劉東光,胡江華
(中國電子科技集團(tuán)公司第38研究所,合肥 230088)
微帶板圖形電路表面需制備導(dǎo)電性好、可焊性強(qiáng)、不受腐蝕、有一定厚度的鍍層,往往要在線條表面進(jìn)行鍍金。電鍍金工藝受線條細(xì)間距(≤50 μm)和寬度窄(≤50 μm)等因素影響,需借助工藝引線,實(shí)施起來比較復(fù)雜。另外電鍍鎳金層呈片狀生長的顆狀結(jié)晶,其晶間界溝容易受到鍍金液的攻擊,造成局部的過腐蝕,嚴(yán)重時會腐蝕到Cu基體,導(dǎo)致鍍金層附著性不好或焊接性不良,而且工藝產(chǎn)生的側(cè)邊腐蝕也會影響線條精度,同時也會污染鍍金液,縮短鍍金液的壽命,因此電鍍金較少被采納?;瘜W(xué)鍍金作為微帶板可焊性表面處理技術(shù)之一,兼具可選擇區(qū)域鍍、可接觸導(dǎo)通、優(yōu)良的鍵合性能,能兼容各種助焊劑,同時又是一種極好的銅面保護(hù)層,在國內(nèi)外逐漸得到重視和應(yīng)用[1~3]。
傳統(tǒng)有氰化學(xué)鍍金技術(shù)在微電路表面化學(xué)鍍時,鍍層厚度較薄,一般不超過2 μm,滿足不了可焊性要求,而且由于鍍液的長期使用,pH值降低,Au+發(fā)生歧化。導(dǎo)致Au微粒的產(chǎn)生。這些Au微粒在化學(xué)反應(yīng)和攪拌的作用下,能很快沉積到線條上,形成瘤子和毛刺。圖形電路線條間距太小,當(dāng)瘤子和毛刺發(fā)展到和旁邊導(dǎo)體相連時,就會引起電路的短路和失效。同時銅線條周邊的陶瓷絕緣基體由于活化步驟也會在上面析出金,容易發(fā)生鍍金層溢出現(xiàn)象[4,5],這種鍍金層溢出容易引起電氣短路,而且有氰工藝對環(huán)境污染嚴(yán)重。
本文采用市售無氰工藝配方,在線寬距為50 μm/50 μm的圖形電路外表面鍍金。表層鍍金均勻一致,厚度可以達(dá)到2 μm以上,無鍍金層溢出現(xiàn)象。實(shí)驗(yàn)表明化學(xué)鍍金能滿足微波電路的長期可靠性要求。
選用材料:實(shí)驗(yàn)所選用99% Al2O3陶瓷基板圖形電路最小線寬50 μm,線條最小間距50 μm。線條底層濺射Cr/Cu多層膜,圖1所示為圖形電路表面形貌??梢钥闯銎渲芯€條表面具有少量微孔和夾雜,這是因?yàn)橥獗砻鍯u由于長時期大氣環(huán)境下放置,已部分被氧化和剝落。因此進(jìn)行化學(xué)鍍金工藝之前Cu表面都經(jīng)歷酸洗和真空干燥保存。
圖1 微帶板電路圖形和線條
無氰化學(xué)鍍金工藝采用市售日本田中公司(EEJA)工藝配方技術(shù),如表1中所示。
表1 市售EEJA工藝配方
其基本工藝過程如下:除油→酸浸→微蝕→預(yù)浸→活化→化學(xué)鍍鎳→置換浸鍍金→化學(xué)鍍金→水洗→吹干,各步驟之間需要2~3道水洗。其中需要加熱的除油、化學(xué)鍍鎳、浸鍍金及化學(xué)鍍金步驟在玻璃燒杯中進(jìn)行,由水浴恒溫控制操作溫度。結(jié)合實(shí)際工藝試驗(yàn),本文重點(diǎn)敘述鍍金工藝中化學(xué)鍍金建浴方法以及鍍液的維護(hù)。
建浴方法(標(biāo)準(zhǔn)1 L):首先加入0.5 L PRECIOUSFAB ACG3000GX MAKE UP鍍槽內(nèi)。邊攪拌邊加入60~100 g PRECIOUSFAB ACG3000GX AGENT-K到鍍槽內(nèi),使其全部溶解,邊攪拌邊加入25 mL PRECIOUSFAB ACG3000 Au SOLUTION(金屬Au 2 g),并使其完全混合,邊攪拌邊加入0.2 L PRECIOUSFAB ACG3000GX REDUCER,并使其完全混合。使用47%硫酸溶液(約4 mL)將pH調(diào)整到7.5。加入純水將液量體積調(diào)整到1 L并攪拌將鍍液升溫到65 ℃。
用體式光學(xué)顯微鏡觀察微帶電路化學(xué)鍍金前后鍍層的表觀形貌,分析膜的形成規(guī)律。用數(shù)字式覆層測厚儀(MVC21000JMT1)測定鍍金層的厚度,恒壓探頭進(jìn)行檢測,不受人為因素的影響。采用3M膠帶進(jìn)行結(jié)合力測試。將膠帶在試片上壓牢,然后以垂直于鍍層表面方向以一定的速率將膠帶剝離,觀察鍍層是否剝掉。
按GJB150要求進(jìn)行96 h中性鹽霧試驗(yàn),測試條件為:5% NaCl 水溶液,鹽霧沉降量為2 mL / L,pH為6. 5~7. 2,采用連續(xù)噴霧方式,實(shí)驗(yàn)溫度35 ℃。
圖形電路化學(xué)鍍中易產(chǎn)生幾種典型的鍍層缺陷:結(jié)瘤、微坑或夾雜、側(cè)邊腐蝕,特別是銅線條周邊的陶瓷絕緣基體由于活化步驟也會在上面析出金,容易發(fā)生鍍金層溢出現(xiàn)象,而且線條間距太小,邊緣化學(xué)勢低,在線條間距和周邊容易引起枝晶,導(dǎo)致電路連接失效。
本工藝試驗(yàn)出的化學(xué)鍍金層表面形貌如圖2所示。鍍層表面光滑平整,顆粒大小一致,膜層均勻細(xì)致,致密,無瘤子,無色斑,相對于原始線條基底為致密態(tài),整個線條表面沒有明顯的結(jié)瘤和夾雜,在線條邊緣也沒有出現(xiàn)毛刺和枝晶效應(yīng)?;瘜W(xué)鍍金后,間距為50 μm的電路圖形仍具有線條邊緣直、均勻、精度好、可靠性高、損耗小等優(yōu)點(diǎn)。
圖2 化學(xué)鍍金層表面形貌
用EEJA配方技術(shù)獲得的鍍金層組織結(jié)構(gòu)特性如表2所示:EDS分析鍍層的成分,得出金鍍層純度為99. 9%。能達(dá)到電子電路對鍍金層的要求:用超聲熱壓對鍍層進(jìn)行焊接。其可焊性良好,焊接強(qiáng)度高。
表2 鍍層組織特性
化學(xué)鍍金要除去上述的鍍層缺陷,除仔細(xì)操作外,鍍液必須定期進(jìn)行維護(hù)和分析,維護(hù)主要從三個方面進(jìn)行。
3.2.1 金屬Au濃度
使用范圍:1.8~2.2 g/L。2.2 g/L以上時,鍍液不穩(wěn)定容易分解;1.8 g/L以下時,析出速度降低。使用PRECIOUSFAB ACG3000 Au SOLUTION調(diào)整。添加1g Au對應(yīng)添加12.5 mL PRECIOUSFAB ACG3000 Au SOLUTION。分析方法:AA測定。
3.2.2 pH值范圍
使用范圍:7.4~7.6。7.6以上鍍液容易分解,7.4以下析出速度會降低。調(diào)整:提高pH時,使用48%氫氧化鉀溶液。降低pH時,使用47%硫酸溶液。使用pH計測定。
3.2.3 溫度
使用范圍:63~67 ℃。67 ℃以上鍍液容易分解,63 ℃以下析出速度會降低。
除油:用EETOREX 15脫脂劑室溫下去除銅線路表面油脂污垢,使其活化而形成適合于化學(xué)鍍的表面狀態(tài),進(jìn)行2 min。其中特別注意脫脂劑含有大量表面活性劑,需用熱水、去離子水反復(fù)充分洗滌。
微蝕:用MICROFAB 74使銅線條表面粗化以獲得附著力良好的鍍層。微蝕時間應(yīng)視濺射銅層厚度而定,以防過蝕。試驗(yàn)微蝕1 min,為防止銅表面的快速氧化,采取預(yù)浸步驟后立即置于活化液中。
活化:采用LECTROLESS AC-2基本液于室溫下在銅線路上析出鈀活化中心2 min?;罨瘯r間太長或太短分別會造成滲鍍或漏鍍現(xiàn)象。另外活化后的水洗也很重要,過多的沖洗易使活化中心消失。
化學(xué)鍍鎳:采用LECTROLESS NP7600在80 ℃槽液下在已活化的銅表面反應(yīng)析出鎳-磷鍍層,施鍍時間5 min,厚度大約為1.3 μm。
置換鍍金:采用LECTROLESS Au 1100在常溫下進(jìn)行置換鍍金反應(yīng),鍍Ni層表面逐漸被金所覆蓋的過程中,上述反應(yīng)會越來越慢直至Ni鍍層表面被完全覆蓋,本試驗(yàn)施鍍2 min,厚度約為0.05 μm。
化學(xué)鍍金:PRECIOUSFAB ACG3000GX為中性無氰自還原型-化學(xué)金鍍液,65 ℃條件下1 h可以沉積0.5~0.8 μm的厚度,可以根據(jù)需要的膜厚進(jìn)行調(diào)整。鍍金層厚度隨反應(yīng)時間的延長而增加,當(dāng)化學(xué)鍍金層厚度大于0.3 μm時,鍍層幾乎沒有孔隙。本試驗(yàn)進(jìn)行化學(xué)還原鍍金2.7 h。厚度為2.1~2.4 μm。
化學(xué)鍍金工藝采用市售成熟鍍金開缸劑和添加劑。工藝操作簡單、方便,不需昂貴的設(shè)備。在圖形電路上實(shí)施化學(xué)鍍金,鍍層表面光滑平整,沒有明顯的結(jié)瘤和夾雜,線條邊緣也沒有出現(xiàn)毛刺和枝晶效應(yīng)。鍍金后圖形仍具有線條邊緣直、均勻、精度好、可靠性高、損耗小等優(yōu)點(diǎn)。該工藝技術(shù)在制作精細(xì)、復(fù)雜的微波器件方面具有其他技術(shù)無法企及的優(yōu)越性。新工藝清潔環(huán)保,能減少對環(huán)境的氰化物污染。
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