檢驗(yàn)黑色簽字筆字跡與印泥印文時(shí)序的新方法

于 璐，黃建同，董 軍，侯雨石

（1.中國人民公安大學(xué)刑事科學(xué)技術(shù)學(xué)院，北京100038；2.甘肅省公安廳，甘肅 蘭州730030；3.虹彩模識(shí)（北京）科技有限公司，北京100098）

隨著全球經(jīng)濟(jì)一體化的快速發(fā)展，各種經(jīng)濟(jì)、民事活動(dòng)日益頻繁，許多經(jīng)濟(jì)、民事案件中的文件都涉及到朱墨時(shí)序問題。這類案件具有發(fā)案率高、社會(huì)危害性大、鑒定難度大等特點(diǎn)，特別是對(duì)黑色簽字筆字跡與印章印文先后順序的鑒定，因黑色簽字筆書寫色料的特殊性，至今仍是文檢界的難題。筆者利用黑色字跡電阻測(cè)量儀檢測(cè)黑色簽字筆字跡，與印泥印文交叉部位（先章后字與先字后章）與非交叉部位的筆畫電阻變化，判斷黑色簽字筆字跡與印泥印文的先后順序，為朱墨時(shí)序[1]的檢驗(yàn)鑒定提供新的思路，為證明文件真?zhèn)?、揭露違法犯罪提供線索和證據(jù)。

一、實(shí)驗(yàn)

（一）實(shí)驗(yàn)儀器

黑色字跡電阻測(cè)量儀；英國Forster+Freeman公司生產(chǎn)的Video Spectral Comparator-5000型視頻光譜比對(duì)儀（以下簡(jiǎn)稱VSC-5000文檢儀）；奧林帕斯（Olimpus）生物顯微鏡。

（二）實(shí)驗(yàn)材料

備好10種不同品牌、型號(hào)的黑色簽字筆各一支，分別編號(hào)為1～10號(hào)（表1）；橡皮印章一枚；雪奧牌印泥；定量為70g/m2的特級(jí)藍(lán)旗艦（A4）靜電復(fù)印紙；層析缸；展開劑（正丁醇：乙醇：水：冰醋酸＝ 6：2：2：1）[2]；煙臺(tái)薄層層析硅膠板。

表1 實(shí)驗(yàn)用10種不同品牌、型號(hào)黑色簽字筆

（三）實(shí)驗(yàn)

1.制作實(shí)驗(yàn)樣本

用備好的10支黑色簽字筆為書寫工具，定量為70g/m2的特級(jí)藍(lán)旗艦（A4）靜電復(fù)印紙為書寫客體，制成實(shí)驗(yàn)樣本。

2.實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

為保證實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性，先字后章時(shí)，分別在蓋印前后對(duì)同一筆畫進(jìn)行測(cè)量（圖1-a），并比較測(cè)量結(jié)果（表2）。先章后字時(shí)，分別測(cè)量黑色簽字筆字跡與印泥印文交叉部位和非交叉部位的筆畫電阻值（圖1-b），并比較測(cè)量結(jié)果（表 3）。

圖1 黑色字跡電阻測(cè)量儀測(cè)量黑色簽字筆字跡與印泥印文交叉部位筆畫電阻

表2 先字后章時(shí)，蓋印前后同一測(cè)量點(diǎn)的電阻測(cè)量情況（單位：M ）

由表2可知，在同一測(cè)量條件下，先字后章時(shí)，未交叉部位字跡筆畫電阻可測(cè)的，交叉部位字跡筆畫電阻也可測(cè)得；未交叉部位字跡筆畫電阻不能測(cè)得的，交叉部位字跡筆畫電阻仍不能測(cè)得。此外，在研究過程中，筆者還發(fā)現(xiàn)先字后章時(shí)，交叉部位筆畫電阻值有增大的趨勢(shì)，且不同品牌型號(hào)的筆書寫的字跡筆畫電阻值變化程度不同。

表3 先章后字時(shí)，交叉部位與非交叉部位筆畫電阻測(cè)量情況（單位：M ）

由表3可知，在同一測(cè)量條件下，不能測(cè)得先章后字時(shí)黑色簽字筆字跡與印泥印文交叉部位的筆畫電阻，但可測(cè)得非交叉部位的筆畫電阻。

針對(duì)上述測(cè)量結(jié)果，筆者對(duì)實(shí)驗(yàn)用筆書寫形成的字跡及其墨水成分進(jìn)行光學(xué)檢驗(yàn)和薄層分析，進(jìn)一步探究筆畫電阻值與書寫色料成分間的關(guān)系，分析電阻測(cè)量法的適用情況；并對(duì)黑色簽字筆字跡與印泥印文交叉部位（先字后章與先章后字）進(jìn)行顯微觀察，從形態(tài)學(xué)的角度分析和解釋上述測(cè)量結(jié)果。

（1）光學(xué)及薄層層析檢驗(yàn)

不同書寫色料對(duì)紅外線的吸收、透過作用不同，墨汁、碳素和部分含碳的黑色簽字筆字跡能吸收紅外線或一部分吸收紅外線，在紅外線下呈現(xiàn)暗字。[3]利用VSC-5000文檢儀對(duì)實(shí)驗(yàn)用10支簽字筆字跡進(jìn)行光學(xué)檢驗(yàn)，1～4號(hào)、6～10號(hào)簽字筆書寫形成的字跡在1000nm紅外光源照射下呈現(xiàn)暗字；5號(hào)簽字筆書寫形成的字跡不可見。光學(xué)檢驗(yàn)結(jié)果如圖2所示：

圖2 10支簽字筆字跡光學(xué)檢驗(yàn)結(jié)果

為保證檢驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性，筆者對(duì)實(shí)驗(yàn)用10支簽字筆的墨水成分進(jìn)行薄層層析，檢驗(yàn)結(jié)果顯示1～4號(hào)、6～10號(hào)簽字筆的墨水均不能在展開劑中展開，5號(hào)簽字筆的墨水可以展開，并出現(xiàn)紫色、黃色斑點(diǎn)。薄層層析結(jié)果如圖3所示：

圖3 10支簽字筆墨水薄層層析結(jié)果

綜合光學(xué)檢驗(yàn)和薄層層析結(jié)果，1～4號(hào)、6～10號(hào)簽字筆的墨水成分中含有炭黑[4]，5號(hào)簽字筆的墨水是由多種染料拼色而成。依據(jù)電阻測(cè)量原理，1～4號(hào)、6～10號(hào)簽字筆的墨水成分中含有導(dǎo)電成分——炭黑，其筆畫電阻值可以測(cè)得；而5號(hào)簽字筆的墨水組成中不含有炭黑成分，不能測(cè)得其筆畫電阻值[5]。

（2）顯微觀察黑色簽字筆字跡與印泥印文交叉部位

借助生物顯微鏡放大觀察黑色簽字筆字跡與印泥印文交叉部位（先字后章與先章后字），發(fā)現(xiàn)：先字后章時(shí)，字跡筆畫完整、少斷筆、且墨跡均勻，如圖4-a所示；先章后字時(shí)，字跡筆畫多出現(xiàn)斷筆、露白等現(xiàn)象，如圖4-b所示。

圖4 顯微放大觀察黑色簽字筆字跡與印泥印文交叉部位

根據(jù)歐姆定律[6][8]及電路相關(guān)原理與知識(shí)，先字后章時(shí)，完整且墨跡均勻的字跡筆畫與字跡電阻測(cè)量儀的兩探針接觸，形成電路通路，此時(shí)待測(cè)段的字跡筆畫相當(dāng)于電路中的一待測(cè)元件，可以測(cè)得電路中元件的電阻值，即先字后章時(shí)可測(cè)得筆畫電阻值；反之，則不能測(cè)得筆畫電阻值。

二、實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析

5號(hào)簽字筆的墨水是由多種染料拼色而成，蓋印前后字跡筆畫電阻均不可測(cè)，所以，無法通過測(cè)量其蓋印前后筆畫電阻值的方式，來判斷字跡與印文形成的先后順序。

1～4號(hào)、6～10號(hào)簽字筆的墨水成分中含有炭黑，其筆畫電阻值可以測(cè)得[7]。理論上，黑色含碳簽字筆字跡與印泥印文形成朱墨時(shí)序時(shí)，字跡與印文的交叉部位會(huì)形成三層，底層是紙張，中間層是黑色含碳簽字筆字跡（或印泥），上層是印泥（或黑色含碳簽字筆字跡）。先字后章時(shí)，用電阻測(cè)量儀檢測(cè)字跡與印文交叉部位的表面，由于印泥色料處于表層，遮擋了字跡色料而不能測(cè)出電阻值；反之，先章后字時(shí)，具有導(dǎo)電性的字跡色料位于表層，可測(cè)出電阻值，但其電阻值可能受到印泥色料的影響，相較于單個(gè)字跡筆畫電阻測(cè)量值而有所變化。但是，經(jīng)初步研究發(fā)現(xiàn)：先字后章時(shí)，黑色簽字筆直接書寫在紙張上，形成的字跡筆畫完整、少斷筆、且墨跡均勻，蓋印后筆畫電阻值仍可測(cè)，但筆畫電阻值可能受印泥色料的影響而呈現(xiàn)一定的變化；先章后字時(shí)，由于受已蓋印印泥印文色料的影響，使黑色簽字筆色料附著能力下降，致使其形成的字跡筆畫多出現(xiàn)斷筆、露白等現(xiàn)象，筆畫電阻不可測(cè)。

三、結(jié)論

（一）電阻測(cè)量法，可應(yīng)用于黑色簽字筆字跡與印泥印文時(shí)序的檢驗(yàn)，但僅適用于黑色含碳簽字筆字跡與印泥印文先后時(shí)序的檢驗(yàn)。

（二）對(duì)于黑色含碳簽字筆字跡，先字后章時(shí)，蓋印前后筆畫電阻均可以測(cè)得，且蓋印后筆畫電阻值有增大的趨勢(shì)，不同品牌型號(hào)的簽字筆書寫的字跡筆畫電阻值變化程度不同；先章后字時(shí)，字跡與印泥印文交叉部位的筆畫電阻不可測(cè)，非交叉部位筆畫電阻可以測(cè)得。所以，電阻測(cè)量法可用于黑色含碳簽字筆字跡與印泥印文先后順序的檢驗(yàn)。

四、結(jié)語

依據(jù)朱墨時(shí)序的形成機(jī)理，嘗試?yán)秒娮铚y(cè)量法檢驗(yàn)黑色簽字筆字跡與印泥印文的先后順序，使朱墨時(shí)序的檢驗(yàn)研究由形態(tài)學(xué)檢驗(yàn)向量化檢驗(yàn)轉(zhuǎn)變，為朱墨時(shí)序的檢驗(yàn)研究提供了新途徑。

[1]黃建同主編.文件檢驗(yàn)[M].北京:中國人民公安大學(xué)出版社,2013:302-315.

[2]李志榮主編.文件檢驗(yàn)學(xué)實(shí)驗(yàn)實(shí)訓(xùn)教程[M].北京:中國人民公安大學(xué)出版社,2008:187.

[3]賈玉文,鄒明理.中國刑事科學(xué)技術(shù)大全·文件檢驗(yàn)[M].北京:中國人民公安大學(xué)出版社,2002:1265-1280.

[4]蔣文忠.炭素工藝學(xué)[M].北京:冶金工業(yè)出版社,2009:1-50.

[5]黃建同.測(cè)量字跡電阻法判斷添加變?cè)熳舟E的原理探討[J].中國人民公安大學(xué)學(xué)報(bào),2010(1):5-8.

[6]劉克哲,張承琚.物理學(xué)（第三版）上卷[M].北京:高等教育出版社,2005(6):309.

[7]黃建同.添加變?cè)旌谏炞止P字跡的快速鑒別技術(shù)研究[J].北京:中國人民公安大學(xué)出版社,2007:19-23.

[8]F.T.Brown.Engineering System Dynamics:A Unified Graph-centered Approach[EB/OL].CRC Taylor&Francis,2007.http://book s.google.com.hk.