莊瑞舫
(南京大學(xué)配位電化學(xué)研究所,江蘇南京 210093)
羥基乙叉二膦酸電解液鍍銅的研究和生產(chǎn)應(yīng)用(Ⅰ)(待續(xù))
——鍍銅工藝和電沉積機(jī)理
莊瑞舫
(南京大學(xué)配位電化學(xué)研究所,江蘇南京 210093)
回顧了羥基乙叉二膦酸電解液鍍銅在國內(nèi)的研究和生產(chǎn)應(yīng)用概況。研討了羥基乙叉二膦酸鍍銅工藝的絡(luò)合和電析機(jī)理。討論了鍍液與鍍層的性能以及工藝操作條件與維護(hù)方法,并與氰化鍍銅工藝作了比較。結(jié)果表明,加入CuR-1添加劑的羥基乙叉二膦酸鍍銅工藝作為替代氰化鍍銅是很有發(fā)展前途的無氰堿性鍍銅新工藝。
無氰鍍銅;羥基乙叉二膦酸;鍍銅絡(luò)合劑;添加劑
根據(jù)《中華人民共和國清潔生產(chǎn)法》的要求,為了保護(hù)環(huán)境、減少污染,在電鍍工藝中實(shí)現(xiàn)以無氰工藝代替劇毒的氰化工藝是一項(xiàng)極為重要的課題。
早在1978年,某高校絡(luò)合物化學(xué)研究所電鍍組與某部無氰電鍍攻關(guān)組協(xié)作,聯(lián)合進(jìn)行有機(jī)多膦酸羥基乙叉二膦酸(HEDP)作為代氰通用絡(luò)合劑應(yīng)用于電鍍工藝研究攻關(guān)。協(xié)作攻關(guān)從1978年起至1981年結(jié)束,歷時三年多時間。其中有一年多的生產(chǎn)考核,1979年11月由郵電部組織通過了鑒定。江蘇省還為此頒布重要科技成果獎。HEDP直接鍍銅的研究報告和生產(chǎn)考核先后由材料保護(hù)期刊和科學(xué)技術(shù)文獻(xiàn)出版社出版的科學(xué)技術(shù)成果報告——通用電鍍絡(luò)合劑 HEDP鍍銅和銅-錫合金[1-2]發(fā)表。以后,國內(nèi)很多研究和生產(chǎn)單位也陸續(xù)開展了HEDP鍍銅工藝的研究和應(yīng)用。對HEDP鍍銅工藝的發(fā)展和生產(chǎn)應(yīng)用起到很大的推動作用。
根據(jù)HEDP鍍銅的研究和生產(chǎn)考核結(jié)果[1-3]表明,該工藝與氰化物鍍銅工藝一樣能在鋼鐵件上直接電鍍獲得結(jié)合力良好的細(xì)致、半光亮鍍層。鍍液成分簡單穩(wěn)定,易于控制。操作維護(hù)方便,維護(hù)費(fèi)用低于氰化物鍍銅工藝。鍍液電流效率和深鍍能力優(yōu)于氰化物鍍銅工藝。缺點(diǎn)是允許陰極電流密度較窄(Jκ≤1.5A/dm2),整平性能也不如氰化物鍍銅工藝。為了解決這一缺點(diǎn),又研究加入CuR-1型添加劑[4],克服了原工藝缺點(diǎn),Jκ可擴(kuò)大至 3 A/dm2,并提高了鍍液的整平性能。以后的生產(chǎn)實(shí)踐表明,該工藝也適用于鋅合金和鋁合金零件的鍍覆,成為有發(fā)展前途的無氰鍍銅新工藝。
HEDP鍍銅溶液配方及工藝規(guī)范如下:
按需要量稱取 HEDP,加入2~4mL/L H2O2(30%)(稀釋10倍后加入,以氧化HEDP中的亞膦酸等還原性雜質(zhì)),攪拌后用水稀釋至總體積的60%左右,逐漸加入KOH的濃溶液(要緩慢加入,以防止中和放熱反應(yīng)過分激烈),調(diào)節(jié)鍍液pH至8后,加入所需量的銅鹽[Cu(OH)2CuCO3或CuSO4·5H2O],攪拌溶解后加入導(dǎo)電鹽 K2CO3,待全部溶解后,如pH偏低,可用KOH濃溶液調(diào)節(jié)pH至9~10范圍,再加入20~25 mL/L添加劑CuR-1,最后加水稀釋至所需體積。
1)銅鹽??捎脡A式碳酸銅或硫酸銅。一般硫酸銅較易購得,但缺點(diǎn)是鍍液中多了一種成分SO4
2-,如 SO42-積累過多會造成陽極溶解過快使鍍液中Cu2+與HEDP比例失調(diào),故盡量使用堿式碳酸銅為主鹽。Cu2+的質(zhì)量濃度與允許陰極電流密度和分散能力有關(guān),為了使允許陰極電流密度、分散能力和沉積速度等性能達(dá)到實(shí)用要求,經(jīng)實(shí)驗(yàn),ρ(Cu2+)在8~12g/L范圍為宜,鍍液中ρ(Cu2+)過低,光亮范圍縮小,允許陰極電流密度下降。ρ(Cu2+)過高,分散能力降低。
2)HEDP[C(CH3)(OH)(PO3H2)2](以 H4L 表示)是鍍液中Cu2+的主絡(luò)合劑。在鍍液所確定的工藝范圍內(nèi)主要生成n(HEDP)∶n(Cu2+)=2的絡(luò)陰離子([CuL2]6-),其組成和結(jié)構(gòu)已經(jīng)研究確定[7-9]。鍍液中 ρ(HEDP)在保證與 Cu2+生成[CuL2]6-絡(luò)陰離子條件下還必須有一定量呈游離狀態(tài)。研究結(jié)果表明,鍍液中 n(HEDP)∶n(Cu2+)=(3 ~4)∶1 范圍內(nèi),pH在9~10所獲得銅鍍層與鋼鐵基體結(jié)合力好,外觀細(xì)致半光亮。如n(HEDP)∶n(Cu2+)值太低,鍍層光亮區(qū)范圍縮小,分散能力降低并且影響結(jié)合力,陽極也易鈍化。n(HEDP)∶n(Cu2+)太高,鍍液陰極電流效率低,沉積速度慢。因此,當(dāng)鍍液中 ρ(Cu2+)在8~12g/L時,相應(yīng) ρ(HEDP)為80~130g/L為宜。
3)碳酸鉀。碳酸鉀是導(dǎo)電鹽,能提高鍍液導(dǎo)電率和分散能力。根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果ρ(K2CO3)在40~60g/L為宜,太高會縮小鍍層光亮區(qū)范圍。
4)添加劑CuR-1。主要作用是擴(kuò)大允許Jκ并提高整平性能。鍍液未加添加劑時最大允許Jκ為1.5 A/dm2,加入添加劑 CuR-1 后最大允許 Jκ為3.0 A/dm2,配槽時 ρ(CuR-1)添加劑為20 ~25mL/L,補(bǔ)充添加量可根據(jù)允許 Jk變化,利用梯形槽試驗(yàn)確定。
5)pH。HEDP與Cu2+生成的絡(luò)離子狀態(tài)視鍍液的pH而定,根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果,pH控制在9~10為宜。pH過低易產(chǎn)生置換鍍層而且分散能力變差,pH過高,梯形槽試片顯示光亮區(qū)范圍縮小,鍍層色澤變暗,鍍液調(diào)整pH時一般調(diào)高pH可用KOH,調(diào)低pH可用HEDP酸。
6)溫度。根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果,鍍液θ在30~50℃范圍內(nèi)均能獲得結(jié)合力良好的銅鍍層。但鍍液溫度會影響鍍層外觀光澤性和分散能力。如溫度控制在40~50℃較30℃時鍍層的光澤性和分散能力均提高。但若溫度過高(>50℃)則能源消耗大,槽液揮發(fā)量也大,一般以不超過50℃為宜。
7)陰極電流密度。根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果,上述基本鍍液配方在未加入添加劑CuR-1時,允許Jκ在1~1.5 A/dm2。實(shí)際Jκ大小還決定于鍍液的溫度和陰極是否移動。一般θ為50℃,采用陰極移動(15~25次/min)時,允許Jκ上限可擴(kuò)大至3.0A/dm2。
8)陽極。陽極采用純度高的軋制銅板較好,為盡量避免陽極污染鍍液,影響電鍍質(zhì)量,陽極最好采用尼龍?zhí)装?,鍍液中n(HEDP)∶n(Cu2+)降低或SA∶Sκ過小均易使陽極鈍化。一般Sκ∶SA要求控制在1∶1.5??筛鶕?jù)電鍍實(shí)際情況調(diào)整。
HEDP(以H4L代表)是有機(jī)多膦酸,結(jié)構(gòu)與無機(jī)焦磷酸相似。焦磷酸中二個磷酸根是通過氧鍵橋聯(lián)的(P—O—P鍵),而HEDP中二個磷酸根是通過碳鍵橋聯(lián)的(P—C—P鍵)。由于氧原子電負(fù)性大于碳原子,橋聯(lián)鍵的極性不同,故HEDP的配位能力比焦磷酸強(qiáng),相應(yīng)金屬配合物的穩(wěn)定性更高,穩(wěn)定常數(shù)也更大。它不像焦磷酸鹽由于P—O—P鍵極性大,在堿性介質(zhì)中易受OH-基的攻擊而水解生成正磷酸鹽。而HEDP在高溫,高pH水溶液中不易水解生成正磷酸鹽。另外,HEDP的分子結(jié)構(gòu)中含有憎水的乙叉基因和親水的磷酸根,故HEDP的表面活性也優(yōu)于焦磷酸。由于HEDP相應(yīng)配合物的穩(wěn)定常數(shù)更大,表面活性更高,故HEDP鍍銅液中銅的析出電位要負(fù)于焦磷酸鹽鍍液的,陰極極化也大于焦磷酸鹽鍍液,因此,HEDP鍍銅工藝解決了焦磷酸鍍銅工藝存在的一些缺點(diǎn),性能更好,鍍液更穩(wěn)定,使用壽命也長。
對HEDP鍍銅工藝進(jìn)行研究實(shí)驗(yàn)同時,也對HEDP與Cu2+在溶液中生成配合物的組成和性質(zhì)進(jìn)行了研究,發(fā)現(xiàn)HEDP與Cu2+配合物的組成隨溶液中n(HEDP)∶n(Cu2+)比和pH而異。在HEDP鍍銅液的工藝范圍內(nèi)(未加導(dǎo)電鹽 K2CO3),當(dāng)n(HEDP)∶n(Cu2+)為 2~4,pH 為 9~10時,主要生成 n(HEDP)∶n(Cu2+)為 2的配合陰離子[CuL2]6-(HEDP 以 H4L 表示)。在鍍液組成的條件下(未加導(dǎo)電鹽 K2CO3)培養(yǎng)出組成為K4Na2(CuL2)·12H2O的鉀鈉鹽單晶為藍(lán)色針狀晶體,易溶于水。進(jìn)行了成分分析、紅外光譜、磁化率和導(dǎo)電率等一系列的研究,測定了該配合物單晶的晶體結(jié)構(gòu)和晶胞參數(shù)。單晶的組成為K4Na2{Cu[C(CH3)(OH)(PO3)2]2}·12H2O。結(jié) 果證明HEDP與Cu2+在鍍液工藝規(guī)范條件下主要生成配合陰離子結(jié)構(gòu)式為:
永山政一等[10]對焦磷酸鍍銅液中生成的配合物進(jìn)行了研究,結(jié)果表明,在相應(yīng)鍍液組成的條件下{[Cu2+]總=0.3 ~ 0.6mol,[P2O74-]總=0.85 ~1.45 mol,[PO43-]總=90g/L以下,pH 為8~9時},溶液中主要生成n(P2O74-)∶n(Cu2+)=2,組成為[Cu(P2O7)2]6-的配合陰離子。對HEDP鍍銅液的研究結(jié)果與上述焦磷酸鍍銅液的結(jié)果頗為相似。[7-9]
關(guān)于HEDP鍍銅電析機(jī)理[8],實(shí)驗(yàn)研究中還求得了不同條件下相應(yīng)配離子的穩(wěn)定常數(shù)并與文獻(xiàn)值作了比較,結(jié)果見表1。
表1 銅的穩(wěn)定常數(shù)與文獻(xiàn)值比較
從表1可以看出,本實(shí)驗(yàn)研究所得的βCuH2L、βCuHL-、βCuL2-及 βCu(HL)24-與一些文獻(xiàn)值一致[βCu(H2L)22-與 βCuL26-以前文獻(xiàn)中無報道]。
Schupp 等[14]報道了 Cu(P2O7)26-配離子的穩(wěn)定常數(shù)測定結(jié)果[logβCuPO2-=9.07,logβ27Cu(P2O7)26-=13.63],均小于相應(yīng) HEDP4-與Cu2+配離子的穩(wěn)定常數(shù)(log βCuL2-=12.34;log β CuL26-=19.35)。說明 HEDP與 Cu2+相應(yīng)配合物的穩(wěn)定性要遠(yuǎn)大于相應(yīng)焦磷酸與Cu2+的配合物。
上述研究證明,HEDP鍍銅液中銅主要以[CuL2]6-配合離子形式存在,總的電極反應(yīng)為:
[CuL2]6-配離子的電析反應(yīng)可以是一步放電,也可以是兩步放電。用旋轉(zhuǎn)圓盤電極研究了銅的電析機(jī)理,結(jié)果證明HEDP鍍銅的電析是兩步放電[8]。電析機(jī)理為:
從實(shí)驗(yàn)結(jié)果求得銅電析的表觀活化能在E=-1.0 V 和 - 1.2V 時分別為 44.128 9kJ/mol和145.636 1 kJ/mol。
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(未完待續(xù))
The Study and Industry Application of Copper Electroplating from HEDP Bath(Ⅰ)(to be continued)——Technology and Electroplating Mechanism of Copper Plating
ZHUANG Rui-fang
(Institute of Coordination Chemistry,Nanjing University,Nanjing 510300,China)
The study and industry application of copper electroplating from HEDP(1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid)bath in china has been reviewed and discussed.The coordination and electrodeposition machanism of copper from Cu-HEDP bath and the propenties of the bath solution and plate were described and compared with Cu-cyanide process.The operation condition and method for maintanance of the process were also discussed.The results show that the Cu-HEDP process(especially,having CuR-1 additive)is the preferred process for the replacement of Cu-cyanide process.
cyanide-free copper plating;1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid;copper complexing agent;addition agent
TQ153.14
A
1001-3849(2012)08-0010-04
2011-12-13
2012-04-10