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      電鍍級(jí)活性氧化銅粉的制備

      2012-11-30 09:53:02符飛燕王克軍黃革周仲承高四劉榮勝
      電鍍與涂飾 2012年9期
      關(guān)鍵詞:脫氨氧化銅鍍銅

      符飛燕,王克軍,黃革,周仲承,高四,劉榮勝

      (中國(guó)人民解放軍61699部隊(duì),湖北 武漢 430070)

      電鍍級(jí)活性氧化銅粉的制備

      符飛燕*,王克軍,黃革,周仲承,高四,劉榮勝

      (中國(guó)人民解放軍61699部隊(duì),湖北 武漢 430070)

      以純銅片為原料,經(jīng)過(guò)碳酸氫銨–氨水溶銅、常壓脫氨、焙燒等3個(gè)階段,得到了活性氧化銅粉。用掃描電鏡(SEM)、X射線(xiàn)衍射(XRD)、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-AES)等方法對(duì)所得活性氧化銅粉的性能進(jìn)行了表征。結(jié)果表明,采用該方法得到的活性氧化銅粉純度達(dá)到99%以上,金屬雜質(zhì)含量和溶解速率完全符合電鍍級(jí)氧化銅粉的要求,可以直接用于線(xiàn)路板的電鍍銅。

      氧化銅;制備;表征;印制電路板;酸性鍍銅

      1 前言

      隨著微電子技術(shù)的飛速發(fā)展,印制電路板(PCB)制造向多層化、積層化、功能化和集成化方向迅速發(fā)展[1-2],印制電路設(shè)計(jì)大量采用微小孔、窄間距、細(xì)導(dǎo)線(xiàn),使得印制電路板制造技術(shù)難度更高,常規(guī)的垂直電鍍工藝不能滿(mǎn)足高質(zhì)量、高可靠性互連孔的技術(shù)要求,于是產(chǎn)生了水平電鍍技術(shù)。水平鍍銅線(xiàn)的陽(yáng)極起先沿用垂直電鍍線(xiàn)中的磷銅球,但為了減少量產(chǎn)中頻繁拆機(jī)、一再補(bǔ)充銅球的麻煩,后來(lái)改用不溶性鈦網(wǎng)陽(yáng)極。但不溶性鈦網(wǎng)陽(yáng)極在電鍍中只具備導(dǎo)電功能,不再出現(xiàn)溶銅的主反應(yīng)。線(xiàn)路板水平電鍍銅工藝陽(yáng)極不可溶性的這一特性決定了生產(chǎn)工藝中需要間歇補(bǔ)充銅離子來(lái)維持鍍液中的銅離子濃度。現(xiàn)PCB業(yè)界水平電鍍酸銅體系中銅離子的補(bǔ)充主要依靠氧化銅粉來(lái)完成,氧化銅粉應(yīng)用于線(xiàn)路板水平電鍍銅的時(shí)代即將來(lái)臨[3]。

      目前氧化銅粉的生產(chǎn)多是采用高溫法[4-8]。譬如用化學(xué)法先生產(chǎn)成還原銅,然后擠壓成塊,于150 °C蒸發(fā)干燥,再以700 ~ 800 °C燒結(jié)成氧化銅,最后研磨成氧化銅粉。又譬如在850 ~ 980 °C下直接焙燒含氧銅鹽(如硫酸銅),熱分解生成氧化銅粉。還有采用銅氨溶液微波加熱沸騰回流沉淀轉(zhuǎn)化法生產(chǎn)氧化銅粉,等等。由于現(xiàn)有技術(shù)均存在不足,探索一條制造流程短、耗用化學(xué)原料少、廢水廢氣產(chǎn)生量低的生產(chǎn)電鍍級(jí)氧化銅粉的工藝路線(xiàn)成為一項(xiàng)緊迫的任務(wù)。本文提供了一種低溫氧化閉路循環(huán)工藝合成活性氧化銅粉的方法,并對(duì)其金屬雜質(zhì)、溶解速率、結(jié)構(gòu)形貌進(jìn)行了分析。結(jié)果表明,所得氧化銅粉純度高,酸溶解速率很快(一般在30 s內(nèi)就能溶解完全),產(chǎn)品性能穩(wěn)定,易操作,具有較強(qiáng)的實(shí)用性和顯著的經(jīng)濟(jì)效益,易于實(shí)現(xiàn)連續(xù)化和自動(dòng)化生產(chǎn)。

      2 實(shí)驗(yàn)

      2. 1 試劑和儀器

      銅片(銅質(zhì)量分?jǐn)?shù)不少于99.99 %);氨水、碳酸氫銨,均為分析純;實(shí)驗(yàn)用水為去離子水。

      2. 2 活性氧化銅粉的制備

      取一定量的銅片,按質(zhì)量比1∶2∶5加入碳酸氫銨、氨水和水,并通入空氣鼓泡,在半密閉反應(yīng)器中反應(yīng),逐漸升溫至40 °C,在該溫度下浸取銅片,生成中間產(chǎn)物碳酸二氨合銅。待浸取溶液 Cu2+質(zhì)量濃度達(dá)到120 g/L時(shí)結(jié)束反應(yīng),趁熱過(guò)濾溶液。取濾液置于反應(yīng)器中,攪拌加熱至80 °C,并進(jìn)行增壓脫氨,反應(yīng)結(jié)束后過(guò)濾,水洗 3次,得到堿式碳酸銅沉淀。將堿式碳酸銅濾餅研磨后焙燒至不再有氣體放出,自然冷卻即得到活性氧化銅粉。

      圖1為該工藝方法的流程圖。

      圖1 制備活性氧化銅粉的工藝流程Figure 1 Process flow for preparation of active copper oxide powder

      從圖 1可以看出該工藝經(jīng)過(guò)溶銅、脫氨和焙燒 3個(gè)階段制得活性氧化銅,具有以下優(yōu)點(diǎn):

      (1) 化學(xué)原料的耗用量低。溶銅階段未浸取的銅片可返回溶銅階段重新反應(yīng),脫氨階段的含銅廢液也可以返回重新利用,在整個(gè)反應(yīng)過(guò)程中幾乎沒(méi)有銅原料的損失,使銅能夠循環(huán)利用,保證了工藝過(guò)程原料的百分之百利用,從而大大降低了生產(chǎn)成本。

      (2) 廢水廢氣產(chǎn)量低。脫氨階段釋放出來(lái)的氨氣經(jīng)過(guò)吸收裝置轉(zhuǎn)化為氨水,防止了生產(chǎn)過(guò)程中的廢氣排放,具有較好的環(huán)保效益。

      (3) 工藝流程短。溶銅、脫氨和焙燒不間斷地進(jìn)行,第一階段溶銅的濾液通過(guò)泵直接打入第二階段脫氨,產(chǎn)生的濾餅直接用來(lái)焙燒,縮短了生產(chǎn)流程,易于實(shí)現(xiàn)連續(xù)生產(chǎn)。

      2. 3 性能測(cè)試

      2. 3. 1 組織結(jié)構(gòu)

      在日本理學(xué)的D/max-2400型X射線(xiàn)衍射儀(XRD)上做氧化銅粉樣品的X射線(xiàn)衍射實(shí)驗(yàn),Cu靶作為激光光源,掃速為6°/min,掃描角度范圍為0° ~ 50°。

      2. 3. 2 形貌及粒徑

      在掃描電鏡(SEM)樣品臺(tái)上貼上雙面膠,將少許待測(cè)樣品撒在雙面膠上,吹去多余的粉末,然后噴金,采用日本電子株式會(huì)社的7401型掃描電鏡觀察氧化銅粉的形貌及粒徑,加速電壓為15 kV。

      2. 3. 3 金屬雜質(zhì)含量

      取(1 ± 0.000 1) g氧化銅粉末放入燒杯中,加入10 mL質(zhì)量分?jǐn)?shù)為68%的硝酸,半密閉加熱蒸發(fā)至5 mL左右,冷卻后用去離子水反復(fù)洗滌,試液定容稀釋至100 mL。取一定量試液送入電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀(ICP-AES)中測(cè)試其中的金屬雜質(zhì)含量。

      2. 3. 4 溶解速率

      方法一:室溫下,稱(chēng)取(5.0 ± 0.1) g氧化銅粉,加入至100 mL質(zhì)量分?jǐn)?shù)為12.5%的硫酸溶液中,并伴隨快速的磁力攪拌,用秒表記錄樣品溶解完全所需的時(shí)間。

      方法二:參照GB/T 12005.8–1989《粉狀聚丙烯酰胺溶解速度測(cè)定方法》,在室溫下將電導(dǎo)電極插入裝有100 mL質(zhì)量分?jǐn)?shù)為12.5%的硫酸溶液的燒杯中,電極與杯壁、磁子均相距5 mm,開(kāi)動(dòng)攪拌,調(diào)節(jié)液面旋渦深度約20 mm,調(diào)節(jié)紀(jì)錄線(xiàn)速率,選擇電導(dǎo)量程。將(5.0 ± 0.1) g的氧化銅粉樣品徐徐加入,當(dāng)記錄儀指示電導(dǎo)值在5 min內(nèi)不變時(shí)中止實(shí)驗(yàn),溶解時(shí)間由走紙長(zhǎng)度換算。

      2. 3. 5 純度

      純度測(cè)試采用配位滴定法:取25 mL預(yù)先配制好的由2 g/L氧化銅試樣和0.6%(體積分?jǐn)?shù))鹽酸組成的溶液于100 mL錐形瓶中,先后加入75 mL H2O、15 mL NH3–NH4Cl緩沖液、5滴 1–(2–吡啶偶氮)–2–萘酚(PAN)指示劑,攪拌均勻后用乙二胺四乙酸二鈉(EDTA-2Na)標(biāo)準(zhǔn)液滴定至溶液由藍(lán)色變成黃色,記錄終點(diǎn)所用EDTA-2Na標(biāo)準(zhǔn)液的體積,按式(1)計(jì)算CuO在氧化銅粉樣品中的質(zhì)量分?jǐn)?shù)。

      式中c1為EDTA-2Na標(biāo)準(zhǔn)液的濃度(0.05 mol/L),V1為消耗的EDTA-2Na體積(L),m1為氧化銅粉樣品的質(zhì)量(0.05 g)。

      2. 3. 6 氯離子含量

      稱(chēng)取(1 ± 0.000 1) g樣品,加20 mL水及3 mL硝酸,加熱溶解,冷卻,過(guò)濾,稀釋至100 mL。取5 mL稀釋液于錐形瓶,再加入50 mL純水,加熱至50 °C左右,加質(zhì)量分?jǐn)?shù)為50%的HNO3溶液10 mL,再加1 ~ 3滴0.1 mol/L AgNO3溶液作指示劑,用Hg(NO3)2標(biāo)準(zhǔn)溶液(c2= 0.01 mol/L)滴定至溶液由渾濁變?yōu)榍宄簽榻K點(diǎn),記錄消耗的Hg(NO3)2標(biāo)準(zhǔn)溶液體積V2(單位為L(zhǎng))。按式(2)計(jì)算氯離子的質(zhì)量分?jǐn)?shù),其中m2為氧化銅粉樣品的質(zhì)量(1 g)。

      3 結(jié)果與討論

      3. 1 組織結(jié)構(gòu)

      圖1是所得氧化銅粉樣品的X射線(xiàn)衍射測(cè)試結(jié)果。由圖1可見(jiàn),該樣品在2θ為32.8°、37.6°、40.7°、50.6°、55.3°、60.1°、63.5°、68.1°和69.9°處出現(xiàn)CuO的特征峰,分別對(duì)應(yīng)于 CuO的不同晶面。與標(biāo)準(zhǔn) PDF卡(050661)比對(duì),確證圖中沒(méi)有任何雜質(zhì)峰存在,表明該工藝制得的氧化銅粉為單一成分的立方相純CuO。

      圖2 氧化銅粉的X射線(xiàn)衍射譜Figure 2 X-ray diffraction pattern of copper oxide powder

      3. 2 形貌和粒徑

      氧化銅粉樣品的形貌如圖2所示。從低倍率圖(左)中可以看出,該工藝所得氧化銅粉無(wú)明顯團(tuán)聚,顆粒基本成圓形,粒徑分布均勻,從而保證了焙燒階段具有良好的流動(dòng)性,防止了氧化銅粉粘連于器壁,不至于因焙燒過(guò)度而使氧化銅粉的活性明顯下降。高倍率圖(右)顯示樣品的表面形貌呈疏松的毛刺狀結(jié)構(gòu),這些帶毛刺的氧化銅粉比表面光滑的氧化銅粉更易與硫酸發(fā)生反應(yīng),加速了氧化銅粉的溶解,賦予了氧化銅良好的活性。不具備活性的氧化銅粉的表面是光滑的[9],不會(huì)產(chǎn)生眾多的毛刺。而本工藝所制的氧化銅表面毛刺豐富,保證了其在酸中的溶解活性。

      圖3 氧化銅粉的掃描電鏡照片F(xiàn)igure 3 SEM image of copper oxide powder

      3. 3 純度和金屬雜質(zhì)含量

      金屬雜質(zhì)會(huì)降低鍍銅溶液的陰極電流效率,較多的金屬雜質(zhì)會(huì)影響鍍銅層的結(jié)構(gòu),形成不均勻的光亮鍍銅層。目前PCB業(yè)界還沒(méi)有制定統(tǒng)一的電鍍級(jí)氧化銅粉的金屬雜質(zhì)含量標(biāo)準(zhǔn),各電鍍公司主要根據(jù)市場(chǎng)提供的氧化銅規(guī)格和自己的要求來(lái)制定氧化銅粉的金屬雜質(zhì)含量要求。表 1為所得氧化銅粉的純度和雜質(zhì)含量的測(cè)定結(jié)果。

      表1 氧化銅粉中金屬雜質(zhì)含量的ICP測(cè)試結(jié)果Table 1 ICP analysis results of the contents of various metallic impurities in copper oxide powder

      從表 1可知,該工藝制備的活性氧化銅粉的金屬雜質(zhì)含量均在某供應(yīng)商垂直電鍍線(xiàn)酸性鍍銅用氧化銅粉技術(shù)規(guī)范的允許范圍內(nèi),樣品中氧化銅的平均質(zhì)量分?jǐn)?shù)為99.4%,滿(mǎn)足上述供應(yīng)商規(guī)范及GB/T 674–2003《化學(xué)試劑 粉狀氧化銅》中分析純氧化銅粉的純度要求。

      3. 4 氯離子含量

      Cl?是酸性光亮鍍銅溶液中不可缺少的成分。在常規(guī)酸性硫酸鹽鍍銅液中,適量的Cl?不僅可降低鍍銅層的應(yīng)力,提高其韌性,而且能提高銅鍍層的光亮度和整平性,使低電流密度區(qū)鍍層更亮。但Cl?含量過(guò)高易造成鍍銅層粗糙,產(chǎn)生樹(shù)枝狀條紋,并使鍍層失去光澤。鍍液中Cl?的質(zhì)量濃度一般控制在40 ~ 80 mg/L范圍內(nèi)才能鍍出鏡面光亮、延展性良好的鍍銅層。

      酸性鍍銅生產(chǎn)中,在不斷補(bǔ)充氧化銅粉的同時(shí)往往還需要定期向鍍液中添加鹽酸以補(bǔ)充Cl?,且Cl?與CuO的添加量之比(質(zhì)量比)通常為(320 ~ 870) × 10?6。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),即使不采用額外補(bǔ)加鹽酸的方式來(lái)補(bǔ)充鍍液中的氯離子,而是以所制備的氧化銅粉自身含有的Cl?作為補(bǔ)充,也足以滿(mǎn)足鍍液需求。換言之,氧化銅粉中氯離子的含量(質(zhì)量分?jǐn)?shù),下同)可以高達(dá)0.032 0%。考慮到安全系數(shù)問(wèn)題,氧化銅粉中氯離子含量小于0.005 0%是完全滿(mǎn)足需求的,而且更利于電鍍槽液中氯離子濃度的穩(wěn)定。經(jīng)試驗(yàn)測(cè)定,本工藝所制備的活性氧化銅粉中的氯離子含量為0.004 3%,處于足夠安全的范圍內(nèi),同時(shí)又能保證鍍層具有一定的延展性。

      3. 5 溶解速率

      在酸性鍍銅的實(shí)際生產(chǎn)中,氧化銅的溶解槽與電鍍槽通過(guò)循環(huán)泵互相連通,所以在氧化銅被添加入溶解槽后至該部分溶液被循環(huán)泵打入電解槽的這段時(shí)間內(nèi)必須完成溶解反應(yīng),固態(tài)的氧化銅轉(zhuǎn)化為離子態(tài)的硫酸銅,以防未溶解的氧化銅粉進(jìn)入電鍍層而引起質(zhì)量問(wèn)題。因此,要求活性氧化銅粉具有很好的酸溶解性。

      根據(jù)酸性鍍銅生產(chǎn)線(xiàn)的設(shè)備原理,設(shè)計(jì)了實(shí)驗(yàn)室測(cè)試氧化銅粉溶解速率的方法,即2.3.4節(jié)中的方法一。通過(guò)對(duì)不同批次生產(chǎn)的氧化銅粉以及市場(chǎng)反應(yīng)良好的A、B供應(yīng)商的氧化銅粉的溶解速率進(jìn)行了測(cè)試,發(fā)現(xiàn)本工藝制備的氧化銅粉的平均溶解時(shí)間為26 s,A供應(yīng)商為31 s,B供應(yīng)商為36 s。

      為了更準(zhǔn)確測(cè)定活性氧化銅粉的溶解速率,參照聚合物粉體溶解速率的電導(dǎo)測(cè)定法即2.3.4節(jié)中的方法二,對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試。多次實(shí)驗(yàn)表明,在 100 mL的12.5%硫酸溶液中溶解(5 ± 0.1) g氧化銅樣品所用的時(shí)間為25.6 s。從實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以看出,本工藝制備的氧化銅粉的溶解速率較快,具有較明顯的市場(chǎng)優(yōu)勢(shì)。

      4 結(jié)論

      (1) 以純銅為銅源,通過(guò)加入NH4HCO3,并間歇補(bǔ)加NH3·H2O將其溶解,再經(jīng)過(guò)脫氨、焙燒,合成了活性氧化銅粉。

      (2) 所制氧化銅粉表面具有疏松的毛刺狀結(jié)構(gòu),有利于與硫酸反應(yīng),加速其溶解,因而表現(xiàn)出良好的活性。

      (3) 所制氧化銅粉的純度高達(dá)99.4%,金屬雜質(zhì)含量也在國(guó)標(biāo)的允許范圍內(nèi),保證了線(xiàn)路板鍍銅線(xiàn)中光亮鍍銅層的正常沉積。

      (4) 所制氧化銅粉中氯離子含量小于0.005 0%,有利于電鍍槽液中Cl?的穩(wěn)定,保證了鍍層的延展性。

      (5) 所制氧化銅粉在硫酸中溶解快,一般在 30 s內(nèi)就能完全溶解,滿(mǎn)足酸性鍍銅實(shí)際生產(chǎn)的要求。

      (6) 由于本工藝采用閉路循環(huán)方法,制備過(guò)程中沒(méi)有任何原料的浪費(fèi),且在低溫、常壓下完成,易于操作,比常規(guī)方法節(jié)約成本15% ~ 20%,具有較強(qiáng)的實(shí)用性和顯著的經(jīng)濟(jì)效益。

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      Preparation of plating-grade active copper oxide powder //

      FU Fei-yan*, WANG Ke-jun, HUANG Ge, ZHOU Zhong-cheng, GAO Si, LIU Rong-sheng

      Active copper oxide powder was prepared with pure copper sheet as raw material through the following steps: (1) dissolution in NH4HCO3–NH3·H2O solution; (2) removal of ammonia; and (3) roasting. The properties of the active copper oxide powder were characterized by scanning electron microscopy (SEM), X-ray diffraction (XRD), and inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy (ICP-AES). The results showed that the active copper oxide powder obtained has a purity of >99%, and satisfactory metallic impurity content and dissolution speed, being suitable for application to electroplating. Hence it can be used directly in copper plating of printed circuit boards.

      copper oxide; preparation; characterization; printed circuit board; acid copper plating

      No. 61699 Unit of the Chinese People’s Liberation Army, Wuhan 430070, China

      TQ153.14; TQ150.4

      A

      1004 – 227X (2012) 09 – 0008 – 04

      2011–12–29

      2012–03–30

      符飛燕(1985–),女,河南三門(mén)峽人,碩士,工程師,從事電鍍研究。

      作者聯(lián)系方式:(E-mail) fufeiyan1@126.com。

      [ 編輯:溫靖邦 ]

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