慕明濤 張靜 霍滿鵬 劉俊俊 蒲力群
智力低下(mental retardation,MR)是由染色體異常等多種原因?qū)е碌闹袠猩窠?jīng)系統(tǒng)發(fā)育障礙而引起的一類疾病。文獻報道中國智力低下兒約有540萬,占殘疾兒童總數(shù)的2/3[1-3]。在間接分裂的后期,染色體微小裂片不能正常進入子核而形成微核(micronucleus)。微核檢測是研究化學(xué)物質(zhì)誘發(fā)染色體畸變和細胞微核形成的敏感指標之一。作者分析了智力低下兒染色體畸變與微核發(fā)生率及其關(guān)系,以期明確智力低下的病因及為優(yōu)生提供科學(xué)依據(jù)。
1.1 一般資料 經(jīng)延安市各級醫(yī)院診斷為智力低下,并于我室行遺傳咨詢患兒40例(智力低下組),其中男22例,女18例;年齡2~14歲。對照正常兒童20例(正常對照組),其中男10例,女10例;年齡3~13歲,與智力低下兒同住在一地區(qū),2組年齡、性別比無顯著性差異。
1.2 方法
1.2.1 染色體畸變分析:按照常規(guī)方法制備染色體G顯帶標本。鏡檢30個比較分散、大小適宜的標本。對異常者計數(shù)增加20個細胞。
1.2.2 微核檢查:常規(guī)方法培養(yǎng)與制片,光鏡下檢查記錄帶微核的細胞數(shù),以千分率表示。微核判斷標準為胞漿中小于主核1/3以下呈圓形、橢圓形與主核相分離或相切的,染色性能與主核一致或染色稍淺不折光的小核即為微核。
1.3 統(tǒng)計學(xué)分析 應(yīng)用SPSS 11.0統(tǒng)計軟件,計數(shù)資料比較采用χ2檢驗,P<0.05有統(tǒng)計學(xué)意義。
2.1 染色體核型異常與其檢出率 對受檢智力低下兒染色體核型檢查,發(fā)現(xiàn)異常核型15例,異常檢出率37.5%,高于文獻報道(約20%)[4]。其中21-三體型10例,異常率為25%,占總異常核型的66.67%。21-三體發(fā)生率明顯偏高,是引起智力低下的主要的異常染色體類型。正常對照組染色體異常率為5.0%(1/20),兩者間差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P<0.01)。
2.2 智力低下組與正常組微核檢測及與染色體異常的關(guān)系 通過細胞微核觀察及其發(fā)生率計算,發(fā)現(xiàn)智力低下組的微核率和染色體異常率分別為12.5%和37.5%,兩者與正常對照組(5.0%、3.26%)間比較差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P<0.01)。提示染色體畸變增加可能使微核率上升,兩者間有一定的關(guān)聯(lián)性。見表1。
表1 2組微核發(fā)生率與染色體異常的比較
3.1 染色體畸變與智力低下 染色體異常、早產(chǎn)、感染及營養(yǎng)不良、物理化學(xué)等因素,均可導(dǎo)致智力低下,而染色體異常的遺傳因素約占智力低下病因的40.0%[5-8]。姜玉武等[9]報道每1 000個10歲兒童里有12個是智力低下。本文通過對40例智力低下兒染色體畸變的研究表明,染色體異常率(37.5%)顯著高于正常對照組(P<0.01)。21-三體(也稱先天愚型)發(fā)生率明顯偏高,占總異常的66.67%,是引起智力低下的主要類型。21-三體主要是由于母親的年齡偏大、病毒感染、環(huán)境有害物的接觸以及上下代間的遺傳等多種原因致使近端著絲粒染色體異常分離而多了1條21號染色體。檢出染色體畸變主要類型有染色單體碎裂、缺失著絲粒的染色體斷片、易位。共同臨床特征為:程度不同的智力障礙、生長發(fā)育滯后、體格多瘦小、常伴特殊面容。
3.2 智力低下與微核發(fā)生 微核是如何形成的,目前尚無定論,多數(shù)學(xué)者認為微核來自染色體發(fā)生異常而形成的無著絲粒的斷片[10-13],從而在有絲分裂的后期無法進入子細胞核,形成了脫離細胞核的微核。如母親較長時間接觸環(huán)境有害物可能使生物大分子發(fā)生化學(xué)鍵的斷裂或交聯(lián)[14-18],導(dǎo)致DNA受損,染色體異常頻率增加,即可引起微核發(fā)生率的增加。作者實驗表明智力低下兒的微核率(12.5%)極顯著高于對照組,差異具有統(tǒng)計學(xué)意義(P<0.01)。說明染色體異常分裂的頻率增加,微核發(fā)生率也隨之增加,進而引起個體的智力障礙。由此可推測微核率增大可能是誘發(fā)智力低下的重要的遺傳學(xué)原因。
引起智力低下的病因是復(fù)雜的,臨床上有必要重視監(jiān)測和篩查小兒的發(fā)育狀況和染色體信息[19,20],這對于早期找到智力低下兒的病因、降低智障發(fā)生率有著重要的意義。
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