孫 芳,廉永福
(1.牡丹江師范學(xué)院;2.黑龍江大學(xué))
1993年,日本NEC公司基礎(chǔ)研究實驗室的Iijima和美國IBM公司的Bethune等人制備出了單壁碳納米管[1-2].目前,制備單壁碳納米管的方法主要有三種:電弧放電法[3-4]、化學(xué)氣相沉積法(CVD 法)[5-6]及激光蒸發(fā)法[7],但無論采取何種合成方法,制備的碳納米管產(chǎn)物中總是存在或多或少的雜質(zhì).比如,電弧法制備的單壁碳納米管粗品中,含有無定形碳、卷曲石墨片、石墨顆粒及反應(yīng)中所用的催化劑顆粒等雜質(zhì),這些不純物的存在制約著有關(guān)單壁碳納米管的性能研究和應(yīng)用潛力的開發(fā).因此,需要對單壁碳納米管粗品進行純化研究,以此來提高反應(yīng)純度和改善結(jié)構(gòu).目前,對于單壁碳納米管的純化方法主要有三種:一是化學(xué)法,二是物理法,三是綜合法.實驗選擇化學(xué)法(用K2S2O8/H2SO4氧化)和物理法(離心)結(jié)合來純化單壁碳納米管粗品,研究表明,該方法可以顯著地提高單壁碳納米管的純度.而且,與濃硫酸和濃硝酸[8]純化的方法相比,該法不僅危險性減小且污染少.
單壁碳納米管粗品為實驗室電弧法自制;過硫酸酸銨,濃硫酸,N,N-二甲基酰胺等化學(xué)試劑均為分析純;LD4-2型離心機為北京醫(yī)用離心機廠產(chǎn)品;TGL-16G型臺式離心機為上海安亭科學(xué)儀器廠產(chǎn)品;DZFF-6050型真空干燥箱為上海精宏實驗設(shè)備有限公司產(chǎn)品;KQ-250DB型數(shù)控超聲波清洗器為昆山市超聲儀器有限公司產(chǎn)品.
(1)焙燒
首先用電子天平稱取適量單壁碳納米管粗品,用瓷坩堝裝好,在馬弗爐中焙燒,控制溫度為350℃,焙燒30 min.
(2)氧化、過濾和干燥
將經(jīng)過焙燒過的樣品100 mg放入三頸瓶中,倒入75 mL 0.2 mol/L的過硫酸銨溶液,再加入12.5 mL濃硫酸,安裝好冷凝回流裝置,于60℃下磁力攪拌24 h,待反應(yīng)完畢后,冷卻至室溫,將上層清液倒出,下層黑色固體用蒸餾水反復(fù)洗滌輔助低速離心至pH=6~7,然后用孔徑為0.22μm的微孔過濾油膜抽濾,在干燥箱中于120℃干燥2 h,即得到氧化后的SWNTs樣品.
(3)離心分離處理
將氧化后的單壁碳納米管樣品用超聲波分散于DMF中30 min,在10000 r/min下離心30 min,吸取離心液,將沉淀再用超聲波分散于DMF中,在10000 r/min下離心30 min,反復(fù)進行3~4次,直到離心液顏色變淺至無色,收集各種上層清液,得到純凈的SWNTs樣品溶液,用0.22μm孔徑的微孔過濾油膜過濾,即得到純凈的SWNTs樣品.
(1)X射線衍射(XRD)測試采用Rigaku D/max-Ш B 型衍射儀,Cu Kα (λ =1.5406 ?)靶.通過對樣品的衍射峰的位置和強度進行歸一化后與標準粉末衍射PDF卡片JCPDS進行比較可以獲得樣品的晶相,從而實現(xiàn)樣品的定性分析.
(2)掃描電子顯微鏡(SEM)測試采用HITACHI S-4800型儀器進行樣品形貌的分析.
(3)拉曼光譜(Raman)測試采用Jobin Yvon HR 800光譜儀檢測樣品的拉曼信號.
(4)紫外-可見-近紅外(UV-VIS-NIR)測試采用U-3400型紫外-可見分光光度計來檢測單壁碳納米管的特征吸收峰.
由于在單層碳納米管的生長過程中,需要添加金屬催化劑,以保證得到單層的,本實驗采用Ni/Y作為催化劑.從圖1中的XRD圖中可以看出,原樣的XRD圖1 a中2θ=44.03,51.44為金屬Ni的衍射峰(其它金屬催化劑含量太小,XRD沒有檢測到),說明在原樣中的金屬催化劑是以單質(zhì)的形態(tài)存在的.焙燒后的樣品中金屬Ni被氧化為 NiO,圖 1 b 中 2θ=37.04,43.31,62.87為NiO的衍射峰,說明經(jīng)焙燒后金屬被氧化為金屬氧化物.純化后的樣品XRD如圖1 c所示,金屬及金屬氧化物的衍射峰消失,說明在(NH4)2S2O8/H2SO4溶液氧化過程中,金屬氧化物完全變成了離子,再經(jīng)洗滌過程被除掉.
圖1 樣品的XRD譜圖
紅外吸收光譜是一個非常有力的工具,理論計算與實驗均證明:SWNTs在紫外-可見-近紅外譜圖中有三個特征吸收峰,即700 nm、1020 nm和1850 nm.通常以1020峰進行定量分析,這是由于1850 nm的峰極易受水峰的影響而不準確,而當(dāng)雜質(zhì)較多時,在700 nm處無明顯的峰.圖2是粗品單壁碳納米管和純化后的樣品在DMF中的UV-vis-NIR吸收光譜.可以看出,兩個樣品在1024和700 nm處都觀察到了單壁碳納米管的特征吸收峰.1024 nm來源于半導(dǎo)體性納米管的第二間帶電子躍遷(S22),700 nm來源于金屬性納米管的第一間帶電子躍遷(M11).與未經(jīng)處理的粗品單壁碳納米管相比(如圖2 a),純化后的樣品呈現(xiàn)出非常顯著的特征吸收峰(如圖2 b),說明采用K2S2O8/H2SO4氧化和離心相結(jié)合的方法可以顯著地提高單壁碳納米管的純度.
圖2 純化前后SWNTs在DMF中的UV-vis-NIR譜圖
從樣品純化前后的SEM(圖3)可以看出,在純化前樣品中存在大量粒狀雜質(zhì)(圖3a),離心后得到的純化樣品中,大量的粒狀雜質(zhì)被基本除去,剩下純度較好的單壁碳納米管(圖3b).
在SWNTs純度的檢測中,紫外-可見-近
圖3 樣品的SEM譜圖
從以上結(jié)果可知,粗品單壁碳納米管通過過硫酸銨/硫酸溶液氧化并結(jié)合離心的方法,可以有效地將粗品單壁碳納米管進行純化,將使其物理和化學(xué)性能得以充分發(fā)揮.
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