張 鷹,姜書艷,陳德軍,盧有亮,崔琳莉
(電子科技大學數(shù)字邏輯設計及應用課程組,四川成都 611731)
數(shù)字電路設計中評價電路結構優(yōu)劣的早期標準可以表達為盡量減少晶體管的使用量?,F(xiàn)在已體現(xiàn)為滿足功能要求下采用盡可能少的通用集成塊?;贔PGA的設計希望使用最少的邏輯單元,得到最高的時鐘頻率(或最短的時間延遲),而VLSI設計則需要考慮集成度、速度和功耗的綜合優(yōu)化。從數(shù)字技術的發(fā)展來看,最受關注的當屬集成度問題:如何使集成電路面積更小已成為設計的第一目標。目前數(shù)字集成主要采用CMOS工藝,以平面器件形成電路,每個器件占據(jù)一定的芯片面積。設計人員要考慮減小電路的面積,需要從器件規(guī)模開始。
目前的“數(shù)字電路”課程在處理這一問題時,沒有對電路評價建立相關模型,導致邏輯優(yōu)化設計與功能器件設計缺乏統(tǒng)一的設計標準,不能適應飛速發(fā)展的設計要求。
在CMOS工藝條件下,電路邏輯結構由MOS晶體管擔任開關作用來實現(xiàn)。作為平面器件,MOS晶體管的簡單模型如圖1所示。
圖1 MOS晶體管的簡單模型
圖1(a)所示的晶MOS體管平面為一個矩形區(qū)域,分為漏(D)、柵(G)和源(S)三個區(qū)域。各區(qū)電極引出均通過接觸孔連接到上層(布線層),器件的相互連接由上層的多層布線實現(xiàn),不占用額外面積。從圖2(b)的縱向結構看,G與其他極被絕緣層阻斷;襯底B與D/S之間存在PN結耗盡區(qū)阻斷,D與S間為高阻狀態(tài)(斷開);當G和B處于不同電平時,G可以通過電場吸引載流子到G區(qū)下面聚集,形成導電溝道,使得D與S間變?yōu)榈妥锠顟B(tài)(導通)。
對于導電溝道中電流流動方向稱為溝道長度(L),與之垂直的方向為溝道寬度(W);在大規(guī)模數(shù)字集成設計中,通常L受工藝線寬影響,保持為容許的最小值;此時器件的面積與W成正比??梢詫⒆钚【w管的面積作為面積單位。即使在導通的情況下,溝道也存在一定電阻,該電阻與溝道寬度W成反比。當D/S/G電平狀態(tài)與B不同時,隔離區(qū)會存在電荷聚集,表現(xiàn)出電容現(xiàn)象;各極的電容與相應面積有關,表現(xiàn)為與W成正比。
在簡單模型中,可以認為同一晶體管中D極電容與S極電容相同;根據(jù)VLSI工藝中的實際情況,可以假定D極電容為G極電容的2倍。因此可以將最小晶體管的G極電容作為最小電容單位。MOS器件可以分為PMOS和NMOS兩類,使用的載流子各不相同。隨著集成電路工藝的發(fā)展,兩者在尺度與性能上的差異正日漸縮小。本文對簡單模型忽略這些差異,在后續(xù)分析中,將扇入相同的NAND和NOR器件視為同等性能的器件。
目前最常用的基本數(shù)字邏輯單元是采用MOS器件互補連接形成,一些典型結構如圖2所示。這些結構在通常的數(shù)字電路教材中均有詳細描述。
圖2 MOS器件互補連接的典型結構
這種邏輯結構的特點為:每個輸入控制2個晶體管(1個P型和1個N型);N型晶體管串聯(lián)構成AND運算,并聯(lián)構成OR運算;P型晶體管采用與N型對偶方式連接;每個器件輸出均為反相輸出。
值得一提的是,與或非/或與非AOI/OAI(ANDOR-INVERTOR/OR-AND-INVERTOR)結構可以采用支路的串/并聯(lián)表達與/或運算,因此在多級與或結構表達中,除了第1級的實際輸入端需要連接晶體管外,后級運算都不需要采用晶體管。這種設計可以節(jié)約晶體管數(shù)量,在基于晶體管設計的時代,曾經(jīng)成為一種重要的設計結構。
當晶體管連接成互補邏輯器件時,器件的輸入端都連接到晶體管的G極,該G極電容之和構成器件的輸入電容;器件的輸出端通過導通支路連接電源形成輸出,導通支路上的電阻構成器件的輸出電阻,而與輸出支路連接的有可能發(fā)生狀態(tài)變化的電容(D極電容和S極電容)構成器件輸出電容。
邏輯單元電路的評價主要關心其邏輯面積、延遲時間和功耗。邏輯面積為構成該電路的各晶體管面積的總和。延遲時間可以由電路時間常數(shù)RC表達;在最小設計中,導通電阻R被驅動能力限定為固定值,延遲時間可以單純由電容大小表征;涉及的電容應為在信號傳遞中可能發(fā)生狀態(tài)變化的輸入電容和輸出電容。CMOS電路功耗主要為動態(tài)功耗,也與電路中可能發(fā)生狀態(tài)變化的電容大小成正比。
為了得到最大限度的集成效果,電路設計應該在保障最小驅動能力條件下,采用最小尺度設計方案,也就是采用最小寬度或最大輸出電阻設計方案。在此方案中,要求所有導電通道的輸出電阻均保持為統(tǒng)一最大值(在驅動能力容許的條件下)。
最簡單的邏輯器件是反相器。最小反相器可以采用2個最小晶體管連接形成。該反相器具有最低驅動能力限制下的最大輸出電阻。以最小晶體管面積為基本單位,該反相器面積為2。以最小晶體管G極電容為基本單位,反相器輸入電容為2,輸出電容為4。由于延遲時間可用電容大小表達,因此該反相器的延遲時間為6。功耗也與之成正比。
多輸入邏輯器件中最基本的是與非和或非(NAND和NOR),分別采用晶體管的并聯(lián)和串聯(lián)形成邏輯結構。圖3為NAND(N)的結構形式。
圖3 與非門NAND(N)的結構形式
當晶體管形成串聯(lián)支路時,導通電阻串聯(lián)會導致電阻增大;為了保持輸出電阻的最大限制,需要加寬晶體管溝道以減小每個晶體管的導通電阻。容易看出,若一條支路上有N個晶體管串聯(lián),則需要將每個晶體管的寬度加大N倍。由于串聯(lián)支路的晶體管數(shù)量與邏輯單元輸入端數(shù)量(扇入)相同,器件的邏輯面積與扇入數(shù)有關。由圖3可見,并聯(lián)支路中可以采用最小晶體管,而串聯(lián)支路中每個晶體管面積都為最小晶體管的N倍。由此可以得到扇入數(shù)與邏輯面積的關系為
晶體管邏輯寬度增加也會導致各極的電容增加,在考慮信號傳遞時可能變化狀態(tài)的電容時,可以由圖3看出,輸入電容與輸出電容均與扇入相關:
由此可見,電路的扇入增加將導致邏輯面積和延遲時間的急劇增加,大扇入器件是不可取的。
利用上述分析方法也可以分析與或非門(AOI)結構的邏輯面積和延遲時間。由于AOI結構中導通支路通常都存在串聯(lián)現(xiàn)象,所有晶體管都需要不同尺度的加大,導致邏輯面積和延遲時間集聚增加。因此在集成電路設計中,幾乎不采用AOI結構。此項分析可以作為課程設計內(nèi)容交給學生去完成(各自選擇不同的AOI結構進行分析,并與相同邏輯的NAND-NAND結構的結果進行比較)。
根據(jù)上述分析,大扇入器件占用邏輯面積大,延遲時間長,不適合在集成電路中采用。利用基本邏輯定理(結合律和德摩根定理),可以將大扇入的NAND/NOR分解為小扇入器件的組合。在圖4中表達了對于4輸入NOR的分解。
圖4 對于4輸入或非門的分解
由圖4可以看出,一旦扇入達到4以上,就應通過分解獲得更好的性能。因此,數(shù)字集成電路中的基本邏輯器件只應包含5種器件:反相器、2輸入NAND/NOR、3輸入 NAND/NOR。此外,傳輸門(TG)也可以作為基本器件用于一些特定的電路中。
集成電路系統(tǒng)輸出單元通常需要強大的對外驅動能力(mA級)。通過加大直接輸出器件的寬度可以使驅動能力增加,但這種增加會使輸出器件的邏輯面積和延遲時間成正比增加。為了盡量實現(xiàn)最小化設計,通常采用反相器組合成輸出緩沖器件實現(xiàn)輸出,一種典型的輸出緩沖設計如圖5所示。
圖5 典型的輸出緩沖設計
由該圖可以看出,采用逐漸擴大驅動能力的緩沖方式,能夠在增加成本不多的條件下,將延遲時間大幅度減少。這已成為集成器件輸出單元的標準設計方式。
本文經(jīng)過對典型CMOS電路結構的分析和MOS晶體管參數(shù)的分析,考慮到電路驅動能力對集成度的影響,按照最小設計方式,對邏輯單元電路的輸出電阻實現(xiàn)統(tǒng)一的最大值設計。筆者根據(jù)該設計方式,得到了器件扇入與邏輯面積、輸入/輸出電容、延遲時間和功耗之間的關系。這些關系可以構成對于基本電路單元的評價。利用該評價,可以得出基本電路單元扇入應小于4的結論。
[1]葉佳卓,盧斌,程棟.基于EDA技術的數(shù)字電路實踐教學探討[J].北京:實驗技術與管理,2010,27(11):249-252
[2]魏堅華,賈熹濱.基于EDA技術推進數(shù)字邏輯課程改革和精品課程建設[J].北京:計算機教育,2011,16:41-43
[3]朱正偉,周炯如.EDA技術在硬件課程體系教學改革中的應用[J].南京:電氣電子教學學報,2010,32(6):23-25
[4]陳進,吳柯.從一個工程實例對“數(shù)字電路”教學的反思[J].南京:電氣電子教學學報,2012,34(2):112-114
[5]顏雪松,樊媛媛等.數(shù)字邏輯課程設計的教學探索[J].北京:中國科教創(chuàng)新導刊,2008,8:31-31
[6]俎云霄,王衛(wèi)東.基于課程群的電子信息類專業(yè)基礎課教學改革[J].北京:現(xiàn)代教育技術,2OlO,20(13):34-36
[7]施鍵蘭,趙芮,黃文秀,李冬芬.《數(shù)字邏輯》課程教學改革的探索[J].廣州:現(xiàn)代計算機:下半月版,2011,19:45-47