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      一種基于等效間距法的低散射陣列設(shè)計(jì)

      2012-09-18 13:08:30曹祥玉李文強(qiáng)
      電波科學(xué)學(xué)報(bào) 2012年1期
      關(guān)鍵詞:柵瓣貼片增益

      姚 旭 曹祥玉 高 軍 李文強(qiáng)

      (空軍工程大學(xué)電訊工程學(xué)院,陜西 西安 710077)

      引 言

      陣列天線方向圖綜合是天線領(lǐng)域的研究熱點(diǎn),以往大量的研究工作主要運(yùn)用遺傳算法、粒子群算法和差分進(jìn)化算法等優(yōu)化方法,通過優(yōu)化陣列天線的單元位置和幅相分布來實(shí)現(xiàn)特定的波束形狀和副瓣要求[1-5]。然而,對(duì)陣列天線的電磁散射特性研究與其輻射特性相比還不夠成熟。實(shí)際中不僅要求天線具有好的輻射性能還要具有低的散射性能,如何在天線性能損失的可承受范圍之內(nèi),盡可能降低其雷達(dá)散射截面(RCS),折中考慮這兩方面因素,是擺在眾多學(xué)者面前的重要課題。因此,在保證輻射性能的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)低散射性能陣列天線具有較強(qiáng)的現(xiàn)實(shí)意義。

      陣列天線的RCS減縮主要通過控制天線模式項(xiàng)散射和結(jié)構(gòu)模式項(xiàng)散射來實(shí)現(xiàn)[6]。在帶內(nèi)實(shí)現(xiàn)阻抗匹配時(shí),結(jié)構(gòu)模式項(xiàng)散射成為陣列天線帶內(nèi)散射的主要來源。結(jié)構(gòu)模式項(xiàng)散射的減縮可以通過改變陣列的結(jié)構(gòu)來降低強(qiáng)散射點(diǎn)達(dá)到減縮的目的。文獻(xiàn)[7]中引入貼片天線漸變開槽的方式來設(shè)計(jì)低散射陣列天線,通過不同的單元開不同尺寸的槽,在等幅饋電的情況下實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)區(qū)場(chǎng)的低副瓣特性同時(shí)兼顧了結(jié)構(gòu)模式項(xiàng)的散射減縮。文獻(xiàn)[8][9][10]將直線陣列天線的RCS分解為單元因子與散射陣因子之積,并基于散射陣因子運(yùn)用優(yōu)化算法通過調(diào)整陣元間距來同時(shí)優(yōu)化其輻射和散射特性。文獻(xiàn)[11]中采用仿真和實(shí)驗(yàn)的方法通過調(diào)整柱面波導(dǎo)縫隙陣的導(dǎo)納值得到輻射和散射的折中結(jié)果。

      本文在此基礎(chǔ)上提出了一種等效間距法,給出了不僅能抑制散射峰值還同時(shí)滿足輻射要求的最佳折中陣列間距確定準(zhǔn)則,并在該排陣結(jié)構(gòu)下采用電磁仿真軟件HFSS12對(duì)8單元的貼片陣列天線仿真驗(yàn)證。結(jié)果表明:相對(duì)于半波長(zhǎng)間距陣列,采用該方法所設(shè)計(jì)的貼片陣列天線在保證一定范圍內(nèi)的可承受輻射性能損失下,單站RCS的強(qiáng)散射點(diǎn)得到了有效抑制,使其在絕大多數(shù)入射角處于低散射狀態(tài)。相比同時(shí)進(jìn)行輻射和散射特性優(yōu)化,該方法降低了設(shè)計(jì)和運(yùn)算的復(fù)雜度,對(duì)于兼顧輻射的低散射陣列設(shè)計(jì)具有一定的參考價(jià)值。

      1.等效間距法

      假設(shè)沿θ方向極化的單位幅度均勻平面波Ei照射,如圖1所示,磁流密度為0,第m個(gè)單元的散射場(chǎng)為[12]

      式中:Z是波阻抗;k=2π/λ為波數(shù);k是波矢量;r和rm分別是第1和第m個(gè)單元到場(chǎng)點(diǎn)的距離,r和rm分別是其距離矢量,在遠(yuǎn)區(qū)則rm≈r,rm=r-dm,dm是從坐標(biāo)原點(diǎn)出發(fā)的第m個(gè)單元的位置矢量,dm表示其距離,dm=;Am(k)是第m 個(gè)單元的波振幅矢量,天線單元接相同匹配負(fù)載ZL,受均勻平面波照射時(shí)則可認(rèn)為其幅度相同,每個(gè)單元的散射場(chǎng)均為(k),而波程差為 2k·dm=2kdmsinθcosφ,代入式(1)可得

      圖1 N單元直線陣

      類似于輻射方向圖乘積定理,同樣可以將陣列的散射問題表示成陣因子形式,則散射方向圖陣因子和單站RCS(MRCS)陣因子可以表示為

      對(duì)比公式(3)和(4),可以發(fā)現(xiàn)由相同阻抗負(fù)載和相同的天線單元組成的陣列天線,在不考慮互耦和邊緣繞射的影響情況下,當(dāng)均勻平面波照射時(shí)其散射問題可以等效為等幅、同相陣元間距為原來二倍的輻射問題,其等效關(guān)系可以表示為

      陣列散射模型就可以近似地看成由相似元構(gòu)成的等幅、同相、二倍單元間距的陣列輻射模型,可以通過分析該輻射模型來對(duì)其散射問題進(jìn)行預(yù)估,我們將該方法稱為等效間距分析法,如圖2所示。

      圖2 N單元等效間距法示意圖

      2.最佳折中間距確定準(zhǔn)則

      2.1 抑制強(qiáng)散射的陣列間距設(shè)計(jì)

      陣列天線的強(qiáng)散射點(diǎn)主要由垂直于陣面的鏡像散射和周期結(jié)構(gòu)的散射柵瓣產(chǎn)生的,可以從降低這兩部分散射的角度來降低強(qiáng)散射點(diǎn)散射。利用等效間距法對(duì)等效輻射陣因子進(jìn)行強(qiáng)輻射點(diǎn)分析[13-14],將等幅同相的陣列天線以等間距Δd′排列在x軸,該等效輻射陣因子表示為

      式中:N為單元個(gè)數(shù);k=2π/λ為波數(shù);θ為輻射方向與z軸的夾角。

      當(dāng)空間相位差為同相疊加時(shí)等效輻射陣因子S(θ)達(dá)到最大值,該關(guān)系式可表示為

      當(dāng)m=0時(shí)對(duì)應(yīng)為主瓣,S(θ)的最大值為

      當(dāng)m為其它整數(shù)值時(shí)陣因子出現(xiàn)的最大值為柵瓣,相應(yīng)地m=±1時(shí)出現(xiàn)第一個(gè)柵瓣,m=±2時(shí)出現(xiàn)第二個(gè)柵瓣,m=±i時(shí)出現(xiàn)第i個(gè)柵瓣。

      由式(8)可知第一個(gè)柵瓣出現(xiàn)在kΔd′sinθ=±2π時(shí),相應(yīng)柵瓣角為

      為了滿足不產(chǎn)生柵瓣,即不出現(xiàn)第一個(gè)柵瓣,其抑制條件表示為

      由于θ∈ [-π/2,π/2],=1,則可以將式(12)簡(jiǎn)化為

      由輻射和散射的距離等效關(guān)系式Δd′=2Δd,陣列天線散射第一柵瓣出現(xiàn)在kΔdsinθ=±π時(shí),相應(yīng)散射柵瓣角可以表示為

      不同陣列單元間距值下單站RCS(MRCS)陣因子如圖3(見212頁)所示,相比于式(13)為了保證無散射柵瓣,實(shí)際的單元間距應(yīng)滿足

      由式(15)可知,當(dāng)陣列單元間距小于半個(gè)入射波長(zhǎng)時(shí)即可達(dá)到降低散射柵瓣的目的,與文獻(xiàn)[15]中采用Floquet模式分析周期陣列結(jié)構(gòu)得到了一致的結(jié)論。

      2.2 保證輻射性能的低散射陣列折中間距設(shè)計(jì)解

      假設(shè)天線工作的中心頻率為f0,對(duì)應(yīng)于中心頻率的工作波長(zhǎng)為λ0,天線工作頻帶為[f0-Δf1,f0+Δf2],上限頻率f0+Δf2所對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)為λp.為了保證陣列天線在頻帶范圍內(nèi)無柵瓣,單元間距應(yīng)滿足

      而傳統(tǒng)陣列天線單元間距 Δd=λ0/2(λ0>λp),在頻帶范圍 [f0,f0+Δf2]將會(huì)產(chǎn)生柵瓣散射,因此,在此基礎(chǔ)上減小陣元間距可以在帶外和帶內(nèi)的一定頻率范圍實(shí)現(xiàn)無柵瓣角MRCS減縮。與此同時(shí)減小了陣列天線的口徑長(zhǎng)度,也實(shí)現(xiàn)了帶內(nèi)鏡像方向MRCS減縮。

      對(duì)于由寬角度天線單元構(gòu)成的陣列天線,增益大小與其口徑長(zhǎng)度成正比。因此,不能無限度地減小陣列天線的單元間距來達(dá)到抑制散射的目的,采用一種估算的方法使得增益損失不超過1dB,將陣列天線的口徑長(zhǎng)度和單元間距限制為

      式中:M=(N-1)·Δd+l為陣列天線的口徑長(zhǎng)度;l為天線沿陣軸方向的天線長(zhǎng)度;Mmin為最小口徑長(zhǎng)度;Mhalf是間距值為中心頻率的半波長(zhǎng)所對(duì)應(yīng)的陣列天線口徑長(zhǎng)度。

      聯(lián)立式(16)和(18),同時(shí)考慮輻射性能和散射性能的折中解陣列間距應(yīng)滿足

      3.陣列設(shè)計(jì)結(jié)果

      以下采用電磁仿真軟件HFSS12對(duì)采用推導(dǎo)出的折中間距設(shè)計(jì)的8單元貼片陣列天線進(jìn)行仿真驗(yàn)證。

      3.1 單元設(shè)計(jì)

      采用矩形貼片天線設(shè)計(jì)工作頻率2.11GHz處的天線單元,其結(jié)構(gòu)如圖4所示。介質(zhì)板的介電常數(shù)為3.38,厚度為5mm,貼片面積為34mm×34mm.單元的反射系數(shù)如圖5所示,反射系數(shù)在2.07~2.14GHz小于-10dB,相對(duì)帶寬為3.32%.

      3.2 陣列設(shè)計(jì)結(jié)果

      圖6 最佳折中間距陣列天線示意圖

      在單元設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上來設(shè)計(jì)一個(gè)1×8的低RCS微帶貼片陣列天線,中心頻率為f=2.11GHz,根據(jù)式(16)和(17)可以得到相應(yīng)的最佳折中間距Δd應(yīng)滿足55mm<Δd<70.1mm,這里Δd的取值為60 mm.采用該間距值設(shè)計(jì)的貼片天線陣列與中心頻率處所對(duì)應(yīng)的半波長(zhǎng)間距陣列輻射特性和散射特性比較如圖7~12所示,其中圖7給出了等幅同相饋電下的輻射增益曲線比較,從圖7可以看出:增益由原來的13dB減為12.44dB,增益只下降了0.56dB.圖8~12給出了2.11~2.14GHz頻帶范圍內(nèi)的MRCS比較曲線以及2.2GHz處下的帶外MRCS曲線比較,其中圖8為在中心頻點(diǎn)上的MRCS曲線比較,從圖8可以看出:柵瓣散射下降了29.72dBsm,徑向散射下降了3.06dBsm,圖9~11為帶內(nèi)后半頻段的MRCS曲線比較,柵瓣散射依次下降了27.53dB-sm、23.8dBsm、21.47dBsm,徑向散射依次下降了3.23dBsm、2.72dBsm、3.27dBsm,圖 12 為 在2.2GHz下的帶外MRCS曲線比較,從圖12可以看出,散射柵瓣θ=76°下降了17.87dBsm.

      從仿真結(jié)果可以得出下面結(jié)論:貼片陣列天線間距采用最佳間距值與中心頻率處所對(duì)應(yīng)的半波長(zhǎng)間距相比,在等幅同相饋電的條件下其增益由原來的13dB減為12.44dB,增益減小了0.56dB,帶內(nèi)徑向方向的強(qiáng)散射點(diǎn)MRCS最大可以縮減3.27 dBsm,帶內(nèi)柵瓣強(qiáng)散射點(diǎn) MRCS最大可以減縮29.72dBsm,同時(shí)在2.15~2.2GHz的帶外頻率具有一定的減縮效果。

      4.結(jié) 論

      通過陣列天線的輻射陣因子和散射陣因子對(duì)比分析,提出了基于等效間距法的陣列天線的散射和輻射等效分析方法,給出了不僅能抑制散射峰值還同時(shí)滿足輻射要求的最佳折中陣列間距確定準(zhǔn)則。通過8單元的貼片陣列仿真結(jié)果可以實(shí)現(xiàn)增益減少0.56dB,同時(shí)在帶內(nèi)和帶外一定頻率范圍上實(shí)現(xiàn)了雷達(dá)散射截面積減縮。

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