張紅勇,方 軍
(1.西安理工大學(xué),陜西西安710048;2.西安工業(yè)大學(xué),陜西西安710048)
YPIR-QT是基于紅外輻射原理的非接觸式測量儀表,它將進(jìn)入其測量范圍的特殊紅外輻射能量量化,轉(zhuǎn)化為可以識別和利用的電信號。適用于高溫、移動目標(biāo)的測量。具有響應(yīng)速度快、不破壞被測物體溫度分布、可測較小目標(biāo)等特點(diǎn)。
被測物體表面的紅外輻射經(jīng)物鏡投射到分光鏡上,如圖1所示,其可見光部分透過分光鏡會聚到分劃板,用來觀察瞄準(zhǔn)目標(biāo);紅外部分光線則被反射,經(jīng)濾光后會聚到紅外探測器上。紅外探測器將接收到的紅外能量轉(zhuǎn)化為電信號,就是被測的目標(biāo)信號。
圖1 紅外測徑儀YPTR-QT結(jié)構(gòu)圖
直拉法是把鍺多晶原料放入坩堝,在單晶爐內(nèi)加熱熔化,溫度約達(dá)930攝氏度。將晶種(稱籽晶)浸入溶液中,如圖2所示。在適宜的溫度下,溶液中的原子會順著晶種的原子排列結(jié)構(gòu)在固、液分界面處形成規(guī)則的結(jié)晶,把晶種緩慢旋轉(zhuǎn)并向上提升,最后形成一根圓柱形的原子排列整齊的鍺單晶晶體??刂奇N單晶圓柱部分直徑均勻,是單晶生長的首要要求。紅外測徑儀YPIR-QT是常用的直徑檢測元件。
圖2 鍺單晶生長示意圖
自然界的所有高于熱力學(xué)零度的物體,都在向外發(fā)出紅外輻射。根據(jù)普朗克定律,物體的溫度越高,其輻射能量越大。測徑儀YPIR-QT接收鍺晶體發(fā)出的輻射能量,間接反應(yīng)晶體直徑的變化。單晶生長過程中,在固、液分界處,圍著圓柱形的固體晶體會形成一個溫度很高的透亮光圈,透過測徑儀YPIR-QT的觀察窗,內(nèi)有一黑色小環(huán),調(diào)整測徑儀位置,選擇合適的測量點(diǎn),使小環(huán)與單晶周圍光圈相交,如圖3所示,如果單晶直徑變大,光圈外延,與小環(huán)重疊的面積增大,測徑儀接收的紅外輻射能量增加,輸出信號增大;如果單晶直徑變小,光圈收縮,與小環(huán)重疊面積減小,測徑儀接收的紅外輻射能量減少,輸出信號減小,反應(yīng)了單晶生長過程中直徑變化情況。單晶生長過程中,不僅垂直向上提拉,而且旋轉(zhuǎn),紅外測徑儀YPIR-QT的檢測對象——單晶處于動態(tài);其次,成品單晶長度約2m,上提拉軟軸行程很長,與鐘擺類似,單晶存在晃動,特別是剛開始單晶較輕的時(shí)候,光圈也隨之?dāng)[動;再加光圈本身不是很規(guī)則圓形,所有這些因素,造成單晶直徑實(shí)際尺寸沒有變化,但是紅外測徑儀YPIR-QT輸出的直徑測量信號有周期性波動。所以,紅外測徑儀YPIR-QT需要從目標(biāo)測量值輸出信號的控制算法上改進(jìn),提高自身抗干擾能力[1]。
圖3 測徑儀觀察到的小環(huán)與單晶周圍光圈示意圖
單晶生長過程中,紅外測徑儀YPIR-QT,周期性地測量、輸出晶體的直徑信號;采用自適應(yīng)控制的思路如圖4所示,根據(jù)所獲得的實(shí)時(shí)動態(tài)信息數(shù)據(jù),分析規(guī)律,對數(shù)據(jù)真實(shí)性進(jìn)行辨識,及時(shí)修改、優(yōu)化信號計(jì)算單元,達(dá)到直徑逼近最真實(shí)情況的效果,克服各種干擾對測量值的影響[2]。
圖4 自適應(yīng)直徑檢測原理框圖
從自適應(yīng)直徑檢測原理框圖,建立紅外測徑儀YPIR-QT直徑輸出信號的閉環(huán)傳遞函數(shù),如圖5所示,加入調(diào)節(jié)器單元時(shí),對紅外測徑儀信號計(jì)算單元結(jié)構(gòu)、參數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)估計(jì)、修改,主要特點(diǎn)是在閉環(huán)條件下進(jìn)行,調(diào)節(jié)通道、輸出通道必須保證閉環(huán)系統(tǒng)輸出直徑信號序列是穩(wěn)定的[3]。
圖5 閉環(huán)傳遞函數(shù)
紅外測徑儀的直徑輸出數(shù)學(xué)模型可視為受控的自回歸滑動平均差分方程模型,不加自適應(yīng)調(diào)節(jié)通道時(shí),用差分方程表示為:
簡化為時(shí)域函數(shù):
其中,A,B,C 為多項(xiàng)式參數(shù);階次分別 na,nb,nc。u(t-k),y(t),w(t)分別是輸入、輸出和擾動;k為延遲時(shí)間,數(shù)值為采樣周期的整數(shù)倍。
令:
調(diào)節(jié)單元的G(Z-1)、F(Z-1)也為多項(xiàng)式參數(shù),階次分別 nf,ng。
令:
為了方便分析,設(shè):延遲 k=0,b0=0,na=nb=nc=n,可得:
加入自適應(yīng)調(diào)節(jié)通道后,以擾動為輸入的閉環(huán)傳遞函數(shù)為:
寫成矩陣形式:α=Sθ,其中系數(shù)矩陣S有n+max{nf,ng}行,2n列。有唯一解的條件是S的秩為2n,等價(jià)于 n+max{nf,ng}≥2n。
也就是說:設(shè)計(jì)調(diào)節(jié)器單元傳遞函數(shù)F(Z-1)、G(Z-1)時(shí),其階次必須大于等于信號計(jì)算單元傳遞函數(shù)的階次,系統(tǒng)才是穩(wěn)定的,才能保證紅外測徑儀YPIR-QT穩(wěn)定工作。
表1是鍺單晶生長過程中,用紅外測徑儀YPIR-
帶入式(3)得:
Q(Z-1)=F(Z-1)C(Z-1)
P(Z-1)=A(Z-1)F(Z-1)+B(Z-1)G(Z-1)
P(Z-1)的階次滿足:l=n+max(ng,nf)。保證閉環(huán)系統(tǒng)輸出穩(wěn)定的直徑信號序列y(t),要求閉環(huán)系統(tǒng)必須是穩(wěn)定的,即P(Z)有唯一解。將A,B,C,G,F(xiàn),P 多項(xiàng)式帶入 P(Z-1)=A(Z-1)F(Z-1)+B
比較上式兩邊同冪系數(shù),得如下方程組:QT測量直徑,直徑測量值反饋到控制系統(tǒng)時(shí),做濾波、均值處理后,得到的直徑檢測統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。與不做處理的測量值對比如下表:晶體生長條件為:晶體實(shí)際直徑150 mm,對應(yīng)測量的輸出電信號參考量為無量綱值 360,提拉速度為 0.6 mm/min,旋轉(zhuǎn)12 r/min。
表1 紅外測徑儀測量鍺單晶直徑統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
晶體開始生長初期,晃動比較嚴(yán)重,以晶體長度為10mm、20mm時(shí)為例,對直徑測量值做曲線比較,如圖6所示。
圖6 不同晶體長度的直徑測量值
從圖6可以看出,對紅外測徑儀YPIR-QT測量的直徑信號作適當(dāng)?shù)靥幚恚瑴y量值穩(wěn)定性提高,改善了晶體圓錐擺影響直徑測量值的問題,減輕了直徑自動控制系統(tǒng)的負(fù)擔(dān)。
隨著被測物工況的復(fù)雜化,紅外測徑儀YPIRQT采用自適應(yīng)控制方法進(jìn)行信號處理,提高自身抗干擾能力,是現(xiàn)代工業(yè)發(fā)展的需求。對于自適應(yīng)控制的具體算法,由于篇幅的限制,我們將另行分析探討。
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