GE推出具備＜1μm細(xì)節(jié)分辨力的緊湊型300kV工業(yè)CT系統(tǒng)

今年GE檢測科技推出了新型phoenix v｜tome｜x m。v｜tome｜x m是業(yè)內(nèi)用于3D測量和故障分析的緊湊型300kV計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，具有＜1 μm的細(xì)節(jié)分辨力。

該系統(tǒng)可為高吸收性金屬樣品提供出色的放大倍數(shù)和分辨率。管功率最高可達(dá)500W，可在幾分鐘內(nèi)完成包括輕金屬鑄件在內(nèi)的多種工件的檢驗(yàn)?？蛇x的雙管配置可通過高分辨率nanoCT實(shí)現(xiàn)低吸收性樣品的檢測。新系統(tǒng)功能的多樣性使其適用于各種應(yīng)用，包括材料科學(xué)、工業(yè)故障分析、過程控制及3D測量，涉及工業(yè)領(lǐng)域廣泛，從鑄件和電子器件到塑料、地質(zhì)和航空葉片的檢測等。

GE新型的CT系統(tǒng)最大可測500mm×600mm規(guī)模的試件，最大可視直徑300mm，最大高度達(dá)400mm，最大重量達(dá)50kg。系統(tǒng)具有花崗巖基座操作臺(tái)和溫控鉛柜，可實(shí)現(xiàn)極高的測量精度和可重復(fù)性，同時(shí)配備了phoenix工業(yè)CT軟件datos｜x 2.0，使用該軟件的click ＆ measure｜CT功能，可實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化的數(shù)據(jù)采集、體積處理和顯示。使用系統(tǒng)的velo｜CT功能，可在幾分鐘內(nèi)獲得3D重建結(jié)果。

使用計(jì)算機(jī)斷層掃描進(jìn)行3D風(fēng)機(jī)葉片檢驗(yàn)

系統(tǒng)的高放大倍率得益于GE的300kV微焦單極射線管設(shè)計(jì)，該射線管從焦點(diǎn)到X射線出射窗的最小工作距離僅為4.5mm左右。相比之下，傳統(tǒng)雙極射線管的最小工作距離較長，增加了焦點(diǎn)到目標(biāo)物的距離，因此限制了放大倍率。對于特定高分辨率掃描，只需一鍵，即可選擇180kV大功率納米焦點(diǎn)射線管。