱存儲(chǔ)器上qi的散度平均值為
對(duì)式(3)通過(guò)高斯差分將其轉(zhuǎn)換為對(duì)面積的積分:
式中:ni為表面向外的單位法向矢量;S 為表面積。
假定離散體中的熱量只在N個(gè)熱管中發(fā)生流動(dòng),從而式(4)可以轉(zhuǎn)換為
式中:上標(biāo)(p)為與熱管p相關(guān)的變量;Q(p)為從熱存儲(chǔ)器中流經(jīng)熱管p的功率;ΔS(p)為熱管p的橫截面積。
將式(6)代入到式(1)中,可以得到離散體的熱傳導(dǎo)方程:
式中:Qv=V·qv,為離散體的熱源強(qiáng)度;m 為離散體的質(zhì)量;Cv為連續(xù)體材料的比熱容。
如果把單個(gè)熱管看作單位長(zhǎng)度內(nèi)具有熱阻η的一維單元,則每個(gè)熱管的功率為
式中:ΔT 為熱管兩端的溫度差;l為熱管的長(zhǎng)度。
在離散元中,假定單個(gè)熱管的熱阻為η,體系中包含N個(gè)熱管,總體積為V,則在材料體積V 內(nèi)的平均熱流通量為
同時(shí),熱量只在熱管內(nèi)流通,從而上式可以轉(zhuǎn)換為:
式中:A(p)為 熱 管p 的 有 效 橫 截 面 積;l(p)為 熱 管p的長(zhǎng)度。
熱管的熱流通量定義為
將式(8)代入式(11)中,可以得到:
式中:nj為熱管的單位法向矢量;ΔT 為熱管兩端的溫度差。
將式(12)、(13)代入到式(10)中,可以得到:
比較式(14)與式(2)可以得到在離散元體系中熱傳導(dǎo)率張量kij:
從式(15)可知,只要給定單個(gè)熱管的長(zhǎng)度、單位法向矢量、熱阻以及總熱管數(shù)量等參數(shù)就可以計(jì)算出離散單元所描述的材料的熱傳導(dǎo)率。
在離散元中,材料的熱應(yīng)變通過(guò)顆粒以及顆粒之間連接鍵的熱膨脹來(lái)描述,且溫度引起的應(yīng)變通過(guò)改變顆粒的半徑來(lái)實(shí)現(xiàn)。給定一個(gè)溫度的變化ΔT,可以計(jì)算出粒子半徑R 的改變量ΔR,即:
式中:α為與每個(gè)顆粒相關(guān)的線性熱膨脹系數(shù)。
如果顆粒之間存在連接鍵(如平行鍵),且熱管是激活的,那么連接鍵的長(zhǎng)度ˉL 將在溫度變化時(shí)發(fā)生相應(yīng)的改變,從而改變鍵的受力情況。假定在溫度變化時(shí),ˉL 的改變只影響法向力的改變,即:
通過(guò)以上的推導(dǎo)可知,在離散元體系中材料的熱傳導(dǎo)率通過(guò)給定單個(gè)顆粒的熱阻來(lái)確定,顆粒與顆粒之間的熱傳導(dǎo)以連接鍵的存在為基礎(chǔ),若產(chǎn)生新的連接鍵或連接鍵發(fā)生斷裂,則將改變材料的熱傳導(dǎo)能力。熱量所產(chǎn)生的應(yīng)變通過(guò)改變顆粒的半徑或連接鍵的長(zhǎng)度來(lái)實(shí)現(xiàn),進(jìn)而引起材料內(nèi)部接觸力的改變。
采用前面已校準(zhǔn)的碳化硅陶瓷微觀參數(shù),通過(guò)施加不同的溫度場(chǎng)以模擬不同溫度下材料力學(xué)性能的變化,通過(guò)模擬單軸壓縮試驗(yàn)和三點(diǎn)彎曲試驗(yàn)來(lái)獲得材料的彈性模量、泊松比、抗壓強(qiáng)度及抗彎強(qiáng)度等力學(xué)性能參數(shù),模型如圖3所示。單軸壓縮試驗(yàn)中包含的顆粒數(shù)為7 486個(gè),加載速度為0.2 m·s-1;三點(diǎn)彎曲試驗(yàn)中包含的顆粒數(shù)為10 675個(gè),加載速度為0.1m·s-1,顆粒的平均半徑為2μm,最大半徑與最小半徑之比為1.5。為了消除模擬的隨機(jī)性所產(chǎn)生的誤差,每個(gè)模型分別選取5個(gè)不同的隨機(jī)數(shù)進(jìn)行模擬,最后取其平均值作為模擬結(jié)果。模擬過(guò)程中選取9個(gè)不同的溫度場(chǎng)(從100 ℃遞增至1 700 ℃,增量為200 ℃)。
圖3 離散元力學(xué)性能測(cè)試模型Fig.3 DEM model for uniaxial compression test(a)and three-point bending test(b)
從圖4中可以看出,當(dāng)溫度為100~500 ℃時(shí),材料的應(yīng)力-應(yīng)變曲線基本一致,這說(shuō)明在該溫度區(qū)間時(shí),溫度對(duì)材料的力學(xué)性能基本沒(méi)有影響。隨著溫度的升高,應(yīng)力的峰值逐漸降低,對(duì)應(yīng)的應(yīng)變也相應(yīng)降低,應(yīng)力-應(yīng)變曲線的斜率也逐漸減小,從而表明材料的彈性模量有所降低。對(duì)比高溫和低溫區(qū)間的失效響應(yīng)曲線,可以看到材料由最開(kāi)始的脆性斷裂(500 ℃以下)逐漸向準(zhǔn)脆性斷裂(500~1 100 ℃)甚至塑性失效轉(zhuǎn)變(如1 300 ℃)。應(yīng)力-應(yīng)變曲線的結(jié)果表明,溫度對(duì)材料力學(xué)性能有明顯的影響,隨著溫度的升高,材料開(kāi)始出現(xiàn)一定程度的軟化,其破壞機(jī)理也相應(yīng)發(fā)生改變。
圖4 不同溫度下碳化硅陶瓷單軸壓縮試驗(yàn)過(guò)程中的應(yīng)力-應(yīng)變曲線Fig.4 Stress-strain curves of SiC ceramic during uniaxial compression at different temperatures
由圖5(a)可知,隨著溫度的升高,材料的彈性模量逐漸降低,泊松比逐漸增大,這表明材料的抗變形能力降低,在高溫作用下發(fā)生了一定的軟化現(xiàn)象。由圖5(b)可見(jiàn),溫度越高,材料的抗壓強(qiáng)度和抗彎強(qiáng)度越低。力學(xué)性能隨溫度的變化曲線同樣表明,在溫度低于500℃時(shí),材料的力學(xué)性能變化較小,而溫度一旦持續(xù)升高后,其力學(xué)性能將發(fā)生明顯的改變。
圖5 碳化硅陶瓷力學(xué)性能隨溫度變化的模擬結(jié)果Fig.5 Simulated results of mechanical properties as a function of temperature for SiC ceramic:(a)elastic modulus and Poisson′s ratio and(b)compressive strength and bending strength
由圖6可見(jiàn),當(dāng)顆粒之間的連接鍵所承受的外載荷大于鍵本身的強(qiáng)度時(shí),連接鍵發(fā)生斷裂,此時(shí)便認(rèn)為是新微裂紋產(chǎn)生了。若一系列的微裂紋連接形成曲折的裂紋路徑時(shí),宏觀裂紋便產(chǎn)生了。圖6中的白色線段表示裂紋,可見(jiàn)當(dāng)溫度較低(低于500 ℃)時(shí),裂紋形成的材料損傷線與底面成45°~50°的夾角,從而表明此時(shí)碳化硅陶瓷的破壞形態(tài)以脆性斷裂為主;隨著溫度升高(如700,900℃),裂紋的擴(kuò)展趨勢(shì)出現(xiàn)了一定變化,部分裂紋匯合形成的局部宏觀裂紋不再與底面成45°~50°的夾角,但材料的破壞形態(tài)依然以脆性斷裂為主;當(dāng)溫度升至1 100 ℃以上后,裂紋的擴(kuò)展不再有明顯的規(guī)律,且在試樣中間有“墩粗”的跡象,說(shuō)明此時(shí)材料的破壞機(jī)理不再是以脆性斷裂為主,而是呈現(xiàn)了一定的塑性變形,且在高溫作用下材料出現(xiàn)“墩粗”現(xiàn)象。
圖6 不同溫度下碳化硅陶瓷單軸壓縮破壞后的形貌Fig.6 Failure morphology of SiC ceramic after uniaxial compression test at different temperatures
(1)建立了脆性材料的離散元熱力學(xué)模型,給出了材料微觀熱力學(xué)參數(shù)與宏觀熱力學(xué)參數(shù)之間的關(guān)系。
(2)建立并校準(zhǔn)碳化硅陶瓷材料的離散元模型,模擬了在不同溫度下材料的單軸壓縮試驗(yàn)及三點(diǎn)彎曲試驗(yàn);當(dāng)溫度小于500℃時(shí),溫度場(chǎng)對(duì)材料的力學(xué)響應(yīng)及力學(xué)性能參數(shù)基本沒(méi)有影響,但隨著溫度的逐漸升高,材料的彈性模量逐漸降低,泊松比逐漸增大,抗壓強(qiáng)度和抗彎強(qiáng)度也隨之降低。
(3)結(jié)合材料的應(yīng)力-應(yīng)變曲線、力學(xué)性能參數(shù)以及不同溫度下的單軸壓縮破壞形貌可知,隨著溫度的升高,材料的破壞形態(tài)由脆性斷裂逐漸向塑性變形轉(zhuǎn)變,并會(huì)使材料出現(xiàn)一定的軟化現(xiàn)象。
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