隋 越
(福建閩江學(xué)院物理學(xué)與電子信息工程系,福建 閩江 350108)
隨著電子的集成度和性能的不斷提高,電子設(shè)備散熱問題越來越突出.對(duì)于微型功率電路板,由于熱源比較集中,其散熱問題已成為亟待解決的關(guān)鍵技術(shù),甚至成為繼續(xù)提高微型功率電路板設(shè)備使用壽命的瓶頸問題.對(duì)于發(fā)熱功率密度較大的元器件,其失效率與其溫度呈指數(shù)關(guān)系[1],性能則隨功率密度升高而降低.例如有研究表明,單個(gè)電子元件的工作溫度每升高10℃,其失效率增加1倍[2].而一半以上的電路板失效問題都是由于過熱引起的[3].因此,研究電路板的散熱具有廣泛的應(yīng)用前景.
一般電路板的散熱方式主要有強(qiáng)制對(duì)流和自然對(duì)流兩種[4].對(duì)于功率型電路板,強(qiáng)制對(duì)流散熱方式是其主要散熱方式.相對(duì)于自然對(duì)流方式,強(qiáng)制對(duì)流散熱方式更有利于提高電路芯片的工作環(huán)境.隨著電路板發(fā)熱功率的增大,目前幾乎所有的微型功率電路板的冷卻均采用強(qiáng)制對(duì)流散熱方式.在實(shí)際應(yīng)用中,是利用風(fēng)扇轉(zhuǎn)動(dòng)來使強(qiáng)制發(fā)熱芯片上的空氣流動(dòng),以這種方式將芯片上的熱量傳至周圍環(huán)境,從而使芯片的溫度保持在有效工作的范圍內(nèi).但迄今為止,采用強(qiáng)制冷卻方式的散熱方式只是實(shí)驗(yàn)上應(yīng)用得較多,而理論模擬得較少,其原因是在理論模擬時(shí),需要考慮電路板自身及空氣之間的熱傳導(dǎo),涉及到熱傳導(dǎo)方程,同時(shí)空氣的流動(dòng)又需要考慮流體方程的應(yīng)用,在方程耦合上有一定的難度.本文將采用有限元方法,針對(duì)微型功率電路板的發(fā)熱和電路板上的氣體流動(dòng)進(jìn)行模擬,計(jì)算不同功率密度的芯片上的溫度和氣體流速分布.
本文采用廣義熱傳輸和不可壓縮的Navier-Stokes流這兩種穩(wěn)態(tài)應(yīng)用模式模擬功率型電路板的強(qiáng)制空氣對(duì)流散熱問題.圖1為繪制出的發(fā)熱電路的三維圖形.
圖1 微型功率電路板的三維模型
其中 BLK1是空氣通道,BLK2~BLK5和CYL1是發(fā)熱芯片,BLK6為電路板底座,由FR4材料構(gòu)成.電路板厚度為1 mm,模擬空間高度10 mm,發(fā)熱芯片厚度1 mm,各個(gè)芯片發(fā)熱功率密度取成一樣.邊界9為進(jìn)入電路板上的空氣流進(jìn)口,邊界5為空氣流出口.
在不可壓縮的Navier-Stokes流模式下,定義電路板上空氣流速u,壓強(qiáng) p,就有[4]:
其中:
方程(1)滿足
其中(1)式中的(ρ-ρ0)g是由于氣體的流動(dòng)出現(xiàn)浮力.空氣密度由理想氣體狀態(tài)方程確定.(2)式中κ為脹流型流體粘度,在本文中取為零.該模型同時(shí)考慮了被加熱的空氣粘性系數(shù)η.η隨溫度的變化關(guān)系為[5]:
熱傳導(dǎo)模式基于廣義熱量平衡公式[4]:
上式中,k代表空氣或發(fā)熱材料及基板的熱導(dǎo)率;Cp為各種材料的定壓熱容;qS是微型發(fā)熱模塊單位體積的發(fā)熱密度.在本模型中空氣的熱導(dǎo)率為受溫度變化影響的物理量,其隨溫度的變化關(guān)系式滿足以下方程[5]:
氣體流速平行于電路板表面,在圖1中的入口空氣流定義為已知速度場(chǎng)的標(biāo)準(zhǔn)邊界.在本文的強(qiáng)制對(duì)流情況下,氣體流速在Z方向呈拋物線分布.即速度分布為以下等式:
各材料性能如表1所示.
表1 三維模型中各材料的熱學(xué)參數(shù)[5]
本文采用的是Comsol多物理場(chǎng)專用軟件設(shè)計(jì)有限元程序,在模擬過程中電路板的表面和ICs應(yīng)用無滑移邊界條件.入口邊界條件為300 K,出口為純對(duì)流熱通量.側(cè)面設(shè)置為周期性邊界條件,兩側(cè)的溫度在每一個(gè)y值處相等.最后,模型設(shè)置所有的內(nèi)部邊界溫度和熱通量連續(xù).
將圖1中的整個(gè)電路板和芯片及電路板上空的空氣流進(jìn)行剖分,采用有限元方法將(1)式和(5)式化成差分形式,再對(duì)整個(gè)空間的溫度和氣體流速進(jìn)行計(jì)算,最后得到如圖2所示的電路板底座三維溫度分布圖像.
圖2 功率型電路板的溫度分布
從圖2可以看出,功率最大的模塊發(fā)熱最大,該模塊溫度最高,同時(shí)其它的芯片溫度隨著其發(fā)熱體積的降低逐次降低.值得注意的是,橢圓型芯片與靠近進(jìn)氣口的較大的芯片雖然發(fā)熱體積有差別,但其溫度是一樣的,這說明強(qiáng)制冷卻的空氣流對(duì)溫度分布的影響是很明顯的,即在靠近進(jìn)氣口處溫度最低.同時(shí)在上圖中左邊兩塊較大的芯片右邊可以看到流動(dòng)氣體形成的渦流.
為了定量考察電路板發(fā)熱與功率密度的變化關(guān)系,本文模擬了不同發(fā)熱功率密度條件下電路板上的最大溫度,得到功率密度與最高溫度的關(guān)系如圖3所示.
圖3 電路板最高溫度隨功率密度的變化曲線
在圖3中,直線為溫度與功率密度變化關(guān)系的線性擬合.由圖3可以看到,在同樣的強(qiáng)制對(duì)流情況下,發(fā)熱功率與最高溫度近似成正比.在計(jì)算出溫度場(chǎng)的情況下,我們給出了在電路板最上面一層(Z=0.01 m)空氣的速度場(chǎng),如圖4所示.
圖4 空氣速度分布
從圖4可以明顯看出,在芯片后的速度最小,在發(fā)熱芯片的兩邊速度最大,而在電路板的周圍較空的范圍內(nèi)氣體流動(dòng)最自由,因此速度也相對(duì)較大.
電路板上相同高度處,空氣流動(dòng)的最高速度隨功率密度的變化曲線如圖5所示.
圖5 電路板上空氣流速隨功率密度的變化
圖5中,直線為空氣流速與功率密度變化關(guān)系的線性擬合.從圖5可以看出,空氣被加熱后其流速明顯加快,圖中功率密度從0.25 MW/m3變到0.375 MW/m3時(shí),流速變化不大,這可能是由于本文設(shè)計(jì)的電路板的三維結(jié)構(gòu)引起在這個(gè)功率范圍內(nèi)空氣加熱不明顯所致.
通過對(duì)模擬結(jié)果的處理,我們得到了強(qiáng)制對(duì)流下功率型水平電路板的溫度分布和流體的速度三維分布圖形,形象地展示了電路板空間里的溫度和速度.這對(duì)于建立水平電路板的散熱設(shè)計(jì)與熱源結(jié)構(gòu)關(guān)系是至關(guān)重要的.通過對(duì)比不同發(fā)熱功率下的空氣流速分布圖和溫度分布圖,我們很容易發(fā)現(xiàn),強(qiáng)制對(duì)流下的芯片溫度主要由發(fā)熱芯片的功率決定,在本文的電路板的三維構(gòu)架下,單從一側(cè)采用氣體強(qiáng)制對(duì)流的方式帶走熱量是不夠的,針對(duì)這種情況,需要更加精心地設(shè)計(jì)電路板的散熱方式,例如從頂部或同時(shí)從四周進(jìn)行氣體的強(qiáng)制對(duì)流散熱.
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