陸 峰,李 寧,趙德宏
(沈陽(yáng)建筑大學(xué) 交通與機(jī)械工程學(xué)院,沈陽(yáng) 110168)
為了一種滿足人們審美需求,現(xiàn)代工業(yè)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)越來(lái)越普遍地包含大量外形十分復(fù)雜的自由曲面,其制造過(guò)程十分復(fù)雜。隨著數(shù)控技術(shù)、圖像處理技術(shù)、CAD/CAM技術(shù)的發(fā)展成熟,數(shù)控機(jī)床機(jī)械化加工逐漸取代人類手工,批量化高效率地應(yīng)用于復(fù)雜曲面產(chǎn)品的加工當(dāng)中。如何評(píng)判復(fù)雜曲面加工質(zhì)量,及時(shí)發(fā)現(xiàn)制造工藝系統(tǒng)存在問(wèn)題,避免不必要的經(jīng)濟(jì)損失,變得越來(lái)越重要。使用一些傳統(tǒng)的檢測(cè)手段,如通用量具手工檢測(cè)以及三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)檢測(cè),很難高效準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)復(fù)雜曲面加工質(zhì)量檢測(cè),因此迫切需要尋找其它快捷有效的檢測(cè)手段。
基于光學(xué)測(cè)量和計(jì)算機(jī)圖形圖像處理技術(shù)的三維檢測(cè)技術(shù),目前已開始應(yīng)用于汽車、航空、國(guó)防、醫(yī)療以及其他制造業(yè)領(lǐng)域中。目前的快速檢測(cè)軟件, 具有可以同時(shí)輸入兩種數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比的功能:一種數(shù)據(jù)來(lái)源于CAD數(shù)據(jù),作為對(duì)比的基準(zhǔn);另一種數(shù)據(jù)來(lái)源于點(diǎn)云數(shù)據(jù),可以通過(guò)不同的方法獲得[1]。點(diǎn)云數(shù)據(jù)可以通過(guò)激光掃描設(shè)備、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)或CT掃描儀來(lái)獲得。根據(jù)測(cè)量探頭是否和實(shí)物模型表面接觸,產(chǎn)品表面三維數(shù)據(jù)采集設(shè)備基本上可分為接觸式和非接觸式兩大類。接觸式測(cè)量方法精度雖高,但柔性差、效率低。非接觸式測(cè)量方法能夠靈活、快捷地獲取待測(cè)物體較高精度的三維點(diǎn)云數(shù)據(jù),更適合用于外形復(fù)雜的自由曲面的測(cè)量。通過(guò)CAD模型與點(diǎn)云數(shù)據(jù)之間的比較,可以快捷準(zhǔn)確地完成產(chǎn)品檢測(cè)任務(wù)。
數(shù)字化比對(duì)檢測(cè)流程,如圖1所示。
圖1 數(shù)字化比對(duì)檢測(cè)流程圖
實(shí)物模型數(shù)字化,是進(jìn)行數(shù)字化比對(duì)檢測(cè)的第一步,是指通過(guò)特定的測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法,將物體表面幾何形狀轉(zhuǎn)換成離散的點(diǎn)坐標(biāo)數(shù)據(jù),在基礎(chǔ)上進(jìn)行后續(xù)的模型比較和加工質(zhì)量評(píng)價(jià)。
本文研究的是基于激光掃描技術(shù)的實(shí)物模型數(shù)字化方法,其設(shè)備包括手持式EXAscan激光掃描儀和VXelements數(shù)據(jù)處理軟件兩部分。其流程為:貼反光貼點(diǎn)→掃描→保存點(diǎn)云。貼反光貼點(diǎn)是在掃描前所準(zhǔn)備的一項(xiàng)重要的工作,貼點(diǎn)一般距離介于20mm~100mm之間,根據(jù)曲率變化來(lái)決定目標(biāo)的貼放的疏密程度,反光貼貼得越亂越好,但不能遮擋表面特征。對(duì)于透明的、反光強(qiáng)烈的或者是黑色的吸光強(qiáng)烈的制品還需要事先噴涂顯像劑。本文檢測(cè)的雕像整體尺寸較小,而且表面凹凸不平,特征區(qū)域較多,所以可以貼標(biāo)記點(diǎn)的地方較少,無(wú)法通過(guò)在零件自身貼標(biāo)記點(diǎn)的方式獲得立體雕像全部點(diǎn)云數(shù)據(jù),可以借助貼滿貼點(diǎn)的輔助板來(lái)進(jìn)行掃描測(cè)量。擺放好模型后,沿著模型周圍掃描一周以得到這些標(biāo)記點(diǎn)的位置。這樣在下一步掃描模型時(shí),只要保持模型不動(dòng),可以沿任意方向掃描,根據(jù)這些標(biāo)記點(diǎn)軟件能保持各向掃描的數(shù)據(jù)處于同一坐標(biāo)系,且能去除冗余的重合點(diǎn),自動(dòng)輸出為STL文件[2]。實(shí)物模型數(shù)字化過(guò)程,如圖2所示。
刪除噪音點(diǎn)云和輔助板上多余的點(diǎn)云。但不要用逆向軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)簡(jiǎn)化及填充破洞等修補(bǔ)性操作,以免改變數(shù)字化模型的比對(duì)精度。進(jìn)行模型比對(duì)的操作過(guò)程為:坐標(biāo)對(duì)齊→比較分析→生成報(bào)告。
圖2 待掃描實(shí)物及實(shí)物模型數(shù)字化過(guò)程
1.2.1 坐標(biāo)對(duì)齊
坐標(biāo)對(duì)齊是數(shù)字化檢測(cè)技術(shù)的關(guān)鍵所在。本文研究的是自由曲面模型,所以選用“最佳擬合對(duì)齊”方式完成CAD模型和點(diǎn)云數(shù)據(jù)的整體對(duì)齊。點(diǎn)云數(shù)據(jù)是在測(cè)量設(shè)備的坐標(biāo)系中得到的,而CAD模型是在其設(shè)計(jì)坐標(biāo)系中確定的。坐標(biāo)對(duì)齊就是對(duì)點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行一系列變換,使其統(tǒng)一到標(biāo)準(zhǔn)CAD模型的坐標(biāo)系下,以實(shí)現(xiàn)兩者的比較分析。對(duì)齊前后效果如圖3所示。
圖3 對(duì)齊前后效果
1.2.2 比較分析
檢測(cè)功能可歸納為:二維分析、三維分析以及誤差評(píng)估。二維分析可以對(duì)模型的指定截面進(jìn)行尺寸標(biāo)注或生成偏差圖。三維分析可通過(guò)3D比較,生成彩色的偏差圖,結(jié)果顯示為CAD模型或點(diǎn)云上的偏差。誤差評(píng)估包括對(duì)零件三維尺寸誤差以及形位誤差的評(píng)估[3]。
1.2.3 生成報(bào)告
輸出圖文并茂的檢測(cè)報(bào)告,檢測(cè)結(jié)果方便各個(gè)部門查閱,有利于生產(chǎn)數(shù)據(jù)管理及質(zhì)量控制。
2.1.1 數(shù)據(jù)采集設(shè)備系統(tǒng)誤差
數(shù)據(jù)采集設(shè)備系統(tǒng)誤差包括機(jī)器本身的誤差、儀器校正時(shí)的誤差以及多視拼合誤差等。
本文采用的是手持式激光掃描儀,主要依靠激光三角法測(cè)量原理和多視拼合技術(shù)來(lái)保證三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。采用激光三角法測(cè)量原理計(jì)算出物體表面點(diǎn)的空間三坐標(biāo),目前應(yīng)用廣泛。要完成模型所有表面的數(shù)據(jù)采集,必須進(jìn)行多方位不同視角的采集,數(shù)據(jù)處理時(shí)就涉及到了多視拼合技術(shù)。通常處理技術(shù)是:
1)對(duì)從不同視角測(cè)量的樣件數(shù)據(jù)確定一個(gè)合適的坐標(biāo)變換方法進(jìn)行拼接。
2)將從各個(gè)視圖得到的點(diǎn)集合并到一個(gè)公共的坐標(biāo)系下,從而得到一個(gè)完整的模型。
3)在模型上貼固定球作為識(shí)別標(biāo)簽。根據(jù)每個(gè)視角觀察的三個(gè)或三個(gè)以上不共線的標(biāo)簽來(lái)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行拼合。
4)手持式激光掃描儀,具有自動(dòng)定位功能,也就是掃描儀和被測(cè)物體的相對(duì)位置可以變換,數(shù)據(jù)處理軟件自動(dòng)實(shí)現(xiàn)多視拼合?;驹硎?,首先應(yīng)用標(biāo)簽定位法進(jìn)行坐標(biāo)變換,使多個(gè)視角的重疊位置區(qū)域的公共標(biāo)簽“重合”,完成數(shù)據(jù)粗對(duì)齊;然后應(yīng)用多目標(biāo)多參數(shù)優(yōu)化的方法進(jìn)行精對(duì)齊,達(dá)到數(shù)據(jù)的最佳匹配。通過(guò)標(biāo)簽拼合方法得到的模型,其拼合精度取決于標(biāo)簽的匹配精度。
2.1.2 外界因素的影響
掃描過(guò)程中變化強(qiáng)烈的外界環(huán)境光,周圍環(huán)境的振動(dòng)引起鏡頭或者是待測(cè)物體的移動(dòng),顯像劑等都會(huì)影響測(cè)得的點(diǎn)云數(shù)據(jù)的誤差值。
2.1.3 掃描漏洞的存在
由于被測(cè)模型的幾何形狀以及光學(xué)遮蔽效應(yīng)等原因,被測(cè)模型的點(diǎn)云數(shù)據(jù)不能夠完全地被表達(dá)出來(lái),如零件的孔洞或內(nèi)部的尖角等,會(huì)造成點(diǎn)云數(shù)據(jù)的缺失[4]。掃描漏洞在三維分析彩色偏差圖上呈黑色顯示。但是掃描漏洞的存在,不影響既有點(diǎn)云模型與CAD模型的誤差分析結(jié)果。
三維光學(xué)檢測(cè)方法,其結(jié)果主要受實(shí)物模型數(shù)字化過(guò)程中點(diǎn)云數(shù)據(jù)采集設(shè)備精度的影響。本文采用的掃描儀測(cè)量誤差δ1<0.05mm[5]。
目前,坐標(biāo)對(duì)齊運(yùn)用最多的是最鄰近點(diǎn)迭代(Iterative Closet Point, ICP)算法。如果CAD模型是以STL文件格式輸入的,則通過(guò)計(jì)算點(diǎn)云與三角片的距離來(lái)確定其偏差。因此,該方法需要對(duì)每個(gè)三角面片建立平面方程,其偏差為點(diǎn)到平面的距離。而對(duì)于CAD模型為IGES或STEP模型,由于自由曲面表達(dá)形式為NURBS面,所以點(diǎn)到面的距離計(jì)算需要用到數(shù)值優(yōu)化的方法進(jìn)行計(jì)算。通過(guò)迭代計(jì)算點(diǎn)云中各點(diǎn)至NURBS曲面的最小距離來(lái)表達(dá)偏差,或?qū)URBS曲面進(jìn)行指定尺度離散,用點(diǎn)與點(diǎn)的距離近似表達(dá)點(diǎn)偏差,或?qū)⑵滢D(zhuǎn)換為STL格式進(jìn)行偏差計(jì)算[6~10]。
從知識(shí)產(chǎn)權(quán)評(píng)議在我國(guó)十余年的實(shí)踐來(lái)看,其所承載的功能不斷豐富和拓展:一方面,知識(shí)產(chǎn)權(quán)評(píng)議的目的從單純的防范重大經(jīng)濟(jì)科技活動(dòng)的知識(shí)產(chǎn)權(quán)風(fēng)險(xiǎn),逐漸延伸至優(yōu)化政府經(jīng)濟(jì)科技決策和政府管制;另一方面,知識(shí)產(chǎn)權(quán)評(píng)議的適用范圍從具體的經(jīng)濟(jì)科技活動(dòng)(初期主要針對(duì)政府投資項(xiàng)目),逐漸擴(kuò)展至產(chǎn)業(yè)發(fā)展、科技進(jìn)步、國(guó)際投資和國(guó)際貿(mào)易等領(lǐng)域的政策制定、政策實(shí)施與宏觀層面的經(jīng)濟(jì)科技決策。
不同的坐標(biāo)對(duì)齊及偏差計(jì)算方法,獲得的檢測(cè)結(jié)果也不同。對(duì)齊誤差的大小將直接影響檢測(cè)精度及評(píng)估報(bào)告的可信度[11]。
2.3.1 案例加工過(guò)程簡(jiǎn)介
加工設(shè)備:HTM50200車銑復(fù)合加工中心。
材料:大理石,莫氏硬度3~5。
毛壞:φ200×480。
加工工藝:卡盤一次裝卡,手動(dòng)換刀,3+2定軸加工,精加工切削模式為“往復(fù)”。加工工藝參數(shù)如表1所示。
2.3.2 可能產(chǎn)成加工誤差的原因
可能產(chǎn)成加工誤差的原因有很多,如:程序問(wèn)題,對(duì)刀問(wèn)題,機(jī)床問(wèn)題等等。
1)刀路軌跡誤差δP。
2)后處理誤差δPS。
后處理器將前置刀位軌跡變換并分解到機(jī)床各運(yùn)動(dòng)軸上,獲得各軸運(yùn)動(dòng)分量。在運(yùn)動(dòng)學(xué)求解及非線性誤差的處理與校核方面,后處理可能存在微量誤差。
3)雕刻頭擺角誤差δPA。
HTM50200異型石材數(shù)控車銑加工中心的雕銑頭轉(zhuǎn)動(dòng)是由執(zhí)行機(jī)構(gòu)蝸輪蝸桿傳動(dòng)實(shí)現(xiàn)的,其機(jī)械結(jié)構(gòu)固有誤差是導(dǎo)致擺角誤差的直接原因,再者受蝸輪蝸桿結(jié)構(gòu)受力變形及摩擦變形等的影響,雕刻頭存在擺角誤差。如果多個(gè)面多次三維檢測(cè),發(fā)現(xiàn)誤差主要存在于非刀軸方向上,則可能是擺角誤差造成的。
表1 案例加工工藝參數(shù)表
4)臥式工作臺(tái)分度誤差δθ。
本案例采用3+2定軸加工工藝,用臥式工作臺(tái)分度翻轉(zhuǎn)工件,加工各個(gè)的面。CAD模型坐標(biāo)系的Y方向與臥式工作臺(tái)回轉(zhuǎn)軸線方向一致。如果檢測(cè)發(fā)現(xiàn)某個(gè)加工面存在Z(或X)方向一半過(guò)切一半欠切現(xiàn)象,則可以判定是臥式工作臺(tái)回轉(zhuǎn)誤差造成的。
5)對(duì)刀誤差δC。
本案例一次裝卡,一個(gè)加工坐標(biāo)系。如果檢測(cè)發(fā)現(xiàn)某個(gè)加工面,在刀軸方向(+X或+Z)都過(guò)切(或欠切);翻轉(zhuǎn)180°,檢測(cè)發(fā)現(xiàn)對(duì)面的加工面在刀軸方向(-X或-Z)仍舊是過(guò)切(或欠切),則可以判定相應(yīng)坐標(biāo)軸上存在對(duì)刀誤差。
6)刀具磨損誤差δCW。
如果三維檢測(cè)發(fā)現(xiàn)某單個(gè)加工面刀軸方向有明顯欠切,則可能是刀具磨損造成的。
綜上,加工總誤差δ3=δP+δPS+δPA+δθ+δC+δCW,總誤差δ=δ1+δ2+δ3。
2.3.3 案例實(shí)際加工誤差分析
下面就以上可能產(chǎn)生加工誤差的原因進(jìn)行有針對(duì)性分析。
1)刀路軌跡誤差核查
檢查UG操作中的精加工的“切削參數(shù)”的設(shè)置:余量為0,內(nèi)公差為0.03。對(duì)全部操作進(jìn)行“過(guò)切檢查”,未發(fā)現(xiàn)有過(guò)切的地方,這就排除了編程刀路軌跡造成過(guò)切的可能。將UG中刀軌進(jìn)行了“3D動(dòng)態(tài)”仿真,“用顏色表示厚度”,如圖4所示。圖上除了某些曲率較大的內(nèi)凹曲面有欠切,沒(méi)有其他明顯欠切。這部分欠切是由于刀具半徑大于內(nèi)凹曲面半徑造成的,不必作分析。所以除了刀軌生成原理上的誤差,刀路軌跡沒(méi)有明顯錯(cuò)誤。
2)后處理誤差核查
利用VERICUT軟件加載經(jīng)過(guò)后處理的NC程序,進(jìn)行進(jìn)行G-代碼模擬仿真,然后將設(shè)計(jì)模型與仿真切削模型進(jìn)行“自動(dòng)-比較”,比較方式為“過(guò)切”,比較公差輸入“0.1”,報(bào)告顯示“沒(méi)有錯(cuò)誤記錄報(bào)告”。這說(shuō)明了后處理和NC程序均沒(méi)有明顯錯(cuò)誤。VERICUT仿真顯示存在“欠切”,同樣是由于刀具半徑大于內(nèi)凹曲面半徑造成的,不必作分析。
圖4 UG仿真結(jié)果
3)機(jī)加過(guò)程誤差核查
根據(jù) 1),2)的分析,可以判定檢測(cè)結(jié)果中顯示的誤差主要是機(jī)加過(guò)程中產(chǎn)生的。下面進(jìn)行3D偏差分析,尋找機(jī)加過(guò)程中誤差產(chǎn)生的原因。
在加工質(zhì)量相對(duì)較好的佛像肚皮上取點(diǎn),此處編程刀軸方向?yàn)閆軸正方向。測(cè)量點(diǎn)A036-A040分布在回轉(zhuǎn)中心左側(cè),A041-A045分布在回轉(zhuǎn)中心右側(cè)。誤差檢測(cè)結(jié)果如圖5和表2所示。同樣,在佛像背面光整處取點(diǎn),此處編程刀軸方向?yàn)閆軸負(fù)方向,測(cè)量點(diǎn)A056-A059分布在回轉(zhuǎn)中心左側(cè),A060-A063分布在回轉(zhuǎn)中心右側(cè)。誤差檢測(cè)結(jié)果如圖6和表3所示。
表2中Z向誤差均為負(fù)數(shù),表3中Z向誤差均為正數(shù),這代表兩個(gè)加工面均向刀軸反方向偏移,均為過(guò)切,據(jù)此判斷Z軸對(duì)刀有偏差。
表2中回轉(zhuǎn)中心左側(cè)X方向誤差均為正數(shù),右側(cè)X方向誤差均為負(fù)數(shù);表3中回轉(zhuǎn)中心左側(cè)X方向誤差均為負(fù)數(shù),右側(cè)X方向誤差均為負(fù)數(shù)。這種現(xiàn)象應(yīng)該是臥式工作臺(tái)回轉(zhuǎn)誤差造成的。
表2~表3中Y向誤差沒(méi)有明顯規(guī)律,無(wú)依據(jù)顯示雕刻頭存在擺角誤差。
1)本文提出了一種新的基于數(shù)字化比對(duì)檢測(cè)技術(shù)的宏觀幾何形狀誤差檢測(cè)方法,并以一尊佛像為例,驗(yàn)證了該方法應(yīng)用于存在大量復(fù)雜曲面的檢測(cè)中真實(shí)有效,效率高,節(jié)省成本。
2)本文通過(guò)數(shù)字化檢測(cè)方法很容易測(cè)量出復(fù)雜曲面機(jī)加產(chǎn)品X、Y、Z三個(gè)方向的偏差DX、DY、DZ,結(jié)合機(jī)加工藝分析了機(jī)床加過(guò)程中哪個(gè)
表2 正面3D偏差數(shù)據(jù)表
表3 背面3D偏差數(shù)據(jù)表
圖5 正面3D偏差分析圖
圖6 背面3D偏差分析圖
坐標(biāo)軸存在誤差,從而判斷出制造過(guò)程存在哪些問(wèn)題,方便進(jìn)行質(zhì)量控制。
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